Claims (9)
1.กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอส ประกอบด้วย ขั้นตอนที่หนึ่ง เป็นการก่อรูปแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่ทำจากสารซิลิคอนไว้บน แผ่นฟิล์มที่เป็นออกไซด์ของเกตที่ก่อรูปไว้บนวัสดุฐานรองที่เป็นซิลิคอน, ขั้นตอนที่สองเป็นการเจือปนสารเจือปนลงในวัสดุฐานรองที่เป็นซิลิคอนที่กล่าว มาแล้วโดยใช้แบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วเป็นหน้ากาก ติดตามด้วยการเร่งเร้าสารเจือปน ที่ถูกเจือเข้าไปที่กล่าวมาแล้ว เพื่อก่อรูปขึ้นของการแพร่ซึมขึ้นในชั้นพื้นที่ผิวของวัสดุฐานรอง ที่เป็นซิลิคอนที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่สามที่เป็นการก่อรูปแผ่นฟิล์ม ฉนวนสำหรับกั้นชั้น ในลักษณะที่ให้ปิด คลุมแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่สี่ที่เป็นการกำจัดส่วนด้านบนของแผ่นฟิล์มฉนวนสำหรับกั้นขั้นที่แล้ว มาแล้วออกไปเพื่อทำการเผยส่วนด้านบนของรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่ห้าเป็นการกำจัดส่วนที่ทำให้เผยออกของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าว มาแล้วออกไปโดยการกำจัดสลักแบบเจาะจงเลือก และ ขั้นตอนที่หกเป็นการฝังวัสดุโลหะลงในส่วนที่เว้าลึกที่ก่อรูปขึ้นโดยการนำเอาส่วน ที่เผยออกของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตุที่กล่าวมาแล้วออกไปโดยการกัดสลัก1. The process of creating a moss transistor consists of one step. It forms a silicon gate electrode on the The gate oxide film formed on the silicon substrate, the second step is to add the dopant to the said silicon substrate. Ago, using the aforementioned gate electrode form as a mask Follow up with impulse impurity That has been added to the foregoing To form a diffusion in the surface layer of the substrate That is silicon as mentioned above The third step is film formation. Insulation In such a way that it is closed Cover the above gate electrode form. The fourth step eliminates the top part of the last step insulating film. Come out to reveal the top part of the image of the gate electrode mentioned above The fifth step is to eliminate the exposure of the said gate electrode pattern. And the sixth step is to embed metal material into the deep recess formed by removing the Exposing the pattern of the aforementioned electrodes by etching the etch.
2. กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอสประกอบด้วย ขั้นตอนที่หนึ่ง เป็นการก่อรูป ของขั้วไฟฟ้าเกตที่บนแผ่นฟิล์มที่เป็นออ- ไซด์ของเกตุที่ก่อรูปไว้บนลำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอน แบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตุดังกล่าวที่ก่อ รูปโดยทำการวางซ้อนสารซิลิคอน วัสดุซึ่งมีอัตราส่วนของการเลือกสำหรับกัดสลักต่อสาร ซิลิคอน และสารซิลิคอนในลำดับเช่นนี้ จากด้านของแผ่นฟิลม์ที่เป็นออกไซด์ของเกตที่กล่าวมา แล้ว; ขั้นตอนที่สองเป็นการเจือปนสารเจือปนเข้าไปในลำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอน ที่กล่าวมาแล้วโดยการใช้แบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตุที่กล่าวมาแล้วเป็นหน้ากาก , ติดตามด้วยการ การเร่งเร้าสารเจือปนที่ ถูกเจือใส่เข้าไปดังกล่าว เพื่อก่อรูปชั้นของการแพร่ซึมในชั้นพื้นผิวของลำตัว ส่วนฐานของสารซิลิคอนดังกล่าว ขั้นตอนที่สามที่เป็นการก่อรูปแผ่นฟิล์ม ฉนวนสำหรับกั้นชั้น ในลักษณะที่ให้ปิดคลุม แบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่สี่ที่เป็นการกำจัดส่วนด้านบนของแผ่นฟิล์มฉนวนสำหรับกั้นชั้นดังกล่าว ออกไปเพื่อเผยส่วนด้านบนของแบบรุปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่ห้าเป็นการกำจัดสารซิลิคอนซึ่งก่อรูปเป็นชั้นด้านบนของแบบรูปของขั้ว ไฟฟ้าเกตุที่กล่าวมาแล้วมาแล้วที่ทำให้เผยออกไปโดยการสกัดสลักแบบเจาะจงเลือก ขั้นตอนที่หกเป็นการเจือปนสารเจือปนเข้าไปในสารซิลิคอนของชั้นด้านล่างของ แบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตุที่กล่าวมาแล้ว ติดตามด้วยการเร่งเร้าสารเจือปนที่ถูกเจือใส่เข้าไปดังกล่าว และ ขั้นตอนที่เจ็ดเป็นการฝังวัสดุโลหะไว้ในส่วนที่เว้าลึกที่ก่อรูปขึ้นโดยการ กำจัดซิลิคอนของชั้นด้านบนของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตุที่กล่าวมาแล้วออกไปโดยการกัดสลัก, โดยที่ กระบวนการดังกล่าวยังประกอบเพิ่มเติม ระหว่างขั้นตอนที่ห้าที่กล่าวมาแล้วกับ ขั้นตอนที่เจ็ดที่กล่าวมาแล้ว ด้วยขั้นตอนของการกำจัดวัสดุที่กล่ามาแล้วซึ่งมีอัตราส่วนของการเลือก สำหรับสลักต่อสารซิลิคอน ของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าดังกล่าวออกไปโดยการ กัดสลัก2. The process of making a mos transistor consists of Step one Formative Of the gate electrode on the gate o-site film formed on the body, the base of the silicon The form of the above-mentioned electrode formed Figure by stacking silicon substances Materials which have the ratio of choice for etching to silicon and silicon in this order. From the side of the oxide film of the aforementioned gate; The second step is to add the dopant into the base body of silicon. As mentioned above, by using the above-mentioned electrode form as a mask, follow by Urging impurities that Was added to it To form a layer of diffusion in the body's surface layer The base of the silicon. The third step is film formation. Insulation In such a way as to cover The above gate electrode form The fourth step is to eliminate the top part of the insulating film for the barrier layer. Out to reveal the top part of the model of the aforementioned gate electrodes The fifth step is to remove silicon, which forms the upper layer of the polar form. The aforementioned electric nets that were made revealed by a selective extraction of engravings. The sixth step is the impurity impurity into the silicon substance of the bottom layer of the Model of the above-mentioned electrode. Followed by pushing the doped impurity, and the seventh step implants the metallic material in the deep recess formed by the Eliminate the silicon of the top layer of the aforementioned model electrode by etching, while the process is additionally assembled. During the fifth step mentioned above and The seventh step mentioned above. With the process of disposal of pre-stocked material with the ratio of selection For attaching silicon substances Of such electrode pattern removed by etching the latch
3. กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอสตามข้อถือสิทธิข้อที่ 2, โดยที่ กระบวนการดังกล่าวยังประกอบเพิ่มเติม ระหว่างขั้นตอนที่ห้าที่กล่าวมาแล้วกับขั้นตอนที่ หกที่กล่าวมาแล้ว ด้วยขั้นตอนของการกัดหลักแผ่น ฟิล์มฉนวนสำหรับกั้นชั้นที่กล่าวมาแล้ว บน ชั้นของการแพร่ซึมที่กล่าวมาแล้วเพื่อก่อรูปส่วนที่เว้าลึกส่วนที่สองที่ต่อถงกันกับชั้นของการแพร่ซึม ที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่หกดังกล่าวประกอบด้วยขั้นตอนของการเจือปนสารเจือปนเข้าไปใน สารซิลิคอนของชั้นล่างของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้ว และในเวลาเดียวกัน ทำการเจือปนสารเจือปนเข้าไปในขั้นตอนของการแพร่ซึมที่กล่าวมาแล้วผ่านส่วนที่เว้าลึกส่วนที่สอง ที่กล่าวมาแล้ว , ตอนที่เจ็ดดังกล่าวประกอบด้วยขั้นตอนของการฝังวัสดุโลหะไว้ในส่วนหนึ่งที่เว้า ลึกดังกล่าวที่ก่อรูปขึ้นโดยการ กำจัดซิลิคอนของชั้นด้านบนของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าว มาแล้วออกไปโดยการกัดสลัก และในเวลาเดียวกันทำการฝังวัสดุโลหะไว้ในส่วนที่เว้าลึกส่วน ที่สองที่กล่าวมาแล้วที่ต่อถึงกับชั้นของการแพร่ซึมที่กล่าวมาแล้ว3. The process of constructing a moss-type transistor according to claim No. 2, while the process is additionally assembled. Between the five steps mentioned above and the Six of the foregoing With the process of milling the main plate An insulating film for separating the above layers on the aforementioned diffusion layer to form a second deep concave connected to the diffusion layer. The foregoing The sixth step consists of the process of adding contaminants into the The silicon substrate of the aforementioned gate electrode form. And at the same time Add the dopant into the aforementioned diffusion step through the second deep recess. As mentioned above, the seventh part consists of the process of embedding metallic material into a recessed part. Such depths formed by Eliminate the silicon of the top layer of the aforementioned gate electrode model. Come and leave by etching And at the same time, metal materials are embedded in the deep concave parts The second, mentioned above, is connected to the aforementioned diffusion layer.
4. กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอสตามข้อถือสิทธิข้อที่ 1, ยังประกอบเพิ่มเติมด้วย ระหว่างขั้นตอนที่ห้าที่กล่าวมาแล้วกับขั้นตอนที่หกที่กล่าวมาแล้ว ด้วย ขั้นตอนของการเจือปนเข้าไปในขั้นพื้นผิวของลำดับส่วนฐานของสารซิลิคอนที่กล่าว มาแล้ว4. The process of constructing a mos transistor according to claim 1, is also supplemented. Between the aforementioned fifth step and the sixth step with the process of adulteration into the surface of the aforementioned silicon base sequence,
5. กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอสตามข้อถือสิทธิข้อที่ 2 ยังประกอบเพิ่มเติม , ระหว่างขั้นตอนที่ห้าที่กล่าวมาแล้วกับขั้นตอนที่เจ็ดที่กล่าวมาแล้ว , ด้วย ขั้นตอนของการเจือปนสารเข้าไปในชั้นพื้นผิวของลำตัวฐานของสารซิลิคอนที่กล่าว มาแล้ว5. The process of constructing a moss transistor according to claim 2 is also supplemented, between the fifth step mentioned and the seventh step above, with the process of impregnating the substance into the layer. The surface of the body, the base of the silicon substance mentioned above.
6. กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอ, ประกอบด้วย ขั้นตอนที่หนึ่งเป็นการก่อรูปบริเวณพีมอสกับบริเวณเอ็มมอสขึ้นบนลำตัวส่วนฐาน ของสารซิลิคอน และทำการก่อรูปแผ่นฟิล์มที่เป็นออกไซด์ของเกตบนชั้นพื้นผิวของลำตัวส่วนฐาน ของสารซิลิคอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณพีมอสและเอ็นมอสที่กล่าวมาแล้ว แต่ละแท่ง ขั้นตอนที่สองเป็นการก่อรุูปแบบ ของขั้วไฟฟ้าเกตุที่ทำจากสารซิลิคอนขึ้นบน แผ่นฟิล์มที่เป็นออกไซด์ของเกตที่กล่าวมาแล้วที่ก่อรูปไว้บนลำตัวส่วนฐานของซิลิคอนที่กล่าว มาแล้วในบริเวณดังกล่าวแต่ละแห่ง ขั้นตอนที่สามเป็นการปิดคลุมบริเวณเอ็นมอสที่กล่าวมาแล้ว ด้วยชั้นกั้นและทำ การเจือปนสารเจือปนแบบชนิด-พีเข้าไปในลำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอนดังกล่าวในบริเวณพีมอสที่กล่าวมาแล้วโดยใช้ชั้นกั้นที่กล่าวมาแล้วกับแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วเป็นหน้ากาก ทำการปิดคลุมบริเวณพีมอสดังกล่าวด้วยชั้นกั้นและทำการเจือปนแบบชนิด -เอ็นเข้า ไปในลำตัวส่วนฐานของซิลิคอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณเอ็นมอสดังกล่าว โดยใช้ชั้นกั้นที่กล่าว มาแล้วกับแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วเป็นหน้ากาก, และทำการเร่งเร้าสารเจือปนที่ถูก เจือเข้าไป โดยวิธีการนี้เป็นการก่อรูปชั้นของการแพร่ซึมในชั้นพื้นผิวของลำตัวส่วนฐานของ สารซิลิคอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณเอ็นมอสและพีมอสดังกล่าว ตามลำดับ ขั้นตอนที่สี่เป็นการก่อรูปแผ่นฟิล์มฉนวนสำหรับกั้นชั้น ในลักษณะที่ให้ปิดคลุม แบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วในบริเวณเอ็นมอส และ พีมอสที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่ห้าเป็นการกำจัดส่วนด้านบนของ ฟิล์มฉนวนสำหรับกั้นชั้นดังกล่าว ออกไปเพื่อเผยส่วนด้านบนของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วแต่ละแบบรูป ขั้นตอนที่หกเป็นการกำจัดส่วนที่เผยออกของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตดังกล่าว แต่ละแบบรูปออกไปโดยการสกัดสลักแบบเจาะจงเลือก และ ขั้นตอนที่เจ็ดเป็นการฝังวัสดุโลหะไว้ในส่วนที่เว้าลึกที่ก่อรูปขึ้นโดยการกำจัด ส่วนที่เผยออกของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตุที่กล่าวมาแล้วแต่ละแบบรูปออกไปโดยการกัดสลัก6. The process of building a motorized transistor, consists of one step forming the pemos and emos regions on the base body. Of silicon substances And forming an oxide film of the gate on the surface layer of the base body. Of the aforementioned silicon compounds in the pemos and nmos regions, each of them is a Of a silicon electrode on top The aforementioned gate oxide film formed on the base body of the said silicon. Arrived in each such area The third step is to cover the enema area mentioned above. With barrier layer and do The impurity of a type-P dopant into the base body of such silicon compounds in the aforementioned pemos area is by using the aforementioned barrier layer with the aforementioned gate electrode pattern as a mask. The pemoside was covered with a barrier layer and doped as a n-type into the body. Using the said barrier layer The above gate electrode forms are masked, and the impurity impregnated by this method forms a diffusion layer in the surface layer of the base of the body. In the fourth step, the silicon compounds in the nmos and pemos region form an insulating film for the barrier layer. In such a way as to cover The pattern of the aforementioned gate electrodes in the aforementioned Enmos and Pemos regions. The fifth step is to get rid of the top of the Insulating film for blocking such layers Out to reveal the top portion of each of the aforementioned gate electrode patterns. The sixth step is the elimination of the exposed part of the aforementioned gate electrode layout. Each pattern is extracted by a selective extraction of the engravings, and the seventh step embeds the metal material in the deep recess formed by removal. The exposed parts of each of the above-mentioned electrode patterns are removed by etching.
7.กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดซีมอส , ประกอบด้วย ขั้นตอนที่หนึ่งเป็นการก่อรูปบริเวณพีมอสกับบริเวณเอ็นมอสขึ้นบน ลำตัว ส่วนฐานของสารซิลิคอน และทำการก่อรูปแผ่นฟิล์มที่เป็นออกไซด์ของเกตขึ้นบนพื้นผิวของลำตัว ส่วนฐานของสารวิลิคอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณด้านดังกล่าวแต่ละแห่ง ขั้นตอนที่สองเป็นการก่อรุูปแบบ ของขั้วไฟฟ้าเกตุ บนแผ่นฟิล์มที่เป็นออกไซด์ ของเกตที่กล่าวมาแล้วที่ก่อรูปไว้บนลำตัวส่วนฐานของซิลิคอนที่กล่าว มาแล้วในบริ- เวณดังกล่าวแต่ละแห่ง แบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตดังกล่าวจะให้ก่อรูปขึ้นโดยการวางซ้อนสาร ซิลิคอนที่ไม่มีการเติมสารเจือปน วัสดุซึ่งมีอัตราส่วนของการเลือกสำหรับกัดสลักต่อสารซิลิคอน และสารซิลิคินในลำดับเช่นนี้ จากด้าน ของแผ่นฟิล์มที่เป็นออกไซด์ของเกตที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่สามเป็นการปิดคลุมบริเวณเอ็นมอสดังกล่าวด้วยชั้นกั้น และทำการเจือ ปนสารเจือปนแบบชนิด-พีเข้าไปในลำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณพีมอส ดังกล่าวโดยใช้ชั้นกั้นที่กล่าวมาแล้วกับแบบรูปที่เป็นออกไซด์ของเกตที่กล่าวมาแล้ว เป็นหน้ากาก ทำการปิดคลุมบริเวณพีมอสดังกล่าวด้วยชั้นกั้นและทำการเจือปนสารเจือปนแบบชนิด-เอ็น ลง ในลำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอนดังกล่าวในบริเวณเอ็นมอสดังกล่าว โดยใช้ชั้นกั้นที่กล่าว มาแล้วกับแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วเป็นหน้ากาก และทำการเร่งเร้าสารเจือปนที่ถูก เจือเข้าไป โดยวิธีการนี้เป็นการก่อรูปชั้นของการแพร่ซึมในช้นพื้นผิวของลำตัวส่วนฐานของ สารซิลิคอนดังกล่าวในบริเวณเอ็นมอสกับพีมอสดังกล่าวตามลำดับ ขั้นตอนที่สี่เป็นการก่อรูปแผ่นฟิล์มสำหรับกั้นชั้น ในลักษณะที่ให้ปิดคลุม แบบรูปของขั้วไฟฟ้า เกตที่กล่าวมาแล้วในบริเวณเอ็นมอส และ พีมอสที่กล่าวมาแล้ว ขั้นตอนที่ห้าเป็นการกำจัดส่วนด้านบนของแผ่นฟิล์มสำหรับกั้นชั้น ดังกล่าว ออกไปเพื่อเผยส่วนด้านบนของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วแต่ละแบบรูป ขั้นตอนที่หกเป็นการกำจัดสารซิลิคอนของชั้นด้านบนของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกต ที่กล่าวมาแล้ว ดังนั้นจึงทำให้เผยออกไป ขั้นตอนที่เจ็ดเป็นการเจือปนแบบชนิด -พีเข้าไปในสารซิลิคอน่ของ ชั้นด้านล่างของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตุที่กล่าวมาแล้วในบริเวณพีมอสดังกล่าว ทำการเจือปน สารเจือปนชนิดเอ็นเข้าไปในสารซิลิคอนของชั้นด้านล่างของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้ว ในบริเวณเอ็นมอสดังกล่าวและทำการเร่งเร้สารเจือปนที่เจือปนเข้าไป และ ขั้นตอนที่แปดเป็นการฝังวัสดุโลหะลงในส่วนที่เว้าลึกที่ก่อรูปขึ้ตนโดยการกำจัด สารซิลิคอนของชั้นด้านบนของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วแต่ละแบบรูปออกไปโดยการ กัดสลัก โดยที่กระบวนการดังกล่าวประกอบเพิ่มเติม ระหว่างชั้นตอนที่หกที่กล่าวมา แล้วกับขั้นตอนที่แปดที่กล่าวมาแล้ว ด้วยขั้นตอนของการกำจัดวัสดุซึ่งมีอัตราส่วนของการเลือก สำหรับกัดสลักต่อสารซิลิคอนที่กล่าวมาแล้วของแบบรูปของขั้วไฟฟ้าเกตที่กล่าวมาแล้วแต่ละแบบ รูปออกไปโดยการกัดสลัก7. The process of making a semiconductor transistor, consisting of the first step forming the pemos region and the nmos region on the silicon base. And forming an oxide film of the gate on the surface of the body The base of the aforementioned Wilicon in each of the aforementioned areas The second step is construction. Of the electrode Nate On an oxide film Of the aforementioned gates formed on the body of the aforementioned silicon bases in each of the aforementioned sites Such gate electrodes are formed by stacking the material. Silicon without additives Materials which have the ratio of choice for etching to silicon. And silicine in this order from the oxide film side of the gate mentioned above. The third step is to cover the area with a barrier layer and add a p-type dopant into the body. The base of the silicon compound in the pemos region. Using the aforementioned barrier layer and the oxide form of the aforementioned gate as a mask, the pemoside area is covered with a barrier layer and doped with a tendon-type dopant into the body. The base of the silicon substance in the area of the said moss Using the said barrier layer Comes with the form of the aforementioned gate electrodes as a mask. In this way, the impurity was added to form a diffusion layer on the base surface of the body. The silicon substances in the enmos and pemos region respectively. The fourth step is to form a protective film. In such a way as to cover Electrode form The aforementioned gates in the area of the aforementioned En Moss and Pemos The fifth step is to remove the top portion of the barrier film to reveal the top portion of each of the aforementioned gate electrode patterns. The sixth step is the removal of the silicon substance of the top layer of the gate electrode form. The foregoing So it was revealed. The seventh step is a kind of contamination. - P enters the silicone substance of The bottom layer of the aforementioned gate electrode pattern in the pemos region is impregnated with a n-type dopant into the silicon of the bottom layer of the aforementioned gate electrode form. The eighth step is to bind the metal material into the deep recess formed by removal. The silicon of the top layer of each of the aforementioned gate electrode patterns is removed by etching, which is further assembled by the process. During the sixth episode mentioned And with the eighth step mentioned above With the process of material removal which has the ratio of selection For etching the aforementioned silicon inserts of each of the aforementioned gate electrode patterns. The figure is removed by etching.
8. กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอสตามข้อถือสิทธิข้อที่ 6 ยังประกอบเพิ่มเติม ระหว่างขั้นตอนที่หกที่กล่าวมาแล้วกับขั้นตอนที่เจ็ดที่กล่าวมาแล้ว , ด้วยขั้นตอนของการเจือปนสารเจือปนแบบชนิด-พี ลงในชั้นพื้นผิว ของลำตัวส่วนฐานของสารซิลิ- คอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณพีมอสดังกล่าว และทำากรเจือปนสารเจือปนแบบชนิด -เอ็นลงในชั้น พื้นผิวของลำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณเอ็นมอส ดังกล่าว8. The process of constructing a moss-type transistor according to claim No. 6 is additionally assembled. Between the sixth step mentioned above and the seventh step above, with the P-type additive additive stage. Into the surface layer Of the base body of the aforementioned silicon in the pemos region And dubbing - Ligament into the floor The surface of the body, the base portion of the silicon substance mentioned above, in the area of the enmos.
9. กระบวนการของการสร้างทรานซิสเตอร์ชนิดมอสตามข้อถือสิทธิข้อที่ 7 ยังประกอบเพิ่มเติม ระหว่างขั้นตอนที่หกที่กล่าวมาแล้วกับขั้นตอนที่แปดที่กล่าวมาแล้ว ด้วย ขั้นตอน ของการเจือปนแบบชนิด -พีลงในขั้นพื้นผิวของลำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอนที่ กล่าวมาแล้วในบริเวณพีมอสดังกล่าว และทำการเจือปนสารเจือปนแบบชนิด -เอ็น ลง ในชั้นพื้นผิวของสำตัวส่วนฐานของสารซิลิคอนที่กล่าวมาแล้วในบริเวณเอ็นมอสที่กล่าวมาแล้ว9. The process of constructing a mos transistor according to claim number 7 is additionally assembled. Between the sixth step mentioned above and the eighth step above with the type contamination stage. - P. into the surface of the body, the base of the silicon substance Already mentioned in the pemos area And the n-type dopant was added to the substrate layer of the silicon base part of the above-mentioned silicon in the en-moss region.