TW201236511A - Quality assurance of a solid-state illumination source - Google Patents

Description

201236511 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於用於光照系統之照明源，且更具體而言 (而非排他地）係關於控制自固態光照源發射之光之品質。 【先前技術】 固態光照隨著某些要求提供兩個或兩個以上光源之色彩 混合以產生光之視覺感知。此色彩混合達成具有一指定色 度值集或一「相關色溫」之一光之仿真。雖然指定色度值 集或相關色溫可類似於一白熾燈’但所發射電磁（EM)輻射 之光譜顯著不同於白織燈之光譜。當利用透過色彩混合產 生之一照明源來照明一物件時，該物件之所感知色彩係照 明源之EM輻射光譜與該物件之反射性質之一卷積。在諸 多情形下’自透過色彩混合組構之一光源發射之Em輻射 之光譜具有其中光發射係低的或不存在之一或多個光譜區 域。可透過將額外光源併入至該光源中而致使此一或多個 光譜區域顯示不可忽略之所發射光，其中該（等）額外光源 在該一或多個光譜區域中發射光。此併入供應有助於使自 該光源發射之EM輻射之光譜平滑的額外通道（例如，某一 頻寬之光譜區域）；因此，致使該光源具有適合色度值或 相關溫度。 由色彩混合及相關照明特徵產生之EM輕射光譜可經控 制以減少一作用光源或利用至少該作用光源之一照明器具 之溫度、製造變化、老化等之影響。通常，一旦在製造照 明器具時便執行此控制。在替代方案中且通常較不經常實 160987.doc 201236511 施，可作為建構至照明裝置令之一進行處理程序來執行此 控制。然而’由於同色異譜性，可存在給出相同視覺感知 果之月或彩色物件之數種解決方案。因此，當藉由由 具有窄光譜特徵之光元件組構之—第—光源照明一物件 時該物件之外觀將顯著不同於由用由具有寬光譜特徵之 光元件組構之-第二光源照明該物件產生之外觀。 舉例而。4 了克服與色彩混合及同色異譜性相關聯之 操作缺點’ &用技術藉由分析起源於—所組構光源中之光 譜功率分佈（SPD)來調整光之品質。然而，一般而言經 由習用技術實施此方法係-昂貴的解決方案，;3因需要一 高解析度光譜儀來實現對所組構光源之組構之控制—高解 析度光譜儀由於提供良好準確度及校準而係昂貴的。其他 因素亦可阻礙此等解決方案之利用或採用；舉例而言，在 某些情形下’在製造時執行一照明產品（例如，一照明器 或-光照器具）之量測及校準’但在照明產品老化時進行 里測及校準通常係不切實際的。 【發明内容】 下文呈現本發明之一簡化發明内容以提供對本發明之某 些態樣之一基本理解。此發明内容並非本發明之各項實施 例之一廣泛概述。其既不意欲識別關鍵性或決定性要素亦 不意欲描述任何範疇。其唯一目的係以一簡化形式呈現某 些概念來作為稍後所呈現之更詳細闡述之一前序。 本發明之一或多項實施例提供用於控制自係照明系統之 部分之一固態光照源群組發射之光之品質的系統、設備及 160987.doc 201236511 方法°該控制至少部分地基於將該光之光譜功率分佈 (SPD)調節為匹配自一參考光源（例如，周圍光）發射之具有 一指定色度值集或「相關色溫」之光之一 SPD。一光譜分 析儀收集自該SSL源群組發射之電磁（EM)輻射及實質上自 該參考光源發射之EM輻射。該光譜分析儀包含（但不限於 包含）整合為一組光感測器之小型化光學器件且達成對em 輕射之光譜特徵之差分探測。一第一控制器（或第一控制 器組件）分析與該SSL源群組及該參考光源之SPD相關之光 譜資料’並基於該分析而發出該SSL源群組之一組態。此

組態之發出包含其產生及遞送。該組態之實施致使該SSL 源群組發射具有一 SPD之EM輻射，該SPD幾乎匹配實質上 自該參考光源發射之該EM輻射之該SPD。一第二控制器 (或第二控制器組件）獲取該組態並實施該組態；該組態之 實施包含根據基於該組態之至少一個控制參數來操作該 S S L源群組。 特定實施方案可具有以下優點中之一或多者：（1)藉由 減少與高解析度光譜儀之部署及其現場校準相關聯之成本 來廉價地減輕對色彩感知之同色異譜性影響；（2)在差分偵 測模式中收集羌譜資料減輕或避免在現場對光譜分析儀之 校準；（3)光譜資料之此收集模式自動計及包含SSL源群組 之照明產品或器具之長期變化，且減少該sSL源群組中 之兩個或兩個以上SSL源之間的製造變化對照明特徵之影 響，（4)EM輻射之此差分偵測允許在維持可接受qa效能之 同時利用低解析度光學器件；（5)低解析度光學器件大大地 160987.doc 201236511 減少本文中所間述之Q A系統之採用之成本（資本支出 (CAPEX))及部署之成本（操作支出（ορΕχ));及（6)不需要 在製造時校準該SSL源群組。 為了實現前述及相關目的，該一或多個態樣包含（但不 限於包含）在下文中全面闡述並在申請專利範圍甲所特別 指出之特徵。以下闡述及附圖詳細列述該一或多個態樣之 某些說明性特徵。然而，此等特徵僅指示其中可採用本發 明之各種態樣之原理的各種方式令之幾種。 【實施方式】 現在參考圖式來闡述本發明，其中在所有圖式中使用相 似元件符號來指代相似元件。在以下闡述中，出於解釋之 目的列述諸多特定細節，以便提供對本發明之一透徹理 解。然而，可顯而易見，可在無此等特定細節之情況下實 踐本發明之各項實施例。在其他例項中，以方塊圖形式展 示眾所周知之結構及裝置，以便促成闡述本發明。 關於圖式，圖1顯示根據本文中所闡述之態樣達成並利 用自一固態光（SSL)源群組發射之光之品質保證之一實例 性系統100的一方塊圖。至少部分地透過調節該光之光譜 功率分佈（SPD)來實現品質保證（QA)。實例性系統1〇〇包含 一或多個固態光源120之一群組、一或多個光收集組件13〇 及一品質保證系統140。固態光源120之群組可包含（而不 限於）一組LED，§玄LED包含（但不限於包含）：習用led、 有機LED '基於量子點之LED，等等；此（等）LED中之任 一者可係白色LED ;紅色（R)、綠色（G)、藍色（B) 160987.doc 201236511 (RGB)LED ;可以任何或實質上任何其他色彩（紫色、橙 色、紫羅蘭色、黃色等）發射EM輻射之LED，或其一組 合。一般而言，一或多個SSL源12〇之群組中之一光源可係 一實質上單色發射器或激勵至少一個磷光體發射器之一單 個發射器，諸如一白熾燈。 在實例性系統100中’光128包含自一參考光源11〇發射 之電磁（EM)輻射、自一或多個固態光源12〇之群組中之至 少一個固態光源發射之EM輻射及由藉助一或多個物件ι〇4 之散射（例如，反射）產生之EM輻射。參考光源ιι〇部分地 充當一環境（或周圍）光源；參考光源11〇在一或多個固態光 ㈣之群組外部。光128亦可由一或多個光收集組件 13〇(例如，光纖鍵路、準直器、快門或諸如此類）收集… 或多個光收集組件130可將所收集EM輕射供應至一光譜分 析儀組件138(在本說明書及附圖中亦稱為光譜分析儀組件 138)。在某些實施方案中，該一或多個光收集組件包含散 佈式局部收集點（用以一實心圓圈結束之虛線指示），該等 散佈式局部收集點達成獲取實質上自參考光源（參見點A) 發射之EM輻射及實質上自—或多個固態光源U0之群組 (參見點B)發射之EM。藉由係散佈式的，局部收集點可減 輕或避免自參考光源110發射之舰輻射、自一或多個固態 光源12〇之群組發射之EM輻射及自物件ι〇4散射之腕賴射 之間的干涉。 W刀析儀包含-組光學器件及產生指示所收集 輻射之光譜特徵之發信號及相關f料之_組光感測器； I60987.doc 201236511 組光感測器整合至該組光學器件中。光講分析儀i44將發 信號及相關有效負載資料傳達至—QA控制器148。在光譜 分析儀144之一實施例（例如，圖2中所示之實例性實施例 2〇〇)中，該組光學器件包含（但不限於包含）兩個孔徑光闌 212及一光譜儀214(例如，一光柵光譜儀、傅裏葉變換光 譜儀…）；該光譜儀係一小型光譜儀且包含至少兩個出射 光瞳。在此實施例中，一組光感測器23〇可包含光電二極 體、光電倍增器、電荷麵合裝置（CCD)相機或諸如此類。 在實施例中，该組感測器整合至可係一半導體基板（或 晶圓）之一基板220中。一組感測器中之至少一個感測器可 透過各種1C半導體處理技術而整合至半導體基板中。在替 代或額外實施例中，基板220係一塑膠基板。該組光感測 器230與基板220透過一實心板215而整合（例如，連接或製 k成早個件或者經附接以形成一單個件）；實心板21 5可 係剛性或撓性的且由對實質上自第一光源發射之EM輻射 218i及實質上自第二光源發射之EM輻射2丨8〗係有效不透明 的一材料製造。 在某些實施方案中，該組感測器中之一或多個感測器之 一第一子集以包含（而不限於）ΝχΜ個偵測像素之一第一像 素化半導體光電偵測器來體現，其中Μ係自然數。同 樣地’ β亥組感測器中之一或多個感測器之一第二子集以包 含（而不限於）Ν'χΜ'個偵測像素之一第二像素化半導體光 電偵測器來體現，其中Ν’及Μ·係自然數且實質上等於ν 且Μ’實質上等於Μ。第一像素化半導體光電偵測器及第二 160987.doc 201236511 像素化半導體光電彳貞測器整合至一基板（半導體基板、塑 膠基板等）中。該ΝχΜ個偵測像素跨越基板中之一第一侷 限區域，且該Ν，χΜ’個偵測像素跨越基板中之一第二侷限 區域，其中第一偈限區域覆蓋與第一褐限區域所覆蓋之表 面實質上相同之表面。在一態樣中，第一像素化半導體光 電偵測器位於距第二像素化半導體光電偵測器約丨微米至 約100微米内。 繁於該組感測器之特定配置及該組光學器件（例如，兩 個孔口、光譜儀及出射光瞳）之光收集結構，光譜分析儀 144達成對所收集ΕΜ輻射（例如，218l及2182)之光譜特徵 之差分探測。在某些實施例中，對ΕΜ輻射之差分偵測之 至少一優點係一組光學器件210中之光譜儀可係一低解析 度光譜儀。低解析度大大地減少QA系統140之採用之成本 (例如，CAPEX)及部署之成本（例如，ορεχ)。在此等某些 實施例或者額外或替代實施例中，差分偵測之至少另一優 點係該組光學器件210中之光譜儀不需要校準，乃因第一 像素化半導體光電偵測器係在一第二像素化半導體光電债 測器附近製造的且此等光電偵測器係實質上相同的（或實 質上複製的），從而計及與參考光源11 〇及一或多個SSL源 12 0之群組之光譜資料之產生相關聯的系統誤差之大部分 或全部影響。此外’在此等某些實施例或者額外或替代實 施例中，該組光感測器230之前述配置相對於習用系統之 至少又一優點係數目ΝχΜ及Ν·χΜ'可係低的，例如， 〇(1 02-104)，乃因第一像素化半導體光電偵測器係在一第 160987.doc 201236511 二像素化半導體光電_器附近（例如，在約i μηι至約ι〇〇 μιη内）製造的。 在某些實施例中，光譜分析儀144可包含使得光譜分析 儀144能夠遞送數位化資料之一類比至數位轉換器（未展 不）。在替代方案中，光譜分析儀144可供應類比資料且 QA控制器148可包含類比至數位轉換器（未展示）以根據自 光譜分析儀144接收之類比資料產生數位化資料。 QA控制器148獲取（例如，接收、擷取）光譜資料，諸如 由光譜分析儀144產生之發信號及相關有效負載資料。基 於a亥光《醤 > 料’ QA控制器148產生與自一或多個ssl源120 之群組發射之EM輻射相關之一第一 SPD及與自參考光源 110(例如’周圍光）收集之EM輻射相關之一第二SPD。另 外，QA控制器148可比較第一 SPD與第二SPD並判定（例 如’計算）指示第一 SPD與第二SPD之間的光譜差異之一不 匹配度量；該不匹配度量可係一純量或一向量。舉例而 言’可藉由針對一組光譜通道計算第一 SPD與第二SPD之 間的差異來構造一向量不匹配度量；舉例而言，可透過計 算向量不匹配之量值而自向量不匹配度量導出一純量不匹 配度量。在QA控制器148之一實施例（例如，圖3中所圖解 說明之實例性實施例300)中，監視組件320可將發信號及 相關有效負載資料作為發信號3 10之部分來接收；監視組 件320亦可產生第一 SPD及第二SPD並比較該第一 SPD與該 第二SPD。此外，在此實施例中，監視組件320可基於第 一 SPD與第二SPD之比較之結果而判定不匹配度量。為了 160987.doc 201236511 判疋不匹配度量，監視組件32〇可利用方法儲存器3中所 存留之方法。 至> 基於一不匹配度量之一值，q A控制器148可調整一 或多個SSL源120之群組中之至少一個SSL源之至少一個參 數以便致使不匹配度量之值係一適合值。可透過至少一個 預定適合性準則來確立不匹配度量之值之適合性。一適合 性準則可係可組態的。在某一實施方案中，可在實例性系 統100之整個操作壽命中組態恰當性準則，而在其他實施 方案中，可在製造實例性系統i 〇〇時組態恰當性準則。QA 控制器148可將至少一個參數傳達至一 SSL源控制器組件 152(亦稱為sSL源控制器152)。在某些實施例（諸如實例性 實施例300)中，調整組件330可調整一或多個SSL源120之 群組中之至少一個SSL源之至少一個參數，如先前所闡 述。另外’調整組件330可將至少一個參數作為組態〇39〇 之部分來遞送。 在QA系統140中’且回應於接收到控制一或多個sSL源 120之群組中之一 SSL源之光譜特徵的一參數，SSL源控制 器152可根據該參數來組構一或多個SSL源120之群組以便 使與一或多個SSL源120之群組相關之SPD令人滿意地匹配 與一參考光源110相關之SPD。在SSL源之一不匹配度量滿 足至少一個適合性準則時實現一令人滿意之匹配。為了執 行此組構’ QA系統140可產生SSL源之一設定檔，其中該 設定稽包含（但不限於包含）：（1)指示SSL源之致動之一第 一變量’例如，該第一變量指示SSL源是否被通電（或電力 160987.doc 10

S 201236511 接通）或斷電（或電力關斷）；及（2)指示當第—變量指示ssl 源將被通電時將自SSL源在—特定光譜通道（例如，請輕 射光譜之-部分心）中發射之光⑽π，em轄射）之強度的 -第二變量’該第二變量亦稱為—權數參數或權數。可自 人類光譜敏感性曲線導出至少—個權數參數，以減少由於 一第一光源與一第二光源之EM輻射之全異光譜所致之誤 差之影響。在某些實施例（諸如實例性實施例3〇〇)中，調整 、’且件330可產生SSL源之設定檔。為達到至少此目的，調整 組件330可部分地利用一或多個記憶體元件374(檔案、資 料庫、暫存器等）中所存留之一權數集。可自人類光譜敏 感性曲線導出該權數集中之至少一個權數。調整組件33〇 可將一設定檔存留於一組一或多個記憶體元件376(檔案、 資料庫、暫存器等）中。 回應於一第一設定檔之產生，QA控制器148起始一驗收 階段或驗收迴圈，其中反覆地產生後續設定檔（第二設定 檔、第二设定檔等）直至與一或多個SSL源12〇之群組相關 之SPD令人滿意地匹配與一參考光源11〇相關之spD為止。 在一態樣中，驗收階段之起始係一控制事件。在一實施例 (例如’實例性實施例3〇〇) _，模式驅動器組件34〇(或模式 驅動器340)可起始驗收迴圈。作為該驗收迴圈之部分，將 第一设定檔傳達至SSL源控制器152，該控制器調整調節自 或多個SSL源120之群組發射之EM輻射的至少一個控制 參數》該至少一個控制參數之調整產生一或多個5儿源12〇 之經調整群組，作為驗收迴圈.之部分，收集自一或多個 160987.doc -13- 201236511 S SL源120之經調整群組發射之EM輻射並將其提供至如本 發明之先前段落中所闡述之光譜分析儀144 »由QA控制器 148接收與自一或多個SSL源120之經調整群組發射之eM輕 射之光譜特徵相關聯的發信號及相關資料，且組構一後續 設定檔。在該後續設定檔不滿足一驗收準則之情況不，組 構一經更新設定檔且驗收迴圈繼續。在替代方案中，回應 於致使一或多個SSL源12〇之群組令人滿意地匹配與一參考 光源110相關之SPD的一 SSL源之一設定檔通過驗收，將該 設定檔存留於記憶體（例如，記憶體370或其中之一記憶體 元件）中。 在一設定檔通過驗收之一時間或在其之後，將該設定槽 傳達至SSL源控制器152，SSL源控制器152可根據該設定 檔來組態一或多個SSL源120之群組中之至少一個光源。 S S L源控制器1 5 2可包含（但不限於包含）電源、電流源、電 力轉換器（例如，DC/DC升壓器、AC/DC轉換器…）、調節 組件、處理器及諸如此類中之一或多者β在某些實施方案 中’在其中根據至少一個驗收準則光源之一設定檔未通過 驗收之一情形下，QA控制器148發出（例如，產生並遞送） 一報告或組態標記（例如，一使用者介面面板中之一閃爍 光信號）’該報告或標記指示根據規範組構一設定檔之失 敗。在實例性實施例300中，調整組件330可發出報告或組 態此標記。在致使一或多個SSL源120之群組令人滿意地匹 配與一參考光源^相關之SPD的一 SSL源之一設定播通過 驗收之一時間或在其之後’將該設定檔存留於記憶體（例 160987.doc 201236511 如，記憶體370或其中之一記憶體元件376)中。 可回應於以下改變而實現SSL源12〇之群組之調整或組 態：物件104之環境之溫度的改變、SSL光源12〇中之一或 多者之群組之環境之溫度的改變、一或多個SSL光源12〇之 群組之操作條件的改變或諸如此類。另外，可在某些時刻 (例如，由一排程規定之時刻，其_該排程可由一或多個 SSL光源120之群組之最終使用者界定）執行此調整以計及 對一或多個SSL光源120之群組中之至少一個源之損耗影 響。控制邏輯係可組態的且可存留於在功能上耦合至 系統140或在QA系統140中之一記憶體中。 在某些實施例中，品質保證系統丨4〇可在學窆禊式中操 作。在一態樣中，QA控制器148可組態QA系統14〇以在學 習模式中操作；舉例而言，在實例性實施例3〇〇中，模式 驅動器340可將QA系統14〇組態於學習模式中。在此模式 中，QA系統140獲取與一或多個SSL源12〇之群組中之至少 一個SSL源相關的光譜資料並將此光譜資料之至少一部分 存留於一記憶體中。另外或在替代方案中，在學習模式 申，QA系統140獲取與參考光源（例如，周圍源）相關之光 譜資料並將此光譜資料之至少一部分存留於記憶體中。 QA系統140利用光譜資料之至少該部分來將一或多個 源14 0組構為令人滿意地匹配參考光源丨丨〇之至少_個光譜 特徵。在一實施方案中，QA系統14〇可回應於—控制事件 之發生而在學習模式中操作。舉例而纟，當該控制事件係 利用一或多個SSL源120之群組的—光照器具中之至少一個 160987.doc _15_ 201236511 SSL源之部署（例如，安裝與測試）時，QA控制器148可在 控制模式中操作並獲取自該至少一個SSL源發射之EM輻 射，且產生此輻射之一 SPD。該SPD體現光譜資料且存留 於記憶體卜舉另—實例而·^ ’當控制事件係利用一或多 個SSL源120之群組的光照器具之第一次部署（例如，安裝 與測試）時，QA控制器148可在控制模式中操作並獲取自參 考光源110發射之EM輻射；QA控制器148可產生KEm輻射 之一 SPD並將該SPD存留於記憶體中。在某些實施例（例 如，實例性實施例300)中，監視組件32〇可獲取em輻射並 產生其SPD ’監視組件32〇亦可將該spD存留於spD儲存器 378 中。 在實例性系統100中，為了實施先前所閣述之各種特徵 或態樣，QA控制器148可包含或可在功能上柄合至一或多 個處理器（例如，處理器35〇)。另外，輸入/輸出剛組件 (未展示）可達成在QA控制器148之操作中利用之各種暫存 〇 、值之組態。在一態樣中，一或多個處理器（例 處理益350)可至少部分地達成或可經組態以至少部分 地達成QA控制器148或者其中之—或多個功能元件（例如， 組件、產^器、模塊、模組）之利述功能性。在一態樣 為了提供此功能性’一或多個處理器(例如，處理器 :利用-匯流排架構(例如，匯流排385)來在Μ控制 =内之功能元件(例如，組件、控制器、產生器、模塊) 與在功…合至QA控制器148或在以控制器148中之至 V一個記憶體(例如’記憶體，之間交換資料或任何其他 160987.doc 201236511 資訊。該匯流排架構(例如，匯流排385)可以 至少-者來體現：-記憶體匯流排、―系統匯2項中 址匯流排、一訊息匯流排、一二 、一位 ^接針或者用於在勃一虑 理程序或係-處理料之執行 或資訊交換之任何其他導f件之’行資料 再他導e協定或機制。所交換之資訊 y含碼指令、碼結構、資料結構或諸如此類中之 者。 / 1'…處理器(例如，處理器35〇)亦可執行錯存於至 ^個6己憶體（例如，記憶體370)令之電腦可執行指令 =)以實施（例如，執行）或提供QA控制器148之所閣^功 =至少部分。此等電腦可執行指令可包含實施可（舉 :丨：厂)透過本文中所揭示之方法中之一或多者實現且與 :列子QAH4G之功能性或操作至少部分地相關聯之特 務的程式模組、軟體應用程式或韌體應用程式。在一 或f個替代或額外實施例中，—或多個處理器（例如，處 理益350)可散佈在QA控制器148之一或多個功能元件（組 件、模塊等）之間。 在或多項實施例中，QA控制器148可係一通用微電腦 或專用微電腦。QA控制器148及其他組件或功能元件可 實施於—單個積體電路（1C)晶片上或多個1C晶片上。ic可 3°糸在本發明之先前段落中提及之一或多個處理器 處理器350)之部分的至少一個處理器。在包含多個 IC曰曰片之實施例中，QA控制器148之功能元件可配置成若 干模組，： 八中母一模組係實施於一 IC中。另外，透過將電 I60987.doc -17- 201236511 腦可執行指令提供至在功能上耦合至QA控制器14 8或包含 於其中之一記憶體’ QA控制器148可係可程式化的。在替 代方案中，QA控制器148可係不可程式化的且根據本文中 之態樣按照在製造時間所讀立而操作。在一經組合方法 中’ QA控制器148之某些特徵可係可程式化的，而其他特 徵可係不可程式化的且按照在製造時間所規定而保持。 QA控制器148或其中之一或多個組件可以硬體、軟體或韌 體來實施。 在某些實施例中，固態光源控制器152亦 控制器148中所包含之一或多個處理器實質上相同之方式 操作之至少一個處理器。作為一實例，藉由執行一組一1 多個電腦可執行指令，該至少—個處理器可達成根據本文 中所闡述之態樣對-或多個饥源㈣之群組之控制。 鑒於上文所闡述之實例性系統，參考圖4至圖7中之流程 圖可更佳地瞭解可根據所揭示之標的物實施之實例性方 法。出於解釋簡單性之目的，將本文中所揭示之實例性方 法呈現及闡述為一糸歹丨丨叙你.扯 一 糸幻動作，然而，應理解及瞭解，所揭 :之‘的物並不受動作次序之限制’力因某些動作可以與 ηϋ:不及所闡述之次序不同之次序及/或與其他動作 法可替代地表干_之-以個實例性方 圖中）。此外1全—異=目_或事件（諸如在一狀態 動圖可表示根據所揭?之:::方法… 本說明查之之私的物之方法。此外，實施根據 …所閣述實例性方法可能並不需要所有所圖解 160987.doc 201236511 特徵或優點 。在整個本說明書及附圖中所揭示之方法能夠儲存於一製 -上以促成將此等方法輸送及傳送至電腦或計算裝置或具 有處理能力之晶片組(例如，整合式基於半導體之電路)以 供由至少-個處理器執行且因此實施或以供儲存於至少一 個記憶體中。在-態樣中’可採用施行本文中所閣述之方 法之-或多個處理器來執行一記憶體或者任何電腦可讀或 機器可讀健存媒體中所存留之電腦可執行指令(亦稱為電 腦可執行程式碼指令或電腦可執行碼指令或機器可執行指 令），以便實施本文中所闡述之方法。電腦可執行指令在 由一或多個處理器執行時致使該__或多個處理器實施或執 行本文中所揭示之實例性方法中所包含之各種動作。機器 可執行或電腦可執行指令提供一機器可執行或電腦可執行 框架以施行（例如，執行）本文中所闡述之方法。 圖4呈現根據本文中所闡述之態樣用於控制一物件（例 如，物件1〇4)之照明品質之一實例性方法4〇〇的一流程 圖。此控制至少基於實質上自—參考光源及用❹㈣物 件之-作用光源發射之腿輻射之光譜特徵。在某些實施 例中’如本發明之先前段落中所指示，作用光源（一或多 個饥源U0之群組中之一光源）係包含（而不限於）一組基 於LED之燈之一多通道固態光照源。如先前所闡述，該多 通道固態光照源中之一通道跨越E M輻射之光譜之一部分 160987.doc •19- 201236511 △ V。在一態樣中，該多通道固態光照源中之一通道群組可 屬於一單個光源，例如’在可見EM輻射光譜之—部分中 發射之LED。在動作410處，應用控制邏輯以在存在一第 二光源（例如，參考光源）之情況下達成對一第一光源（例 如’作用光源）之照明品質保證β在動作4 2 0處，基於藉由 應用該控制邏輯而產生之資料，將第一光源（例如，作用 光源）組構為匹配第二光源（例如，參考光源）之一光譜功率 分佈（SPD)。在動作430處，用自至少第一光源（例如，作 用光源）發射之ΕΜ輻射來照明一物件。 可以多種模態以及方法及達成此等方法之系統之相關實 施例來應用控制邏輯。圖5至圖7圖解說明此多種模態之實 例；圖5至圖7中所繪示之實例性方法5〇〇至700可至少部分 地體現實例性方法400之動作4 1 〇。在某些實施例中，諸如 QA控制器148或者其中之一或多個組件之一控制器組件（或 控制器）可實施實例性方法500至700。 圖5呈現根據本文中所闡述之態樣用於應用控制邏輯以 動態地控制一物件之照明品質之一實例性方法5〇〇的一流 程圖。在動作510處，獲取自一第一光源（例如，作用光源） 發射之ΕΜ輻射之一第一光譜功率分佈（spD) ^在動作52〇 處，獲取自一第二光源（例如，參考光源）發射之EM輻射之 一第二SPD。在動作53〇處，比較自第一光源發射之EM — 射之第一 SPD與自第二光源發射之輻射之第二spd。在 動作540處，基於該比較之一結果，產生指示第—spr)與 第二SPD之間的光谱不匹配之一度量。在動作55〇處，判 160987.doc 201236511 定該度量之值是否恰當。可藉由比較該值與一預定臨限值 來判定此值之恰當性：舉例而言，指示度量之值小於預定 臨限值之一比較可判定此值係恰當的。在替代方案中，指 示度量之值大於或等於預定臨限值之一比較可判定此值係 恰當的。在其中該判定傳達該度量之值係恰當的一情形 下’在動作560處供應至少第一 SPD。在一替代情形下， 回應於判定該度量之值係不恰當的，在動作57〇處調整第 源之至少一個控制參數以達成該度量之一恰當值。將流 程引導至其中獲取自第二光源發射之EM輻射之520且引導 至其中供應至少一個控制參數之動作580。 圖6至圖7呈現根據本文中所闡述之態樣用於收集與一光 源之光譜特徵相關之資訊之實例性方法6〇〇及700的流程 圖。關於實例性方法6〇〇，在動作61 〇處，判定是否已發生 一控制事件。回應於判定尚未發生控制事件，重新施行動 作610。在替代方案中，回應於判定已發生控制事件，在 動作620處收集自光源發射之EM輻射。在一態樣中，可將 控制事件組態或界定[為組態在動作41〇中應用之用於照明 品質保證之控制邏輯的部分。在一態樣中，該控制事件可 係起始一SSL源（例如，一或多個SSL源12〇之群組甲之一 SSL源）之一設定檔之驗收階段。該光源可係在實例性方法 0中提及之作用光源。在動作63 〇處，產生自該光源發射 之EM輻射之一 SPD，且在動作64〇處，供應此spD。供應 自光源發射之EM輻射之SPD包含將該spD存留於—記憶體 (例如，記憶體370辛之記憶體元件378)中。 I60987.doc -21- 201236511 結合實例性方法700，在動作710處，判定是否已發生一 控制事件。回應於判定尚未發生控制事件，重新施行動作 710。在替代方案中，回應於判定已發生控制事件，在一 時間間隔期間中斷自一第一光源（例如，在實例性方法400 中提及之作用光源）發射之ΕΜ輻射。中斷此ΕΜ輻射可包含 致動一快門以致使一光譜儀之一孔口關閉且因此防止在光 分析光學器件（例如，光譜分析儀144)中收集ΕΜ輻射。另 外，中斷自第一光源發射之ΕΜ輻射可包含將該第一光源 電力關斷或斷電以停止此ΕΜ輻射之發射。如本發明之先 前段落中所闡述，在一態樣中，該控制事件可係起始一 SSL源（例如，一或多個SSL源120之群組中之一SSL源）之 一設定檔之驗收階段。 在動作730處，在該時間間隔期間獲取自一第二光源發 射之EM輻射，且在動作740處，產生此EM輻射之一 SPD。 在動作740處，產生在該時間間隔期間自第二光源發射之 EM輻射之一 SPD。在動作750處，供應指示在該時間間隔 期間自第二光源發射之EM輻射之SPD之資料。在動作760 處，恢復自第一光源發射之EM輻射。 以說明而非限制方式，非揮發性記憶體可包含唯讀記憶 體（ROM)、可程式化ROM(PROM)、電可程式化ROM (EPROM)、電可擦除ROM(EEPROM)或快閃記憶體。揮發 性記憶體可包含充當外部快取記憶體之隨機存取記憶體 (RAM)。以進一步說明而非限制之方式，RAM可以諸多形 式獲得，諸如，同步RAM(SRAM)、動態RAM(DRAM)、同

160987.doc -22- S 201236511 步DRAM(SDRAM)、 雙倍資料速率SDRAM(DDR SDRAM)、增強型 SDRAM(ESDRAM)、同步鏈路 DRAM (SLDRAM)及直接 Rambus RAM(DRRAM)。另外，本文中 之系統或方法之所揭示記憶體組件意欲包含（而不限於包 含）此等及任何其他適合類型之記憶體。 結合本文中所揭示之實施例闡述之各種說明性邏輯、邏 輯模塊、模組及電路可藉助以下裝置來實施或執行：一通 用處理器、一數位信號處理器（DSP)、一特殊應用積體電 路（ASIC)、一現場可程式化閘陣列（FPGA)或其他可程式化 邏輯裝置、離散閘或電晶體邏輯、離散硬體組件或其經設 計以執行本文中所闡述之功能之任一組合。一通用處理器 可係一微處理器，但在替代方案中，處理器可係任何習用 處理器、控制器、微控制器或狀態機。一處理器亦可實施 為一計算裝置組合，例如，一 DSP與一微處理器之一組 合、數個微處理器、一或多個微處理器與一 DSP核心之聯 合s或任何其他此類組態。另外，至少一個處理器可包含 (而不限於包含）可操作或經組態以執行上文所闡述之步驟 或動作中之一或多者之一或多個模組。 此外，結合本文中所揭示之態樣闡述之一方法或演算法 之步驟或動作可直接以硬體來體現；以可由一處理器執行 之一軟體模組來體現；或以兩者之一組合來體現，諸如以 一韌體模組來體現。一軟體模組可駐存於RAM記憶體、快 閃記憶體、ROM記憶體、EPROM記憶體、EEPROM記憶 體、暫存器、一硬碟、一可卸除式磁碟、一CD-ROM或此 160987.doc -23- 201236511 項技術中已知之任何其他形式之储存媒體中。_例示㈣ 存媒體可搞合至處理器，使得該處理器可自該儲存媒體讀 取資訊並將資訊寫入至該儲存媒體。在替代方案中，該儲 存媒體可與處理器成一體。此外，在某些態樣中，^理 器及該儲存媒體可駐存於一ASIC*。另外，該asic可駐 存於顯示器設備中。在替代方案中，該處理器及館存媒體 可作為離散組件（例如，晶片組）駐存於顯示器設備中。另 外，在某些態樣中，-方法或演算法之步驟或動作可作為 -或多個碼或指令之一個或任何組合或集合而駐存於可併 入至-電腦程式產品中之一機器可讀媒體或電腦可讀媒體 上0 在或多個態樣中’所闡述之功能可實施於硬體、軟 =、韌體或其任一組合中。若實施於軟體中，則可將該功 月b作為-或多個指令或碼儲存於一電腦可讀媒體或機器可 讀媒體上或者可在該電腦可讀媒體或機器可讀媒體上傳 輸電腦可讀媒體、機器可讀媒體包含電腦儲存媒體及包 含促成將-電腦程式自一個地點傳送至另一地點之任何媒 體之通信媒體兩者。一儲存媒體可係可由一電腦存取之任 何可用媒體。以實例而非限制方式，此電腦可讀媒體可包 a (不限於包含）RAM、R〇M、、cd r⑽或其 他光碟儲存器、磁碟儲存器或其他磁性儲存裝置或者可用 於才日7或資料結構之形式載運或健存所期望程式碼且可 由電腦存取之任何其他媒體。並且，可將任何連接稱為 -電腦可讀媒體。舉例而言，若使用一同_、光纖電 160987.doc .24. 201236511 '、雙 '、交線數位用戶線（DSL)或諸如紅外線、無線電及 H ^線技術自—網站、㈣器或其他遠端源傳輸軟 體，則該同軸電纜、光纖電纜、雙絞線、DSL或諸如紅外 線、無線電及微波等無線技術皆包含於媒體之定義中。如 本文中所使用’磁碟及光碟包含··壓縮光碟（CD)、雷射光 碟、光學光碟、數位多功能光碟（DVD)、軟磁碟及藍光光 碟，其_磁碟通常以磁性方式再現資料，而光碟通常藉助 雷射以光學方式再現資料。以上各項之組合亦包含於電腦 可讀媒體之範疇内。 【圖式簡單說明】 圖1顯示根據本發明之態樣達成並利用自一固態光（SSL) 源群組發射之光之品質保證（QA)的一實例性系統。 圖2呈現根據本文中所闡述之態樣之一光譜分析儀之一 實例性贲施例《該光譜分析儀可係圖丨中所繪示之實例性 系統之部分。 圖3繪示根據本文中所闡述之態樣之一 q a控制器之一實 例性貫施例。該QA控制器可係圖1中所呈現之實例性系統 之部分。 圖4圖解說明根據本文中所闡述之態樣用於控制一物件 之照明品質的一實例性方法。 圖5圖解說明根據本文中所闡述之態樣用於應用控制邏 輯以動態地控制一物件之照明品質的一實例性方法。 圖6至圖7呈現根據本文中所闡述之態樣用於收集與一光 源之光譜特徵相關之資訊的實例性方法。 160987.doc •25· 201236511 【主要元件符號說明】 100 實例性系統 104 物件 110 參考光源 120 固態光（SSL)源 128 光 130 光收集組件 140 品質保證（QA)系統 144 光譜分析儀 148 品質保證（QA)控制器 152 固態光（SSL)源控制器/固態光（SSL)源控制器 組件 210 光學器件 212 孔徑光闌 214 光譜儀 215 實心板 218, 電磁（EM)輻射 2182 電磁（EM)輻射 220 基板 230 光感測器 310 發信號 320 監視組件 330 調整組件 340 模式驅動器/模式驅動器組件 160987.doc -26-

201236511 350 處理器 370 記憶體 374 記憶體元件 376 記憶體元件 378 記憶體元件/光譜功率分佈（SPD)儲存器 382 方法儲存器 385 匯流排 390 組態 160987.doc -27-

Claims (1)

1. 201236511 七、申請專利範圍： 1· 一種方法，其包括： 應用控制邏輯以在存在一第二光源之情況下達成對一 第一光源之照明品質保證；及 . 基於藉由應用該控制邏輯而產生之資料，組構該第一 光源以展現實質上匹配該第二光源之光譜功率分佈 _ (SPD)之一 SPD。 2.如請求項1之方法，其中該應用包含： 獲取自該第一光源發射之電磁（EM)輻射之一第一 SJPD ;及 獲取自該第二光源發射之EM輻射之一第二SPD。 3 ·如請求項2之方法’其進一步包括： 比較該第—SPD與該第二SPD ;及 基於該比較之結果，產生指示該第一 SPD與該第二 SPD之間的光譜不匹配之一度量。 4.如請求項3之方法，其進一步包括： 針對不滿足至少一個冑合性準則之該度量之一值，調 玉該第一光源之至少一個控制參數以達成該度量之一適 • 合值。 .5.如請求項4之方法，其進一步包括： 將名至夕一個控制參數供應至該第一光源之一控制 器。 6·如請求項2之方法，甘士说& 万法其中獲取自該第一光源發射之該EM 輻射之該第—SPD包含： 160987.doc 201236511 回應於一控制事件之發生而收集該EM輻射；及 自該EM輻射產生該第一 spD。 7.如凊求項2之方法’其中獲取自該第二光源發射之該em 輻射之該第二SPD包含： 回應於一控制事件而在一時間間隔内中斷自該第一光 源發射之該EM輻射； 收集自該第二光源發射之該EM輻射；及 產生在該時間間隔期間自該第二光源發射之該EM輻射 之該第二SPD。 8·如研求項2之方法，其中獲取自該第二光源發射之該em 輻射之該第二SPD包含： 自資料儲存器提取該第二SPD。 9. 一種設備’其包括： 一監視組件，其獲取指示自一第一光源發射之電磁 (EM)輻射之一第一資料集及指示自一第二光源發射之 EM輻射之一第二資料集，其中該第一光源包含一固態光 (SSL)源群組；及 一調整組件，其至少基於該第一資料集及該第二資料 集而發出該第一光源之一設定檔，其中該設定標包含至 少部分地致使該第一光源發射具有一第一光譜功率分佈 (SPD)<EM輻射的至少一個參數，該第一光譜功率分佈 SPD幾乎匹配自該第二光源發射之該em輻射之—第二 SPD 〇 1〇·如請求項9之設備，其中該調整組件將該設定檔存留於 160987.doc 201236511 在功能上耦合至該設備之一記憶體中，且其中該設定檔 中之該至少一個參數包含： 一第一參數，其指示該SSL源群組中之一 SSL源之致動 條件，其中該致動條件係一通電條件或一斷電條件；及 一第二參數，其指示當該致動條件係該通電條件時將 自該SSL源在一光譜通道中發射之EM輻射之強度。 11. 12. 13. 14. 15. 16. 如叫求項9之設備，其中至少基於該第一 SPD與該第二 SPD之一比較之結果’該監視組件判定表示該第一 spD 與該第二SPD之間的光譜不匹配之一度量之一值。 如4求項11之設備，其中該調整組件至少基於該度量之 該值而發出該第一光源之該設定檔。 如請求項9之設備，其中該監視組件執行以下操作： 至少基於該第一資料集而產生該第一 SPD ;及 至少基於該第二資料集而產生該第二SPD。 如請求項9之設備，其中該監視組件自一光譜分析儀獲 取該第-資料集及該第二資料集，該光譜分析儀包括整 ^ 裝置中之一第一光電偵測器及一第二光電偵測 器’其中該第一光電偵測器位於距該第二光電偵測器約 1微米至約100微米内。 如叫求項9之設備，其中該監視組件自資料儲存器 該第二資料集。 如請求項9之設備’其進一步包括一模式驅動器組件， 該模式驅動器組件致使該設備在—歡週期期間 該第—光源發射ΕΜ輻射。 160987.doc 201236511 17. 如請求項16之設備，其中該監視組件執行以下操作： 在該預定週期期間獲取該第二資料集；及 至少基於該第二資料集而產生該第二spD。 18. —種系統，其包括： -光譜分析儀，其收集實質上自一第一光源發射之電 磁（EM)輕射及實質上自一第二光源發射之em輻射，其 中該第一光源包含一固態光源群組；及 一品質保證控制器，其供應該第一光源之一組態，回 應於該組態之實施，該第一光源發射具有一第一光譜功 率分佈（SPD)之EM輻射，該第一光譜功率分佈spD幾乎 匹配實質上自该第二光源發射之該輻射之一第二 SPD 〇 19. 如請求項18之系統，其進一步包括實施該第一光源之該 組態之一光源控制器。 20. 如請求項18之系統，其中該固態光源群組包含至少—個 習用發光二極體（LED)或至少一個有機LED或至少—個 基於量子點之LED中之一或多者。 21. 如請求項18之系統，其中該光譜分析儀包含： 一組光學器件，其包括： 至少兩個孔徑光闌，其耦合至至少兩個光收集導 管；及 ~ —小型光譜儀；及 一光感測器，其透過一材料板整合至該組光學器件 中，该材料板對自該第一光源發射之該EM輻射及實質上 160987.doc S •4· 201236511 自該第二光源發射之該em轄射係有效不透明的。 2 2.如睛求項21之系統，其中該感測器包含： 一第一半導體光電偵測器’其整合於一基板中，其中 該第一半導體光電偵測器包括跨越該基板中之一第一侷 限區域之一第一組像素；及 一第二半導體光電偵測器，其整合於該基板中，其中 該第二半導體光電偵測器包含與該第一組像素實質上相 同之一第二組像素，該第二組像素跨越該基板中之一第 二侷限區域，其中該第二侷限區域覆蓋與該第一侷限區 域所覆蓋之表面貫質上相同之一表面。 23.如請求項22之系統，其中該第一半導體光電偵測器位於 距該第二半導體光電偵測器約1微米至約1 〇〇微米内。 160987.doc c -5 - S