TH24237B - Glass substrate for recording media - Google Patents

Glass substrate for recording media

Info

Publication number
TH24237B
TH24237B TH9701005368A TH9701005368A TH24237B TH 24237 B TH24237 B TH 24237B TH 9701005368 A TH9701005368 A TH 9701005368A TH 9701005368 A TH9701005368 A TH 9701005368A TH 24237 B TH24237 B TH 24237B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
rmax
equal
roughness
less
surface roughness
Prior art date
Application number
TH9701005368A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH32290A (en
Inventor
ทาคาฮาชิ นายโคจิ
วาทานาเบ นายทสึโยชิ
ทาคาโน นายมาซาโอ
Original Assignee
นายปรารถนา อุบลสุวรรณ
นายวินยาธกร ใจเอก
นายวินยาธกร ใจเอก นายปรารถนา อุบลสุวรรณ
Filing date
Publication date
Application filed by นายปรารถนา อุบลสุวรรณ, นายวินยาธกร ใจเอก, นายวินยาธกร ใจเอก นายปรารถนา อุบลสุวรรณ filed Critical นายปรารถนา อุบลสุวรรณ
Publication of TH32290A publication Critical patent/TH32290A/en
Publication of TH24237B publication Critical patent/TH24237B/en

Links

Abstract

DC60 ในตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก, ความหยาบผิวหน้าของซับสเตรตแก้ว และการแปรเปลี่ยนของ ความหยาบผิวหน้าที่ได้รับการยับยั้ง โดยกล่าวคือ ความหยาบผิวหน้า (Rmax, Ra, Rq) และความสัมพันธ์ (Rmax/Ra) ระหว่าง Rmax และ Ra ที่ถูกจำกัดโดย Ra แสดงให้เห็นความหยาบเฉลี่ยแบบแนวตรงกลาง Rmax ที่ ได้รับการกำหนดตามความสูงสูงสุด ที่แสดงให้เห็นความแตกต่างระหว่างจุดสูงสุด และจุดต่ำสุดและ Rq แสดง ให้เห็นความหยาบรากกำลังสองเฉลี่ย ด้วยเหตุนี้ เม็ดขนาดเล็กของผลึกของชั้นวางที่อยู่ด้านล่าง และชั้นแม่เหล็ก ที่ถูกสร้างให้เท่ากันไว้บนนั้น ความหยาบผิวหน้าถูกกำหนดเฉพาะโดย Rmax น้อยกว่าหรือเท่ากับ 15 nm, Ra น้อยกว่าหรือเท่ากับ 1 nm และ Rq น้อยกว่าหรือเท่ากับ 1.5 nm และอัตราส่วนระหว่างความหยาบผิวหน้า Rmax และความหยาบผิวหน้า Ra อยู่ในช่วง 10 -30 ในตัวกลางบันทึกทางแม่เหล็ก, ความหยาบผิวหน้าของซับสเตรตแก้ว และการแปรเปลี่ยนของ ความหยาบผิวหน้าที่ได้รับการยับยั้ง โดยกล่าวคือ ความหยาบผิวหน้า (Rmax Ra, Rq) และความสัมพันธ์ (Rmax/Ra) ระหว่าง Rmax และ Ra ที่ถูกจำกัดโดย Ra แสดงให้เห็นความหยาบเฉลี่ยแบบแนวตรงกลาง Rmax ที่ ได้รับการกำหนดตามความสูงสูงสุด ที่แสดงให้เห็นความแตกต่างระหว่างจุดสูงสุด และจุดต่ำสุดและ Rq แสดง ให้เห็นความหยาบรากกำลังสองเฉลี่ย ด้วยเหตุนี้ เม็ดขนาดเล็กของผลึกของชั้นวางที่อยู่ด้านล่าง และชั้นแม่เหล็ก ที่ถูกสร้างให้เท่ากันไว้บนนั้น ความหยาบผิวหน้าถูกกำหนดเฉพาะโดย Rmax น้อยกว่าหรือเท่ากับ 15 nm, Ra น้อยกว่าหรือเท่ากับ 1 nm และ Rq น้อยกว่าหรือเท่ากับ 1.5 nm และ อัตราส่วนระหว่างความหยาบผิวหน้า Rmax และความหยาบผิวหน้า Ra อยู่ในช่วง 10-30 DC60 in magnetic recording medium, surface roughness of glass substrate. And the transformation of The surface roughness that was inhibited, ie, the surface roughness (Rmax, Ra, Rq) and the relationship (Rmax / Ra) between Rmax and Ra limited by Ra, showed the mean median roughness Rmax. That has been set according to the maximum height That shows the difference between the highest And the lowest point and Rq show the mean square root roughness, hence the small grains of the crystals of the shelf below And magnetic layer That were created equal on it The surface roughness is specifically defined with Rmax less than or equal to 15 nm, Ra less than or equal to 1 nm and Rq less than or equal to 1.5 nm, and the ratio between Rmax face roughness and Ra face roughness ranges from 10 -. 30 In the magnetic log medium, the surface roughness of the glass substrate. And the transformation of The surface roughness was inhibited, ie, the surface roughness (Rmax Ra, Rq) and the correlation (Rmax / Ra) between Rmax and Ra limited by Ra, showing the mean median roughness Rmax at Is defined according to the maximum height That shows the difference between the highest And the lowest point and Rq show the mean square root roughness, hence the small grains of the crystals of the shelf below And magnetic layer That were created equal on it The surface roughness is specifically defined with Rmax less than or equal to 15 nm, Ra less than or equal to 1 nm and Rq less than or equal to 1.5 nm, and the ratio between Rmax face roughness and Ra face roughness ranges from 10-. 30

Claims (3)

1. ซับสเตรทแก้วที่ซึ่งสำหรับใช้ในตัวกลางบันทึกข้อมูลและที่ซึ่งมีความหยาบของ ผิวหน้า Ra, Rmax และ Rq โดยที่ซึ่ง Ra แสดงให้เห็นได้เป็นความหยาบเฉลี่ยแบบแนวเส้นตรง กลาง, Rmax ถูกกำหนดให้เป็นความสูงมากสุดที่แสดงให้เห็นได้ถึงความแตกต่างระหว่างจุดสูงสุด และจุดต่ำสุด และ Rq แสดงให้เห็นได้เป็นความหยาบแบบรากของกำลังสองเฉลี่ย ที่ซึ่ง ความหยาบของผิวหน้าถูกกำหนดโดย Rmax น้อยกว่าหรือเท่ากับ 15 nm, Ra น้อยกว่าหรือเท่ากับ 1 มม. และ Rq น้อยกว่าหรือเท่ากับ 1.5 n m. Rmax/Ra ตกอยู่ภายในช่วงระหว่าง 10 และ 30 และความหยาบของผิวหน้าจะถูกวัด โดยไมโครสโคปชนิดแรงระหว่างอะตอม1.Glass substrates where for use in the recording medium and where there is a surface roughness Ra, Rmax and Rq, where Ra is shown as the mean linear average roughness, Rmax is defined. Rq is the maximum height that shows the difference between the highest and lowest point, and Rq is shown as the mean square root roughness, where the surface roughness is less determined by Rmax. Or equal to 15 nm, Ra is less than or equal to 1 mm and Rq is less than or equal to 1.5 n m. Rmax / Ra falls within the range between 10 and 30 and surface roughness is measured. By interatomic force microscopes 2. ซับสเตรทแก้ว ดังที่ขอถือสิทธิไว้ในข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่ง ความหยาบของผิวหน้าถูก กำหนดไว้โดย Rmax น้อยกว่าหรือเท่ากับ 10nm, Ra น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.5 n m. และ Rq น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.7 nm.2. Glass substrates, as herein, in claim 1 where the surface roughness is defined with Rmax less than or equal to 10nm, Ra less than or equal to 0.5 n m. And Rq less than or This is 0.7 nm. 3. ซับสเตรทแก้ว ดังที่ขอถือสิทธิไว้ในข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่ง ความหยาบของผิวหน้า ถูก กำหนดไว้โดย Rmax น้อยกว่าหรือเท่ากับ 5nm, Ra น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.3 n m. และ Rq น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.4 nm.3.Glass substrates, as herein, in claim 1 where the surface roughness is defined with Rmax less than or equal to 5nm, Ra less than or equal to 0.3 n m. And Rq less than or This is equal to 0.4 nm.
TH9701005368A 1997-12-25 Glass substrate for recording media TH24237B (en)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH32290A TH32290A (en) 1999-02-25
TH24237B true TH24237B (en) 2008-08-13

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY121649A (en) Glass substrate for information recording medium
MY124000A (en) Method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium, and method of manufacturing an information recording medium
CA2607856A1 (en) Polishing composition
MY119020A (en) A glass-ceramic substrate for a magnetic information storage medium
EP1262329A3 (en) Ink-jet recording material, and recording method of ink-jet recording and recorded material using the same
MY115524A (en) A glass-ceramic substrate for a magnetic disk
EP1327510A4 (en) Antireflective formed article and method for preparation thereof, and mold for antireflective formed article
MX9800638A (en) Cutting tool.
EP0384574A3 (en) Magnetic memory storage devices
MY124578A (en) Magnetic hard disc substrate and process for manufacturing the same
EA200300684A1 (en) OPTICAL INFORMATION MEDIA AND ITS USE
EP1518837A4 (en) Hydrophilic, anti-fogging, and anti-staining thin film and method for preparation thereof
US4925738A (en) Substrate for a magnetic disk and process for its production
CA2236373A1 (en) Glass for information recording medium substrate and glass substrate
TW200638408A (en) Write-once-read-many optical recording medium
EP1640089A4 (en) Surface-coated high hardness material for tool
CA2089465A1 (en) Oriented electrical steel sheet having low core loss and method of manufacturing same
TH32290A (en) Glass substrate for recording media
TH24237B (en) Glass substrate for recording media
EP0565733A4 (en)
EP1513191A3 (en) Heating apparatus having electrostatic adsorption function
EP1555657A4 (en) Biaxially oriented polyester film and flexible disk
JP2003296972A5 (en)
WO2001094124A3 (en) Image recording medium
EP0817174A4 (en)