TW201301022A - 加強型小型化可拔插介面測試系統 - Google Patents

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Zhao-Jie Cao
wei-dong Cong
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults

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Abstract

本發明提供一種加強型小型化可拔插(SFP+)介面測試系統，其包括一個電腦系統及一個SFP+收發器。該電腦系統用於向一個待測SFP+介面發送第一資料。該SFP+收發器包括一個本地環回介面，用於通過該本地環回介面接收該待測SFP+介面傳輸的、對應該第一資料的第二資料並向該本地環回介面回送該第二資料。該電腦系統還用於接收該待測SFP+介面傳輸回來的、對應該第二資料的第三資料，並判斷該第三資料是否與該第一資料相同。若相同，則判斷該待測SFP+介面的收發性能正常，否則，判斷該待測該待測SFP+介面的收發性能不正常。如此，僅採用一個該電腦系統便可對該待測試SFP+介面的收發性能進行測試，成本低。

Description

加強型小型化可拔插介面測試系統
本發明涉及測試技術，特別涉及一種加強型小型化可拔插(enhanced small form-factor pluggable, SFP+)介面測試系統。
SFP+介面具有小型化，高傳輸速率及支援熱撥插等優點，因此得到廣泛的應用。為保證品質，需對SFP+介面的收發性能進行測試。現有的測試方法會採用兩個電腦系統，其中一個電腦系統配備一個標準SFP+介面(即收發功能測試正常的SFP+介面)，而將一個待測試的SFP+介面裝入另一個電腦系統中，兩個電腦系統通過待測試的SFP+介面與標準SFP+介面互發資料，並對資料的丟失情況進行分析從而判斷待測試的SFP+介面的收發性能是否正常。然而，這樣的測試方法需要兩個電腦系統，成本較高。
有鑒於此，有必要提供一種成本低的SFP+介面測試系統。
一種SFP+介面測試系統，其包括一個電腦系統及一個SFP+收發器。該電腦系統用於與一個待測SFP+介面連接並向該待測SFP+介面發送第一資料。該SFP+收發器包括一個用於與該待測SFP+介面連接的本地環回介面(loopback address)，用於通過該本地環回介面接收該待測SFP+介面傳輸的、對應該第一資料的第二資料並向該本地環回介面回送該第二資料。該電腦系統還用於接收該待測SFP+介面傳輸回來的、對應該第二資料的第三資料，並判斷該第三資料是否與該第一資料相同。若相同，則判斷該待測SFP+介面的收發性能正常，否則，判斷該待測該待測SFP+介面的收發性能不正常。
如此，本發明的SFP+介面測試系統僅採用該電腦系統(一個)便可對該待測試SFP+介面的收發性能進行測試，成本低。
請參閱圖1，本發明較佳實施方式的SFP+介面測試系統10包括一個電腦系統100及一個SFP+收發器200。該電腦系統100用於與一個待測SFP+介面20連接並向該待測SFP+介面20發送第一資料。該SFP+收發器200包括一個用於與該待測SFP+介面20連接的本地環回介面(loopback address)202，用於通過該本地環回介面202接收該待測SFP+介面20傳輸的、對應該第一資料的第二資料並向該本地環回介面202回送該第二資料。該電腦系統100還用於接收該待測SFP+介面20傳輸回來的、對應該第二資料的第三資料，並判斷該第三資料是否與該第一資料相同。若相同，則該待測SFP+介面20的收發性能正常，否則，該待測該待測SFP+介面20的收發性能不正常。
需說明的是，SFP+收發器一般用於為SFP+介面收發資料，例如，在電腦系統內，SFP+介面通過SFP+收發器收發南橋晶片資料。而SFP+收發器一般都包括有本地環回介面，在以前，本地環回介面通常作為管理位址或者路由標識(router id)，而本發明利用SFP+收發器的本地環回介面對資料的回送特性(即原封不動地發送接收到的資料)實現單電腦系統測試SFP+介面的收發性能的目的，從而降低成本，而以前並未如此理利用SFP+收發器來取得本發明所達到的意料不到的效果。
具體地，SFP+介面測試系統10包括一個測試卡(電路板)300及一個標準SFP+介面400(即收發功能測試正常的SFP+介面)。該SFP+收發器200及該標準SFP+介面400設置在該測試卡300上。該標準SFP+介面400通過該測試卡300與該本地環回介面202連接，而該待測SFP+介面20通過線纜與該標準SFP+介面400連接。
該SFP+收發器200還包括一個狀態寄存器204。該狀態寄存器204儲存有一個標誌。該SFP+收發器200用於監測回送的該第二資料是否與接收到的該第二資料相同，並在不相同時改變該標誌的取值，例如從兩進制“0”改變為“1”。該SFP+介面測試系統10還包括一個警示單元500，用於讀取該標誌，並在該標誌的取值改變時發出警示。例如，該警示單元500包括一個微控器502及一個發光二極體504。該微控器502用於讀取該標誌並在該標誌的取值改變時驅動該發光二極體504閃爍。如此，可避免該SFP+收發器200的回送功能異常時影響測試結果。
優選地，該SFP+介面測試系統10支援更多SFP+介面的測試，如兩個。對應的，該電腦系統100用於與更多數目的待測SFP+介面20連接，而該SFP+收發器200包括更多數目的本地環回介面202。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10．．．SFP+介面測試系統
100．．．電腦系統
200．．．SFP+收發器
202．．．本地環回介面
204．．．狀態寄存器
300．．．測試卡
400．．．標準SFP+介面
500．．．警示單元
502．．．微控器
504．．．發光二極體
20．．．待測SFP+介面
圖1為本發明較佳實施方式的SFP+介面測試系統的功能模組圖。
10．．．SFP+介面測試系統
100．．．電腦系統
200．．．SFP+收發器
202．．．本地環回介面
204．．．狀態寄存器
300．．．測試卡
400．．．標準SFP+介面
500．．．警示單元
502．．．微控器
504．．．發光二極體
20．．．待測SFP+介面

Claims (4)

  1. 一種SPF+介面測試系統，該SPF+介面測試系統包括一個電腦系統及一個SFP+收發器；該電腦系統用於與一個待測SFP+介面連接並向該待測SFP+介面發送第一資料；該SFP+收發器包括一個用於與該待測SFP+介面連接的本地環回介面，用於通過該本地環回介面接收該待測SFP+介面傳輸的、對應該第一資料的第二資料並向該本地環回介面回送該第二資料；該電腦系統還用於接收該待測SFP+介面傳輸回來的、對應該第二資料的第三資料，並判斷該第三資料是否與該第一資料相同；若相同，則判斷該待測SFP+介面的收發性能正常，否則，判斷該待測該待測SFP+介面的收發性能不正常。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的SFP+介面測試系統，其中，該SFP+介面測試系統包括一個測試卡及一個標準SFP+介面；該SFP+收發器及該標準SFP+介面設置在該測試卡上；該標準SFP+介面通過該測試卡與該本地環回介面連接，而該待測SFP+介面通過線纜與該標準SFP+介面連接。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的SFP+介面測試系統，其中，該SFP+收發器還包括一個狀態寄存器；該狀態寄存器儲存有一個標誌；該SFP+收發器用於監測回送的該第二資料是否與接收到的該第二資料相同，並在不相同時改變該標誌的取值，該SFP+介面測試系統還包括一個警示單元，用於讀取該標誌，並在該標誌的取值改變時發出警示。
  4. 如申請專利範圍第3項所述的SFP+介面測試系統，其中，該警示單元包括一個微控器及一個發光二極體；該微控器用於讀取該標誌並在該標誌的取值改變時驅動該發光二極體閃爍發出警示。
TW100122769A 2011-06-27 2011-06-29 加強型小型化可拔插介面測試系統 TW201301022A (zh)

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