TW201035568A - Contact checking system for an object under test - Google Patents

Description

201035568 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是-種關於待測物之接觸檢查系統 疋一種能夠判定待測物在進行電性測試時 良好的接觸檢查系統。 $钱 【先前技術】

近年來科技不斷的進步，使各種電子產品 而，’為確保>肖費者之安全’皆會對各種電子產^ 行諸多項目的安規賴，—般安規賴主要 子成品、半成品及電子零件執行交直流、超高壓、= 功率耐壓、絕緣電阻、接地電阻、動態茂漏電流 試項目，模擬產品絕緣退化，發現電器化產品電、、 跳火或超溫的問題’以協助取得相關的國際安全 如^JL、TUV、CE㈣證’這些安全絲能確保消 費者使料有-定的安全性’因此這些安全規範之 測相當重要。 、請參閱第-A與-BU所示，其係為習知技術 之漏電流測試電路10圖，包括—微處理控制器1〇1， 一直流電源102、一待測電容模組1〇3、一放大器1〇5 以及一數位類比轉換器1〇6。 該直流電源102可輸出—直流電以進行漏電流 測試，並與一第一電容1021並聯。 該待測電容模組103 —端與該直流電源1〇2相連 接，另一端與該放大器105相連接該。該待測電容模 組103係由一治具1 〇31以及—待測物1 〇32組成，待 201035568 測物1032係放置於治具i〇3l上。

該放大器105具有一第一輸入端1〇51、一第二 輸入端1052、一輸出端1053以及一第一電阻1054， 其中第二輸入端1052係與該待測電容模組1〇3相連 接，第一輸入端1051接地，輸出端1〇53則是與該數 位類比轉換器106相連接，該第一電阻係連接於該治 具103與該輸出端1053之間，該放大器1〇5可將該 待測電容模組103之漏電流放大，並輸出至該數位類 比轉換器106以轉換成數位訊號，該微處理器ι〇1 可接收該數位類比轉換器106之數位訊號，並計算該 待測電容模組103之漏電流值是否在標準範圍以 内，以判別待測電容模組103内的待測物1〇32是否 為合格的產品。 習知技術之漏電流測試電路作測試時，係設定一 漏電流上限值做為判斷待測物是否合格之標準，一旦 待測物之漏電流低於該上限值即判定該待測物為;^ 格的產品。然而，有些待測物與治具之間因為接觸不 良而形成斷路’造成待測物在進行漏電流測試時所量 j到的值為零，而被判定為合格的產品，很顯然地’ 測物會被判定為合格的產品並不是因為其漏 ίΪί正低於該上限值，而是因為該待測物與治具之 間接觸不良所造成的結果。 少- 二Α與二Β圖所示，其係為習知技術 之：f測试電路20圖，包括—第一交流電源2〇1、 -，大器202、-高壓變壓器2〇3、_待測電容模組 «、一整流電路206、—數位類比轉換器撕 以及一微處理控制器208。 201035568 該第一父流電源201可產生一交流電，並傳至該 放大器202 ’以進行局壓測試。 該高壓變壓器203包含一次侧2031與二次侧 2032’該二次侧2032與一第一電容2033並聯且連接 一弟一電阻2034，该二次侧2032並與該待測電容模 組204相連接。 ' s亥放大器202包括有一第一輸入端2021 第 Ο

-輸入端2〇22以及一輸出端2〇23，其中該第—輪入 端2021與该弟一父流電源2〇 1相連接，該第二輪入 端2022與該輸出端2023相連接，該輸出端 與該一次側2031相連接。 # 该待測電容模組204係與該第—整流電路2〇6 相連接’該待測電容模組204係由一治具2〇41以 一待測物2042組合而成’該待測物2〇42/係容置於該 治具2041上。 該第-整流電路206係可將通過待測電 漏電流轉換成-直流電壓，並傳送 位類 比轉換器抓轉換成-數位訊號，該數位訊號 至該微處理控制器208，並計算該漏電流是 、 範圍以内，以判斷該待測電容模組 2042是否為合格的產品。 上之待測物 上述之習知技術之高壓測試電路， ，許在低頻環境下工作’當待測物 2電 知，其容抗將會極大m紐極小 ^值極小 電路因該漏電流極小而欺轉測物為 y習知 際上本待測物為良品’同樣產生降低良率:::點但實 5 201035568 因此，為避免因為治具與待測物間接觸不良，而 V致測試結果錯誤的情況發生，本發明可以有 ^叙查待測物與治具之間的接觸；不僅能提高良率以 及即省人力，讓安規檢測達到最佳狀態， 品之品質及消費者權益。 隹保產 【發明内容】 接觸Γΐΐϊ’ΐ發明之目的在於提供—種待測物之 二其可自動檢查待測物與治具之間的接 測物與治具接觸無誤時，再對該待 確，不舍囡^ μ’、如^匕一來，測試的結果將會更加準 為上述情況而誤判，並提高篩選準確度。 測物：：-種待測物之接觸檢查系統，該待 S 應用電路(例如漏電流測試電路)，該 ，觸k查糸統包括—交流 次側以及二次伽，甘士4 L H益/、 接，該二次側二二亥:欠側係與該交流電源連 Ο -電壓入端以及—輸出端，其中該輸入端設有 接-’該電壓量咖係與該交流電源相連 以及-輸出i關复輸入端、-第二輸入端 連接，該塗_认、中°亥弟一輸入端係與該應用電路相 接，該輪入端係與該整流電路之輸出端相連 輸出缒係與該應用電路相連接。 點將感Li! ϋϊ測物與該治具接觸時，該電磨量測 輸入端以進，壓受化、，並將該切換開關切換至該第一 不量時，讀曾「/Γ 一步測試。若該待測物與該治具接觸 〆电/堅量測點感應不到電壓變化，則該切換 201035568 開關將不會切換至第一輸入端，其自動單元亦會顯示 接觸檢查結果。 因此，藉由本發明之待測物之接觸檢查系統，可 以確定待測物與治具之間是否接觸良好，如此一來， 可以有效避免因為接觸不良而產生的測試誤差，能夠 達到提高良率之功效。 有關本發明之較佳實施例及技術内容，茲配合圖 示說明如下：

【實施方法】 請參閱第三圖，其係為本發明之待測物之接觸檢 查系統之第一實施例圖，本實施例係應用於漏電流測 試電路ίο之待測物接觸檢查。 漏電流測試電路10如習知技術之第一圖，在此 不再贅述，本發明之待測物之接觸檢查系統3包括一 變壓器301、一交流電源302、一整流電路303、一 切換開關304。 變壓器301包含一次側3011、二次側3012與一 第三電容3013，一次側3011之一端與交流電源302 相連接，其另一端接地；二次侧3012之一端與一待 測電容模組103相連接，其另一端連接第三電容3013 後接地；其中交流電源302與變壓器之一次側3011 之間設有一第二電阻3021。

待測電容模組103係由一治具1031以及一待測 物1032所組成，待測物1032可以放置於治具10M 上。 201035568 整流電路303包含一輸入端3031，一輸出端 3032 ’輸入端連接於第二電阻3021與一次側3011 之間’連接點為一電壓量測點3033。 切換開關304具有一第一輸入端3041、一第二 輸入端3042、一第三輸入端3043以及一切換開關輸 出端3044’第一輸入端3041係連接於整流電路之輸 出端3032，第二輸入端3042係連接於放大器之輸出 端 1053 。

切換開關304可以依據微處理控制器ι〇1所傳回 之訊號調整開關位置，當一良好之待測物1〇32正確地 安置於了良好治具1031上時，電壓量測點3〇33將感應 到電壓變化，並將切換開關3〇4切換至第一輸入端3〇41 連接以進行漏電流測試。或者，可以於漏電流測試之前 先檢查待測電容模組1 〇3之狀態。 山數位類比轉換器1〇6具有一輸入端1〇61以及一輸出 端1062，輸入端1〇61係連接於切換開關輸出端3〇44。 數位類比轉換器106可以接收一直流電壓後將直流電壓 轉換成-數位訊號’再將數位訊號傳至微處 1〇1 進行計算。 山顺理控制11 101具有一輸入端1011…第一輸出 山第山二輪出端1013，輸出端1011係與數位 吉、諸;輸出端1%2相連接，第—輸出端1G11係與 連t接’第二輸出端軸 與第’首先使切換開關304之開關 相連接，此時待測物1032尚未放置 於4 1〇31上，打開交流電源302產生-第-交流電， 8 201035568 ^時電壓量測點3033測得一第一交流電壓VI，第一交 流電，VI經過整流電路3〇3、切換開關3〇4、數位類比 轉換器106 ’最後送至微處理控制器101進行處理並產生 一基準值。 ▲開始測量待測電容模組103，將待測物1 〇32容置於 1031上，打開交流電源3〇2再次產生第一交流電， 電壓里測點3033會測得一第二交流電壓,第二

G

^ίΪΐ V2經過整流電路期、切換開Μ 304、數位類 生，最後送至_理控制器1G1進行處理並產 值相^處1G1將比對測試值與基準值，若兩數 於美進估、^制電容池⑽異常；若測試值不等 ;土準值’則判定待測電容模la 103正常。 通知Ϊ ΐ時’可使微❾里控制器101發出警訊’ ΐ時，组103異常。待測電容模、组103異 人員將可式情況進行修正^°具咖本身損壞，測試 關30^==微處理控制器101將控制切換開 出箱^，至與放大器⑽之輸 電流，漏電大通過待_2後產生-漏 換器則，最後ΐ至 14:= 於秫準乾圍内，則判定為不良品。~民°口右漏電流值大 此外，該治具]03]更 τ換為一測線，並進行同樣的 201035568 測試。 请參閱第Eg圖，其係為本發明之待測物之接觸檢 一糸統30之第二實施例圖，本實施例係應用於高壓 測试電路20之待測物接觸檢查。 南壓測試電路2Q如習知技術之第二圖，在此不 2述’本發日:之待測物之接觸檢查系統3包括-變 器別1、—交流電源302、一整流電路303、一切 換開關304。 ❹ Ο k壓器301包含一次側3〇11、二次側3〇12與― f 奋^13，—次側3011之一端與交流電源302 相連接，其另一端接地；二次側3012之一端與測試 J容模組204相連接，其另__端連接第三電容3〇13 後接地，其中交流電源302與變壓器之—次側3〇11 之間設有一第二電阻3〇21。 測試電容模組204係由一治具2〇41以及一 物2042組合而成，待測物2〇42可以放置於治具2〇4) 上。 第二整流電路3〇3更包含一輸入端遍， 出端3032 ’輸入端3031連接於第二電阻302H 次側3011之間，連接點為一電壓量測點3〇33，、 切換開關304具有—第—輸入端观、一 二一Ϊ三輸入端3〇43以及-切換開關： 出端駡，弟-輸人端3G41係連接 = 輸出端3032，第二輸入端3042係連接於第一整^ 路輸出端3042。 ⑦似弟錢電 切換開關304可以依據微處理控制器期所傳回 201035568 置’ 良好制物2G42與正確地 ίίϊ-ΐ〜2042上時，電壓量測點3033將感應 二將切換開關304切換至第-輸入端3041 Ϊ。另外，可以先進行高壓測試，測試結 束後，再進行接觸檢查。 山=位ί比轉換a 207具有一輪入端2071以及一輸出 入=〇71係連接於切換開關之輸出端3044， Ο ❹ 收一直流電壓後將:流電壓^ 成1位喊’再將數位訊號傳至《理控制器208進 行計鼻。 微處理控制器' 細具有一輸入端顧 '一第一輸出 ί 以t第一輪出端2〇83，輸出端2081係與數位 J 出端2072相連接，第一輸出端2〇81係盥 2〇82 =試前，測量初始值，先使切換開關綱之開_ 入端綱1相連接’治具綱此時尚未放置任何 物204卜打開第二交流電源3()2產生—第 電乂匕時電壓量測點3033測得一第一交流電壓弟V1，J 電壓V1經過第二整流電路303、切換開關30/ 最後送至微處理控制器2〇8進行處 開始測量，將待測物2G42容置於治具纖上 交流電源302再次產生第-交流電，此時電壓i 姐過第第二交流電壓v2,第二交流電壓v2 、二k苐一Ik電路303、切換開關3〇4、數位類比轉換器 201035568 207 ’最後送至微處理控制器 值0 208進行處理並產生一測試 值相器208將比對測試值與基準值，若兩數 於某準信，定測試電容模組204異常；若測試值不等 測i車則判定測試電容模1 且204正常，並進行高壓 通知ί ΐ時，可使微處理控制器2G8發出警訊， Ο Ο =士人”測電路模組2〇4異常。測試電容模組2 G是本身故障、待測物_為不良品 ίίΐί:物難與治具_之間接觸不良，以利測 數值不料Μ毁處理控制器208將控制切換開 關304,使切換開關謝之開關切換 路， 出端綱2連接，同時微處理控制器2“控 —第二交流電，第二交流電通過待測物L 属電流’漏電流經第一整流電路寫、切 換開關304、數位類比轉換器2〇7，最後送至 • - ， c,v » pc no 〇 此外’該治具腿更可換為i線，並進行同樣的 ，2巧，若漏電流值撕標準範_，則判定待^物里= 為良。口，若漏電流值大於標準範圍内，則判定為不良品 測試 綜合上述’經由本翻檢查系統3Q，报明顯的 改善習知技術的缺點’能夠確認針對待測物與治且 的接觸做檢查，如此-來，能夠有效減少因為““ 而造成誤判的錯誤，提高測試系統的準確度。 j个良 藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更 201035568 加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所 揭露的較佳具體實施例來對本發明之範*壽加以限 制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相 等性的安排於本發明所欲申請專利範圍的範疇内。 【圖示簡單說明】 弟一 A圖係顯不習知技術之漏電流測試電路； 弟' Β圖係顯不習知技術之漏電流測試電路中待測 物與治具之示意圖； 苐-一 Α圖係顯不習知技術之南壓測試電路， 弟·一 B圖係顯不習知技術之南壓測試電路中待測 物與治具之示意圖； 第三圖係顯示在本發明第一實施例中該習知漏電流 測試電路連接本發明之應用示意圖；以及； 第四圖係顯示在本發明第二實施例中該習知高壓測 試電路連接本發明之應用示意圖；以及 第五圖係指定代表圖。 【主要元件符號說明】 10 漏電流測試電路 101 微處理控制器 102 直流電源 1021 第一電容 103 待測電容模組 1031 治具 201035568

1032 待測物 105 放大器 1051 第一輸入端 1052 第二輸入端 1053 輸出端 1054 第一電阻 106 數位類比轉換器 201 第一交流電源 202 放大器 2021 第一輸入端 2022 第二輸入端 2023 輸出端 203 高壓變壓器 2031 一次側 2032 二次側 2033 第一電容 2034 第一電阻 204 待測電容模組 2041 治具 2042 待測物 206 第一整流電路 207 數位類比轉換器 208 微處理控制器 30 接觸檢查系統 301 變壓器 3011 一次侧 3012 二次侧 3013 第三電容 302 交流電源 14 201035568 3021 303 3031 3032 3033 304 3041 3042 3043 Ο 3044 第二電阻 整流電路 整流電路輸入端 整流電路輸出端 電壓量測點 切換開關 切換開關第一輸入端 切換開關第二輸入端 切換開關第三輸入端 切換開關輸出端 〇 15

Claims (1)

1. 201035568 七、申請專利範圍·· L〆種待測物之接觸檢查系統，該待測物係電性孝馬合一漏 電流測試電路，該接觸檢查系統包括： 一交流電源； -變壓器’具有一次側以及二次侧，其中該—次侧係

   Ο 與该交流電源連接’該二次側倾該漏電流測試電 路連接； 正"丨L電路，具有一輸入端以及一輪出端，其中該輸 入端設有1壓制點，該電壓量_係與該交流 電源相連接；以及 -切換開關，具有—第—輸入端、—第二輸入端以及 輸出令而’其中5玄第一輸入端係與該漏電流測試電 路相連接’該第二輸人端係與該整流之輸出端 相連接’該輪出端係與該漏電_試電路相連接； 其中’將該切制關之開_至該第—輪人端時，則執 行漏電流測試；將該切制_至第二輸人端時 行接觸檢查測試。 、執 2.如申請專利範圍第1 電流測試電路更包括 項所述之接觸檢查 一治具’該待_係置於該治具中。 16 201035568 3. 如申請專利範圍第1項所述之接觸檢查系統，其中該漏 電流測試電路更包括一放大器，該放大器係設置在該變 壓益之一次側與該切換開關之第一輸入端之間。 4. 如申請專利範圍第1項所述之接觸檢查系統，其中該漏 電心測s式電路更包括一自動單元，該自動單元更包括— 數位類比轉鋪以及—微處理控繼，該數位類比轉換 器係與該切換開關之輸出端連接，並將該切換開關所輪 出之類比tfl號轉換絲位减，並傳駐該微處理器進 行處理。 5. 如申請專利範圍帛5項所述之接驗查系統，其中該切 換開關更包括-第三輸入端與該微處理控制器連接，該 微處理器可分析該電壓制闕麵變化，並透過該第 二輸入端控制該切換開關進行切換動作。 6. 一種待測物之接觸檢查系統，該待測物係設置在一高壓 測試電路，該接觸檢查系統包括·· 一第一交流電壓源； 一變壓器’具有-次側以及二次側，其中該一次側係 /、又"丨L電源連接’该二次側係與該高壓測試電路 連接； 17 201035568 —第一整流電路，具有一輸入端以及一輸出端，其中 該輸入端設有一電壓量測點，該電壓量測點係與該 第一交流電源相連接；以及 -切換開關，具有-第-輸人端、—第二輸入端以及 一輸出端，其中該第一輸入端係與該高壓測試電路 相連接，該第二輸入端係與該第一整流電路之輸出 〇 Λ 端相連接，該輸出端係與該高壓測試電路相連接； 其中，將該切換開關之開關調至該第一輸入端時，則執 仃漏電流測試；將該切換開關調至第二輸入端時，則執 行接觸檢查測試。 7·如申請專利範圍第6項所述之接觸檢查系、统，其中該高 壓測试電路更包括一治具，該待測物係設置於該治具中。 〇 8.如申請專利範圍第6項所述之接觸檢查系、统，其中該高 壓測試電路更包括一高壓輸出裝置以及一第二整流電 路，該高壓輪出裝置更包括一第二交流電源、一放大器、 一第二變壓器，該第二交流電源係設置於該放大器與該 微處理控制器之間；該放大器係設置於該第二交流電源 與该第二變壓器之間；該第二變壓器係設置於該放大器 與该第一變壓器之二次側之間；該第二整流電路係設置 18 201035568 關之第一輪入端之 於該第-·麵n之二次側與該切換開 間。 Ο 9.如申請細讓6顿述之接觸檢查祕，㈠节古 厂堅測試電路更包括-自鮮元，該自動單元更包括= 位類比轉換器以及-微處理控彻，該數位類比轉換哭 係與該切綱關之輪出端連接，並將該切換開關所輪出° =比訊_換絲位訊號，並傳該微處理器進行 10.如申明專利關第6項所述之接觸檢查系統，其中讀士 〇關更包括1二輸人端與賴處理控制器連接 赠理器可分析該電壓量測點的龍變化，並透過_ -輪入端控制切換開關進行切換動作。