TW200921445A - Circuit analysis method - Google Patents

Description

200921445 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 ^本發財_-«路分析m要躲樣參數及 杈擬結果進行運算，以推算出各個元件的貢獻度。 【先前技術】 請參閱第1圖，為習用電路分析方法的步驟流程圖。 一般在進行電路的分析時’需要對電路上的所有元件進行 取樣(sampling)域生減峰樣參數，例如㈣地卡羅 (Mome Carlo Sampling)的方式進行取樣，其中每取樣參 料相對應於電路上的某-元件，且H取樣參數中皆 包括有複數個參數，如步驟11所示。 、在得知取樣參數後可進—步對取樣參數進行以產 生，數個模擬結果，例如以模擬器(simuIatQr)對取樣參數進 她擬，亚產生相對應的模擬結果，如步驟13所示。而後 m 何以進—步對取樣參數與模擬結果進行分析及應 用，如步驟15所示。 古擬日㈣要對大㈣取樣參數進行模擬，以提 同桓擬、.，.果的正確性。然而隨著取樣參數數量的择加，勢 必會增加模擬的困難度及所花費的模擬時間二 需要對每-個不_電路進行取樣，並分 行模擬以產生模擬結果。 參_ 【發明内容】 200921445 要對取楳夫者 在於提供一種電路分析方法，主 要二取樣參數及模擬結果進行析方法主 知各個取樣參數及元件的貢獻度。4的運昇，藉此以得 本發明之次要目的，在 由線性迴歸的結果取得電路上種電路分析方法，可 貢獻度對相似電路進行元：心:的貢獻度’並依據 行取樣的元件數目。 擇藉此將可減少需要進 中养^明ί又一目的，在於提供—種電路分析方法，生 中猎由減少需要進行取樣的 刀析方法，其 樣參數的數目，將可提古γ目及萬要進行模擬之取 本發明之又電路進行分析的效率。 依據線性迴歸的結果將貢獻度最低的析方法，可 其餘的轉參數及模擬結果再次進行線性迴歸= 避免在運异的過程巾誤刪度大的取樣錢。# ” 本發明之又-目的，在於提供一種電路 利用-，的四則運算消除取樣參數内各個參數之間的= 關係、’藉此將可有效率的進行參數的取樣。 、d 為達成上述目的，本發明提供一種電路分析方法， 要包括有以下步驟：對複數個元件進行取樣，並主 :且取=數;對取樣參數進行模擬’並產生複數= 果，及將取樣參數及模擬結果進行線性迴歸的 擬、、·口 算出取樣參數的貢獻度。 ’並推 【實施方式】 200921445 明麥閱第2圖，為本發明電路分析方法一較佳實施例 之步，流程圖。如圖所示，本發明所述之電路分析方法， 主要ΐ對ί數組取樣參數及複數個模擬結果進行線性迴歸 的運异’藉細得频減果及元件的f獻度(rank)。 首先在电路中選取複數個元件並進行取樣 ’例如可以蒙地卡羅（M_ c眺或 am- ypercubeSampling)等方式進行取樣，並產生複 應二取樣參數，此外，使用者亦可依據經 、Ή全部的70件進行取樣，如步驟21所示。 Ί對;^數組取樣參數進行模擬，例如 tirr取縣數進行顧，並產缝數個相對應的ί 果如步驟23料。㈣麵行模_，同樣要對、 擬’才可以得収加正確賴擬結果。 取樣rr 擬結果的取得，可進一步對複數級 一”模擬結果進行線性迴歸的運算，如步驟25所 :並ΓΓ迴歸的結果推算出各個元件及取樣參數的貢 數數相對應於電路上的元件，並由取樣參 貝獻度得知元件的貢獻度，如步驟27所示。1 0.4405 0.8547 0.8514 0.3007 0-6539 0.5038 0.2375 0.0145 18.1153 7.0564 11.1091 1.3013 多數及模擬結果之間進行線性迴歸的方式如下：，、羡 0.44OS n r-

B

A 矩陣A為取樣參數而_ B則是取樣參數的模擬矣 200921445 果，每一組取樣參數皆包括有複數個參數，在本實施例中 第一組取樣參數及第二組取樣參數皆包括有四個參數，例 如第一組取樣參數為0.4405、0.8514、0.6539及0.2375 ,第 二組取樣參數則為0.8547、0.3007、0.5038及0.0145。其中 A矩陣的第一行為第一組取樣參數(〇 44〇5、〇 8514、〇 6539 及0.2375) ’ A矩陣的第二行則為第二組取樣參數(〇 8547、

0.3007、0.5038及0.0145)，並將矩陣A補上常數項成為矩 陣A1 ~1 0.4405 0.8547' Λ1 1 0.8514 0.3007 Α1 = 1 0.6539 0.5038 1 0.2375 0.0145 將矩陣Α1進行轉置（transpose)而成為一轉置矩陣 A1T，再將轉置矩陣ΑΓ乘上矩陣A1 4 2.1833 1.6736 Α1γΑ1= 2.1833 1.4029 0.9654 1.6736 0.9654 1.0749 將Α1ΤΑ1反轉換並成為(APAI)·1 _ 1.8842 -2.3916 -0.7859 (A^Al)-^ -2.3916 4.9014 -0.6783 -0.7859 -0.6783 2.7631 將(αΡαι)·1乘上轉置矩陣αΓ 200921445 0.159 -0.3883 -0.0755 (Α1ΤΑ1)ΑΓ= -0.8121 1.5777 0.4715 1.2769 -0.5326 0.1627 將(AlTAlfAl7乘上矩陣Β (Α1ΤΑ1)Α1ΤΒ= 0.05 20

完成線性迴歸的運算並將(ΑΐΤΑΙ^ΑΐΤβ中的常數項

消除得到矩陣I 「0.05-I = 20 進一步將取樣參數的矩陣Α與矩陣I進行比對 0.4405 0.8547 0.8514 0.3007 A = 0.6539 0.5038 0.2375 0.0145

1.3048 -1.2371 -0.907 0.05 20 得知第一組取樣參數（矩陣A的第一行〇.44〇5、 0.8514、0.6539、0.2375)的貢獻度為〇.05，而第二組取樣參 數(矩陣 A 的第二行 0.8547、0.3007、0.5038、0.0145)的貢 獻度為20，因此第一組取樣參數的貢獻度大於第一組取樣 參數的貢獻度。 一般而言取樣參數的複數個參數是以亂數的方式選 取，在選取的過程當中各個參數之間難免會有相關性，而 為了提高模擬的正確性可將各個參數之間的相關性消除， 例如當複數個參數之間存在有一倍數關係時，便可以對其 200921445 .中至少一個參數進行四則運算，以消去參數之間的倍數關 係。 請參閱第3圖，為本發明電路分析方法又一實施例之 步驟流程圖。在第2圖所述之實施例中，是以兩組取樣參 數為說明的實施例，然而在實際進行電路分析時，取樣參 數的數量一般會大於兩組。因此在本發明實施例中將進一 步說明’當取樣參數的數量大於兩組時的操作方式。 广在進行電路分析前同樣要在電路中選擇複數個元件， 並對選擇的元件進行取樣以產生複數個取樣參數，如步驟 21所不。再對取樣參數進行模擬，並產生複數個模擬結果， 如步驟23所示。之後對取樣參數及模擬結果進行線性迴歸 的運算’詳細的運算方式請參造第2圖所述之實施例，如 步驟25所示。 在本實施例中取樣參數的數量大於兩個，雖然在經過 -人線性迴歸的運算後，同樣可以由線性迴歸的結果得知 L 各組取樣參數的貢獻度。然而實際應用時為了提高準確 度’可以對取樣參數及模擬結果進行多次的線性迴歸，例 =將取樣翏數及模擬結果進行第一次線性迴歸，並由第— 線丨生迴知的結果得知各組取樣參數的貢獻度，再將貢獻 度最低的取樣參數刪除，如步驟37所示。 1在刪除貢獻度最低的取樣參數後，可繼續對剩下的取 ;^及模擬結果再次進行線性迴歸的運算，例如進行第 一性迴歸的運算，如步驟39所示。在實際使用時可以 進仃夕次線性迴歸的運算，並依據運算的結果逐次刪除貢 200921445 獻度最低的取樣參數， 組取樣參數及元件。g 乂遂步找出貢獻度高的幾 為了增加運算的钕、夺. 一組以上的取樣參數，並對線性迴歸的結果刪除 行線性迴歸的運算M 樣參數及拉擬結果進 除，並再次進行線性迴歸度最低的兩組取樣參數刪 f 樣參:::貢迴歸:結果，將貢獻度㈣^ 據比對的結獻度進行比對’並依 是否繼續進行線性^刪除貝獻度最低的取樣參數’以及 樣參數的貢獻产與γ的運异。例如可將貢獻度最低的取 對，樣參數的貢獻度的平均進行比 對，當兩者崎“㈣組取樣參數的平均進行比 樣參數餐，=、=小於1: ig便可將絲度最低的取 算；當兩者比對Γ 下的取樣參數進行線性迴歸的運 低的取样支奴、結果大於η 1〇時，則不用將貢獻度最 線性迴歸^運，’並可停止對取樣參數及模擬結果進行 請參閱第m取樣參數的貢獻度。 步驟流程圖。^為本發明電路分析方法又-實施例之 對初始電路進彳^路料的過程巾，電路料者常常需要 電路設計者丁u改(m〇dify)，使得修改後的電路更加符合 裝置上。由的構想，或者是將修改後的電路使用在類似的 败u+西_本發明所述的電路分析方法將可以得知初始電

Jl«王要* 7^件沾占 如带女 、貝獻度’若修改後的電路為初始電路的相 电 便可以參考初始電路上主要元件的貢獻度，並依 200921445 Γ1 的貢獻度對修改後的電路(相似電路)進行電路分 析，而^於提高電路分㈣效率。）進仃電路刀 -次電路的分析並對取樣參數及模擬結果進行 貢紗，：='後’將會得到初始電路上主要元件的 ::可減少需要進行取樣的元件數量，如步驟41所：。2 ==對樣，並產生複數組相對 減少，如步驟43所示t;的，將會隨著取樣元件數 ,t '、取後可龜續對複數組取樣泉數谁尸 ^纽魏⑽目制的模域果，如步驟4;所丁 =修改後的電路與初始電路之間的差異不大=依 為初始電路的相似電路，因此可由初始4: :牛：貝獻度得知會對相似電路造成影響的元件。：：中 分㈣’只需要對部分的元件進行取樣， 取樣參數進行模擬，料有料少需錢行^_亚對 ，取樣參數的數4 ’以縮短對 =件數 的時間。 电給退4 丁刀析所花費 以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已 総定本發明實敲_，料依树明申，非用 述之形狀、構造、特徵及精 和軚園所 應包括於本發明之中請細之均《化與修都，均 【圖式簡單說明】 第1圖：為制電路分析方法的步驟流程圖。 200921445 第2圖：為本發明電路分析方法一較佳實施例的步驟流程 圖。 第3圖：為本發明電路分析方法又一實施例的步驟流程圖。 第4圖：為本發明電路分析方法又一實施例的步驟流程圖。 【主要元件符號說明】

Claims (1)

1. 200921445 十、申請專利範圍： 1 · 一種電路分析方法，主要包括有以下步驟： 對複數個元件進行取樣，並產生複數組取樣參數； 對該取樣參數進行模擬，並產生複數個模擬結果；及 將該取樣參數及該模擬結果進行線性迴歸的運算，並 推算出該取樣參數的貢獻度。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之電路分析方法，包括有 以下步驟：刪除貢獻度最低的取樣參數。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之電路分析方法，其中刪 除的取樣參數的數量為一組以上。 4 ·如申請專利範圍第2項所述之電路分析方法，包括有 以下步驟：對剩下的取樣參數及該模擬結果進行線性 迴歸的運算。 5 ·如申請專利範圍第1項所述之電路分析方法，包括有 以下步驟：將貢獻度最低的取樣參數的貢獻度與其他 取樣參數的貢獻度進行比對。 6 .如申請專利範圍第5項所述之電路分析方法，包括有 以下步驟：依據比對的結果決定是否冊彳除貢獻度最低 的取樣參數。 7 ·如申請專利範圍第1項所述之電路分析方法，其中各 組取樣參數皆包括有複數個參數。 8 ·如申請專利範圍第7項所述之電路分析方法，包括有 以下步驟：消除各個參數之間的相關性。 9 ·如申請專利範圍第7項所述之電路分析方法’其中該 13 200921445 參數之間存在有一倍數關係，並透過四則運算將該參 數間的倍數關係消除。 10 ·如申請專利範圍第1項所述之電路分析方法，其中該 取樣參數相對應於該元件，並由該取樣參數的貢獻度 得知該元件的貢獻度。 11 .如申請專利範圍第10項所述之電路分析方法，包括有 以下步驟：依據該元件的貢獻度進行電路分析。 12 .如申請專利範圍第1項所述之電路分析方法，其中該 取樣參數及該模擬結果皆為矩陣。