TH98874B - วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก - Google Patents

วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก

Info

Publication number
TH98874B
TH98874B TH701004114A TH0701004114A TH98874B TH 98874 B TH98874 B TH 98874B TH 701004114 A TH701004114 A TH 701004114A TH 0701004114 A TH0701004114 A TH 0701004114A TH 98874 B TH98874 B TH 98874B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
assessing
origin
facial contour
contour defects
methods
Prior art date
Application number
TH701004114A
Other languages
English (en)
Other versions
TH98874A (th
TH174486A (th
Inventor
คุวายามะ
ทาคุยะ
ไรเนอร์ไวท์เซล นาย เคียร์สเทนราเด๊า นาย ไมเคิลอเวน นาย
Original Assignee
นิปปอน สตีล คอร์ปอเรชั่น
เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช
Filing date
Publication date
Publication of TH98874A publication Critical patent/TH98874A/th
Application filed by นิปปอน สตีล คอร์ปอเรชั่น, เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช filed Critical นิปปอน สตีล คอร์ปอเรชั่น
Publication of TH174486A publication Critical patent/TH174486A/th
Publication of TH98874B publication Critical patent/TH98874B/th

Links

Abstract

OCR การประดิษฐ์นี้ได้จัดให้มีวิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า สำหรับประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้าของผลิตภัณฑ์ที่ผ่านกระบวนการ เปลี่ยนรูปทรงซึ่งได้มาโดยการดำเนินการผ่านกระบวนการเปลี่ยนรูปทรงกับชิ้นงาน โดยที่วิธีการจะรวม ถึง: กระบวนการเข้ารับการกระจายแรงเค้นที่หนึ่งสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเนที่หนึ่ง ซิกมา; กระบวน การเข้ารับการกระจายแรงเค้นที่สองสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเค้นที่สอง ซิกมา กระบวนการเข้ารับ การกระจายแรงเค้นเปรียบเทียบสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเก้นเปรียบเทียบ ซิกมา; กระบวนการเข้า รับการกระจายแรงเค้นเปรียบเทียบหารแบ่งสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเค้นเปรียบเทียบหารแบ่ง ซิกมา และกระบวนการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้าสำหรับประเมินว่า บริเวณที่ถูกหารแบ่ง D. แต่ละบริเวณเป็นบริเวณก่อกำเนิดของความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้าหรือไม่

Claims (1)

1. สูตรผสมตัวยา, ที่มีสารประกอบที่มีสูตรทั่วไป 1 หนึ่งชนิดหรือมากกว่าเป็นสารออกฤทธิ์ (สูตรเคมี) 1 ที่ซึ่ง R1 แทนไฮโดรเจน, C1-4-แอลคิล, O-C1-4-แอลคิล หรือ เฮโลเจน; R2 แทนไฮโดรเจน, C1-4-แอลคิล, O-C1-4-แอลคิล หรือ เฮโลเจน; R3 แทนไฮโดรเจน, C1-4-แอลคิล, O-C1-4-แอลคิล, เฮโลเจน, OH, O-C1-4-แอลคิลีน-COOH หรือ O-C1-4-แอลคิลีน-COO-C-1-4-แอลคิล, X แทนแอนไอออนที่มีประจุลบที่ถูกแทนที่หนึ่งครั้งหรือหลายครั้ง, ที่ควรใช้ คือแอนไอออน
TH701004114A 2016-01-22 วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก TH98874B (th)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH98874A TH98874A (th) 2009-11-04
TH174486A TH174486A (th) 2018-03-16
TH98874B true TH98874B (th) 2024-02-12

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Börsch-Supan et al. Productivity and age: Evidence from work teams at the assembly line
BR112019002346A2 (pt) método para a manufatura de catalisador da síntese de amônia, e método para a manufatura de amônia
EP3987996A3 (de) Robotergestützte bearbeitung einer oberfläche mittels eines roboters
Zhang et al. Solving integrated process planning and scheduling problem with constructive meta-heuristics
AT518580A3 (de) Waferbearbeitungsverfahren
IL264960B (en) A metrology device for measuring a structure formed on a substrate using a lithographic process, a lithographic system, and a method for measuring a structure formed on a substrate using a lithographic process
WO2015101461A3 (en) Method and apparatus for design of a metrology target
EP4306803A3 (en) Device and method for coating surfaces
GB2517370A (en) Integrated manufacturing and test process platform
MX2020013585A (es) Control de la calidad de los procesos industriales.
WO2017148716A3 (de) Vorrichtung und verfahren zum aufrauen von substraten
EP4035488A4 (en) Method and apparatus for random access procedure
WO2018088760A3 (ko) 검사체에 대한 양부 판정 조건을 조정하는 방법 및 장치
WO2017013498A3 (en) Crystal forms of tetra-hydro-n, n-dimethyl-2, 2-diphenyl-3-furanmethanamine hydrochloride, processes for making such forms, and their pharmaceutical compositions
FI20176017A1 (fi) Menetelmä laitteen puhdistamiseksi
EP3556485C0 (en) METHOD, METHOD MODULE AND APPARATUS FOR ROLLING AN EXTERNAL THREAD OF A TUBE
EP4111070C0 (de) Bremsscheibe und verfahren zu deren herstellung
DE112017003505A5 (de) Verfahren und Vorrichtung für die additive Herstellung eines Bauteils
AT515510A3 (de) Verfahren und Computerprogramm zum Analysieren der Wanddickenverteilung eines Rohres
EP3737679C0 (en) NOVEL PROCESSES AND INTERMEDIATES FOR THE PREPARATION OF SOLUBLE GUANYLATE CYCLASE STIMULATORS
EP3881129C0 (en) METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING THE PARAMETERS USED TO MANUFACTURE AN OPTICAL ARTICLE AND THE CORRESPONDING OPTICAL ARTICLE
EP3680354A4 (en) PROCESS FOR COOLING A STEEL PIPE, DEVICE FOR COOLING A STEEL PIPE, AND PROCESS FOR PRODUCING A STEEL PIPE
SA517382116B1 (ar) أمينات معدلة مفيدة كمثبطات للقشور في عملية إنتاج رطب لحمض فوسفوريك
WO2017036577A8 (en) Method for the production of praziquantel and precursors thereof
TH174486A (th) วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก