TW201331890A - 邊界尋找方法及系統 - Google Patents

Abstract

一種邊界尋找方法及系統，該系統用於：獲取影像量測系統顯示的產品影像，並獲取輸入參數以及尋邊程式的名稱；根據該尋邊程式的名稱獲取相應的尋邊程式，提供該尋邊程式下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，並獲取用戶根據所需量測的量測特徵選擇的尋邊函數；將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的座標；將該組點擬合為所需量測的量測特徵的邊界並再將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。

Description

邊界尋找方法及系統

本發明涉及一種邊界尋找方法及系統，特別涉及一種模糊影像區域中量測特徵的邊界尋找方法及系統。

影像量測系統可以對產品影像中的各種量測特徵（如點、線、面、圓、圓弧等）進行快速、準確的量測，例如量測點座標、線寬等。然而，現有的影像量測系統只能尋找到影像中較清晰和容易識別的邊界，進而根據所尋找的邊界構建所述量測特徵再進行量測。當量測特徵的邊界所在的影像區域較模糊時，影像量測系統便無法尋找出相應的邊界，也無法構建出量測特徵，這造成了影像量測系統的局限性。

鑒於以上內容，有必要提供一種邊界尋找方法及系統，可以根據用戶定義的尋邊方法尋找模糊影像區域中量測特徵的邊界，使影像量測系統可以對該量測特徵進行量測。

一種邊界尋找方法，包括以下步驟：獲取步驟一：獲取電腦中運行的影像量測系統顯示的產品影像，並獲取輸入參數以及尋邊程式的名稱；獲取步驟二：根據該尋邊程式的名稱從電腦的儲存設備中獲取相應的尋邊程式，提供該尋邊程式下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，並獲取用戶根據所需量測的量測特徵選擇的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特徵；計算步驟：將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的座標；擬合步驟：將該組點擬合為所需量測的量測特徵的邊界，並將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。

一種邊界尋找系統，包括：獲取模組，用於獲取電腦中運行的影像量測系統顯示的產品影像，並獲取輸入參數以及尋邊程式的名稱；所述獲取模組，還用於根據該尋邊程式的名稱從電腦的儲存設備中獲取相應的尋邊程式，提供該尋邊程式下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，並獲取用戶根據所需量測的量測特徵選擇的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特徵；計算模組，用於將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的座標；擬合模組，用於將該組點擬合為所需量測的量測特徵的邊界，並將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。

相較於習知技術，本發明邊界尋找方法及系統，可以根據用戶定義的尋邊方法尋找模糊影像區域中量測特徵的邊界，使影像量測系統可以對該量測特徵進行量測。

參閱圖1所示，係本發明邊界尋找系統較佳實施方式的運行環境圖。該邊界尋找系統10運行於電腦1中，該電腦1還包括影像量測系統11、儲存設備12、處理器13和顯示設備14。

該儲存設備12中儲存有需要進行量測的產品影像。尋找出該產品影像中的量測特徵（如點、線、面、圓、圓弧等）的邊界後，可以擬合出一個量測特徵。此外，該儲存設備12中還儲存有用戶根據自行定義的尋邊方法編寫的尋邊程式，該尋邊程式中包括對不同種類的量測特徵進行邊界尋找的尋邊函數，如尋點的尋邊函數、尋線的尋邊函數，尋圓的尋邊函數等。該尋邊程式還包括多個用於將參數傳遞至相應尋邊函數的構造函數，該構造函數中指明所需傳遞的參數的個數和類型。

舉例而言，將參數傳遞至尋點的尋邊函數的構造函數可以定義為：

public MeasureTest(Bitmap Map, Point SP, Point EP, bool First, int Size)

{

……

}

在上述將參數傳遞至尋點的尋邊函數的構造函數中，共有五個參數需要被傳遞，第一個參數Map為Bitmap（點陣圖）類型，表示需要進行邊界尋找的產品影像。第二個參數SP為Point（點）類型，表示在該產品影像中進行邊界尋找的起點。第三個參數EP也為Point類型，表示在該產品影像中進行邊界尋找的終點。第四個參數First為bool（布林）類型，表示在產品影像中以邊緣位置上升（如First為True時）還是下降（如First為False時）的順序尋找邊界。第五個參數Size為int（整數）類型，表示在該產品影像中進行邊界尋找的寬度範圍。

而將參數傳遞至尋線的尋邊函數的構造函數可以定義為：

public MeasureTest(Bitmap Map, Point SP, Point EP, bool First, int Size, int Interval, int Width, double FilterDis)

{

……

}

在上述將參數傳遞至尋線的尋邊函數的構造函數中，共有八個參數需要被傳遞，第一個參數至第五個參數的類型和含義與上述將參數傳遞至尋點的尋邊函數的構造函數中的參數相同。而第六個參數Interval為int類型，表示構成線的各點之間的間距。第七個參數Width為int類型，表示尋線的寬度。第八個參數FilterDis為Double（雙精度浮點）類型，表示尋線的過濾距離。

此外，透過其他構造函數還可以將其他類型的參數傳遞至其他相應的尋邊函數，如尋面的構造函數、尋圓的構造函數、尋圓弧的構造函數等。各構造函數中的參數個數和類型可以根據用戶的需要定義。

當構造函數將參數傳遞至對應的尋邊函數後，該尋邊函數將根據該參數計算出計算結果。若量測特徵為點，則該計算結果為一個點的座標。若量測特徵為線、面、圓、圓弧等，則該計算結果為多個點的座標。

此外，該尋邊程式的名稱、命名空間和類名保持一致。例如，該尋邊程式的名稱為Measure Test.dll，該尋邊程式的命名空間為namespace Measure Test{ }，該尋邊程式的類名為public class Measure Test{ }。

該影像量測系統11用於從儲存設備12中讀取該產品影像，並將該產品影像顯示在所述顯示設備14上。該邊界尋找系統10用於從影像量測系統11獲取該產品影像，並根據用戶輸入的參數利用該尋邊程式找出該產品影像中的量測特徵的邊界，從而構成該量測特徵，供該影像量測系統11則對該量測特徵進行量測。

參閱圖2所示，係本發明邊界尋找系統較佳實施方式的功能模組圖。該邊界尋找系統10包括獲取模組101、匹配模組102、計算模組103、標示模組104和擬合模組105。在本實施方式中，該邊界尋找系統10可儲存在儲存設備12中，並由處理器13控制該邊界尋找系統10的執行。

獲取模組101用於獲取影像量測系統11顯示的產品影像，並獲取用戶輸入的尋邊程式的名稱以及若干個參數。例如該輸入參數為產品影像的名稱、邊緣位置、過濾距離等。

獲取模組101還用於根據該輸入的尋邊程式的名稱從儲存設備12中獲取相應的尋邊程式，提供該尋邊程式下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，並獲取用戶選擇的尋邊函數。用戶可以根據所需量測的量測特徵選擇相應的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特徵。例如，尋點的尋邊函數指示所需量測的量測特徵為點，尋線的尋邊函數指示所需量測的量測特徵為線，尋圓的尋邊函數指示所需量測的量測特徵為圓等。

匹配模組102用於根據該輸入參數的個數和類型從該尋邊程式中找出匹配的構造函數。例如，用戶輸入了五個輸入參數，第一個參數為Bitmap類型，第二個參數和第三個參數都為Point類型，第四個參數為bool類型，第五個參數為int類型，則上述示例中將參數傳遞至尋點的尋邊函數的的構造函數與該五個輸入參數匹配。

計算模組103用於將該輸入參數透過該匹配的構造函數傳遞至所選擇的尋邊函數中，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的座標，該組點可包括一個點或多個點。

標示模組104用於將該組點標示在影像量測系統11所示的該產品影像的相應位置上，供用戶進行查看。例如，標示模組104可以使用十字線將該組點標示在該產品影像上。

擬合模組105用於將該組點擬合為所需量測的量測特徵的邊界，再將該擬合得出的邊界傳送至影像量測系統11，供影像量測系統11對該擬合得出的邊界構成的量測特徵進行量測。例如，該量測特徵為圓，則擬合模組105將該組點擬合為該圓的邊界。

參閱圖3所示，係本發明邊界尋找方法較佳實施方式的流程圖。

步驟S1，獲取模組101獲取影像量測系統11顯示的產品影像，並獲取用戶輸入的尋邊程式的名稱以及若干個參數。

步驟S2，獲取模組101根據該輸入的尋邊程式的名稱從儲存設備12中獲取相應的尋邊程式，提供該尋邊程式下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，並獲取用戶選擇的尋邊函數。用戶可以根據所需量測的量測特徵選擇相應的尋邊函數，該尋邊函數指示有所需量測的量測特徵。

步驟S3，匹配模組102根據該輸入參數的個數和類型從該尋邊程式中找出匹配的構造函數。

步驟S4，計算模組103將該輸入參數透過該匹配的構造函數傳遞至所選擇的尋邊函數中，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的座標，該組點可包括一個點或多個點。

步驟S5，標示模組104將該組點標示在影像量測系統11所示的產品影像的相應位置上，供用戶進行查看。

步驟S6，擬合模組105將該組點擬合為所需量測的量測特徵的邊界，再將該擬合得出的邊界傳送至影像量測系統11，供影像量測系統11對該擬合得出的邊界構成的量測特徵進行量測。

綜上所述，在現有的影像量測系統11無法尋找到產品影像的模糊區域中的邊界時，利用邊界尋找系統10可以輔助影像量測系統11在產品影像的模糊區域中尋找到邊界，彌補現有影像量測系統11的不足。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅爲本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上述實施例爲限，舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

1．．．電腦

10．．．邊界尋找系統

11．．．影像量測系統

12．．．儲存設備

13．．．處理器

14．．．顯示設備

101．．．獲取模組

102．．．匹配模組

103．．．計算模組

104．．．標示模組

105．．．擬合模組

圖1係本發明邊界尋找系統較佳實施方式的運行環境圖。

圖2係本發明邊界尋找系統較佳實施方式的功能模組圖。

圖3係本發明邊界尋找方法較佳實施方式的流程圖。

1．．．電腦

10．．．邊界尋找系統

11．．．影像量測系統

12．．．儲存設備

13．．．處理器

14．．．顯示設備

Claims (10)

1. 一種邊界尋找方法，包括以下步驟：
   獲取步驟一：獲取電腦中運行的影像量測系統顯示的產品影像，並獲取輸入參數以及尋邊程式的名稱；
   獲取步驟二：根據該尋邊程式的名稱從電腦的儲存設備中獲取相應的尋邊程式，提供該尋邊程式下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，並獲取用戶根據所需量測的量測特徵選擇的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特徵；
   計算步驟：將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的座標；
   擬合步驟：將該組點擬合為所需量測的量測特徵的邊界，並將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。
2. 如申請專利範圍第1項所述之邊界尋找方法，該尋邊程式的名稱、命名空間和類名保持一致。
3. 如申請專利範圍第1項所述之邊界尋找方法，該尋邊程式還包括多個用於傳遞參數至對應的尋邊函數的構造函數，該構造函數指明了所需傳遞的參數的個數和類型。
4. 如申請專利範圍第3項所述之邊界尋找方法，該方法還包括匹配步驟：
   根據該輸入參數的個數和類型從該尋邊程式中找出匹配的構造函數；及
   所述計算步驟包括：
   將該輸入參數透過該匹配的構造函數傳遞至該選擇的尋邊函數。
5. 如申請專利範圍第1項所述之邊界尋找方法，該方法還包括標示步驟：
   將該組點標示在影像量測系統所示的該產品影像的相應位置上。
6. 一種邊界尋找系統，包括：
   獲取模組，用於獲取電腦中運行的影像量測系統顯示的產品影像，並獲取輸入參數以及尋邊程式的名稱；
   所述獲取模組，還用於根據該尋邊程式的名稱從電腦的儲存設備中獲取相應的尋邊程式，提供該尋邊程式下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，並獲取用戶根據所需量測的量測特徵選擇的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特徵；
   計算模組，用於將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的座標；
   擬合模組，用於將該組點擬合為所需量測的量測特徵的邊界，並將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。
7. 如申請專利範圍第6項所述之邊界尋找系統，該尋邊程式的名稱、命名空間和類名保持一致。
8. 如申請專利範圍第6項所述之邊界尋找系統，該尋邊程式還包括多個用於傳遞參數至對應的尋邊函數的構造函數，該構造函數指明了所需傳遞的參數的個數和類型。
9. 如申請專利範圍第8項所述之邊界尋找系統，該系統還包括匹配模組，用於根據該輸入參數的個數和類型從該尋邊程式中找出匹配的構造函數；及
   所述計算模組還用於將該輸入參數透過該匹配的構造函數傳遞至該選擇的尋邊函數。
10. 如申請專利範圍第6項所述之邊界尋找系統，該系統還包括標示步驟：
    將該組點標示在影像量測系統所示的該產品影像的相應位置上。