TW201316211A - 可濾除誤觸面板的手勢判斷方法 - Google Patents

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Yi-Rong Ko
Chih-Chang Lai
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Abstract

一種可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，包括以下步驟。首先，偵測一觸控事件於一觸控面板上的一觸碰區域之面積。接著，判斷觸碰區域之面積是否大於一最小預設面積值與小於一最大預設面積值。若判斷結果為是，則判斷觸碰區域之形狀是否為一誤觸形狀。最後，當判斷出觸碰區域之形狀為誤觸形狀時，不回報一觸碰座標。

Description

可濾除誤觸面板的手勢判斷方法
本發明是有關於一種觸碰手勢判斷方法，且特別是有關於一種可濾除誤觸面板的手勢判斷方法。
隨著多點觸控(multi-touch)技術的需求增加，投射式電容觸控技術已成為觸控面板技術的主流之一。由於人體是良好導體，故若人體靠近投射式電容觸控面板時，投射式電容觸控面板之透明電極與人體間之靜電結合所產生的電容會改變。藉由檢測投射電容式觸控面板上的感應線的靜電容量變化，就可得知觸碰點的位置。
除此之外，目前投射式電容觸控面板都是以連續按壓之面積的大小來偵測每次的觸碰事件為手指或手掌觸碰，以便濾除手掌的誤觸碰。然而，僅利用觸碰區域之形狀的大小來判斷誤觸碰是否發生，在實際上常無法有效濾除大部份的誤觸手勢。
詳細而言，一般使用者在操作投射式觸控電容觸控面板時，雖然是用小面積的指尖觸摸觸控面板，但也很容易以指腹按壓觸控面板而產生大面積的按壓。此外，當使用者無意義地將手掌擺在觸控面板上時，通常也不會將整個手掌完全貼合以產生真正的大面積按壓，而是以小姆指側邊或大姆指肌腱部份碰到觸控面板而已，這些面積雖然都比單用指尖大，但不一定會比用指腹按壓還大。因此，一旦只以觸碰區域之形狀的大小來判斷每次的觸碰事件為手指或手掌所造成的，勢必難以精確判斷該次觸碰是否為有意義的觸碰，而無法有效地過濾無意義的觸碰，從而難以達到真正的防止誤觸(palm rejection)功能。
本發明提供一種可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，能有效地過濾無意義的觸碰，以達到真正的防止誤觸(palm rejection)功能。
本發明提出一種可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，包括以下步驟。首先，偵測一觸控事件於一觸控面板上的一觸碰區域之面積。繼之，判斷觸碰區域之面積是否小於一最小預設面積值與大於一最大預設面積值。然後，若判斷結果為是，則判斷觸碰區域之形狀是否為一誤觸形狀。最後，當判斷出觸碰區域之形狀為誤觸形狀時，不回報一觸碰座標。
在本發明之一實施例中，可濾除誤觸面板的手勢判斷方法更包括：判斷觸碰區域之面積是否大於最大預設面積值，以及若判斷結果為是，則不回報一觸碰座標。
在本發明之一實施例中，可濾除誤觸面板的手勢判斷方法更包括：判斷該觸碰區域之面積是否小於最小預設面積值，以及若判斷結果為是，則回報一觸碰座標。
在本發明之一實施例中，上述之偵測該觸控事件於觸控面板上的觸碰區域之形狀之步驟包括：藉由沿一第一方向與一第二方向偵測感測值大於一感測閥值之區塊以獲得複數個觸碰區塊；以及依據上述之觸碰區塊的個數以獲得觸碰區域之形狀。
在本發明之一實施例中，上述之誤觸形狀係實質上為一類長條形或類橢圓形。
在本發明之一實施例中，上述之判斷觸碰區域之形狀是否實質上為誤觸形狀之步驟包括：獲得觸碰區域之形狀在一第一方向之一第一長度與一第二方向上之一第二長度；以及當第一長度與第二長度間之一差值大於一預設差值時，判斷觸碰區域之形狀為誤觸形狀。
在本發明之一實施例中，上述之獲得第一長度與第二長度之步驟包括：從上述之觸碰區塊之複數個觸碰區塊當中獲得複數個邊界觸碰區塊，其中邊界觸碰區塊係位於觸碰區域之邊界上且具有最大感測值之觸碰區塊；以及依據上述之邊界觸碰區塊沿第一方向之最大間距以獲得該第一長度，以及沿第二方向之最大間距以獲得第二長度。
在本發明之一實施例中，上述之邊界觸碰區塊包括第一邊界觸碰區塊、第二邊界觸碰區塊、第三邊界觸碰區塊以及第四邊界觸碰區塊。第一邊界觸碰區塊為上述之觸碰區塊當中位於觸碰區域沿第一方向之一邊界側者當中具有最大感測值者。第二邊界觸碰區塊為上述之觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿第二方向之一邊界側者當中具有最大感測值者。第三邊界觸碰區塊為上述之觸碰區塊當中位於觸碰區域沿第一方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者。第四邊界觸碰區塊為上述之觸碰區塊當中位於觸碰區域沿第二方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者。另外，第一長度為第一與第三邊界觸碰區塊沿第一方向之間距，且第二長度為第二與第四邊界觸碰區塊沿第二方向之間距。
在本發明之一實施例中，上述之誤觸形狀之一延伸方向實質上平行第一與第二方向當中之一者，且誤觸形狀實質上為一矩形。
在本發明之一實施例中，上述之判斷觸碰區域之形狀是否實質上為誤觸形狀之步驟包括以下步驟。首先，從上述之觸碰區域之複數個觸碰區塊獲得複數個邊界觸碰區塊，其中上述之邊界觸碰區塊為位於觸碰區域之邊界上且具有最大感測值之觸碰區塊。然後，判斷上述之邊界觸碰區塊當中是否有任何邊界觸碰區塊偏移該邊界觸碰區塊所位於之一邊界側的一中心位置。繼之，若判斷結果為是，判斷觸碰區域之形狀為誤觸形狀。
在本發明之一實施例中，上述之判斷邊界觸碰區塊當中是否有任何邊界觸碰區塊偏移之步驟包括針對這些邊界觸碰區塊之一至多者，分別執行以下步驟。首先，獲得上述之邊界觸碰區塊當中之一邊界觸碰區塊與其非對角之一邊界觸碰區塊間之一第一個別距離。然後，獲得邊界觸碰區塊與其非對角之另一邊界觸碰區塊間之一第二個別距離。接著，判斷該第一個別距離與第二個別距離的差值是否大於一偏移臨界值。最後，當判斷結果為是時，判斷觸碰區域之形狀為誤觸形狀。
在本發明之一實施例中，上述之邊界觸碰區塊係位於第一方向與第二方向當中之一者之一邊界側，與其非對角之邊界觸碰區塊與另一邊界觸碰區塊係位於第一方向與第二方向當中之另一者之兩邊界側上，以及第一與第二個別距離係沿第一方向與第二方向當中之該者計算而得。
在本發明之一實施例中，上述之邊界觸碰區塊包括第一邊界觸碰區塊、第二邊界觸碰區塊、第三邊界觸碰區塊以及第四邊界觸碰區塊。第一邊界觸碰區塊為這些觸碰區塊當中位於觸碰區域沿第一方向之一邊界側者當中具有最大感測值者。第二邊界觸碰區塊為這些觸碰區塊當中位於觸碰區域沿第二方向之一邊界側者當中具有最大感測值者。第三邊界觸碰區塊為這些觸碰區塊當中位於觸碰區域沿第一方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者。第四邊界觸碰區塊為這些觸碰區塊當中位於觸碰區域沿第二方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者。另外，第一邊界觸碰區塊之第一與第二個別距離差值係其與第二與第四邊界觸碰區塊沿第一方向之個別間距。第二邊界觸碰區塊之第一與第二個別距離差值係其與第一與第三邊界觸碰區塊沿第二方向之個別間距。第三邊界觸碰區塊之第一與第二個別距離差值係其與第二與第四邊界觸碰區塊沿第一方向之個別間距。第四邊界觸碰區塊之第一與第二個別距離差值係其與第三與第一邊界觸碰區塊沿第二方向之個別間距。
在本發明之一實施例中，上述之誤觸形狀之一延伸方向實質上不平行第一與第二方向，且誤觸形狀實質上為一不規則之類長條形或類橢圓形。
基於上述，在本發明之實施例中，藉由判斷觸碰區域之面積的大小與觸碰區域在不同方向的長度是否差距過大，以及確認觸碰區域中的任一觸碰區塊是否有偏移的現象，能有效地過濾無意義的觸碰事件，以達到防止誤觸的功能。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1A為本發明一實施例之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法的主要流程圖，其能夠有效地辨別一觸碰事件為一有意義按壓或為一無意義的按壓。在本實施例中，當偵測到觸碰區域之面積屬於特定的面積範圍時，會再判斷觸碰區域之形狀是否為一誤觸形狀。故相較習知技術而言，除了可以利用面積來過濾過大或過小面積的無意義觸碰事件外，可以再進一步地透過形狀來過濾更多其他類型的無意義觸碰事件。另外，本實施例的手勢判斷方法可以應用於各類型的觸控面板，例如為電容式觸控面板，亦可為電阻式觸控面板、紅外線式觸控面板等等。
在此所謂的無意義按壓，可為使用者無意地造成，譬如是將手掌大面積的擺放在觸控面板上，或是面積較小的小姆指側邊或大姆指肌腱觸碰到觸控面板，甚至也可能因大量液體或其他物體觸碰到觸控面板上所引起。而有意義按壓則可為使用者有意地造成，譬如是利用指尖或按壓工具的小面積觸摸觸控面板，但也可能是用面積較大的指腹來按壓觸控面板所造成。
請參照圖1A，其係顯示一實施例之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，包括以下步驟。
首先，偵測一觸控事件於一觸控面板上的一觸碰區域之面積(步驟S110)。繼之，判斷觸碰區域之面積是否介於一最小預設面積值與一大於最大預設面積值之間(步驟S120)。其中判斷方式譬如可先判斷該觸碰區域之面積是否小於該最小預設面積值(步驟S121)，再來判斷該觸碰區域之面積是否大於該最大預設面積值(步驟S122)。然而，於其他實施例中，步驟S121與S122之順序可以互換，或同時實施。
接著，若步驟S121的判斷結果為是，則代表觸碰區域之面積小於最小預設面積值。換句話說，該次觸碰面積夠小，譬如可能是使用者利用指尖或按壓工具的小面積觸摸觸控面板所造成，故直接可判斷為有意義觸碰。因此返回一般模式計算並回報一觸碰座標(步驟S161)。反之，若判斷結果為否，則繼續進行步驟S122，以判斷該觸碰區域之面積是否大於該最大預設面積值。
接著，若步驟S122之判斷結果為是，即觸碰區域之面積大於最大預設面積值，代表該次觸碰區域之面積過大。由於大面積的觸碰可能是使用者無意將手掌大面積的擺放在觸控面板上，故直接可判斷為無意義觸碰，而不回報一觸碰座標(步驟S162)。反之，步驟S122的判斷結果為否，亦即觸碰區域之面積不夠小但也不過大，則再判斷觸碰區塊之形狀是否為一誤觸形狀(步驟S130)。
最後，當判斷出觸碰區域之形狀為一誤觸形狀時，同樣代表該次觸碰為無意義觸碰。這可能是使用者無意地以小姆指側邊或大姆指肌腱觸碰到觸控面板，故不回報一觸碰座標(步驟S140)。反之，當判斷出觸碰區域之形狀不為一誤觸形狀時，則代表該次觸碰為有意義觸碰，譬如可能是使用者有意地利用指腹觸碰觸控面板，因此回報一觸碰座標(步驟S150)。
換言之，在本實施例中，係利用步驟S120而過濾過大或過小面積的無意義事件，並再利用步驟S130再進一步地針對中間面積的觸碰區域，判斷其形狀是否為一誤觸形狀，以過濾更多類型的無意義觸碰事件。故相較習知技術而言，本實施例有效地過濾較多種不同類型的無意義觸碰事件。
圖1B係顯示本發明之一實施例之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法之細部流程圖，用於顯示圖1A之主要流程圖之詳細步驟。在參照圖1B時，為幫助理解，請依序同時參照圖2至圖4，其用以說明誤觸形狀之幾種類型。
於圖2至圖4中，觸控面板100包括多個感測單元112，且這些感測單元112可排列為譬如是11×16的感測陣列110，但本發明不限於此行數與列數之感測陣列。在本實施例中，每一感測單元112分別可提供一個感測值，其中感測值例如是由觸控面板100的觸控感測器(touch sensor)(未繪示)所輸出的原始資料(raw data)。
當使用者以手掌肌腱觸碰到觸控面板100之感測陣列110而造成一觸碰點(譬如為圖2中的P1或P2，或是圖3中的P3與圖4中的P4)時，觸碰點所跨越之幾個區塊的感測值會大於感測閥值(threshold value)。因此若偵測到一感測單元112所提供之感測值大於一感測閥值，則可判斷該感測單元所對應之一區塊受到觸碰，在此即定義該區塊為一觸碰區塊，並且所有的觸碰區塊構成之區域即定義為一觸碰區域。
圖2顯示觸控面板100在某一種情況下被無意義按壓所造成之觸碰區域A’。另外，圖2亦顯示一有意義按壓之觸碰區域B’，以與觸碰區域A’作比較。圖3與圖4分別為觸控面板100在另兩種情況下被無意義按壓所造成之觸碰區域C’與D’的示意圖。如前所述，觸碰區域A’與C’、D’可能是使用者無意地以小姆指側邊或大姆指肌腱觸碰到觸控面板100所造成。而觸碰區域B’則可能是使用者有意地以指腹按壓觸控面板100。
由圖2可觀察到，觸碰區域A’之形狀為一長條形，意思是其沿X方向之長度ML1與沿Y方向之長度NL1之間有一定的差異。更仔細而言，可觀察到此長條形之延伸方向L1大致朝X方向，並且邊緣較規則而相當接近長方形。值得注意的是，於其他實施例中，類似觸碰區域A’的無意義按壓的觸碰區塊亦可實質上朝Y方向延伸。
相較之下，觸碰區域B’之形狀則因長寬相近而較為接近正方形，也不具備明顯的延伸方向。原因在於，由於人體指腹的長寬差距不大，故不管使用者的指腹如何擺，觸碰區域B’在X方向上的長度ML2與在Y方向上的長度NL2皆差不多。另一方面，觸碰區域B’上、左、下及右邊界側上被按壓最重(具有最大感測值)的邊界觸碰區塊B1至B4，分別皆相當接近此四個邊界側上的中心位置(未顯示)。
另一方面，參照圖3與圖4，則可觀察到，觸碰區域C’與D’與圖2中的觸碰區塊A’類似，同樣皆為長條形，差異主要在於其延伸方向L2與L3皆偏離X方向也偏離Y方向，且因此具有較為不規則的邊緣。由於具有上述差異，觸碰區域C’或D’沿X方向之長度(未標示)與沿Y方向之長度(未標示)彼此相近。不過，由於其延伸方向與觸碰區域B’不同，因此被按壓最重之位置亦不相同。在觸碰區域C’中，四個邊界側上被按壓最重的地方為邊界觸碰區塊C1至C4，而四個邊界側分別具有中心位置O1至O4。可觀察到，C2明顯地偏離O2，C4明顯地偏離O4。而觸碰區域D’四個邊界側上按壓點最重的邊界觸碰區塊D1至D4也有類似的偏移狀況。
根據這些形狀上的特徵，以下將說明，在判斷觸碰區域之形狀是否為一誤觸形狀時，即可藉由偵測觸碰區塊在X與Y方向上的長度差距是否大於一預設差值來辨識是否為圖2中所示之觸碰區塊A之形狀類型。另一方面，藉由分析觸碰區塊邊界側上最重按壓點之偏移情況，即可辨識是否為圖3或圖4中所示之觸碰區域C’或D’之形狀類型。要是兩種判斷皆不成立，則為圖2中之觸碰區域B’之類型。在分辨觸碰區域之形狀是否為誤觸形狀後，即可知道該次觸碰事件是否為有意義觸碰而須回報觸碰座標，還是無意義觸碰而無需回報觸碰座標。
接下來，請同時參照圖1B與圖2至圖4，以下首先將進一步利用圖2至圖4之不同範例，具體說明圖1B所示之之手勢判斷方法。
首先，執行步驟S110以偵測一觸控事件於觸控面板100上之觸碰面積。於此實施例中，步驟S110係包括步驟S111與步驟S112。首先，藉由沿X方向與Y方向進行偵測，就可以獲得感測值大於感測閥值之複數個觸碰區塊(步驟S111)。譬如是圖2所示之複數個觸碰區塊A與B，以及圖3與圖4分別所示的複數個觸碰區塊C與D。接著，分別依據觸碰區塊的個數，可獲得觸碰區域之面積(步驟S112)。譬如是依據觸碰區塊A之個數，就可以獲得觸碰區域A’之面積。觸碰區域B’至D’同理類推。在圖2至圖4所示範例中，24個觸碰區塊A、16個觸碰區塊B、16個觸碰區塊C與18個觸碰區塊D，分別構成觸碰區域A’、B’、C’與D’。
繼之，判斷觸碰區域之面積是否小於最小預設面積值MIN_TH與大於最大預設面積值MAX_TH(步驟S120)。在圖1B所示之實施例中，首先判斷觸碰區域之面積是否小於最小預設面積值MIN_TH(步驟S121)。若判斷結果為是，則代表該次觸碰為小面積按壓的有意義觸碰，故返回一般模式計算並回報觸碰座標(步驟S161)。反之，則再判斷觸碰區域之形狀是否大於最大預設面積值MAX_TH(步驟S122)。
若步驟S122的判斷結果為是，代表該次觸碰為大面積按壓的無意義觸碰。因此，觸控面板便停止觸碰座標的回報(步驟S162)。反之，當步驟S122的判斷結果為否時，則會再進一步確認觸碰區域之形狀不是誤觸形狀(步驟S130)。
值得注意的是，在步驟S120完成後，已經可濾除面積過大的無意義觸碰事件而不回報觸碰座標，也可判斷出面積夠小的有意義觸碰而回報觸碰座標。然而，對於圖2至圖4之觸碰區域A’至D’之範例而言，由於其面積皆假設為中間情況，故分別皆需要進行步驟S130之判斷。
於圖1B所示之實施例中，誤觸形狀之判斷步驟S130係包括步驟S131至S134。步驟S131主要用來偵測邊界上按壓最重之邊界觸碰區域。步驟S132至S133主要用來濾除如圖2左側所示之觸碰區域A’類型之無意義按壓。步驟S134主要用來濾除如圖3與圖4所示之觸碰區域C’與D’之無意義按壓。而最後，如圖2右側所示之觸碰區域B’之有意義按壓就不會被濾除。以下進一歩說明各步驟之詳細流程。
首先，執行步驟S131，從複數個觸碰區塊當中獲得複數個邊界觸碰區塊，其中邊界觸碰區塊係位於觸碰區域之邊界上且具有最大感測值之觸碰區塊。以圖2的觸碰區域A’而言，其邊界觸碰區塊為A1至A4；而以觸碰區域B’而言，其邊界觸碰區塊為B1至B4。類似地，觸碰區域C’包含邊界觸碰區塊C1至C4，而觸碰區域D’包含邊界觸碰區塊D1至D4。
詳細而言，於圖2的複數個觸碰區塊A當中，邊界觸碰區塊A2為位於觸碰區域A’沿X方向之一左邊界側者當中具有最大感測值者；邊界觸碰區塊A4為位於觸碰區域A’沿X方向之一右邊界側者當中具有最大感測值者；邊界觸碰區塊A3為位於觸碰區域A’沿Y方向之一下邊界側者當中具有最大感測值者；邊界觸碰區塊A1則為位於觸碰區域A’沿Y方向之一上邊界側者當中具有最大感測值者。
類似地，以觸碰區域B’而言，其沿X方向之左右兩邊界側上的邊界觸碰區塊分別為B2與B4，而沿Y方向之上下兩邊界側上的邊界觸碰區塊分別為B1與B3。類似地，以圖3的觸碰區域C’而言，其沿X方向之左右兩邊界側上的邊界觸碰區塊分別為C2與C4，而沿Y方向之上下兩邊界側上的邊界觸碰區塊分別為C1與C3。以圖4的觸碰區域D’而言，其沿X方向之左右兩邊界側上的邊界觸碰區塊分別為D2與D4，而沿Y方向之上下兩邊界側上的邊界觸碰區塊分別為D1與D3。
以下，為方面說明其他步驟起見，定義觸碰區域A’至D’當中每一者沿Y方向之上邊界側之邊界觸碰區塊(譬如A1、B1、C1與D1)之座標為(XR,Ymax)以及下邊界側之邊界觸碰區塊(譬如A3、B3、C3與D3)之座標為(XF,Ymin)，以及定義X方向之左邊界側之邊界觸碰區塊(譬如A2、B2、C2與D2)之座標為(Xmin,YF)、以及右邊界側之邊界觸碰區塊(譬如A4、B4、C4與D4)之座標為(Xmax,YR)。
在步驟S131完成後，可執行步驟S132，依據邊界觸碰區塊沿X方向之最大間距以獲得第一長度，以及沿Y方向之最大間距以獲得第二長度。
以觸碰區域A’而言，可依據邊界觸碰區塊A1~A4沿X方向之最大間距以獲得第一長度ML1，以及沿Y方向之最大間距以獲得第二長度NL1。所以，在X方向上之第一長度ML1可為左右兩個邊界觸碰區塊A2與A4沿X方向之間距，亦即ML1=(Xmax-Xmin)；而在Y方向之長度NL1可為上下兩個邊界觸碰區塊A1與A3沿Y方向之間距，亦即ML2=(Ymax-Ymin)。
類似地，以觸碰區域B’而言，X方向的第一長度ML2可為左右兩邊界側上之邊界觸碰區塊B2與B4沿X方向之間距，亦即ML1=(Xmax-Xmin)，且Y方向的第二長度NL2可為上下兩邊界側上之邊界觸碰區塊B1與B3沿Y方向之間距，亦即ML2=(Ymax-Ymin)。圖3與圖4的觸碰區域C’與D’亦可同理類推，故圖中也不再標示出第一長度與第二長度。
接著，執行步驟S133，判斷第一長度與第二長度間之絕對差值是否大於一預設差值M_TH。若步驟S133的判斷結果為是，則不回報觸碰座標(步驟S162)。反之，則進行步驟S140。
以觸碰區域A’而言，由於第一長度ML1與第二長度NL1之差距夠大，亦即∣(ML1-ML2)∣=∣(Xmax-Xmin)-(Ymax-Ymin)∣>M_TH，故可判斷為無意義的按壓，而不回報觸碰座標。然而，針對觸碰區域B’、C’、D’而言，其∣(ML1-ML2)∣=∣(Xmax-Xmin)-(Ymax-Ymin)∣≦M_TH，就需要進行步驟S134之判斷。
值得注意的是，在步驟S133之第一長度與第二長度的差距比較完成後，就能再過濾一部分類似觸碰區域A’的無意義按壓，譬如是使用者無意地以小姆指側邊或大姆指肌腱觸碰到觸控面板100所造成之無意義按壓。
當步驟S133的判斷結果為否時，就需進一步進行步驟S134以過濾掉如圖3或圖4所示之誤觸形狀為不規則之長條形的情況。而於步驟S134實施時，需判斷上述之邊界觸碰區塊當中是否有任何一者偏移其所在之邊界側的中心位置(步驟S134)。若判斷結果為是，則不回報觸碰座標(步驟S140)。反之，則進行步驟S150，可利用邊界觸碰區塊計算並回報觸碰座標。
值得注意的是，於步驟S134中，可針對複數個(n個)邊界側進行檢驗，檢驗該n個邊界側當中是否有任一者發生邊界觸碰區塊偏移中心位置之狀況。較佳地，只要任一個邊界側上發生邊界觸碰區塊偏移中心位置之狀況，就可判斷該觸碰區域為誤觸形狀。關於n的設定，較佳是n大於等於2，譬如是檢驗上邊界側和左邊界側，或是其他兩個相鄰的邊界側。另外，n亦可為3，或4。
在一較佳實施例中，判斷一邊界側上(在此稱為第一邊界側)是否有一邊界觸碰區塊偏移中心位置之方式係包括執行以下步驟。首先，獲得一第一邊界側上之一第一參考邊界觸碰區塊，與位於一第二邊界側上之一第二參考邊界觸碰區塊間之一第一個別距離。另外，也獲得該第一參考邊界觸碰區塊與位於一第三邊界側上之一第三參考邊界觸碰區塊之一第二個別距離。然後，判斷該第一個別距離與第二個別距離的絕對差值是否大於一偏移臨界值。如果大於該偏移臨界值，就代表該第一邊界側上之該第一參考邊界觸碰區塊，偏移該第一邊界側上的一中心位置。反之，則代表未偏移。
值得注意的是，如前所述，上述步驟可以針對一或多個邊界側一一檢驗。換言之，可選取不同的邊界側作為該第一邊界側以分別進行檢驗。當第一邊界側為位於第一方向(譬如X方向)上之其中一邊界側(譬如左邊界側與右邊界側當中之一者)時，第二與第三邊界側則會是沿著第二方向(譬如Y方向)之兩個邊界側(譬如上邊界側與下邊界側兩者)，並且第一與第二個別距離皆沿第二方向(譬如Y方向)計算。反之，當第一邊界側為位於第二方向(譬如Y方向)上之其中一邊界側(譬如上邊界側與下邊界側當中之一者)時，第二與第三邊界側則會是沿著第一方向(譬如X方向)之兩個邊界側(譬如左邊界側與右邊界側兩者)，並且第一與第二個別距離皆沿第一方向(譬如X方向)計算。
以下先針對圖3之觸碰區域C’為例來作說明上述之檢驗步驟。首先，若針對觸碰區域C’之上邊界側來進行檢驗，可獲得位於上邊界側上之邊界觸碰區塊C1與位於一左邊界側之邊界觸碰區塊C2間之第一個別距離；換句話說，第一個別距離M1為邊界觸碰區塊C1與邊界觸碰區塊C2沿X方向之間距，亦即M1=(XR-Xmin)。另外，可獲得邊界觸碰區塊C1與右邊界側上之邊界觸碰區塊C4間之之第二個別距離；換句話說，第二個別距離M2為邊界觸碰區塊C1與邊界觸碰區塊C4沿X方向之間距，亦即M2=(Xmax-XR)。然後，判斷第一個別距離M1與第二個別距離M2間的絕對差值是否大於該偏移臨界值C_TH。當判斷結果為是時(亦即∣M1-M2∣＞C_TH)，就可判斷上邊界側上之邊界觸碰區塊C1偏離上邊界側之中心位置O1。反之，則代表未偏移。
類似地，可再針對觸碰區域C’之左邊界側來進行檢驗。首先，可獲得位於左邊界側上之邊界觸碰區塊C2與位於上邊界側之邊界觸碰區塊C1間之第一個別距離；換句話說，第一個別距離N1為邊界觸碰區塊C2與邊界觸碰區塊C1沿Y方向之間距，亦即N1=(Ymax-YF)。另外，可獲得邊界觸碰區塊C2與下邊界側上之邊界觸碰區塊C3間之之第二個別距離；換句話說，第二個別距離N2為邊界觸碰區塊C2與邊界觸碰區塊C3沿Y方向之間距，亦即N2=(YF-Ymin)。然後，判斷第一個別距離N1與第二個別距離N2間的絕對差值是否大於該偏移臨界值C_TH。當判斷結果為是時(亦即∣N1-N2∣＞C_TH)，就可判斷左邊界側上之邊界觸碰區塊C2偏移左邊界側之中心位置O2。反之，則代表未偏移。
可以類似的方式，針對觸碰區域C’之下邊界側，獲得第一與第二個別距離M3=(XF-Xmin)與M4=(Xmax-XF)，並計算M3與M4的絕對差值∣M3-M4∣以與偏移臨界值C_TH比較，從而判斷邊界觸碰區塊C3是否偏移中心位置O3。也可以類似地方式，針對觸碰區域C’之右邊界側，獲得第一與第二個別距離N3=(Ymax-YR)與N4=(YR-Ymin)，並計算N3與N4的絕對差值∣N3-N4∣以與偏移臨界值C_TH比較，從而判斷邊界觸碰區塊C4是否偏移中心位置O4。在此為簡明起見，不再重複說明。
應注意的是，可藉由判斷邊界觸碰區塊C1~C4中至少兩個邊界觸碰區塊是否偏移其所位於之邊界側的中心位置，譬如是至少判斷邊界觸碰區域C1與C2是否偏移上邊界側與左邊界側的中心位置O1與O2，只要任一者發生偏移就決定觸碰區域C’為誤觸形狀。或著，亦可對邊界觸碰區塊C1~C4當中每一者分別進行判斷是否偏移其所位於之邊界側的中心位置O1~O4，只要任一者發生偏移就可決定觸碰區域C’的形狀是誤觸形狀。
參考圖4，類似地，可以依類似的方式，針對觸碰區域D’進行邊界觸碰區域是否偏移之檢驗步驟。針對觸碰區域D’之上邊界側，獲得邊界觸碰區域D1與左邊界側上之邊界觸碰區域D2沿X方向之第一個別距離M3=(XR-Xmin)，以及邊界觸碰區域D1與右邊界側上之邊界觸碰區域D4沿X方向之第二個別距離M4=(Xmax-XR)，再計算絕對差值∣M3-M4∣以與偏移臨界值C_TH比較，從而判斷邊界觸碰區塊D1是否偏移中心位置O5。
亦可針對觸碰區域D’之左邊界側，以類似的方式獲得邊界觸碰區域D2分別與上下邊界側上之邊界觸碰區域D1與D3之間沿Y方向之第一與第二個別距離N3=(Ymax-YF)與N4=(YF-Ymin)，再計算絕對差值∣N3-N4∣以與偏移臨界值C_TH比較，從而判斷邊界觸碰區塊D2是否偏移中心位置O6。針對下邊界側的邊界觸碰區域D3與右邊界側的邊界觸碰區域D4也可進行類似的檢驗步驟。在此為簡明起見，不再重複說明。
此外，類似地，於一實施例中，可判斷邊界觸碰區塊D1~D4中至少兩個邊界觸碰區塊(譬如D1與D2)是否偏移其所位於之邊界側(即上邊界側與左邊界側)的中心位置(亦即O5與O6)。或於另一實施例中，可針對邊界觸碰區塊D1~D4當中每一者分別進行判斷是否偏移其所位於之邊界側的中心位置。而於這兩實施例中，只要任一邊界側上之邊界觸碰區塊發生偏移，就可決定觸碰區域D’的形狀為誤觸形狀。
以觸碰區域B’而言，亦可以類似的方式進行步驟S134之判斷。如圖2所示，所檢測的邊界側上的邊界觸碰區塊均沒有偏移中心位置，故可判斷不為誤觸形狀，繼而可計算並回報觸碰座標(步驟S150)。
反之，針對觸碰區域C’、D’而言，於進行步驟S134之判斷時，所檢測之邊界側上的邊界觸碰區塊偏移了中心位置，故兩者皆可判斷為誤觸形狀，而不回報觸碰座標(步驟S140)。
換言之，在步驟S130中，係透過步驟S133過濾一部分類似圖2之觸碰區域A’之無意義按壓，再藉由進行步驟S134判斷邊界觸碰區塊是否偏移，用以再過濾另一部分類似圖3與圖4觸碰區域C’與D’的無意義按壓。結果，通常只有類似圖2之觸碰區域B’可判斷為有意義按壓，而需回報觸碰座標。
在進行步驟S150時，可利用邊界觸碰區塊計算並回報觸碰座標。此觸碰座標譬如可以為觸碰面積之中心點。以觸碰區域C’為例，可利用邊界觸碰區塊C1至C4之座標計算觸碰區域C’之中心點作為觸碰座標輸出。觸碰區域D’亦可以雷同方式計算。
綜上所述，本發明之實施例能針對特定面積範圍的觸碰區域判斷其形狀是否為一誤觸形狀，故相較習知技術而言，除了可以過濾過大或過小面積的無意義事件外，還可進一步地過濾更多類型的無意義觸碰事件。另外，藉由判斷觸碰區域在不同方向的長度是否差距過大，以及偵測觸碰區域在任一邊界側上的邊界觸碰區塊是否有偏移中心位置的現象，可以準確地判斷不同類型的無意義觸碰事件，進而有效地濾除誤觸事件。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100．．．觸控面板
110．．．感測陣列
112．．．感測單元
A~D．．．觸碰區塊
A’~D’．．．觸碰區域
A1~A4、B1~B4、C1~C4、D1~D4．．．邊界觸碰區塊
P1~P4．．．接觸點
ML1、ML2．．．X方向之長度
NL1、NL2．．．Y方向之長度
M1~M4、N1~N4．．．邊界觸碰區塊之個別距離
O1~O3．．．邊界側的中心位置
L1~L3．．．誤觸形狀之延伸方向
S110．．．觸碰區域之面積之偵測步驟
S120、S121、S122．．．觸碰區域之面積大小之判斷步驟
S130．．．觸碰區域之形狀之判斷步驟
S140、S160、S162．．．觸碰座標之不回報步驟
S150、S161．．．觸碰座標之回報步驟
S111．．．觸碰區塊之獲得步驟
S112．．．觸碰區域之面積之獲得步驟
S131．．．邊界觸碰區塊之獲得步驟
S132．．．第一長度與第二長度之取得步驟
S133．．．第一長度與第二長度之大小比較步驟
S134．．．邊界觸碰區塊之偏移判斷步驟
圖1A為本發明一實施例之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法的流程圖。
圖1B為圖1A之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法的詳細流程圖。
圖2為本發明一實施例之觸控面板之感測陣列的示意圖。
圖3為本發明另一實施例之觸控面板之感測陣列的示意圖。
圖4為本發明另一實施例之觸控面板之感測陣列的示意圖。
S110．．．觸碰區域之面積之偵測步驟
S120、S121、S122．．．觸碰區域之面積之範圍之判斷步驟
S130．．．觸碰區域之形狀之判斷步驟
S140、S162．．．觸碰座標之不回報步驟
S150、S161．．．觸碰座標之回報步驟

Claims (17)

  1. 一種可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，包括：偵測一觸控事件於一觸控面板上的一觸碰區域之面積；判斷該觸碰區域之面積是否大於一最小預設面積值與小於一最大預設面積值，若該判斷結果為是，則判斷該觸碰區域之形狀是否為一誤觸形狀；以及當判斷出該觸碰區域之形狀為該誤觸形狀時，不回報一觸碰座標。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，更包括：當該觸碰區域之面積是否大於該最大預設面積值；以及若該判斷結果為是，則不回報一觸碰座標。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，更包括：判斷該觸碰區域之面積是否小於該最小預設面積值；以及若該判斷結果為是，則回報一觸碰座標。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中偵測該觸控事件於該觸控面板上的該觸碰區域之面積之步驟係包括：獲得感測值大於一感測閥值之複數個觸碰區塊；以及依據該些觸碰區塊的個數以獲得該觸碰區域之面積。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中該誤觸形狀係實質上為一長條形。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中該長條形之一延伸方向實質上平行該第一與第二方向當中之一者，且該長條形係實質上係一類長方形。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中類長條形之一延伸方向實質上不平行該第一與第二方向，且該長條形具有不規則之邊緣。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中判斷該觸碰區域之形狀是否實質上為該誤觸形狀之步驟係包括：獲得該觸碰區域在一第一方向之一第一長度與一第二方向上之一第二長度；以及當該第一長度與該第二長度間之一絕對差值大於一預設差值時，判斷該觸碰區域之形狀為該誤觸形狀。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中獲得該第一長度與第二長度之步驟係包括：從該觸碰區域之複數個觸碰區塊當中獲得複數個邊界觸碰區塊，其中該些邊界觸碰區塊係位於該觸碰區域之邊界上且具有最大感測值之觸碰區塊；以及依據該些邊界觸碰區塊之複數個間距以獲得該第一長度與該第二長度。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中依據該些邊界觸碰區塊之複數個間距以獲得該第一長度與該第二長度之步驟係包括：依據該些邊界觸碰區塊沿該第一方向之最大間距以獲得該第一長度，以及沿該第二方向之最大間距以獲得該第二長度。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中該些邊界觸碰區塊係包括：第一邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第一方向之一邊界側者當中具有最大感測值者；第二邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第二方向之一邊界側者當中具有最大感測值者；第三邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第一方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者；以及第四邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第二方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中該第一長度係該第一與第三邊界觸碰區塊沿該第一方向之間距，以及該第二長度係該第二與第四邊界觸碰區塊沿該第二方向之間距。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中判斷該觸碰區域之形狀是否實質上為該誤觸形狀之步驟係包括：從該觸碰區域之複數個觸碰區塊中獲得複數個邊界觸碰區塊，其中該些邊界觸碰區塊係位於該觸碰區域之邊界上且具有最大感測值之觸碰區塊；判斷是否有任何一邊界側上之一邊界觸碰區塊偏移該任一邊界側的一中心位置；以及若一或多個邊界側之判斷結果為是，判斷該觸碰區域之形狀為該誤觸形狀。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中判斷是否有任何一邊界側上之一邊界觸碰區塊偏移該任一邊界側的中心位置之步驟係包括：獲得位於該觸碰區域之一第一邊界側上之一第一參考邊界觸碰區塊與位於該觸碰區域之另一邊界側上之一第二參考邊界觸碰區塊之間之一第一個別距離；獲得該第一參考邊界觸碰區塊與位於該觸碰區域之更另一邊界側上之一第三參考邊界觸碰區塊之間之一第二個別距離；判斷該第一個別距離與該第二個別距離之絕對差值是否大於一偏移臨界值；以及當判斷結果為是時，判斷該第一邊界側上之該第一邊界誤觸碰區域偏移該中心位置。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中該第一參考邊界觸碰區塊係位於一第一方向與一第二方向當中之一者之一邊界側，該第二參考邊界觸碰區塊與該第三參考邊界觸碰區塊係分別位於該第一方向與該第二方向當中之另一者之兩個邊界側上，以及該第一與第二個別距離係沿該第一方向與該第二方向當中之該者計算而得。
  16. 如申請專利範圍第14項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中該些邊界觸碰區塊係包括：第一邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第一方向之一邊界側者當中具有最大感測值者；第二邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第二方向之一邊界側者當中具有最大感測值者；第三邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第一方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者；以及第四邊界觸碰區塊，其為該些觸碰區塊當中位於該觸碰區域沿該第二方向之另一邊界側者當中具有最大感測值者。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之可濾除誤觸面板的手勢判斷方法，其中當該第一邊界觸碰區塊作為該第一參考邊界觸碰區塊時，該第二與第四邊界觸碰區塊係作為該第二與第三參考邊界觸碰區塊；當該第二邊界觸碰區塊作為該第一參考邊界觸碰區塊時，該第一與第三邊界觸碰區塊係作為該第二與第三參考邊界觸碰區塊；當該第三邊界觸碰區塊作為該第一參考邊界觸碰區塊時，該第二與第四邊界觸碰區塊係作為該第二與第三參考邊界觸碰區塊；以及當該第四邊界觸碰區塊作為該第一參考邊界觸碰區塊時，該第一與第三邊界觸碰區塊係作為該第二與第三參考邊界觸碰區塊。
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