TW201205417A - Method and device for determining a user's touch gesture - Google Patents

Description

201205417 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明關於在包含互動表面及分析碰觸事件之構件之 觸敏裝置中決定使用者手勢（如旋轉或輕擊（fliek))之方 法。本發明亦關於對應之裝置。 【先前技術】 在觸敏裝置之互 件’在其中使用者在 置’且通常同時在互 勢之此種裝置為習知 業系統通常為具有偵 置。作業系統需要有 (如選擇、劉覽、標 觸事件，而有些手勢 互動表面上同時晝出 會大幅地增加裝置的 因此，本發明之 勢之方法及裝置，其 複雜之觸控螢幕時，- 動表面上之觸控手勢為持續之碰觸事 一段時間中直接或間接的碰觸觸敏裝 動表面上移動。可決定使用者觸控手 技術。用以識別複雜的觸控手勢之作 '則多點碰觸功能之觸敏介面之整合装 多點觸控之功能，因許多複雜的手勢 記以及放大縮小和旋轉）需要定出碰 (例如為放大縮小）為在觸敏裝置之 兩個圖形。然而，此多點觸控之功能 成本，而因此僅限於高端裝置。 目的為k供用.以決定使用者之觸控手 經簡化而在市場情況不允許使用高級 可以低端裝置實施。 【發明内容】 此目的可以申請專利益閱楚1 s 範圍第J範圍第1項之方法以及申請專利 固第18項之裝置達成。 201205417 本發明之方法為在包含互動表面，以及僅能分析互動 表面上連續單點碰觸事件之單一碰觸點或多點碰觸 位置之構件之觸敏裝置中，決定使用者之手勢之方法，此 方法包含以下步驟：a)纟使用者之觸控手勢中，決定互動 表面上至少一持續碰觸事件之複數個連續之碰觸點座標； b乂於在㈣a)中決定之碰觸點座標間之預定關係：決 定預定之單點碰觸模式或多點碰觸模式;以及C)對應於步 驟b)中決定之碰觸模式，將預定動作歸類（attribute)。 以本發明之方法，_ *即使使用一次僅能分析一個碰觸之 早點碰觸感測功能’亦可使用複數個碰觸點位置之間之位 置及（或）時間關係以模擬多點觸控之功能。如此即使 在低端之應用上，亦不需因使用單點觸控技術而放棄如放 大縮小之類複雜的手勢，與多點觸控之方案相較之下亦可 使裝置之成本降低。若使用者在互動表面上使用多於一隻 才0貝J在步驟b)中決定之碰觸點互動座標會分佈在軌跡 上。 在本文中觸碰事件」_詞關於任何使用者與觸敏互 僅為在表面上之點擊、滑動、按住不 件’在其中至少有兩隻手指或兩枝觸 互動。「持續碰觸事件」一詞在此關於 作’例如使用者之一或多隻手指在互 動表面之互動。其可 放動作或多點碰觸事 控筆同時與互動表面 滑動或按住不放之動 動表面°「碰觸點座標」—詞關於分析構件所決定之觸碰事 件之軌跡上之一點的位置之座標。 本發明之方法中的步驟&)可在一預定時間内執行，特 201205417 別是在_至綱阳内。若決定之碰觸點座標數大 臨界值及（或）至少二碰觸點座標間之距離大於預定 可執行本發明之方法之步驟b)。的確，若碰觸點座標之數 量太小或碰觸點座標之距離太小’使用者之觸碰事件I法 與複雜之手勢相關，而是單純在互動表面上之點擊。…’ 步驟b)包含分析碰觸點座#是否實f上位於—μ 上。為此’可將演算法（如線性回歸）用於在步驟昀中決 定之碰觸點座標。若碰觸點座標位於_直線上則不需複雜 7分析即可排除為複雜之手勢（如旋轉，其以一或二隻手 指在互動表面上做出弧形觸碰事件）的可能性。 較佳地，步驟b)包含識別碰觸點座標實質上位於_直 線上之步驟’其藉由決定-預定數量之連續的決定碰觸點 座標是否滿足以下關係決定：

yi = axi + b±A 或 Xi = c±A 其中丫；及\對應至預定數量之連續碰觸點座標令之碰 觸i’a為第-常數，特別是整數，b為第二常數，c為第 三常數而Δ為第四常數’且其中a受限於預定數量之不同 離散值，特別是小於50,更特定為小於1〇,再更特定為小 於5。此種資料分析可僅使用很低之計算資源，因此僅需 簡單之電子裝置即可用來執行此方法。為最佳化可用之計 算資源，不同值之總量應為2之次方，如2、4、8、Μ或 32。 一 5 201205417 在此更佳地可僅使用少量之預設值而使此等式可更 輕易地在低端處理器上執行。使用a=〇與卜±1其中之一或 a=〇、n a=±1以及=±…之一做為a之參數可使系 統僅需識別最多4種或8種線性手勢，也就是上下、左右、 以及對角左及對角右，而在第二種變化中，則在上述方向 之間各加上-線性方向。然而，其對大多數之應用來說以 足夠。如此，可進一击筋仆八& , ，簡化刀析。如此，即使低端應用亦 可提供觸敏裝置識別線性手勢之功能。 較佳地’若在步驟b)中決定碰觸點座標位於一直線 上’則本發明之方法可包含額外步驟叫，其決定持續碰觸 事件與多點碰觸之碰觸事件相關，特別是放大縮小事件， 其藉由分析是否在持續碰觸事件中，識別出二實質上線性 且不同方向之軌跡，特別是這些執跡同時出現。即使僅使 =單點觸控功能來取得碰觸點座標’仍可以觀察複數個碰 點之不同座標間之關係方向性質來模擬兩指放大縮小動 在本文中’同時」一詞關於二執跡同時出現（例如歸 類為—扣）在互動表面上， 一 ]丹知在一方向移動後往 另一方向移動作出區別。 /也步驟bl)可更包含一步驟，其若發現座標Xi 二(或）^由增加至減少之至少—（多於一較佳）轉變， 一或）座標\及（或）yi由減少至增加之至少一（多於 觸^佳）轉變’則決定持續碰觸事件關於一多點碰觸之碰 觀察此轉變為簡單但可靠之方法，其可以單點碰 觸刀析S哉別多點觸控手勢。

S 6 201205417 較佳地，此方法可包含決定碰觸點座標對之向量之步 驟，其中向量之起始點關於持績碰觸事件中相較於向量之 結束點之-較早碰觸點。更佳地，步驟μ)更包含決 對之純量積，且當發現不同正負號之純量積時決定有多點 碰觸事件發生。藉由分析向 〇〇 '' 別多點觸控手勢。 “Μ，可僅4點碰觸識 依本發明-實施例，若在步驟b)中決定碰觸點座標位 於一直線上，則步驟b)包含一牛驟^ , 3步驟b2)，其決定若第一碰 觸點之碰觸點座標位於由邊 田透界之碰觸點座標所界定之線 内，則多點碰觸之碰觸事件與放大事件相關’並決定若第 —碰觸點之碰觸點座標仅於由邊界之碰觸點座標所界定之 線上’則多點碰觸之碰觸事件與縮小事件相關，並在 C)中歸類為放大或縮小動作。在此利用放大、縮小手勢之 $何性質’以使用單點碰觸分析構件由1列碰觸點座標 中識別出此二種手勢。 、 ^步驟可包含使用單點碰觸分析構件分析碰觸點座伊 弧形軌跡。較佳地’若碰觸點座標沿-狐形軌跡: 則此持續碰觸事件為旋轉事件。 ” b)包含決定碰觸點座標對之向量，特 觸點對或緊接於碰觸點 續碰觸事件中較…2 起始點關於在持 座標。此處「緊接A昧^ 較早碰觸點之碰觸點 、接」為時間方面，也就是在-第二變化中， 觸二二決定第一碰觸點以及在時間標記tM之下-個碰 之向量。基於獲得之向量資訊（特料向量之方向） 7 201205417 可在步驟b)中識別手勢而不需過多之計算能力。 方法可包含一步驟，其加總一連串之 間之角度，且芒量之向量 且右和超過預定臨界值，則在步驟 為一旋轉動作。旋轉動作可與角度和成正比或)為中== 值。如此’基於向量之性質’其亦可僅使 : 來識別複雜的手勢。 嘴控功能 較佳地，在和超過第一臨界值時歸類為正旋轉動作， 而和低於第二臨界值時歸類為正旋轉動作。 較佳地，步驟b)可包含決定碰觸點位置i與i+2之門 之距離d卜以及碰觸點位置i+1與丨及丨+2所定義之線; 之距離，並決定一預定數量之連續碰觸點座標符合 ,/d2, d±△及（或）dl i*dli/d2i = e±△，則碰觸事件關於一 5形轨跡其巾！、1+ i卩及i+2表示三個連續之碰觸點位 置，而d及e為常數，△為預定參數。此方法提供簡單而 穩定之方法以可分析弧形手勢，而不需過多之計算能力。 依另一實施例，僅用被選擇之一部分碰觸點座標來識 另J弧形手勢。更佳地，弧形手勢可計算（χί_χ; + ι )與) 間之比例並將其值加總。僅在所有如此估計之角度皆具有 相同之正負號時決定其為旋轉。 較佳地’若碰觸點座標位於直線上，本發明之方法在 線性轨跡中僅識別出一方向時，可決定持續碰觸事件為關 於輕擊事件。如此’在沒有放大縮小操作或旋轉動作時， 可利用額外之線性手勢來由一個晝面移至下一畫面。 本發明亦關於一種電腦程式產品，其包含具有電腦可

S 8 201205417 執行指令之一或多個電腦可讀取媒體，用以執行本發明之 方法之步驟。 .本發明亦關於一種觸敏裝置，其包含一觸敏互動表面 以及用以決定該表面上之互動之位置之構件，其中此構件 一次僅能識別一碰觸點之位置，以及用以依本發明之方法 分析在互動表面上一持續碰觸事件之一連_碰觸點位置之 構件。以此裝置亦可達到此方法之優點及其變化。 較佳地’在此觸敏裝置中，碰觸點座標可基於一聲學 訊號分析而決定。基於在互動表面中以彎曲波形式傳播之 聲學訊號之聲學技術較佳，因其解析度通常僅受限於計算 能力。如此，依給定之裝置之計算能力，可決定增加或減 少在一軌跡中之碰觸點座標量而不會喪失由單點觸控功能 分析之軌跡中決定複雜手勢之能力。 接下來，本發明之較佳實施例將伴隨圖式詳述如下。 【實施方式】 如第1圖所示，本發明之觸敏裝置i (如消費型電^ 裝置，例如為行動電話、電子書、MP3隨身聽、電腦螢考 或其他電子裝置）包含觸敏互動表面3以及決定構件5, 其用以決定表面3上之觸碰事件之位置。依本發明，決茨 構件5僅能㈣以單點觸控位置系統’ _次識別—碰觸= 之位置。觸敏裝置1包含分析構件7,其用以分析持㈣ 觸事件之u之碰觸點位置以決定裝置i之使用者在孟 動表面3上之手勢。較佳地’碰觸點位置由分析在觸敏名 201205417 面3令，在觸碰事件後做為彎曲波傳播，並以至少 器（在此為二個，93及913，如屋電傳感器）轉換為電子訊 號之聲學訊號來決定碰觸點之位置。 、’’’’" ^本發明並不限於聲學碰觸位置決定技術，而亦 可使用，、他技術，如電容或表面波技術。—但手勢 出來，分析構件7可將使用者之 5 馮對應之動作， 令。大或縮小或旋轉動作’並由其輸出u輪出對應之指 本發明之識別手勢之方法（如繪示於第i圖中，觸敏 义置1所使用之方法）將於後詳述於第2圖中。 依本發明之步驟21，至少-持續碰觸事件（例如使用 ^ 一或多隻手指在互動表面3上之滑動動作）之複數個 連續之碰觸點座標被㈣構件5所衫。步驟以預定之 時間内執仃’特別是在4〇〇至_ms内’更特定來說為至 少6〇〇mS，其對應於使用者在互動表面3上執行手勢之通 常時間。 m明方法之步驟23中’被決定之碰觸點座標被分 析構件所分析。分析步驟識別由碰觸點座標所形成之軌跡 的特性。依-較佳變化，此步驟僅在被決定之碰觸點座標 量在預定時間内大於一最小臨界值時才執行。如此可確保 使用者確實有提供手勢之輸入。然而，依另一變化，步驟 2 3僅在至少二碰觸點座標間之距離大於預定值時執行步驟 23。其可進一步確保使用者確實有提供手勢之輸入。若碰 觸點座標群在預定值内，則為使用者在相同之位置點擊了 201205417 . 數次，或是方_ Λχ·, 位置執行按住不放動作。 可取4次碰觸夕伯 此敢小臨界值 值’而預定值可取普& 1〇/〇之值》 心值J取蛍幕之對角線之尺寸的 在方法之步驟25中，苴八 是否實質上位於直線上。刀析構件7決定碰觸點座標 第3圖繪示用於決定 上之流程。 ^疋否實質上位於直線 第3圖繪示互動矣 互動表面3及座標軸兀及 不同軌跡51 ' 53、μ 7力外亦繪不4 古▲ 及57，其對應於4不同持螬诚鎚 事件。依令請專利範圍第1担止. 續娅觸 ^ , 項之步驟a)，由分析構件7 母個軌跡51、53、η ,、，丨僻汗/對 及57決定複數個連讀 標，如第！圖中所繪示。在第2b圖中丈㈣之碰觸點座 點座標t，執跡51由點矣_丄 蜩點之娅觸 丄由點表不、軌跡53由「+ 軌跡55由三角形表干， 」夺唬表不、 广表不’而軌跡55由「*」符號表示。 為執行資料分析，分析構件7 標是否滿足以下關係： ’〜刀析碰觸點座 yi=axi+b土△或 Xi=c±^ 其中yi及Xi對應至預定景夕、*达 i之碰觸… b 觸點座標之碰觸點 1之碰觸點座“，a為第-常數，特別是整數、b為第二a 數、c為第三常數，而ΔΛ_ —市 為第四常數，其對\及y可不 同，Δ通常與單點碰觸定位系 蜩疋位系統之精準度有關。系統之準 、‘,、，· 確度愈高，Δ就愈低。 11 201205417 在此實施例中，僅以決定構件對a分析三個值以使資 料分析所需之計算能力不需太高。在此實施例中，a限於 〇、+1及-卜當然參數a亦可取不同之值，或更多之值（如 1〇或M)個不同的值），但在大多數之應用中，其對識別四 個方向之一來說已足夠。依另一較佳實施例，&為〇 ' 土乂、 a=±l或±2。如此’在此變化中之系統經組態以解析八個線 14方向》與第3圖中之情；兄比較，亦可識別在第3圊中繪 示之四個方向間之額外之線性方向。 依另一實施例，亦可以將線性算式用於在步驟21中決 定之碰觸點座標以分析是否有線性軌跡。 若碰觸點座標實質上位置直線上，如第3圖中所示， 則本發明之方法之步驟27評估持續碰觸事件之否對應至 放大縮小事件。 在此步驟中決定碰觸點座標對之向量，特別是對所有 碰觸點對或在直線上緊接之碰觸點座標。另外，基於由向 量間得到之純量積之正負號，可決定使用者是否提供放大 縮小手勢。若觀察到兩向量之純量積之正負號改變，則可 以此純量積判別必定有發生向相反方向拖曳之二線性執 跡0 此狀況繪示於第3圖中’其繪示實質上沿直線之持續 碰觸事件之碰觸點61至6 8，且其一個接一個地被決定構 件5所決定。基於碰觸點6 1至68可形成緊接之碰觸點間 之複數個對應之向量71至77。純量積71 . 72、72. 73、 74. 75以及75. 76具有負说，而純量積73. 74以及76.

S 12 201205417 ' 77具有正號。具負號之純量積為簡單而可靠地識別多點碰 觸之觸碰事件必定正在發生之方法。 對具負號之純量積來說，其起始點與結束點必定屬於 不同方向之軌跡。數個正負號存在之現象更進一步確認此 狀況。 如此，基於此簡單的分析，分析構件7可識別出碰觸 點61 63以及66形成一軌跡’而碰觸點62、64、65、 以及68形成一第二軌跡。 出現二同時存在但不同方向之軌跡更表示此觸碰事件 關於多點碰觸之觸碰事件。如此，其可以一次僅能分析一 點之決定構件5識別多點碰觸之觸担手勢。事實上，決定 系統5僅能偵測同時發生之二觸碰事件中之—個碰觸點位 置，決定之碰觸點位置屬於哪—軌跡則為隨機決定。 除了分析向量性質外，亦可分析碰觸點61之χ及（或） y座標在一點至另一點間是否僅增加或僅減少，或是可觀 察到一或多個轉變（changeover)。例如，由點61至62，χ 及y座標皆增加’而纟62至63兩者皆減少。而在63至 64時兩者皆增加而觀察到轉變。如此，在關於座標之轉變 出現時，分析構件7可決定多點碰觸事件正在發生。 在出現二實質上線性但方向不同之軌跡時，其可在步 驟27中決定此持續碰觸事件關於（例如）中請專利範圍第 1項（依步驟b)之放大縮小事件。 #下來之流程（步驟29)中決定放大縮小手勢為關於 二::放大或縮小之手勢。 13 201205417 在放大手勢中，使用者 放大或增加顯示在觸敏介面其兩“使其打開，例如 蜩敏"面3下之螢幕上之圖的尺寸。在 縮小手勢中，使用去 在 者移動其兩指而使其由原本分開之

變近，以縮小或減少螢幕上顯示之圖之尺寸。 H 至此，如第5及6圖中所示，分析構件7決定執跡(第 5圖中之83及第6圖中之 )之第一（以時間來說）碰觸 點位置（第5圖中之馱S1 B够 啊 之二邊界第6圖中之點91)’以及執跡 【工曰1上之邊界’第5圖中之85及87以及第6 圖中之95及97)。吐-噙典。 85以及93、95分別對應 至八有彼此間最大距離之二碰觸點。 若第一碰觸點81之碰觸點座標位於第5圖之碰觸點座 標83及85所定義之線内，則在步驟31中決定為放大手 勢因此情況對應至兩指相對於彼此變遠之移動而在步 驟33中分析構件7輸出放A動作命令。 另外右第-碰觸點91之碰觸點座標位於由第6圖 之碰觸點座標Μ js ος π + - 、3及95所疋義之線之邊界上，則在步驟31 :、定為縮小手勢，因兩隻手指朝彼此移動，而在步驟Μ 中分析構件7輸出縮小動作命令。 為進一步增進本發明之方法，可在步驟21及29之間 之任意時間點引入本發明一變化之實施例之進一步的步 此步驟包括決定二連續碰觸點座標間之距離，如計算 α/(Ί+1) +(Ί+|)2 或更逼近地計算 。 若對至少一碰觸點座標，此值超過一預定值，則可排 除兩隻手指-起向同一方向移動之在互動表面上的平行動

S 14 201205417 作。另外，在多點碰觸之觸碰事件中，分析構 態，以將距離小於預定值之連續之碰觸點歸類為7 =組 跡’而不滿足此條件之碰觸點座標則被歸類’.、同一軌 Λ m ίί s ^ a 马不同執跡。 在y驟7中，右線性軌跡中僅識別出—方向 、 構件7決定使用者提供了線性持續單點碰觸之事件則分析 驟37中輸出對應之動作命令，其通常關於在步 竿疋·動作。 另外’依轨跡之方向’由左至右輕擊、由右至左輕擊、 由上至下輕擊或由下至上輕擊可在步冑c)中被歸類為持續 碰觸事件。由左至右輕擊或由右至左輕擊可對應至（例如） 手指對互動表面之短促水平移動而對應至第3圖中之軌跡 53。由上至下輕擊或由下至上輕擊可對應至（例如）手指 對互動表面之短促垂直移動而對應至第3圖中之軌跡 由各別碰觸點之時間標記中，可無歧異地得推得軌跡之方 向（轨跡51之上下或執跡53之左右）。 若在步驟25中決定碰觸點座標並非為線性轨跡，此實 施例之流程進行至第2圖十之步驟39 »步驟39包括決定 觸碰事件之轨跡是否對應至一弧形執跡。 為能識別弧形軌跡’分析構件7使用本發明之方法。 決定構件5在步驟21中識別碰觸點1〇1至108之碰觸 點座標。分析構件接著決定一碰觸點以及其下下一個碰觸 點間之距離d 1，例如在步驟21中決定之一連串碰觸點座 標中’碰觸點1 〇 1與1 〇3之間之距離11丨、碰觸點丨02與 i 〇4之間之距離112以及碰觸點1 〇3與1 〇5之間之距離 113。接著，決定被夾在碰觸點間之碰觸點間之距離d2， 15 201205417 101及103所定義之線間之距離 102及104所定義之線間之距離 例如碰觸點102與碰觸點 114、碰觸點103與碰觸點 115 〇 接者，若d2/dl及（或）d2*d2/dl實質上為常數加減 步驟21令決定之碰觸點座標之預定值△，則分析構件7決 疋出現弧形軌跡。如此’例如1]4/u1 = i15/ii2或 wm/⑴=115”15/112 ’其仍於誤差值△内。而此第一 比例為與手勢之角向量成正比之一種度量，而第二比例提 供與弧形手勢之半徑成正比之估計。 接著步驟41及45包括識別是否.超過特定之上或下角 度臨界值，並在步驟43及47中指示向右轉動或向左轉動 動作。被帛7圖中所繪示之軌跡所涵蓋之角度亦可被分析 構件7以步驟39中所決定之距離值逼近。 如依另方法之放大縮小事件評估中，可決定連續之 碰觸點座標對之向4 (其開始點對應至較結束點早之階段 之碰觸點座標）以識別轨跡是否關於弧形軌跡。 將第8圖中所繪示之連續之向量121、i22、123、以 及125間之角度加總’且若和超過狀第_臨界值，則在 步驟41中决疋使用者提供一「向右轉動手勢」，且分析構 件7在步驟43中輸出對應之動作命令。 若角度之和小於第-臨界值，則本發明之方法在步驟 中檢查和疋否小於第二臨界值。在此情況下，使用者提 供-「向左轉動手勢」，且分析構件7在步驟47中輸出對 應之動作命令。

S 16 201205417 最後，此流程可包含一確認步驟，檢查是否所有角度 之正負號相同。 依另一方法’弧形手勢可用以下簡單的近似法來識 別’其特別可用在小尺寸之螢幕而不需高解析度時，例如 用於印表機、掃瞄器等周邊設備。 依此方法’在分析步驟39中僅使用部分在步驟21中 被識別出來之碰觸點（例如3至5個）。較佳地，可選用在 固定間隔之碰觸點。 使用選出之碰觸點之x，y座標，可藉由計算（） 與（yi-yi+ι)間之比例來估計選取之碰觸點中二連續點間之 角度及至軸的距離。最後，執行第二選擇步驟以將其歸類 為預疋固定角度之一（例如16個不同的值）以估計角度， 例如為最接近估計角度之一角度。 接著’若角度之和高於前述第一臨界值或低於前述之 第二臨界值，且若所有角度皆有相同正負號時，分析構件 7可驗證其為旋轉。 手勢之角度範圍所需之計算能力 若進-步超過臨界值，在步驟…？中輸 命令可為—固定值（例如 w 轉9G度或為步進方式），但亦 J興和成正比。篦一臨® +从 界…丨 界之值通常至少大於90。，而第二臨 界值通常小於-90。。 若在步驟39中沒有偵：目，丨ζ,

決定沒有出現放大缩丨^ 1]弧形執跡，則在步驟49中 巧饵現放大縮小、旋触 轉或輕擊手勢。在步驟41及步 17 201205417 驟45中決定之角度和落在二臨界值之間時亦可做出相同 的決定。 本發明並不限於第2圖至第7圖所述之方法，其他命 令動作亦可被歸類為各種動作，且（.或）此方法可被限於 僅使用部分手勢，如僅偵測放大縮小及（或）旋轉。 本發明之方法可為第1圖中之裝置引用，使其可僅以 單點碰觸功能識別複雜之手勢，即使手勢為如放大縮小之 多點觸控手勢。此可以分析複數個碰觸點座標間之關係來 達成。另外，本發明用簡單之流程識別線性及（或）弧形 轨跡，使其可以用簡單之電子組件（如使用8位元技術之 組件）施行。如此，即使是低端裝置亦可具有可識別複雜 手勢之觸敏界面。 【圖式簡單說明】 第1圖繪示本發明之觸敏裝置之實施例 第2圖繪示本發明之實施例之決定使用者之觸控手勢 之方法 第3圖繪示本發明決定碰觸點位置是否位於直線上之 方法 第4圖繪示本發明對多點碰觸之觸碰事件之分析 第5圖繪示本發明實施例之放大事件 第6圖繪示本發明實施例之縮小事件 第7圖繪示本發明實施例中分析之旋轉事件 第8圖繪示一變化中分析之旋轉事件

S 18 201205417 【主要元件符號說明】 I :觸敏裝置 3 :觸敏互動表面 5 :決定構件 7 :分析構件 9a、9b ··傳感器 II ··輸出 51-57、83、93 ··轨跡 61-68、81、91、101-108 :碰觸點 71-77 、 121-125 :向量 83、85、93、95 :碰觸點座標 87、97 :邊界 11 2 -11 5 :距離 S21-S47 :步驟

19

Claims (1)

1. 201205417 七、申5青專利範圍： 該觸敏裝:t:觸敏襄置中決定-使用者之手勢之方法， 上一連續單點I觸=表面’以及僅能分析在該互動表面 之位置之構件…之一單一碰觸點或一多點碰觸事件 方法包含以下步驟： a) 在使用者之艇& ^ ^ ^ ^ . 觸控手勢中，決定互動表面上至少一持 千之複數個連續之碰觸點座標； b) 基於在步驟士 * 決定一預定夕留 ；'、定之碰觸點座標間之預定關係以 疋之单點碰触抬4 ·+、 4T Ο對應於步驟b)中”點碰觸模式；以及 ^ (attribute). 衫之碰龍式，將―預^動作歸 2.如申請專利範圍第j項之方φ， 定時間内執行，特別3在 〃’驟a)在-預 、疋在400 1 800ms内’且若決定之碰 觸點座標數大於一最小臨界值碰 nB 汉（次J至少二碰觸點座標 間之距離大於一預定值時執行步驟b)。 Γ申請專利範圍第1或2項之方法，其中步驟b)包 含分析该些碰觸點座標是否實質上位於一直線上。 定一預定數量之連續的決定碰觸點座標 4·如申請專利範圍第3項之方法，其中步驟b)包含識 別該些碰觸點座標實質上位於—直線上之步驟，其藉由決 決定： 是否滿足以下關係 201205417 ypaxi + b士△或 Xi==c±^ 其中yi及\對應至預定數量之連續碰觸點‘ * 觸i ’ a為一第一常數，特別是一整數、*私中之碰 為一第三常數，而△為一第四常數，且其中&成―數、c 定數量之不同離散值，特別是，丨、於5〇， 〜限於一預 再更特定為小於5。 、定為小於1〇， 5·如申請專利範圍第4項之方法，其中a * 其中之一+ λ , 3為a=〇與1=±1 其中之-或a=0、asi%、a=±1以及a=±2其 ’、T 之 一* ο 6.如申請專利範圍第3至5項其中一項之方法， 右步驟b)中決定該些碰觸點座標位於一 、 含一額外缶腓κ!、甘^ 且踝上，步驟b)包 步驟bl)，其決定該持續碰觸 碰觸事件相關，特別是-放大缩^ *彡點碰觸之 —h 事件，其藉由分析是否 在該持續碰觸事件中，識別出__ —實質上線性且不同方向之 、特別疋此二軌跡同時出現時。 7.如申晴專利範圍第6項之方法，其中步驟叫更包含 一步驟’其若發現座標〜及（或）yi由增加至減少之至少 一（多於一較佳）轉變，及（ ^ .,.,. 、4 )座標Xi及（或）yi由減 少至增加之至少一（多 夕 較佳）轉變，則決定持續碰觸 事件關於一多點碰觸之碰觸事件。 S 2 201205417 如申晴專利範圍第6或7項之方法，其中步驟b 1) gs决定碰觸點座標對之向量之步驟，其中該向量之起始 關於持續碰觸事件中相較於該向量之結束點之一較早碰 觸點。 9.如申清專利範圍第8項之方法，其中步驟bl)更包含 決定向量p k , 〜 对之純量積’且當發現不同正負號之純量積時決 疋有多點碰觸事件發生。 —1〇.如申請專利範圍第3至7項其中一項之方法，其今 *在步驟b)中決定該些碰觸點座標位於一直線上，則步學 步驟b2) ’其決定若第一碰觸點之碰觸點座標位方 碰觸點座標所界定之線内，則多點碰觸之碰觸^ 、事件相關，並決定若第一碰觸點之碰觸點座標{ =邊界之碰觸點座標所界定之線上，則多點碰觸之碰角 作4。與縮小事件相關，並在步驟e)中歸類為放大或縮小售 u·如申請專利範圍第1至10項其中 步驟邮含分析該些碰觸點座否、之方法，其 疋否化—弧形執跡。 A如申請專利範圍第u項之方 座標沿一弧形執跡’則在步驟-歸類二IS碰觸 201205417 1 3 ·如申請專利範圍第11式】〇 固乐1或12項之方法，其令步驟b) 包含決定碰觸點座標對之向眚， Π重特別是所有碰觸點對或緊 接於碰觸點座標，其中向詈之扣仏机ββ 丫 π重之起始點關於在該持續碰觸事 件中較該向量之結束點早之_ M v u Α 干之較早碰觸點之碰觸點座標。 14. 如申請專利範圍第13 f 示J項之方法，其中加總一連串之 預疋量之向量’且若和超過一箱令Bfe田Λ»· 預疋臨界值，則在步驟C)中 被歸類為一旋轉動作。 15. 如申請專利範圍第14項之方法，其中在該和超過一 第一臨界值時歸類為正旋轉動作，而該和低於—第二臨界 值時歸類為反旋轉動作。 16. 如申請專利範圍第U至15項其中一項之方法，其 中步驟b)包含決定碰觸點位置i與i+2之間之距離^ 及碰觸點位置i+1與i及i + 2所定義之線間之距離，並決定 一預定數量之連續碰觸點座標符合dli/d2i = d±△及（或） = △，則碰觸事件關於一弧形軌跡，其中i、卜丄 以及i+2表示三個連續之碰觸點位置，而d及e為常數，△ 為預定參數。 17. —種電腦程式產品，其包含具有電腦可執行指令之 或多個電腦可讀取媒體，用以執行上述申請專利^圍其 201205417 申一項之方法之步驟。 18. —種觸敏裝置，其包含一觸敏互 助表面以及用以決 定該表面上之互動之位置之構件，其 Τ邊構件一次僅能識 別一碰觸點之位置，以及用以依申請 τ叫寻利fe圍第1項至第 17項其中一項之方法分析在該互動 勒表面上一持續碰觸事件 之一連串碰觸點位置之構件。 19.如申請專利範圍第18項之觸敏裝置，其特徵在於碰 觸點座標為基於一聲學訊號分析而決定。