TW200816149A - Integrated circuit, liquid crystal panel with same and method for detecting integrated circuit - Google Patents

Description

200816149 九、發明說明： m 【發明所屬之技術領域】 ‘本發明係關於一種液晶顯示面板積體電路及其檢測方 法，及使用該積體電路之液晶顯示面板。 【先前技術】 通常，液晶顯示面板在製作過程中會出現一些不良 品，修復不良品的方法係分析不良原因，對可能出現不良 之元件進行檢測，例如液晶顯示面板之積體電路，然後找 出不良元件’並更換不良元件。 請參閱圖1，係一種先前技術液晶顯示面板之示意 圖。該液晶顯示面板10包括一顯示區域11及一電路區域 12。該電路區域12設置有複數積體電路120。該積體電路 120用於驅動該顯示區域11，使其顯示影像。 請參閱圖2，係該積體電路120之電路示意圖。該積 體電路120包括一升壓電路（Booster circuit)121及一控制 電路122。該升壓電路121包括複數輸出端125。該等輸出 端125分別連接至該控制電路122。 請參閱圖3，係該積體電路120檢測時之系統示意圖。 其中’該檢測糸統13用於檢測該積體電路12 0。該檢測糸 統 13 包括一印刷電路板（Print Circuit Board，PCB)130 及一 外加電源140。該印刷電路板130與該積體電路120之升 壓電路121相連接。 該外加電源140包括一直流電源141及一濾波電容 142。該濾波電容142連接於該直流電源141之二端，用於 6 200816149 去除該直流電源141輸出電壓之雜訊。 ‘當該積體電路120運作時，該印刷電路板130輸出一 致能訊號至該升壓電路121，該升壓電路121之輸出端125 分別輸出複數較高之直流電壓至該控制電路122。 當檢測該積體電路120時，該外加電源140與該升壓 電路121中一需要檢測之輸出端125相連接，為該控制電 路12 2提供一檢測電壓’以檢測該積體電路12 0是否正常 運作。 ® 由於檢測該積體電路120時，該積體電路120之升壓 電路121及控制電路122仍然連通，即該升壓電路121仍 然在輸出直流電壓至該控制電路122。此時，在該升壓電 路121之一輸出端125另接直流電壓時，易導致該輸出端 125輸出電壓過大而燒壞該控制電路122，故該積體電路 120在檢測時可靠性較低。 【發明内容】 0 有鑑於此，提供一種檢測時可靠性較高之液晶顯示面 板積體電路實為必需。 有鑑於此，提供一種使用上述液晶顯示面板積體電路 之液晶顯示面板亦為必需。 有鑑於此，提供一種上述液晶顯示面板積體電路之檢 測方法亦為必需。 一種液晶顯示面板積體電路，其包括一升壓電路、一 控制電路、一暫存器及複數開關元件。該升壓電路包括複 數輸出端。該開關元件包括一控制端、一第一端及一第二 7 200816149 。該控制端連接至該暫存器。該第一端連接至該升壓電 路之輸出端。該第二端連接至該控制電路。 一種液晶顯示面板，其包括一顯示區域及一電路區 域。該電路區域上設置有複數積體電路。該積體電路用於 驅動該顯示區域，其包括一升壓電路、一控制電路、一暫 存器及複數開關元件。該升壓電路包括複數輸出端。該開 關元件包括-控制端、-第—端及—第二端。該控制端連 ，至該暫存器。該第一端連接至該升壓電路之輸出端。該 第二端連接至該控制電路。 一種上述液晶顯示面板積體電路之檢測方法，其包括 如下步驟·· a·該液晶顯示面板積體電路運作時，一印刷電 ^反輸出-致能訊號至該升壓電路’同時—暫存器提 開啟訊號至該等開關元件，使該等開關元件均導通·匕 檢測該液晶顯示面板積體電路時，一直流電源與該升屢· =需要檢測之輸出端相連接’同時該暫存器提供關閉訊 該輸出端連接之開關元件，使該需要檢測之輸出端斑 該控制電路斷開，該直流電源在該開關元件之第 —檢測電壓至該控制電路。 鸲鐽供 相較料前㈣，㈣㈣f路騎檢 ::控制該等開關元件之開關，使需要檢測之升麼電： :出端與該控制電路斷開，從而避免檢測時該輸出端：二 較高。〜㈣控料路，故該積體電路在檢測時可靠性 【實施方式】 8 200816149 請參閱圖4，係本發明液晶顯示面板一較佳實施方式 * 之不意圖。該液晶顯不面板20包括一顯示區域21及一電 路Μ域22。該電路區域22設置有複數積體電路220。該積 體電路220用於驅動該顯示區域21，使其顯示影像。 請參閱圖5，係該積體電路220之電路示意圖。該積 體電路220包括一升壓電路221、複數電晶體224、一控制 電路222及一暫存器223。該升壓電路221包括複數輸出 端225。該等電晶體224皆為Ν溝道金屬氧化物半導體場 效應電晶體（N-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor，N_M0SFET)，其閘極 2241 連接至 該暫存器223，源極2242分別連接至該輸出端225，汲極 2243連接至該控制電路222。 請參閱圖6 ’係該積體電路220檢測時之系統示意圖。 其中，該檢測系統23用於檢測該積體電路220。該檢測系 統23包括一印刷電路板230及一外加電源240。該印刷電 路板230與該積體電路220之升壓電路221相連接。 該外加電源240包括一直流電源241及一渡波電容 242。該濾波電容242連接於該直流電源241之二端，用於 去除該直流電源241輸出電壓之雜訊。 當該積體電路220正常運作時，該印刷電路板23〇輸 出一致能訊號（Enable Signal)至該升壓電路221，同時今暫 存器223在指令控制下提供複數開啟訊號至該電a體 224 ’使該電晶體224均導通，從而使該輸出端22$八別幹 出複數較高之直流電壓至該控制電路222。 9 200816149 當檢測該積體電路220時，該外加電源240與該升壓 電路221中需要檢測之輸出端225相連接，同時該暫存器 223在指令控制下提供關閉訊號至與該待測之輸出端225 連接之電晶體224之閘極2241，使該需要檢測之輸出端225 與該控制電路222斷開，該外加電源240在該電晶體224 之汲極2243提供一檢測電壓至該控制電路222,以檢測該 積體電路220是否正常運作。 由於檢測該積體電路220時，該暫存器223會控制相 應電晶體224之開關，使待測之輸出端225與該控制電路 222斷開，從而避免檢測時該輸出端225仍然輸出電壓燒 壞該控制電路222，故該積體電路220在檢測時可靠性較 高。 該積體電路220亦可具其他多種變更設計，如：該電 晶體224可為其它開關元件，其包括一控制端、一第一端 及一第二端，其控制端連接至該暫存器223，第一端連接 至該輸出端225,第二端連接至該控制電路222,該開關元 件之控制端可控制該第一端與第二端是否導通；該電晶體 224亦可為P溝道金屬氧化物半導體場效應電晶體 (P-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect

Transistor，P-MOSFET);該電晶體224亦可為雙極性NPN 型三極體或雙極性PNP型三極體，其基極連接至該暫存器 223，射極連接至該輸出端225，集極連接至該控制電路 222 ° 綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，爰依法 200816149 提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方 式，本發明之範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟習本 案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化， 皆應涵蓋於以下申請專利範圍内。 【圖式簡皁說明】 圖1係一種先前技術液晶顯示面板之示意圖。 圖2係圖1所示液晶顯示面板之積體電路之電路示意圖。 圖3係圖2所不積體電路檢測時之糸統不意圖。 圖4係本發明液晶顯示面板一較佳實施方式之示意圖。 圖5係圖4所不液晶顯不面板之積體電路之電路不意圖。 圖6係圖5所不積體電路檢測時之糸統不意圖。 【主要元件符號說明】 液晶顯不面板 20 顯示區域 21 電路區域 22 檢測系統 23 積體電路 220 升壓電路 221 控制電路 222 暫存器 223 電晶體 224 輸出端 225 印刷電路板 230 外加電源 240 直流電源 241 滤·波電容 242 閘極 2241 源極 2242 汲極 2243 11

Claims (1)

1. 200816149 十、申請專利範圍 1·一種液晶顯示面板積體電路，其包括： 升壓電路’其包括複數輸出端； 一控制電路； 一暫存器；及 複數開關元件，該開關元件包括： 一控制端，其連接至該暫存器； Φ 苐其連接至該升壓電路之輸出端；及 苐一端’其連接至該控制電路。 2.如申請專利範圍第i項所述之液晶顯示面板積體電 路，其中，該開關元件係電晶體，該控制端係該電晶 體之閘極，該第一端係該電晶體之源極，該第二端係 該電晶體之汲極。 3·如申請專鄉圍第2項所述之液晶顯示面板積體電 φ :電2:該電晶體係。溝道金屬氧化物半導體場效 # 4.:申=利範圍第2項所述之液晶顯示面板積體電 =/、中，該電晶體係N溝道金屬氧 應電晶體。 ▼版琢双 5. 如申請專利範圍第1項所述之液晶顯示面板積體電 路，其中，該開關元件係三極體，該控制端係該= 體之基極，該第一端係該三極體之射極，該第Γ = 該三極體之集極。 邊弟一鳊係 6. 如申請專利範圍第5項所沭之饬曰加_ $ W迷之液晶顯不面板積體電 12 200816149 •路’其中，該三極體係雙極性PNP型三極體。 ^如申請專利範圍第5項所述之液晶顯示面板積體電 路’其中，該三極體係雙極性NPN型三極體。 8·—種液晶顯示面板，其包括： 一顯示區域；及 一電路區域，其上設置有複數積體電路，該積體電路 用於驅動該顯示區域，其包括： • 一升壓電路，其包括複數輸出端； 一控制電路； 一暫存器；及 複數開關元件，該開關元件包括： 一控制端，其連接至該暫存器； 一第一端，其連接至該升壓電路之輸出端；及 一第二端，其連接至該控制電路。 9·如申請專利範圍第8項所述之液晶顯示面板，其中， • 胃開關元件係電晶體，該控制端係該電晶體之閘極， 該第一端係該電晶體之源極，該第二端係該電晶體之 没極。 10. 如申請專利範圍第9項所述之液晶顯示面板，其中， 該電晶體係p溝道金屬氧化物半導體場效應電晶體。 11. 如u利範圍第9項所述之液晶顯示面板，其中， 該電晶體係N溝道金屬氧化物半導體場效應電晶體。 12. 如申請專利範圍第8項所述之液晶顯示面板，盆中， 該開關元件係三極體，該控制端係該三極體之基極， 13 200816149 * = 、係該二極體之射極，該第二端係該三極體之 集極。 一 13·如申請專利範圍第12項所述之液晶顯示面板，其 中’該二極體係雙極性PNP型三極體。 14·如申請一專利範圍帛12項所述之液晶顯示面板，其 中’該三極體係雙極性NPN型三極體。 15. 一種如中請專利範圍第1項所述之液晶顯示面板積 # 體電路之檢測方法，其包括·· 積 a•該液晶顯示面板積體電路正常運作時，—印刷電路 板輸出一致能訊號至該升壓電路，同時該暫存器提 供複數開啟訊號至該開關元件，使該開關元件均導 通； b.檢測該液晶顯示面板積體電路時，一直流電源與該 升壓電路巾待測之輸出端相連接，同時該暫存器提 供關閉訊號至與該待測之輸出端連接之開關元 • 件，使該待測之輸出端與該控制電路斷開，該直流 電源在該開關元件之第二端提供一檢測電壓至該 控制電路。 16. 如申請專利範圍第15項所述之液晶顯示面板之檢測 方法’其中，該步驟b進一步包括在該直流電源之二 端接一濾波電容。 14