TW200839246A - Testing device and testing method - Google Patents
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200839246
三達編號:TW3669PA 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種測試裝置及測試方法,且特別是 有關於一種電子元件之測試裝置及测試方法。 【先前技術】 隨著科技的發展,電子產品之精密度不斷提高。在電 子產品製作過程中,必須經過一連串之測試程序,以確保 電子產品之品質。 μ 一般而言,電子產品係由許多的電子元件所組成,例 如顯示面板、主控制電路板或按鍵控制電路板等。為了空 間設計的便利性,電子元件之間常以軟性電路板 (Flexible Printed Circuits Board,FPC Board)搭載 連接裔(Connector),以便利於各個電子元件之間的連 接0 • 請參照第1圖,其繪示一種傳統電子元件800及測試 板910之示意圖。電子元件8〇〇包括一軟性電路板81〇。 軟,電路板810包括一第一連接器82〇。測試板91〇包括 一第二連接器912。在電子元件8〇〇之測試過程中,首先 將第一連接器820與第二連接器912對接。接著,再由測 試板910提供適當之訊號,以進行測試。 ^ 一般而言,為了確保電子元件800之品質,經常會進 行多次測試。每-次的測試項目可能相同,亦可能不相 同。然而’ f -連接器δ2〇與第二連接器912之插拔壽命 200839246
—mmm · TW3669PA 約為20〜50次,經過多次插拔後,第一連接器82〇與第 二連接器912容易發生機械性損壞。 此外,由於第一連接器820與第二連接器912之間具 有一定之結合力,在分離第一連接器820及第二連接器912 之過程中,經常因施力不當,而撕裂軟性電路板81〇。 上述測試方式所造成第一連接器82〇、第二連接器 或軟性電路板81〇的損壞,不僅經常造成測試結果失 ϋ影響電子元件800出薇後之品質。因此,如何提供 研ΪΪΪ置及測試方法,以克服上述種種問題’實為目前 研九發展之一重要方向。 【發明内容】 針電ί關於—種測試裝置及測試方法,其利用頂 性電路;^=4板及連接器,使得連接器及設置其間之軟 /反之知壞率可大幅降低。 根據本於明 試〜電子元。一目的在於提供一種測試裝置,用以測 Printed I。.電子元件具有一軟性電路板(Flexible 測試板、一B〇ard,FPC Board),測試裝置包括一 墊。切座用Γ絲至少—頂針。職板具有至少一接 撐座上,並朽承制試板及電子元件。頂針係設置於支 1及峨板及軟性電路板之間。頂針具有—第 用以電性連;係用以電性連接接塾’第二端係 κ據本發明之另—目的在於提供—種測試方法,用以 200839246
三達編號:TW3669PA 測忒兒子元件。電子元件具有一軟性電路板(Flexible
Printed Circuits Board,FPC Board)。測試方法包括·· (a)誕供一测试板,測試板具有一接墊;(匕)設置一頂 針於測試板及軟性電路板之間,頂針具有一第一端及一第 二端,第一端係用以電性連接接墊,第二端係用以電性連 接軟性電路板;以及(c)輸入一測試訊號至測試板,測 試訊號並經由頂針及軟性電路板輸入至電子元件,以測試 電子元件。 為讓本發明之上述内容能更明顯易懂,下文特舉較佳 貫施例’並配合所附圖式,作詳細說明如下: 【實施方式】 弟一貫施例 請參照第2A圖,其繪示依照本發明第一實施例之測 喊裝置100的示意圖。測試裝置1〇〇用以測試一電子元件 _ 700。電子元件700具有一軟性電路板(FlexiblePrinted
Circuits Board ’ FPC Board) 710。測試裝置 10Q 包括一 測試板110、一支撐座120及至少一頂針130。在本實施 例中,支撐座120係由一上支撐座124及一下支撐座125 所組成。測試板110具有至少一接墊111。支撐座120用 以承載測試板110及電子元件700。·頂針130係設置於上 支撐座124上,並位於測試板11〇及軟性電路板710之間。 頂針130具有一第一端131及一第二端132,第一端131 係用以電性連接接墊111,第二端132係用以電性連接軟 200839246
二達編號:IW3069PA 性電路板710。 在本實施例中,電子元件700係以一顯示面板為例做 說明。測試裝置100之測試項目包含色彩正確性、燮靡時 間、文字顯不效果、有無壞點或視頻雜訊的程度等。在、、則 試過程中,係可依據不同測試項目選用不同的丨則古式才反 110 ’或者透過同一個測試板110輸入不同的琪彳試訊聲。
如第2Α圖所示,下支撐座125具有一固定槽123, 用以固定測試板110於一預定位置,並限制剛試板11〇無 法在X軸方向及Υ軸方向移動。較佳地,測試板11Q係以 鎖合之方式固定於固定槽123内,以避免測試板11〇移 動。同一個測試板110係可對應於多個電子元件重複 使用。也就是說,测試板110係可常設於固定样123内, 而不需要經常拆卸測試板110。 此外,請同時參照第2Α圖及第3圖,第3圖緣示第 2Α圖之連接器712、頂針13G及測試板11G之側視圖。女 第2A圖所示’軟性電路板71〇具有一連接器_ 712。如第3圖所示,連接器712 ,噴ector 犯,用以電性連接第二端132/、有至广電性接觸點 在本貝把例中’測試裝置1〇〇包括數 連接器712具有複數個電性接觸點71兮固頂針⑽ 複數個接墊m。此些頂針揭係夾持於^^no具有 各個頂針130之第一端131、文私件150上 頂針13G之第二端132係對庫各個接塾111,各难 其中,電性接觸點713係可 =^13。 硬接為712之内部^ 200839246
三達編號:TW3669PA 屬接點或者是連接器712外圍所裸露之金屬線路。 係可依據連接H 712之結構勒適#之電性接觸點^3。 也就是說’電子it件7GG不需要額外變更設計,即可進行 —並且’測試板110僅需將原本之連接器(如第丄圖之 第二連接器912)移除即可裸露出接墊lu,带要 外變更職板110之設計。 "㈣
請參照第2BH ’其!會示第2A圖之虛線區域邡的局 部放大圖。上支撐座124具有一定位槽12卜用以定位連 接器7丨2。定位槽121係限制連接器γΐ2無法於χ軸方向 及Υ軸方向移動。此外,頂針130亦固定於定位槽121中。 如第2Α圖及第3圖所示,透過下支撐板125之固定 槽123定位測試板no,當上支撐座124與下支撐座125 、、且s之後,上支撐座124之定位槽121所在位置恰對應於 測喊板110之接墊111,即可使各個接墊ln精準地對應 於各個頂針130。另外,再透過定位槽121定位連接哭 712,即可使各個電性接墊713精準地對應於各個頂^ 130。而不再需經由人工調整,相當地方便。 請同時參照第4圖及第5圖。第4圖繪示第2Α圖之 電子元件700置入於測試裝置100之立體圖,第5圖繪示 第2Α圖之電子元件700置入於測試裝置1〇〇之侧視圖。 測試裝置100更包括一蓋板140。蓋板14〇係以樞軸式耦 接於上支撐座124。當蓋板140打開時,則可置入電子元 件700於測試裝置100内,並可將連接器712置入定位槽 200839246
三達編號:TW3669PA $内。請參照第6圖,其緣示第4圖之測試裝置⑽在 盍板140合上之狀態的示意圖。蓋板以抵靠軟性電 路板710及其連接器712,以限制軟性電路板71〇及其連 接器712無法移祕z軸方向。並且使得軟性電路板训、 頂針130及測試板11〇之接觸良好。 請參照第4圖,蓋板140包括一卡勾142,支撐座12〇 具有一卡槽122。當蓋板140合上時,卡勾142係卡合卡 槽122,使得蓋板14〇不會鬆脫而影響測試結果。
請參照第7A〜7B圖,其繪示第2A圖之連接器712、 頂針130及測試板110之動作示意圖。各個頂針13〇之至 少一端具有伸縮彈性。在本實施例中,各個頂針13〇包括 一彈性元件,係設置於夾持件150内部,並設置第一端131 及第二端132之間。使得頂針130之第—端131及第二端 132均具有彈性。如第7A圖所示,連接器712及測試板 110尚未接觸頂針130時,頂針130之第一端131凸出於 夾持件150外第一距離D1,頂針130之第二端132凸出於 夾持件150外第二距離D2。 如第7B圖所示,當蓋板140 ( %示於第4圖中)合 上且連接器712及測試板110緊密接觸頂針時,頂針 130之弟一端131凸出於炎持件150外之第一距離})i縮短 為弟二距離D3 ’頂針13Q之第二端132凸出於夾持件150 外之第二距離D2縮短為第四距離D4。此時,彈性元件受 到擠壓,並產生一回復彈力。此回復彈力施加於第一端131 及第二端132,使得第一端131及第二端132分別緊密地 11 200839246
三達編號:TW3669PA 抵靠於測試板110之接墊ιη及連接器712之電性接觸點 713。並且,若各個頂針13〇凸出於夾持件15〇之距離不、 一致時,具有伸縮彈性之第一端131或第二端132係可保 證每一個頂針丨加皆可抵靠接墊in或電性接觸點7'13f 再者,頂針130之截面積係小於或等於接墊lu及電 性接觸點713之面積,以避免頂針13〇誤觸其他線路。 #請同時參照第8圖及第2A圖,第8圖繪示本發明之 =一實施例之測試方法的流程圖。首先,在步驟中, 提供測試板110,將測試板Π0固定於下支撐板125之固 定槽123中。测試板11〇係依據欲測試之電子元件7⑽及 其測試項目選用。 干接著,在步驟S02中,設置頂針13〇於測試板ιι〇及 電子兀件700之間。在本實施例中,係將上支撐板ι24與 下支撐板125組合,其中上支撐板丨24係設置於古_ ⑶之固定槽123中,使設置於上支龍124之 • 準確對準於測試板110之接墊1Π。接著,將待測試電子 兀件700置於支撐板12〇上,並將電子元件7〇〇之連接器 712固定於上支撐板124之定位槽121中,將蓋板14〇合 上。透過夾持件150夾持頂針,並透過固定槽123及定位 槽121定位測試板11〇及連接器712。使得頂針13〇盥測 試板110及連接器712接觸良好。 /' 然後,在步驟S03中,當連接器Π2與測試板11()透 過頂針I30電性連接後,再輸入一測試訊號至測試板11〇。 測試訊號並經由頂針130及軟性電路板710輸入至電子元 12 200839246
三達編號:TW3669PA 件700 ’以測試電子元件7q〇。 雖然上述測試方法係以第一實施例之測試裝置1 〇 〇 為例做說明,然本發明之測試方法並非褐限於此。只要是 設置-頂針於測試板110及軟性電路板71〇之間,以達測 試板110與軟性電路板710電性連接之功效,皆不脫離本 發明所屬技術範圍。 第二實施例 ⑩ 本實施例之測試裝置200與第一實施例之測試裝置 100不同之處在於蓋板240與支撐座220之結合方式,其 餘相同之處並不再重述。請參照第9圖,其繪示依照本發 明第二貫施例之測試裝置200之示意圖。在本實施例中, 盍板240包括一第一磁性元件249,支撐座220包括一第 二磁性元件229。第一磁性元件249及第二磁性元件229 磁性相吸,例如第一磁性元件249及第二磁性元件229為 _ N極磁鐵與S極磁鐵之組合,或者為任一型磁鐵與金屬之 組合。透過磁性相吸之方式,即可使蓋24〇板與支撐座22〇 緊密結合。 本舍明上述貫施例之測試裝置及測試方法係利用頂 針電性連接測試板及連接器,使得測試裝置及測試方法具 有下列優點: ^ 弟、降低連接器之損壞機率」··不再需要重複插拔 連接器,僅需將連接器置於頂針上即可進行測試,使得連 13 200839246
三達編號:TW3669PA 接器之損壞機率大幅降低。 第二、「降低軟性電路板之損壞機率」:連接器不再需 要重複插拔後,軟性電路板不會受到外力拉扯,使得軟性 電路板之損壞機率大幅降低。 ㊉第三、「操作方便」:省去插拔連接器的動作之後,僅 而將電子70件及其軟性電路板及連接器置放於測試裝置 内即可進行測試。使得測試程序變的相當簡易,且方便操 作。 、 第四、「測試板之重複利用性高」:在每一次的測試程 ’測試板並不會遭受破壞,因此同一個測試板係可對 二^夕個1子7〇件重複使用。也就是說,測試板係可常設 於固定>槽内,而不需要經常拆卸測試板。 S個頂針冑可抵靠接墊或電性接觸點」:若 針凸出於㈣件之距離不—致時,具有伸縮彈性之 二接=第二端係可保證每-個頂針皆可抵— 第六、「頂針不會誤觸其他線路」:之 =等於接塾及電性接觸點之面積,以避咖 第七、「並不需要變更電子元件或 性接觸戰筏可以Η $ # 卞飞叫试板之设計」:電 较觸點係可U疋連接器之内部金 外圍所禊霞之仝屬給妨 -接點或者疋連接器 即可裸露出接塾。也就㈣,原本之連接器移除 測試板之設計。 η不而要額外變更電子元件及 14 200839246
三達編號:TW3669PA 綜上所述,雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然 其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常 知識者,在不脫離本發明之精神和範圍内,當可作各種之 更動與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專 利範圍所界定者為準。
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三達編號:TW3669PA 【圖式簡單說明】 第1圖繪示一種傳統電子元件及測試板之示意圖; 第2A圖繪示依照本發明第一實施例之测試裝置的示 意圖; 第2B圖繪示第2A圖之虛線區域2B的局部放大圖; 第3圖繪示第2A圖之連接器、頂針及測試板之侧視 圖, 第4圖繪示第2A圖之電子元件置入於測試裝置之立 • 體圖; 第5圖繪示第2A圖之電子元件置入於測試裝置之侧 視圖, 第6圖繪示第4圖之測試裝置在蓋板合上之狀態的示 意圖, 第7A〜7B圖繪示第2A圖之連接器、頂針及测試板之 動作示意圖; 第8圖繪示本發明之第一實施例之測試方法的流程 圖,以及 第9圖繪示依照本發明第二實施例之測試裝置之示 意圖。 【主要元件符號說明】 100、200 :测試裝置 110、910 :測試板 111:接墊 16 200839246
二達編就,fW3669PA 120、220 :支撐座 121 :定位槽 122 :卡槽 123 :固定槽 124 :上支撐座 125 :下支撐座 130:頂針 131 :第一端 ⑩ 132 ··第二端 140、240 :蓋板 142 :卡勾 150 :夾持件 229 :第二磁性元件 249 ··第一磁性元件 700、800 :電子元件 710、810 :軟性電路板 ® 712 :連接器 713 :電性接觸點 820 :第一連接器 912 :第二連接器 D1 :第一距離 D2 :第二距離 D3 ··第三距離 D4 ··第四距離
Claims (1)
- 200839246 三達編號:TW3069PA 十、申請專利範圍: 1· 一種測試裝置,用以測試一電子元件,該電子元 件具有一軟性電路板(Flexible Printed Circuits Board,FPC Board),該測試裝置包括: 一測試板,具有至少一接墊; 一支撐座,用以承載該測試板及該電子元件;以及 至少-頂針,係設置於該支撐座上,並位於該測試板 及該軟性電路板之間,該頂針具有一第一端及一第二端, 該第一端係用以電性連接該接塾,該第二端係用以電性連 接該軟性電路板。 2.如申請專利範圍第丨項所述之測試裝置,苴中該 頂針之至少一端具有伸縮彈性。 /、 3·如申明專利範圍第1項所述之測試 頂針之截面積係小於或等於該接塾之面積。衣置其^ 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置’其中該 軟丨生電路板具有一連接 八 1少—m 接°° (C〇nneCt〇r),該連接器具有至 屯性接觸點,用以電性連接該第二端。 支^且如有申圍第4項所述之測試裝置,其中該 八有疋位槽,用以定位該連接器。 頂針i截圍第4項所述之測試裝置,其中該 之截面積係小於或等於該電性接觸點之面積。 如申請專利範圍第i項所述之測試 靠該=電板路Γ拖轴式輕接於該支稽座,該蓋板用^抵 人電孝反,使得該軟性電路板、該頂針及該測試板 18 200839246 三達編號:TW3669PA 之接觸良好。 δ.如申請專利範圍第7項所述之測試裝置,增 盍板包括一卡勾,該支撐座具有一卡样, ^ 該卡槽。 價該卡㈣以卡合 9.如申請專利範圍第7項所述之測試 蓋板包括一第一磁性元件,該支#庙^ /、 %Λ 件,該第-磁性元件係用以與 ί0.如申請專利範圍第1項所述之測試裝=性ΐ:: 電子元件係為一顯示面板。 /、中該 11·如申請專利範圍第i項所述之測 ,由 支撐座具有-固定槽,用以固定該測試板。、/、中該 12· —種測試方法,用以測試一電-件具有一軟性電路板(Flexible PH=e疋件,該電子元 Board,FPC Board),該測試方法包括:lrcuits U)提供-測試板’朗試板具有. ⑴設置-頂針於該測試板及該軟性電5板:及 ==有一 f:?及—第二端,該第-; U墊該第—端係用以電性連接該軟性電路板;^ (C)輸入一測試訊號至該測試板,該挪試訊鍊及 由該頂針及該軟性電路板輸人至該電子元件,以測 子元件。 、% I3·如申請專利範園第12項所述之洌試方法,龙 在該步驟(b) *針之至少—#有伸縮賴:、令 】4·如申請專利範圍第12項所述之測試方法,其十 19 200839246 二连緬航· rW3669PA 在該步驟(b)中,該頂針之截面積係小於或等於該接墊 之面積。 15. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法,其中 該軟性電路板具有一連接器(Connector),該連接器具有 至少一電性接觸點,在該步驟(b)中,該電性接觸點係 用以電性連接該第二端。 16. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法,其中 在該步驟(b)中,該頂針之截面積係小於或等於該電性 • 接觸點之面積。 17. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法,其中 該電子元件係為一顯示面板。 20
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