TH1901005011A - การ์ดโพรบที่ได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นสำหรับการใช้ที่ความถี่สูง - Google Patents
การ์ดโพรบที่ได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นสำหรับการใช้ที่ความถี่สูงInfo
- Publication number
- TH1901005011A TH1901005011A TH1901005011A TH1901005011A TH1901005011A TH 1901005011 A TH1901005011 A TH 1901005011A TH 1901005011 A TH1901005011 A TH 1901005011A TH 1901005011 A TH1901005011 A TH 1901005011A TH 1901005011 A TH1901005011 A TH 1901005011A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- large number
- flexible membrane
- microcontact
- probe
- probes
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title abstract 7
- 239000012528 membrane Substances 0.000 abstract 5
Abstract
บทสรุปการประดิษฐ์ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณาReadFile:DEPCT63การ์ดโพรบ(probecard)(20)สำหรับเครื่องมือทดสอบอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ประกอบด้วยหัวทดสอบ(21),ซึ่งตัวเรือนจำนวนมากของชิ้นส่วนสัมผัส(22)ขยายออกไปตามแกนตามยาว(H-H)ระหว่างส่วนปลายแรก(24A)และส่วนปลายที่สอง(24B),แผ่นพยุง(23),ลงบนซึ่งส่วนปลายแรก(24A)จะถูกปรับให้ชิด,และเมมเบรนยึดหยุ่น(25)ซึ่งประกอบด้วยหน้าแรก(F1)และหน้าตรงข้ามและที่สอง(F2)โดยสะดวก,ส่วนแรก(25A)ของเมมเบรนยืดหยุ่น(25)จะถูกจัดเรียงบนอย่างน้อยหนึ่งสิ่งพยุง(28)และประกอบด้วยจำนวนมากของแถบ(27)ขยายออกระหว่างปลายส่วนต้น(27A)และปลายส่วนปลาย(27B),การ์ดโพรบ(probecard)(20)ประกอบเพิ่มเติมด้วยจำนวนมากของโพรบสัมผัสขนาดเล็ก(microcontactprobes)(30)ที่ประกอบด้วยลำตัว(30C)ขยายออกตามแกน(H-H)ตามยาวระหว่างส่วนปลายแรก(30A)และส่วนปลายที่สอง(30B),ส่วนปลายที่สอง(24B)ของแต่ละชิ้นส่วนสัมผัส(22)ติดลงบนหน้าแรก(F1)ของเมมเบรนยืดหยุ่น(25)ที่ปลายส่วนปลาย(27B)ของแถบตามลำดับ(27),และส่วนปลายแรก(30A)ของแต่ละโพรบสัมผัสขนาดเล็ก(microcontactprobe)(30)ติดลงบนหน้าที่สอง(F2)ของเมมเบรนยืดหยุ่น(25)ที่ชิ้นส่วนสัมผัสตามลำดับ(22),เมมเบรนยืดหยุ่น(25)จะถูกเชื่อมต่อทางไฟฟ้ากับแผ่นพยุง(23)ผ่านส่วนที่สองของมัน(25B),ส่วนปลายที่สอง(30B)ของโพรบสัมผัสขนาดเล็ก(microcontactprobes)(30)ง่ายต่อการสัมผัสแผ่นสัมผัส(32)ของอุปกรณ์ที่จะถูกทดสอบ,ที่ซึ่งอย่างน้อยหนึ่งสิ่งพยุง(28)จะถูกจัดให้มีด้วยจำนวนมากของหลุมนำ(guideholes)(28h)สำหรับตัวเรือนของจำนวนมากของโพรบสัมผัสขนาดเล็ก(microcontactprobes)(30)-----------------------------------------------------------
Claims (1)
1. ข้อถือสิทธิ์(ข้อที่หนึ่ง)ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา:
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH1901005011A true TH1901005011A (th) | 2022-03-14 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PH12019501890A1 (en) | Improved probe card for high-frequency applications | |
| PH12019501889A1 (en) | Probe card for high-frequency applications | |
| PH12019501351A1 (en) | Testing head having improved frequency properties | |
| US7456642B2 (en) | Handheld electronic test probe assembly | |
| MY200160A (en) | Probe card for a testing apparatus of electronic devices | |
| BRPI0516796A (pt) | cinta para ergometria | |
| PH12016501753A1 (en) | Probe card for a testing apparatus of electronic devices, particularly for extreme temperature applications | |
| ATE263378T1 (de) | Breitbandige impedanzanpassungssonde | |
| TW200602643A (en) | Attachable/detachable probing tip system for a measurement probing system | |
| PH12016501754B1 (en) | High-planarity probe card for a testing apparatus of electronic devices | |
| WO2016087369A3 (en) | Testing head comprising vertical probes | |
| JP2015524307A5 (th) | ||
| PH12020551950A1 (en) | High-performance probe card in high-frequency | |
| PH12020551091A1 (en) | Cantilever probe head and corresponding contact probe | |
| US3829776A (en) | Pen type voltmeter | |
| US9709599B2 (en) | Membrane probe card | |
| TH1901005011A (th) | การ์ดโพรบที่ได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นสำหรับการใช้ที่ความถี่สูง | |
| US2292236A (en) | Prod | |
| CN107402318A (zh) | 探针组件及测试设备 | |
| KR102341172B9 (ko) | 건식전극 기반의 뇌파측정장치 | |
| TH1901005010A (th) | การ์ดโพรบ(Probecard)สำหรับการใช้ที่ความถี่สูง | |
| SU93291A1 (ru) | Угольно-порошковый реостатный датчик | |
| KR101947500B1 (ko) | Eit를 위한 전극 측정장치 | |
| TH1901006383A (th) | โพรบการ์ด(Probecard)สำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ | |
| TW201144814A (en) | Probing apparatus for integrated circuit testing |