TH83901A - Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures. - Google Patents

Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures.

Info

Publication number
TH83901A
TH83901A TH601001306A TH0601001306A TH83901A TH 83901 A TH83901 A TH 83901A TH 601001306 A TH601001306 A TH 601001306A TH 0601001306 A TH0601001306 A TH 0601001306A TH 83901 A TH83901 A TH 83901A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
cured resin
cladding
values
mpa
resin mixtures
Prior art date
Application number
TH601001306A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH83901B (en
Inventor
อูกาวะ นายเคน
ไซโตห์ นายเคอิชิโร
ยาซูดะ นายฮิโรยูกิ
คูซูโนกิ นายจูนย่า
Original Assignee
นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
นางวรนุช เปเรร่า
นายธเนศ เปเรร่า
Filing date
Publication date
Application filed by นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์, นางวรนุช เปเรร่า, นายธเนศ เปเรร่า filed Critical นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
Publication of TH83901A publication Critical patent/TH83901A/en
Publication of TH83901B publication Critical patent/TH83901B/en

Links

Abstract

DC60 (20/06/49) การประดิษฐ์นี้สามารถจัดให้มีอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่แสดงความต้านทาน- การไหลย้อนกลับของสารแอนติ-โซลเดอร์ที่ดีเยี่ยม และความน่าเชื่อถือที่สูงกว่าใน การติดตั้งที่พื้นผิว โดยใช้สารบัดกรีที่ปราศจากตะกั่ว ตามการประดิษฐ์นี้ , มีการจัดให้มี อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่ถูกสร้างขึ้นโดยการจัดวางชิพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งพื้นผิวของมันถูกเคลือบ ด้วยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ บนแผ่นรองในโครงยึดชนิดชนิดตะกั่ว ผ่านสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย และการหุ้มชิพสารกึ่งตัวนำบนแผ่นรอง ในโครงยึดชนิดตะกั่วโดยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการหุ้ม , ซึ่งสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 0.5 GPa ถึง 2.0 GPa ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 25 องศาเซลเซียส ; สารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย จะมีโมดูลัสยืดหยุ่น เป็น 1 MPa ถึง 120 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 องศาเซลเซียส ; และสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 400 MPa ถึง 1200 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 องศาเซลเซียส และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนเป็น 20 ppm ถึง 50 ppm ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 องศาเซลเซียส , และผลการคูณของโมดูลัสยืดหยุ่นของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม คือ 8000 ถึง 45000 ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย การประดิษฐ์นี้สามารถจัดให้มีอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่แสดงความต้านทาน- การไหลย้อนกลับของสารแอนติ-โซลเดอร์ที่ดีเยี่ยม และความน่าเชื่อถือที่สูงกว่าใน การติดตั้งที่พื้นผิว โดยใช้สารบัดกรีที่ปราศจากตะกั่ว ตามการประดิษฐ์นี้ , มีการจัดให้มี อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่ถูกสร้างขึ้นโดยการจัดวางชิพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งพื้นผิวของมันถูกเคลือบ ด้วยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ บนแผ่นรองในโครงยึดชนิดชนิดตะกั่ว ผ่านสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย และการหุ้มชิพสารกึ่งตัวนำบนแผ่นรอง ในโครงยึดชนิดตะกั่วโดยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการหุ้ม , ซึ่งสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 0.5 GPa ถึง 2.0 GPa ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 25 ํซ ; สารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย จะมีโมดูลัสยืดหยุ่น เป็น 1 MPa ถึง 120 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 ํซ ; และสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 400 MPa ถึง 1200 MPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 ํซ และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนเป็น 20 ppm ถึง 50 ppm ที่นับรวม ทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 260 ํซ , และผลการคูณของโมดูลัสยืดหยุ่นของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม และสัมประสิทธิ์การขยายตัวด้วยความร้อนของสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม คือ 8000 ถึง 45000 ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย DC60 (20/06/49) This invention can provide semiconductor devices. Which exhibits excellent resistance - reflux of antisoles And higher reliability in Surface mounting Using lead-free solder According to this invention, there was Semiconductor device That was created by placing a semiconductor chip. Whose surface is coated With cured resin mixtures for buffer coatings On the pad in the lead-type mounting bracket Through cured resin mixtures for die bonding And encasing the semiconductor chip on the pad In a lead-type mounting frame, the resin mixture was cured for cladding, in which the cured resin mixture For buffer coating There will be a modulus of elasticity of 0.5 GPa to 2.0 GPa counting both of these values at 25 ° C; Cured resin admixture for die bonding There is a modulus of elasticity of 1 MPa to 120 MPa counting both of these values at 260 ° C; And cured resin mixtures For cladding There will be a modulus of elasticity of 400 MPa to 1200 MPa counting both at 260 ° C and the thermal expansion coefficient of 20 ppm to 50 ppm that counts both at 260 degrees. Celsius, and the multiplication effect of the elastic modulus of cured resin mixtures. For cladding And coefficient of thermal expansion of cured resin mixtures. For cladding, it is 8000 to 45000, including both of these values. This invention can provide semiconductor devices. Which exhibits excellent resistance - reflux of antisoles And higher reliability in Surface mounting Using lead-free solder According to this invention, there was Semiconductor device That was created by placing a semiconductor chip. Whose surface is coated With cured resin mixtures for buffer coatings On the pad in the lead-type mounting bracket Through cured resin mixtures for die bonding And encasing the semiconductor chip on the pad In a lead-type mounting frame, the resin mixture was cured for cladding, in which the cured resin mixture For buffer coating There will be an elastic modulus of 0.5 GPa to 2.0 GPa that counts both of these values at 25 ํ; Cured resin admixture for die bonding There is a modulus of elasticity of 1 MPa to 120 MPa counting both of these values at 260 ํ; And cured resin mixtures For cladding There is a modulus of elasticity of 400 MPa to 1200 MPa counting both of these values at 260 ํ and the thermal expansion coefficient of 20 ppm to 50 ppm counting both of these values at 260 ํ. H, and the multiplication of the elastic modulus of cured resin mixtures. For cladding And coefficient of thermal expansion of cured resin mixtures. For cladding, it is 8000 to 45000, including both of these values.

Claims (1)

1. อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ที่ถูกสร้างขึ้นโดยการจัดวางชิพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งพื้นผิวของมัน ถูกเคลือบด้วยสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ บนแผ่นรองในโครงยึด ชนิดชนิดตะกั่ว ผ่านสารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเชื่อมผ่านดาย และ การหุ้มชิพสารกึ่งตัวนำบนแผ่นรองในโครงยึดชนิดตะกั่วโดยสารผสมเรซินที่ถูกบ่ม สำหรับการหุ้ม , ซึ่ง สารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรับการเคลือบบัพเฟอร์ จะมีโมดูลัสยืดหยุ่นเป็น 0.5 GPa ถึง 2.0 GPa ที่นับรวมทั้งสองค่านี้ด้วย ที่ 25 ํซ ; สารผสมเรซินที่ถูกบ่มสำหรแท็ก :1. semiconductor devices That was created by placing a semiconductor chip. Which surface of it Were coated with cured resin mixtures for buffer coatings. On the pad in the bracket Lead type Through cured resin mixtures for die bonding and semiconductor chip encapsulation on a substrate in a lead-type bracket, the cured resin mixtures. For cladding, which cured resin mixtures for buffer coatings There will be an elastic modulus of 0.5 GPa to 2.0 GPa that counts both of these values at 25 ํ; Cured Resin Compound for Tag:
TH601001306A 2006-03-23 Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures. TH83901B (en)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH83901A true TH83901A (en) 2007-04-05
TH83901B TH83901B (en) 2007-04-05

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY147837A (en) Semiconductor device, resin composition for buffer coating, resin composition for die bonding, and resin composition for encapsulating
TW200642055A (en) Area mount type semiconductor device, and die bonding resin composition and encapsulating resin composition used for the same
TW200720315A (en) Molding resin composition for optical semiconductor elements and optical semiconductor device obtained by using the same
TW200705621A (en) Interposer and semiconductor device
TW200745200A (en) Underfill encapsulant for wafer packaging and method for its application
EP1732130A3 (en) Circuit assembly with surface-mount IC package and heat sink
TW200514282A (en) Package for a semiconductor light emitting device
SG128546A1 (en) Low cte substrates for use with low-k flip-chip package devices
TW200613497A (en) Adhesive tape composition for electronic components
MY172634A (en) Semiconductor device and heat dissipation mechanism
TW200611951A (en) Cohesive tape for dicing/die bonding
MY144739A (en) Epoxy resin composition for encapsulating semiconductor and semiconductor device
TW200741903A (en) Method of manufacturing a semiconductor apparatus
TW200739836A (en) Process for producing flip-chip type semiconductor device and semiconductor device produced by the process
EP1598908A3 (en) Optical semiconductor device
JP2008042077A5 (en)
EP1840953A4 (en) Semiconductor device
TW200720350A (en) Liquid epoxy resin compostie
TW200722397A (en) Glass substrate for semiconductor devices, and chip scale package using the same
EP2135281A4 (en) Thermal dissipation in chip substrates
TW200742015A (en) Chip package and method for fabricating the same
TH83901A (en) Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures.
TH83901B (en) Semiconductors, resin mixers for buffer coatings, resin mixes for die-welding, and coatings resin mixtures.
WO2014134059A3 (en) Package substrate with testing pads on fine pitch traces
TW200733328A (en) Chip package substrate and manufacturing method thereof