TW200414292A - Apparatus and method for cleaning electronic components - Google Patents
Apparatus and method for cleaning electronic components Download PDFInfo
- Publication number
- TW200414292A TW200414292A TW092137514A TW92137514A TW200414292A TW 200414292 A TW200414292 A TW 200414292A TW 092137514 A TW092137514 A TW 092137514A TW 92137514 A TW92137514 A TW 92137514A TW 200414292 A TW200414292 A TW 200414292A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- cleaning liquid
- tank
- liquid
- cleaning
- electronic
- Prior art date
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 76
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 68
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 2
- 235000017166 Bambusa arundinacea Nutrition 0.000 claims 1
- 235000017491 Bambusa tulda Nutrition 0.000 claims 1
- 241001330002 Bambuseae Species 0.000 claims 1
- 206010011469 Crying Diseases 0.000 claims 1
- XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N Cyanide Chemical compound N#[C-] XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 235000015334 Phyllostachys viridis Nutrition 0.000 claims 1
- 239000011425 bamboo Substances 0.000 claims 1
- 210000005069 ears Anatomy 0.000 claims 1
- 239000000796 flavoring agent Substances 0.000 claims 1
- 235000019634 flavors Nutrition 0.000 claims 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims 1
- 239000008258 liquid foam Substances 0.000 claims 1
- 239000011824 nuclear material Substances 0.000 claims 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 claims 1
- 239000002893 slag Substances 0.000 claims 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 abstract 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 55
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 12
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 2
- 241000283690 Bos taurus Species 0.000 description 1
- 101150105088 Dele1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101000774651 Naja atra Zinc metalloproteinase-disintegrin-like kaouthiagin-like Proteins 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 210000001124 body fluid Anatomy 0.000 description 1
- 239000010839 body fluid Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004100 electronic packaging Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000009700 ping-tang Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/10—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
- B08B3/12—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration by sonic or ultrasonic vibrations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/10—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
- B08B3/12—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration by sonic or ultrasonic vibrations
- B08B3/123—Cleaning travelling work, e.g. webs, articles on a conveyor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4803—Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
- H01L21/481—Insulating layers on insulating parts, with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Description
200414292 五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 本發明涉及-種大量電子元件的清洗,如 2,尤其應用於㈣處理(cutting prQeess)後的衣^ 【先、# i件f分離之後’其在也可以應用於被分離之前。 【先珂技術】 〜 隨著現代的半導體或電子封裝件 在封裝件的製造過程中大量電子封 材上。這些大量電子封裝件被澆鑄以保護包含」 :衣件中的積體電路之後’例如⑽GA (Ghip_Seaie b 封裝件的情形’其有時通過切割分離。由 污垢和污染的小顆粒形式存在的切判 f,ί切割(分離)後的⑽“封裝件的處理就包含。 :』後的清洗。在切割過程中’通常採用冷卻水作用于 哀件^來清洗切割封裝件的頂面。該冷卻水不但可用於冷 卻切割片(saw b 1 ades )和封裝件,而日叮 ^ 中產生的剩餘物。⑮是,由夂:判=:4用於沖洗切割 而菸食拉經 Μ 以及该封裝件和吸附表 面緊枪接觸’戶斤以該底面不能用這種方式清除 觸限制了這種方式的清除有效性。 “ k樣勺接 通常,在處理切割後的封裝件時有兩種方法 ,’即欲套方法(nesting a_ach)和非嵌套^ (non-nestmg approach )。嵌套方法請參見 6’ 1 65, 232 ("在切割過程中安全固定基材的方法和裝置: 200414292 五、發明說明(2) _ ') ίΑϊ封裝件的基材。採用該嵌套機構,大量電以含 封裝件的升起的嵌套機構的上,在固定切割後 -種常規方法。對以封裝件的頂面和底面而言其是 用這種方法清洗切割後 喷射水流到達封裝件===果格,^ 此不徹底,而且,封裝件越小,在使:,&洗可 的過程中合適地固定封裝件就越難。曰i 、射水流清洗 中,2 = ί f法凊參見美國專利公開號20〇2/〇133971 ^ 中,又有格柵排列來固定單個的切割後的 971,其 沒有被升起。對非嵌套方法而言:封割 過i撐Ϊ = ; =洗分離後的封裝件的底面Π 液體來完成。因此至該封= f提供水或其他清洗 。 封攻件的底面通過該操作而被沖洗 斜ΐΐ ’僅僅使用流動水來清洗分離後的封壯I 而▲ : f邊底面和稀釋附著在封裝件底面的、、亏::牛的底面 這種方法就不能完全清除所= 是…, 第6頁 200414292 五、發明說明(3) 【發明内容】 因此,本發明的目的在於提供一 件的改良裝置和方法,其通過向封裝電子封裝 能量的水或其他清洗液體來實現。、 八7載有超聲波 本發明一方面提供一種清洗大量 其與清洗液體聯絡以向其提供超聲波能量;器, 位於清洗液體上表面的上方以支撐電子元 #室,其 中該電子元件和清洗液體的所述上表面相接觸ί f使用 其用於產生持續的清洗液體流進入該;體液: /月洗和 洗液體的所述上表面相接觸的電子元件。以 本發明另一方面提供一種清洗大量電子 ,包括下列步·:提供容置有清洗液 二體提供超聲波能量(ultr一lly的二 =SUPP〇rting)電子元件以便該電子元件和該清洗液體 SLm和產生持續的清洗液體流進入該槽體, 以^洗和μ洗液體的所述上表面相接觸的電子元件。 $閱後m的描豸本發明實施例的附目,隨後來詳細描 ^本發明是很方便的。„和相關的描述不能理解成是對 本發明的限制,本發明的特點限定在權利要求奎中。 【實施方式】 圖1所不為現有技術清洗裝置的局部側視圖,其在電 子封裝件2的頂面和底面上使用喷射水流7,該電子封裝件 由和嵌套方法一起使用的嵌套機構的上下格栅5、丨所固定 第7頁 200414292 五、發明說明(4) 該清洗方法由將增壓喷射水流7通過液體喷嘴3泄放在封 裝件上來完成’該封裝件由上下格柵5、1所固定。該液體 喷嘴3由喷嘴座體6支撐,該裝置可容置在清洗室4中。由 於該上下格栅5、1的妨礙,喷射水流的清洗可能不充分。 、圖2a所示為本發明較佳實施例清洗裝置丨〇的局部侧 視圖。在該被描述的實施例中,該裝置1〇是基於美 ==2002/0 1 33971的非嵌套方法所製成。雖然該裝置ι〇 /异限於清洗電子元件的底面,但是其是 洗由f種非嵌套方法處理的電子元件的底面。 十末/月 臺14 "亥J U含:-個支撐大量電子元件的沖洗或支撐平 u的頂面電子封裝件12的形式支撐於支撐平臺 成夕加、V Μ〜支撐平堂1 4上設有大量孔洞,該孔洞可被八 ^ ;文·輸入通道j 6和液體輸出通 ^ 以描述的其他部分被方 :中= 的)通過該液體輸入通道16被引入以= 封裳垢和其他剩餘物的水通過液體輸出通道心 2〇的邊緣上,二平堂14可安裝在充滿水的内槽體 方。該液體輸;臺14就定位於水的上表面的上 頂面擴散開來遞水以便使水在該支樓平臺1 4的 上提升、擴展,並在該支撐平臺14的頂面 觸。 '"支撐平堂14上的電子封裝件12相接 該内槽體2〇環縝古& ^卜槽體22並和該内槽體20相鄰放置
第8頁 200414292 五、發明說明(5) =外槽,22被用來收集通過液體輸出通㈣排出的水, =支撐平臺14的液體輸出通道18和液體輸人通㈣相鄰, =和外槽體相連的輸出通道3G實現水的排出。通過使 用真二抽氣機(未不)來對外槽體22提供真空吸力,排水 ,速度可得到提高。接著’ &切割後的封裝件上移除污垢 :小顆粒的速度進一步加強’以提高清洗的有效性。通過 使用0型圈24可將内槽體20自外槽體22密封,以 支撐平臺14的内槽體20。 振nm被浸沒在容置有水的内槽體2〇的水 I二 水傳遞並向水提供超聲波能量;同時,水 如水泵28產生並持續地引入水到内槽體20, 子封Ϊ ^ ,的水流通過液體輸入通道16而接觸並清洗電 平流=概念進行底面清洗…,在支撑 :的下方’超聲波能量通過超聲波共振器26“皮作用 ίΐΐ二水通過水泵28被持續地引入到内槽體20中,這樣 ίΐΚ:槽體2〇 ’並通過該支撐平臺14的多排液體輸入 擴月欠’以便以均句的方式到達該切割後 的底面;同時,該超聲波共振器26Α在水中被啟動 m以便於超聲波能量能夠以均勻的方式通過這種^ ==達該切割後的封裝件12的底面,所以,超聲波: 洗直接針對封裝件發生。 、耳渡/月 超聲波在去除附著在待清洗表面的污垢和小顆粒方 疋-種經濟高效的方式,無論用何種方法,瞭解充=
200414292 五、發明說明(6) 超聲波清洗後,持續帶 粒是更加有效的,值得待T洗f面去除的污垢和小顆 體或水的上表面比内•體: 2:績水的流動使得清洗液 ,這樣做使得水能夠持綠山、、、呆持一個更高的水平面 保持以及去除後的污二、顆粒,因此清洗後的表面得以 此外,通過從内槽體20持 免 于該封裝件12的底面以形成的大量水作用 之間的緊密接觸得以伴捭ra Μ· Z €並水和封裝件底面 的水流給内槽體20,以使均J 供足夠 f牛12保持接觸’這樣,超聲波能量從共振 迟、封裝件12的底面,以徹底地完成清洗。 复中L:不為本發明清洗裝置11的另-個較佳實施例, =钟f 共振器⑽被吸附在容置有清洗液體或水的 3^20的底面或側面的外表面。這可通過使用黏合劑、 女裝托架、焊接或其他方式來完成,只要超聲波共振器 26B通過和容置有清洗液體的内槽體2〇的壁面緊密接觸, 以與清洗液體聯絡。 々除了共振器26B沒有放置在内槽體2〇中以外,其類似 於第一實施例。這種方法在超聲波傳遞效率方面,可能和 將共振器26B浸沒在内槽體20中效率不同,但是,它通過 延長使用或其他方式減少了浸沒式超聲波共振器可能滲水 的風險,這種不需要視為防水損壞的超聲波共振器26β更 易於工業上的應用。
第10頁 200414292 五、發明說明(7) 圖3為第一、篦-件1 2的非嵌套方法,其所示為H、適用於處理切割後封袭 圖和封襞件1 2位置相同的穿晋、二於圖2a的裝置1 〇的側視 傳送裝置32放置於支俯視圖。封裝㈣通過 所固定,且在完成清洗時通過送=該:專送裝置32 構的運動,相對於水的上& 傳达裝置一起的移動機 種往復運動有助於旁側作橫向往復運動,這 ^W Α β祐和小顆粒從 致達到更徹底的清洗。 扁件12上的为離,以 約20—ΙπΤη可!!使用不同種類和頻率的超聲波能量,但是大 生 Hz的頻率更適合’因為得知其就在切 生的巧垢和直徑約幾至幾十毫米 士 t中產 提供更有效的清洗。 肖粒來成,本發明可 内=20和外槽體22更適合由不錄鋼或其他穩定金屬 製成,支撐平臺1 4更適合由硬質陽極氧彳 .、> 、古h hard an〇d1Zing)、不銹鋼或其他穩定金屬製成, 二門’::門::吏曝露於超聲波、水或其他清洗液體很長的 日守間,其仍是穩定的。 圖4所示為本發明的第三實施例,其中,將待清洗的 電子封裝件12支撐在以拾取前端34形式存在的支撐平臺上 ’並朝向内槽體20中水的上表面固定。一個超聲波二哭 2/A可以如第一實施例(所描述的)浸沒在水中,或者如°° 第二實施例附著在内槽體20的侧面或底面。拾取前端34被 用來朝向水固定該電子封裝件12 ’可使用任意合適的方式 ’例如使用和拾取前端3 4相連的真空抽氣裝置(未示)的
200414292 五、發明說明(8) —— 真空吸力。當持續的大量水被引入到 20的超聲波變換器26A向水產生超聲、、古处曰^/」夺,内槽體 了超聲波能量的水沫薄層形成在内榉H。這樣,給予 内槽體20中溢流出的水被收集至外^ 中水的表面。從 過使用本發明實施例的方案,電子^担,然後排走。通 面上的水沫36清洗,在内槽體20中的=f12可以直接由水 間不需要接合有支撐平臺。 、7和電子封裝件1 2之 =所:為一種可用於本發明的典 匕包括:提供共振能量的超聲波 =is 該超聲波變換器42的電纜44。 、时42、傳輸電能至 當與僅僅使用簡單的、和處理電 -起的流動水或者喷射水流相比較= ; = =法 封裝件底面非常徹底的清洗。 導致了 本發明所述方法能容易地適用 傲套方法,和嵌套方法相比較,非: = 件2 caDahil.f 、 月匕力(smaU Package handling capab^yty )的優點是令人滿意的。 方々,^ ”個低成本、有效的清洗解決方案,和使用直仙 工 尚壓喷射水流相比較,苴能減少水# 雖鋏所h、+、ΛΛ〜 平乂 ,、此減夕水和旎源的消耗。 是值得ί音二貫施例主要和切割後的封裝件有關,但 本菸^ Ϊ疋發明也能應用於分離前基材的清洗。 修正和二補充所具體描述的内容基礎上很容易產生變化、 ι月的上述描述的精神和範圍内。 200414292 圖式簡單說明 【圖式簡單說明】 施例 現=附圖#述與本發明相應、的裝置和彳法的較佳實 圖1所不為現有技術清洗方法的局部侧 子?裝件的頂面和底面上使用喷射水流,g電:封心 和嵌m?的嵌套機構的上下格栅所固定τ :支撐平臺的頂面支樓,•聲波共振 ^所Λ液體,例如水的槽體中; 共振器附在槽體底面赤1另—個較佳實施例,其中超聲波 洗液體; -或倒面的外表面上,該槽體容置有清 圖3所示為第一、楚一 a 封裝件的非嵌套方、去 乐二實施例如何適用於處理切割後 圖4所示為本發明箓一私 子封裝件朝向容置=弟二較佳實施例,其中被清洗的電 圖5所示為一:洗液體的槽體固定;以及 。 ”、、 種可用於本發明的典塑的超聲波共振器 1【主要下:分之代表符號】 下格柵 ^ 電子封袈件 液體噴嗜* :清洗室 上格柵 第13頁 200414292 圖式簡單說明 6 喷嘴座體 7 喷射水流 10 清洗裝置 11 清洗裝置 12 電子封裝件 14 撐平臺 16 輸入通道 18 輸出通道 20 内槽體 22 外槽體 > 24 0型圈 26A 超聲波共振器 26B 超聲波共振器 28 水泵 30 輸出通道 32 傳送裝置 34 拾取前端 40 超聲波共振器 42 超聲波變換器 44 電纜
Claims (1)
- 200414292 六、申請專利範圍 1. -種,洗大量電子封裝件的裝置,其包 谷置有清洗液體的槽體; 可安裝的超聲波丘垢哭 ^ ^ 超聲波能量,· /、振。。,其向&洗液體傳遞並提供 元株支,其位於清洗液體上表面上方以支撐電子 兀件’以便在使用中該電子元: 面相接觸; β兀/促餸的所述上表 進二用:產生持續的清洗液趙流 電子元件。 …洗和a洗液體的所述上表面相接觸的 其中所述的超聲波共振器浸 0 其中所述的超聲波共振器安 2. 如權利要求1所述的裳置 沒在该槽體的清洗液體中 3. 如權利要求1所述的震置 裝在4槽體的外表面。 持所二的裝置,其中由所述的清洗液體供應 該槽體的邊緣:持洗,體的上表面比 體持續溢出該槽體。 门、7千面,足樣使得清洗液 5·如權利要求4所述的骏豆 槽體相鄰的外槽體, ^ ;"裝置還包έ有和所述 液體。 用於收集從所述槽體溢流出的清洗 6·如權利要求1所述的类 所述支撐平臺的Λ裝置,主其中所述的電子元件支樓於 表面的表面相反 面和朝向所述的清洗液體上第15頁 200414292其中所述的支撐平臺安裝 7·如權利要求6所述的裝置 所述槽體的邊緣。 8. id 所述的裝置,其中該裝置還包含有在支樓 體輸入通道,該液體輸入通道和清洗液體聯 體向所述的其上固定有電子元件的支樓平 的裝置,其中該裳置還包含有在支樓 其體輸出通道,該液體輸出通道用於從所述的 u:權利疋I ^子疋件的支撐平臺的表面排出清洗液體。 大量清洗以使基本均勻的 u.如權Mi 撐表的電子元件保持接觸。 核料求6所述的裝置,其中該 Α’/Λ?電子元件放置在該支撐平臺= m ^ ,11所述的裝置,其中該裝置還包含有移動 向往復運Ξ於Ϊ::元件相對於清洗液體的上表面作橫 平臺的表面,該表面朝子元件支撐於支擇 ",如權利要求13所述的朝/y亥清^液^的上表面。 ,,^ ^ ^ ^ 1襄置’其中該裝置還包含有直空 將該電子元件固定於該支撑平臺的表 面’該表面朝向該清洗。 十- •如權利要求13所述的萝里 β丄> ,士 於清洗液體上表面的清才'置退包含有形成 月/先液體沫層,精此和電子元件接第16頁 200414292 六、申請專利範圍 觸。 1 6.如權利要求1所述的 # ^ 的超聲波能量的頻率物—’謝HzU 3聲波變換器提供 1 7.如權利要求1所述 ^ ^ 他穩定金屬製成。、 ’、^ 9體是由不銹鋼或其 18·如權利要求丨所述的裝置 極氧化紹、不錄鋼或其他穩定金屬製…硬質陽 提青Λ大置量有電:封裝件的方法,包含下列步驟: 袄t、合置有 洗液體的槽體; 向清洗液體提供超聲波能量; 支撐電子元件以便該電子元件和清洗液體的 相接觸;以及 月此欣筱的上表面 “1生持續的清洗液體流進入該槽體,以清洗和清洗 液體的所述上表面相接觸的電子元件。 3光#巧洗 20. 如權利要求19所述的方法,其還包 振器浸沒在該槽體的渣峰、广祕▲ 竹、耳渡共 聲波能量。 月冼,夜體中,以向清洗液體提供超 21. 如權^要求19所述的方法,其還包含有:將超聲波共 振器女裝在該槽體的外表面,以向清洗液體提供超聲波 能量。 22. 如權利要求19所述的方法,其中該產生持續的清洗液 體流進入該槽體的步驟還包括:使得清洗液體的上表面 比该槽體的邊緣保持一個更高的水平面,這樣使得清洗 液體溢出該槽體。第17頁 六、申請專利範圍 23. 如權利要求22所述的方 體收集從該槽體溢流出的/、遇^含有:使用另一槽 24. 如權利要求19所述的出方的/洗液體以排出。 於所述支撐平臺的表面,法姑’生其中所述的電子元件支撐 上表面的表面相反。 Μ面和朝向所述的清洗液體 25. 如權利要求24所述的方 在所述槽體的邊緣。 ’八中所述的支撐平臺安裝 26·如權利要求24所述的古、、也 其上固定有電子元件的支撐平、Α還包3有·^從該槽體向 27·如權利要求26所述的古、+牙$的表面擴散清洗液體。 有電子元件的支撐平n ’其還包含有··從其上固定 28. 如權利要求26所述的方、^排出清洗液體。 通過向該槽體提供足夠的」味、還包含有下面的步驟: 大量清洗液體和支撐^ = ^洗液體流,以使基本均句的 29. 如權利要求24所述的方\面/的電子元件保持接觸。 相對於清洗液體的上的/^還包含有:將電子元件 和該電子元件接觸。表面作检向往復運動,該清洗液體 30. 如權利要求19所述的方法’复 撐平臺的表面,該矣而έ0 ^ :中11電子凡件支撐於支 31 3 0 „ / ^ ^ ^ ^ ® = 力將該電子元件固d 有:使用真空吸 該清洗液體的於該支撐平臺的表面,該表面朝向 32.體如的權上利Λ求开3 … 體的上表面形成有清洗液體朱層,藉此和電子元件接觸 200414292 六、申請專利範圍 〇 3 3.如權利要求1 9所述的方法,其中提供給該清洗液體的 超聲波能量的頻率為20-80KHZ。第19頁
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US43665902P | 2002-12-30 | 2002-12-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200414292A true TW200414292A (en) | 2004-08-01 |
TWI225659B TWI225659B (en) | 2004-12-21 |
Family
ID=34312101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW092137514A TWI225659B (en) | 2002-12-30 | 2003-12-30 | Apparatus and method for cleaning electronic components |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7147721B2 (zh) |
KR (1) | KR100718484B1 (zh) |
CN (1) | CN1273229C (zh) |
MY (1) | MY137332A (zh) |
SG (1) | SG145610A1 (zh) |
TW (1) | TWI225659B (zh) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008060299A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP4763563B2 (ja) * | 2006-09-20 | 2011-08-31 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理方法 |
US7975710B2 (en) * | 2009-07-06 | 2011-07-12 | Asm Assembly Automation Ltd | Acoustic cleaning system for electronic components |
CN102698977A (zh) * | 2011-03-28 | 2012-10-03 | 东莞新科技术研究开发有限公司 | 真空清洗装置 |
CN103441002A (zh) * | 2013-08-14 | 2013-12-11 | 吴江佳艺电子科技有限公司 | 一种电容电极清洗装置 |
CN104690030A (zh) * | 2013-12-05 | 2015-06-10 | 天津中环领先材料技术有限公司 | 一种改造后的硅片清洗机用槽体 |
KR102462662B1 (ko) * | 2020-09-18 | 2022-11-04 | (주)미래컴퍼니 | 초음파 세정 장치 |
JP2022068575A (ja) * | 2020-10-22 | 2022-05-10 | 株式会社ディスコ | 洗浄装置 |
CN112296014A (zh) * | 2020-11-24 | 2021-02-02 | 西北工业大学 | 一种声涡旋超声清洗装置 |
KR102634455B1 (ko) * | 2020-12-02 | 2024-02-06 | 세메스 주식회사 | 클리닝 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4370356A (en) * | 1981-05-20 | 1983-01-25 | Integrated Technologies, Inc. | Method of meniscus coating |
FR2527796B1 (fr) * | 1982-05-25 | 1985-11-22 | Photomeca Sa | Procede et machine pour le developpement de plaques de tous types a couche photosensible photopolymerisable |
JPH01143224A (ja) * | 1987-11-28 | 1989-06-05 | Toshiba Corp | 半導体基板の表面処理方法 |
JPH0377319A (ja) | 1989-08-21 | 1991-04-02 | Dan Kagaku:Kk | 超音波洗浄装置 |
US5339842A (en) * | 1992-12-18 | 1994-08-23 | Specialty Coating Systems, Inc. | Methods and apparatus for cleaning objects |
US5601655A (en) | 1995-02-14 | 1997-02-11 | Bok; Hendrik F. | Method of cleaning substrates |
US6165232A (en) | 1998-03-13 | 2000-12-26 | Towa Corporation | Method and apparatus for securely holding a substrate during dicing |
US6187654B1 (en) | 1998-03-13 | 2001-02-13 | Intercon Tools, Inc. | Techniques for maintaining alignment of cut dies during substrate dicing |
US6325059B1 (en) | 1998-09-18 | 2001-12-04 | Intercon Tools, Inc. | Techniques for dicing substrates during integrated circuit fabrication |
AU772539B2 (en) * | 1999-07-29 | 2004-04-29 | Kaneka Corporation | Method for cleaning photovoltaic module and cleaning apparatus |
KR100441790B1 (ko) | 2001-03-22 | 2004-07-27 | 에이에스엠 어쌤블리 오토메이션 리미티드 | 픽업 및 재치 장치와 그 방법 |
-
2003
- 2003-11-03 US US10/698,379 patent/US7147721B2/en active Active
- 2003-11-20 SG SG200704767-3A patent/SG145610A1/en unknown
- 2003-11-27 MY MYPI20034546A patent/MY137332A/en unknown
- 2003-12-03 CN CNB2003101171184A patent/CN1273229C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-09 KR KR1020030088972A patent/KR100718484B1/ko active IP Right Grant
- 2003-12-30 TW TW092137514A patent/TWI225659B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20040123878A1 (en) | 2004-07-01 |
MY137332A (en) | 2009-01-30 |
KR100718484B1 (ko) | 2007-05-16 |
CN1520938A (zh) | 2004-08-18 |
US7147721B2 (en) | 2006-12-12 |
SG145610A1 (en) | 2008-09-29 |
CN1273229C (zh) | 2006-09-06 |
KR20040060735A (ko) | 2004-07-06 |
TWI225659B (en) | 2004-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW550630B (en) | Method and apparatus for wet processing wafers | |
TW594883B (en) | In-situ local heating using megasonic transducer resonator | |
CN204699977U (zh) | 一种超声波清洗装置 | |
CN1750892B (zh) | 半导体基板清洗设备和系统 | |
TW200414292A (en) | Apparatus and method for cleaning electronic components | |
CN101605615B (zh) | 超声波洗涤方法 | |
CN105032833B (zh) | 超声波清洗机 | |
CN205144479U (zh) | 一种超声波高效洁净装置 | |
JP2005515890A (ja) | メガソニックプローブのエネルギ誘導器 | |
KR20050036690A (ko) | 미스트 발생 장치와, 그것을 구비한 식기 세정기 및 세탁기 | |
CN205289116U (zh) | 一种聚晶金刚石复合片清洗装置 | |
CN105286743A (zh) | 一种超声波高效洁净系统 | |
CN101447416A (zh) | 半导体硅片的清洗方法 | |
CN217411713U (zh) | 一种磨片后简易超声清洗设备 | |
KR100637957B1 (ko) | 식기 세척기 | |
CN109326538A (zh) | 一种湿法黑硅制绒清洗槽、制绒机台及湿法黑硅制绒方法 | |
US7975710B2 (en) | Acoustic cleaning system for electronic components | |
CN208772028U (zh) | 一种立式超声波清洗机 | |
CN208373719U (zh) | 一种pcb电路板加工用清洗装置 | |
CN206083240U (zh) | 一种气浴超声波中草药清洗机 | |
CN201735547U (zh) | 一种基板超声波清洗机 | |
CN210597499U (zh) | 一种变频超声波水槽 | |
CN213826145U (zh) | 高效率超声波清洗仪 | |
JP2000040684A5 (ja) | 洗浄装置および洗浄方法 | |
CN210597498U (zh) | 一种装有超声波换能器的家用水槽 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |