TH83901A - Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures. - Google Patents
Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures.Info
- Publication number
- TH83901A TH83901A TH601001306A TH0601001306A TH83901A TH 83901 A TH83901 A TH 83901A TH 601001306 A TH601001306 A TH 601001306A TH 0601001306 A TH0601001306 A TH 0601001306A TH 83901 A TH83901 A TH 83901A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- cured resin
- cladding
- values
- mpa
- resin mixtures
- Prior art date
Links
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract 24
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract 24
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract 19
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract 12
- 238000003466 welding Methods 0.000 title 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims abstract 9
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract 2
- 238000010992 reflux Methods 0.000 abstract 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 abstract 2
Abstract
DC60 (20/06/49) การประดิษฐ์นี้สามารถจัดให้มีอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่แสดงความต้านทาน- การไหลย้อนกลับของสารแอนติ-โซลเดอร์ที่ดีเยี่ยม และความน่าเชื่อถือที่สูงกว่าใน การติดตั้งที่พื้นผิว โดยใช้สารบัดกรีที่ปราศจากตะกั่ว ตามการประดิษฐ์นี้ , มีการจัดให้มี อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่ถูกสร้างขึ้นโดยการจัดวางชิพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งพื้นผิวของมันถูกเคลือบ ด้วยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ บนแผ่นรองในโครงยึดชนิดชนิดตะกั่ว ผ่านสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย และการหุ้มชิพสารกึ่งตัวนำบนแผ่นรอง ในโครงยึดชนิดตะกั่วโดยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการหุ้ม , ซึ่งสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 0.5 GPa ถึง 2.0 GPa ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 25 องศาเซลเซียส ; สารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย จะมีโมดูลัสยืดหยุ่น เป็น 1 MPa ถึง 120 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 องศาเซลเซียส ; และสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 400 MPa ถึง 1200 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 องศาเซลเซียส และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนเป็น 20 ppm ถึง 50 ppm ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 องศาเซลเซียส , และผลการคูณของโมดูลัสยืดหยุ่นของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม คือ 8000 ถึง 45000 ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย การประดิษฐ์นี้สามารถจัดให้มีอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่แสดงความต้านทาน- การไหลย้อนกลับของสารแอนติ-โซลเดอร์ที่ดีเยี่ยม และความน่าเชื่อถือที่สูงกว่าใน การติดตั้งที่พื้นผิว โดยใช้สารบัดกรีที่ปราศจากตะกั่ว ตามการประดิษฐ์นี้ , มีการจัดให้มี อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่ถูกสร้างขึ้นโดยการจัดวางชิพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งพื้นผิวของมันถูกเคลือบ ด้วยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ บนแผ่นรองในโครงยึดชนิดชนิดตะกั่ว ผ่านสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย และการหุ้มชิพสารกึ่งตัวนำบนแผ่นรอง ในโครงยึดชนิดตะกั่วโดยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการหุ้ม , ซึ่งสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 0.5 GPa ถึง 2.0 GPa ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 25 ํซ ; สารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย จะมีโมดูลัสยืดหยุ่น เป็น 1 MPa ถึง 120 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 ํซ ; และสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 400 MPa ถึง 1200 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 ํซ และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนเป็น 20 ppm ถึง 50 ppm ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 ํซ , และผลการคูณของโมดูลัสยืดหยุ่นของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม คือ 8000 ถึง 45000 ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย DC60 (20/06/49) This invention can provide semiconductor devices. Which exhibits excellent resistance - reflux of antisoles And higher reliability in Surface mounting Using lead-free solder According to this invention, there was Semiconductor device That was created by placing a semiconductor chip. Whose surface is coated With cured resin mixtures for buffer coatings On the pad in the lead-type mounting bracket Through cured resin mixtures for die bonding And encasing the semiconductor chip on the pad In a lead-type mounting frame, the resin mixture was cured for cladding, in which the cured resin mixture For buffer coating There will be a modulus of elasticity of 0.5 GPa to 2.0 GPa counting both of these values at 25 ° C; Cured resin admixture for die bonding There is a modulus of elasticity of 1 MPa to 120 MPa counting both of these values at 260 ° C; And cured resin mixtures For cladding There will be a modulus of elasticity of 400 MPa to 1200 MPa counting both at 260 ° C and the thermal expansion coefficient of 20 ppm to 50 ppm that counts both at 260 degrees. Celsius, and the multiplication effect of the elastic modulus of cured resin mixtures. For cladding And coefficient of thermal expansion of cured resin mixtures. For cladding, it is 8000 to 45000, including both of these values. This invention can provide semiconductor devices. Which exhibits excellent resistance - reflux of antisoles And higher reliability in Surface mounting Using lead-free solder According to this invention, there was Semiconductor device That was created by placing a semiconductor chip. Whose surface is coated With cured resin mixtures for buffer coatings On the pad in the lead-type mounting bracket Through cured resin mixtures for die bonding And encasing the semiconductor chip on the pad In a lead-type mounting frame, the resin mixture was cured for cladding, in which the cured resin mixture For buffer coating There will be an elastic modulus of 0.5 GPa to 2.0 GPa that counts both of these values at 25 ํ; Cured resin admixture for die bonding There is a modulus of elasticity of 1 MPa to 120 MPa counting both of these values at 260 ํ; And cured resin mixtures For cladding There is a modulus of elasticity of 400 MPa to 1200 MPa counting both of these values at 260 ํ and the thermal expansion coefficient of 20 ppm to 50 ppm counting both of these values at 260 ํ. H, and the multiplication of the elastic modulus of cured resin mixtures. For cladding And coefficient of thermal expansion of cured resin mixtures. For cladding, it is 8000 to 45000, including both of these values.
Claims (1)
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TH83901A true TH83901A (en) | 2007-04-05 |
TH83901B TH83901B (en) | 2007-04-05 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
MY147837A (en) | Semiconductor device, resin composition for buffer coating, resin composition for die bonding, and resin composition for encapsulating | |
TW200642055A (en) | Area mount type semiconductor device, and die bonding resin composition and encapsulating resin composition used for the same | |
TW200720315A (en) | Molding resin composition for optical semiconductor elements and optical semiconductor device obtained by using the same | |
TW200705621A (en) | Interposer and semiconductor device | |
TW200745200A (en) | Underfill encapsulant for wafer packaging and method for its application | |
EP1732130A3 (en) | Circuit assembly with surface-mount IC package and heat sink | |
TW200514282A (en) | Package for a semiconductor light emitting device | |
SG128546A1 (en) | Low cte substrates for use with low-k flip-chip package devices | |
TW200613497A (en) | Adhesive tape composition for electronic components | |
MY172634A (en) | Semiconductor device and heat dissipation mechanism | |
TW200611951A (en) | Cohesive tape for dicing/die bonding | |
MY144739A (en) | Epoxy resin composition for encapsulating semiconductor and semiconductor device | |
TW200741903A (en) | Method of manufacturing a semiconductor apparatus | |
TW200739836A (en) | Process for producing flip-chip type semiconductor device and semiconductor device produced by the process | |
EP1598908A3 (en) | Optical semiconductor device | |
JP2008042077A5 (en) | ||
EP1840953A4 (en) | Semiconductor device | |
TW200720350A (en) | Liquid epoxy resin compostie | |
TW200722397A (en) | Glass substrate for semiconductor devices, and chip scale package using the same | |
EP2135281A4 (en) | Thermal dissipation in chip substrates | |
TW200742015A (en) | Chip package and method for fabricating the same | |
TH83901A (en) | Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures. | |
TH83901B (en) | Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures. | |
WO2014134059A3 (en) | Package substrate with testing pads on fine pitch traces | |
TW200733328A (en) | Chip package substrate and manufacturing method thereof |