TH52898B - Glass substrate for recording media - Google Patents

Glass substrate for recording media

Info

Publication number
TH52898B
TH52898B TH801001623A TH0801001623A TH52898B TH 52898 B TH52898 B TH 52898B TH 801001623 A TH801001623 A TH 801001623A TH 0801001623 A TH0801001623 A TH 0801001623A TH 52898 B TH52898 B TH 52898B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
formula
rmax
surface roughness
magnetic
recording medium
Prior art date
Application number
TH801001623A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH91499A (en
TH91499B (en
Inventor
ทาคาฮาชิ นายโคจิ
วาทานาเบ นายทสึโยชิ
ทาคาโน นายมาซาโอ
Original Assignee
นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
นางสาวสนธยา สังขพงศ์
นายธเนศ เปเรร่า
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า นายธเนศ เปเรร่า นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์ นางสาวสนธยา สังขพงศ์
โฮยา คอร์ปอเรชั่น
Filing date
Publication date
Application filed by นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์, นางสาวสนธยา สังขพงศ์, นายธเนศ เปเรร่า, นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า, นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า นายธเนศ เปเรร่า นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์ นางสาวสนธยา สังขพงศ์, โฮยา คอร์ปอเรชั่น filed Critical นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
Publication of TH91499A publication Critical patent/TH91499A/en
Publication of TH91499B publication Critical patent/TH91499B/en
Publication of TH52898B publication Critical patent/TH52898B/en

Links

Abstract

DC60 ในตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก, ความหยาบผิวหน้าของซับสเตรตแก้ว และการแปรเปลี่ยนของ ความหยาบผิวหน้าที่ได้รับการยับยั้ง โดยกล่าวคือ ความหยาบผิวหน้า (Rmax, Ra, Rq) และความสัมพันธ์ (Rmax/Ra) ระหว่าง Rmax และ Ra ที่ถูกจำกัดโดย Ra แสดงให้เห็นความหยาบเฉลี่ยแบบแนวตรงกลาง Rmax ที่ ได้รับการกำหนดตามความสูงสูงสุด ที่แสดงให้เห็นความแตกต่างระหว่างจุดสูงสุด และจุดต่ำสุดและ Rq แสดง ให้เห็นความหยาบรากกำลังสองเฉลี่ย ด้วยเหตุนี้ เม็ดขนาดเล็กของผลึกของชิ้นวางที่อยู่ด้านล่าง และชั้นแม่เหล็ก ที่ถูกสร้างให้เท่ากันไว้บนนั้น ความหยาบผิวหน้าถูกกำหนดเฉพาะโดย Rmax น้อยกว่าหรือเท่ากับ 15nm, Raจำน้อยกว่าหรือเท่ากับ1 nm และ Rqน้อยกว่าหรือเท่ากับ 1.5 nm และอัตราส่วนระหว่างความหยาบผิวหน้า Rmax และความหยาบผิวหน้า Ra อยู่ในช่วง 10-30 ในตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก, ความหยาบผิวหน้าของซับสเตรตแก้ว และการแปรเปลี่ยนของ ความหยาบผิวหน้าที่ได้รับการยับยั้ง โดยกล่าวคือ ความหยาบผิวหน้า (Rmax, Ra, Rq) และความสัมพันธ์ (Rmax/Ra) ระหว่าง Rmax และ Ra ที่ถูกจำกัดโดย Ra แสดงให้เห็นความหยาบเฉลี่ยแบบแนวตรงกลาง Rmax ที่ ได้รับการกำหนดตามความสูงสูงสุด ที่แสดงให้เห็นความแตกต่างระหว่างจุกสูงสุด และจุดต่ำสุดและ Rq แสดง ให้เห็นความหยาบรากกำลังสองเฉลี่ย ด้วยเหตุนี้ เม็ดขนาดเล็กของผลึกของชิ้นวางที่อยู่ด้านล่าง และชั้นแม่เหล็ก ที่ถูกสร้างให้เท่ากันไว้บนนั้น ความหยาบผิวหน้าถูกกำหนดเฉพาะโดย Rmax (สูตร) 12nm, Ra(สูตร) 1 nm และ Rq(สูตร) 1.5 nm และอัตราส่วนรหว่างความหยาบผิวหน้า Rmax และความหยาบผิวหน้า Ra อยู่ในช่วง 10-30In the DC60 magnetic recording medium, the surface roughness of the glass substrate and the variation of the inhibited surface roughness, i.e., surface roughness (Rmax, Ra, Rq) and the relationship (Rmax/Ra) between Rmax and Ra, restricted by Ra, show the centerline average roughness. Rmax is defined by the maximum height, showing the difference between the peak and the trough, and Rq shows the root mean square roughness. Therefore, the fine grain of the crystalline piece placed below and the magnetic layer built on it are uniform. The surface roughness is defined specifically by Rmax ≤ 15 nm, Ra ≤ 1 nm, and Rq ≤ 1.5 nm, and the ratio between the surface roughness Rmax and the surface roughness Ra is in the range of 10-30. In the magnetic recording medium, the surface roughness of the glass substrate and the variation of... The inhibited surface roughness, i.e., surface roughness (Rmax, Ra, Rq) and the relationship (Rmax/Ra) between Rmax and Ra, constrained by Ra, shows the centerline average roughness. Rmax is defined by the maximum height, showing the difference between the maximum and minimum points, and Rq shows the root mean square roughness. Therefore, the fine grain size of the crystalline piece placed underneath and the magnetic layer formed evenly on it, the surface roughness is specifically defined by Rmax (formula) 12 nm, Ra (formula) 1 nm, and Rq (formula) 1.5 nm, and the ratio between the surface roughness Rmax and the surface roughness Ra is in the range of 10-30.

Claims (7)

แก้ไข 22/8/2559 1. สื่อบันทึกแม่เหล็กที่มีอย่างน้อยชั้นแม่เหล็กฟิล์มบางบนซับสเตรตแก้ว โดยที่ ซับสเตรตแก้วดังกล่าวมีความหยาบของผิวหน้า Ra, Rmax, และ Rq โดยที่ Ra แทนความหยาบเฉลี่ยแบบแนวเส้นตรงกลาง Rmax ถูกนิยามเป็นค่าแทน ความสูงมากสุดของความแตกต่างระหว่างจุดสูงสุดและจุดต่ำสุดและ Rq แทนความหยาบแบบราก ของกำลังสองเฉลี่ย ความหยาบของผิวหน้าที่ถูกวัดโดยกล้องจุลทรรศน์กำลังระหว่างอะตอมถูกกำหนดโดย Rmax (สูตร) 15 nm, Ra (สูตร) 1 nm และ Rq (สูตร) 1.5 nm อัตราส่วนระหว่างความหยาบของผิวหน้า Rmax และความหยาบของผิวหน้า Ra ถูก กำหนดโดย 10 (สูตร) Rmax/Ra (สูตร) 30 2. สื่อบันทึกแม่เหล็กดังขอถือสิทธิในข้อ 1 โดยที่ ความหยาบของผิวหน้าถูกกำหนดโดย Rmax (สูตร) 10 mm, Ra (สูตร) 0.5 nm, Rq (สูตร) 0.7 nm 3. สื่อบันทึกแม่เหล็กดังขอถือสิทธิในข้อ 1 โดยที่ ความหยาบของผิวหน้าถูกกำหนดโดย Rmax (สูตร) 5 mm, Ra (สูตร) 0.3 nm, Rq (สูตร) 0.4 nm 4. สื่อบันทึกแม่เหล็กดังขอถือสิทธิในข้อ 1 โดยที่ ฟิล์มบางดังกล่าวประกอบด้วยเม็ดขนาดเล็กของผลึกรูปแบบเดียวกันอย่างเป็นสำคัญโดย การควบคุมความหยาบของผิวหน้าของสับสเตรตแก้วดังกล่าว และ ชั้นแม่เหล็กดังกล่าวมีขนาดเม็ดขนาดเล็กของผลึกตกอยู่ภายในช่วงระหว่าง 5 และ 30 nm 5. สื่อบันทึกแม่เหล็กดังขอถือสิทธิในข้อ 4 โดยที่ ชั้นด้านล่างถูกก่อรูประหว่างซับสเตรตแก้วดังกล่าวและชั้นแม่เหล็กดังกล่าว ชั้นด้านล่างดังกล่าวมีเม็ดขนาดเล็กของผลึก และ ชั้นแม่เหล็กดังกล่าวถูกก่อรูปโดยมีเงื่อนไขว่าสถานะของเม็ดขนาดเล็กของผลึกถูก สะท้อนโดยตรง 6. สื่อบันทึกแม่เหล็กดังขอถือสิทธิในข้อ 5 โดยที่ ชั้นด้านล่างดังกล่าวและชั้นแม่เหล็กดังกล่าวในฟิล์มบางดังกล่าวถูกสะสมโดยสปัตเตอริง 7. สื่อบันทึกแม่เหล็กดังขอถือสิทธิในข้อ 6 โดยที่ รูปแบบเดียวกันของเม็ดขนาดเล็กของผลึกดังกล่าวของฟิล์มบางดังกล่าวถูกกำหนดตาม การกระจายของขนาดของเม็ดขนาดเล็กของผลึกใน 1 ตาราง(สูตร)m และความกว้างแถบครึ่งหนึ่งของจุด ในที่ซึ่งขนาดเม็ดขนาดเล็กของผลึกถูกกระจายอยู่ที่ 20 nm หรือน้อยกว่า ----------------------------------------------------------------------------------Revised 22/08/2016 1. A magnetic recording medium containing at least a thin magnetic film layer on a glass substrate, where the glass substrate has surface roughness Ra, Rmax, and Rq, where Ra represents the centerline mean roughness, Rmax is defined as the maximum height difference between the highest and lowest points, and Rq represents the root mean square roughness. The surface roughness, measured by interatomic force microscopy, is determined by Rmax (formula) 15 nm, Ra (formula) 1 nm, and Rq (formula) 1.5 nm. The ratio between the surface roughness Rmax and the surface roughness Ra is determined by 10 (formula) Rmax/Ra (formula) 30. 2. The magnetic recording medium as claimed in point 1, where the surface roughness is determined by Rmax (formula) 10 mm, Ra (formula) 0.5 nm, Rq (formula) 0.7 nm. 3. The magnetic recording medium as claimed in point 1, where the surface roughness is determined by Rmax (formula) 5 mm, Ra (formula) 0.3 nm, Rq (formula) 0.4 nm. 4. The magnetic recording medium as claimed in point 1, where the thin film consists mainly of small grains of the same crystal form. 5. The magnetic media claimed in clause 4 is formed between the glass substrate and the magnetic layer, where the crystal grain size is between 5 and 30 nm. 6. The magnetic media claimed in clause 5 is formed between the glass substrate and the magnetic layer, where the crystal grain size is between 5 and 30 nm. 7. The magnetic media claimed in clause 6 is formed where the crystal grain size is between 5 and 30 nm. 8. The magnetic media claimed in clause 5 is formed where the crystal grain size is between 5 and 30 nm. 9. The magnetic media claimed in clause 6 is formed where the crystal grain size is between 5 and 30 nm. 10. The crystal grain size is between 5 and 30 nm. 11. The magnetic media claimed in clause 5 is formed where the crystal grain size is between 5 and 30 nm. 1 ... 1. ซับสเตรตแก้วซึ่งเป็นสำหรับใช้ในจานบันทึกแม่เหล็กและซึ่งมีความหยาบของผิวหน้า Ra, Rmax และ Rq ที่ซึ่ง Ra แสดงให้เห็นความหยาบเฉลี่ยแบบแนวเส้นตรงกลาง,Emax ถูกกำหนดเป็นความสูง มากสุดซึ่งแสดงให้เห็นความแตกต่างระหว่างจุดสูงสุดและจุดต่ำสุดและ Rq แสดงให้เห็นความหยาบแบบ รากของกำลังสองเฉลี่ย ที่ซึ่ง ความหยาบของผิวหน้าถูกกำหนดโดย Rmax(สูตร)15 nm, Ra(สูตร)1 nm และ Rq(สูตร)1.5 nm1. A glass substrate used in magnetic recording dishes has surface roughness values Ra, Rmax, and Rq, where Ra represents the centerline mean roughness, Emax is defined as the maximum height representing the difference between the highest and lowest points, and Rq represents the root mean square roughness. The surface roughness is determined by Rmax (formula) = 15 nm, Ra (formula) = 1 nm, and Rq (formula) = 1.5 nm. 2. ตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก ดังที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่ง ความ หยาบของผิวหน้าถูกกำหนดโดย Rmax(สูตร) 10 nm, Ra(สูตร)0.5 nm,Rq(สูตร)0.7 nm2. Magnetic recording medium, as claimed in claim 1, where the surface roughness is determined by Rmax(formula) 10 nm, Ra(formula) 0.5 nm, Rq(formula) 0.7 nm. 3. ตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก ดังที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่ง ความ หยาบของผิวหน้าถูกกำหนดโดย Rmax(สูตร) 5 nm, Ra(สูตร)0.3 nm,Rq(สูตร)0.4 nm3. Magnetic recording medium, as claimed in claim 1, where the surface roughness is determined by Rmax(formula) 5 nm, Ra(formula) 0.3 nm, Rq(formula) 0.4 nm. 4. ตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก ดังที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่ง ฟิล์มบางดังกล่าวถูกประกอบด้วยเม็ดขนาดเล็กของผลึกรูปแบบเดียวกันอย่าง เป็นสำคัญโดยการควบคุมความหยาบของผิวหน้าของซับเตรตแก้ว และ ชั้นแม่เหล็กดังกล่าวมีขนาดเม็ดขนาดเล็กของผลึกตกอยู่ภายในช่วงระหว่าง 5 และ 30 nm.4. Magnetic recording medium, as claimed in claim 1, where such thin film is composed of micro-granules of identical crystalline form, with controlled surface roughness of the glass substrate, and such magnetic layer has a crystalline grain size within the range of 5 and 30 nm. 5. ตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก ดังที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 4 ที่ซึ่ง ชั้นด้านล่างถูกทำให้เกิดขึ้นระหว่างซับเตรตแก้วดังกล่าว และชั้นแม่เหล็ก ดังกล่าว ชั้นด้านล่างดังกล่าวมีเม็ดขนาดเล็กของผลึก และ ชั้นแม่เหล็กดังกล่าวถูกทำให้เกิดขึ้นบนเงื่อนไขที่สภาพของเม็ดขนาดเล็กของ ผลึกถูกสะท้อนกลับอย่างโดยตรง5. Magnetic recording medium, as claimed in claim 4, where a bottom layer is formed between the aforementioned glass substrate and the aforementioned magnetic layer. This bottom layer contains fine crystalline grains, and the magnetic layer is formed on the condition that the state of the fine crystalline grains is directly reflected. 6. ตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก ดังที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 5 ที่ซึ่ง ชั้นด้านล่างดังกล่าวและชั้นแม่เหล็กดังกล่าวอยู่ในฟิล์มบางดังกล่าวที่ถูก สะสมโดยการฉีดพ่น6. Magnetic recording medium, as claimed in claim 5, whereby the aforementioned bottom layer and magnetic layer are contained within the aforementioned thin film deposited by spraying. 7. ตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก ดังที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 6 ที่ซึ่ง การทำให้เป็นรูปแบบเดียวกันของเมล็ดขนาดเล็กของผนึกดังกล่าวของฟิล์มบางดังกล่าว ถูกกำหนดด้วยความสัมพันธ์กับการกระจายของขนาดเมล็ดของผลึกอยูาในพื้นที่ของ 1 (สูตร)m และ แถบ ความกว้างครึ่งหนึ่งของจุดในที่ซึ่งขนาดเม็ดขนาดเล็กของผลึกถูกกระจายอยู่ที่ 20 nm หรือน้อยกว่า7. Magnetic recording medium, as claimed in claim 6, where the homogeneity of the micro-grain particles of such thin film is determined by relation to the distribution of crystal grain sizes in the region of 1(formula)m and a half-width band of the point where the micro-grain particles of the crystal are distributed at 20 nm or less.
TH801001623A 1997-12-25 Glass substrate for recording media TH52898B (en)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH91499A TH91499A (en) 2008-09-19
TH91499B TH91499B (en) 2008-09-19
TH52898B true TH52898B (en) 2016-12-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY138339A (en) Magnetic recording medium using a glass substrate
US6776699B2 (en) Abrasive pad for CMP
EP0788093B1 (en) A glass-ceramic substrate for a magnetic disk
US5389398A (en) Method of manufacturing magnetic recording medium for contact recording
Piazza et al. Protective diamond-like carbon coatings for future optical storage disks
SE8301015L (en) MICROBURGERS AND WAYS TO MAKE IT
AU2001283235A1 (en) Abrasive pad for CMP
DE50104058D1 (en) Substrate for recording layers
KR100216324B1 (en) Thin-film magnetic disk and manufacture thereof magnetic recording metal disk drive magnetic recording texturing starting and stopping metal disk drive
TH91499A (en) Glass substrate for recording media
US6028750A (en) Thin film magnetic head substrate with improved heat radiation
US5068152A (en) Magnetic recording medium
EP0172566B1 (en) Perpendicular magnetic recording medium and production process thereof
JPH1015707A (en) Coated silicon nitride based tool
CN102703870B (en) A kind of Ru nonmagnetic thin film and preparation method thereof
TH24237B (en) Glass substrate for recording media
TH32290A (en) Glass substrate for recording media
US6027801A (en) Magnetic recording medium
US5582897A (en) Magnetic recording medium
KR930700285A (en) Biaxially oriented polyethylene-2,6-naphthalate longitudinally long film and magnetic tape using the same
EP0509467A1 (en) Magneto-optical recording medium
JPH01219043A (en) Transparent conductive glass substrate and solar-cell module
RU2092930C1 (en) Substrate holder
Ravipati et al. Effect of substrate and deposition rate on DC magnetron sputtered Co-Cr thin films
FI931716A0 (en) AV SILICON FILTERS SILICON BOXES FRAMSTAELLDA VENTILSKIVOR