TH1901005010A - การ์ดโพรบ(Probecard)สำหรับการใช้ที่ความถี่สูง - Google Patents
การ์ดโพรบ(Probecard)สำหรับการใช้ที่ความถี่สูงInfo
- Publication number
- TH1901005010A TH1901005010A TH1901005010A TH1901005010A TH1901005010A TH 1901005010 A TH1901005010 A TH 1901005010A TH 1901005010 A TH1901005010 A TH 1901005010A TH 1901005010 A TH1901005010 A TH 1901005010A TH 1901005010 A TH1901005010 A TH 1901005010A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- support plate
- membrane
- probe
- distribution
- contact
- Prior art date
Links
Abstract
บทสรุปการประดิษฐ์ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณาReadFile:DEPCT63การ์ดโพรบ(probecard)(20)ของเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ประกอบด้วยหัวทดสอบ(21),ซึ่งตัวเรือนจำนวนมากของชิ้นส่วนสัมผัส(22)ขยายออกตามแกนตามยาว(H-H)ระหว่างส่วนปลายแรก(24A)และส่วนปลายที่สอง(24B),แผ่นพยุง(23),ลงบนซึ่งส่วนปลายแรกดังกล่าว(24A)จะถูกปรับให้ชิด,และเมมเบรนยืดหยุ่น(25)อย่างเหมาะสม,หัวทดสอบ(21)จะถูกจัดเรียงระหว่างแผ่นพยุง(23)และส่วนแรก(25A)ของเมมเบรนยืดหยุ่น(25),ซึ่งจะเชื่อมต่อกับแผ่นพยุง(23)ผ่านส่วนที่สอง(25B)ของมัน,การ์ดโพรบ(probecard)(20)ประกอบเพิ่มเติมด้วยจำนวนมากของปลายสัมผัส(27)ถูกจัดเรียงบนหน้าแรก(F1)ของเมมเบรนยืดหยุ่น(25)ที่ส่วนแรก(25A)ของมัน,ส่วนปลายที่สอง(24B)ของแต่ละสัมผัสส่วนประกอบ(22)ง่ายต่อการติดลงบนหน้าที่สอง(F2)ของเมมเบรนยืดหยุ่น(25),ตรงข้ามกับหน้าแรก(F1),จำนวนและการกระจายของชิ้นส่วนสัมผัส(22)แตกต่างจากจำนวนและการกระจายของปลายสัมผัส(27)-----------------------------------------------------------
Claims (1)
1. ข้อถือสิทธิ์(ข้อที่หนึ่ง)ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา:
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH1901005010A true TH1901005010A (th) | 2021-11-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PH12019501889A1 (en) | Probe card for high-frequency applications | |
| MY192337A (en) | Test socket assembly | |
| MY200160A (en) | Probe card for a testing apparatus of electronic devices | |
| PH12019501351A1 (en) | Testing head having improved frequency properties | |
| MY141418A (en) | Micro-impact testing apparatus | |
| PH12016501754A1 (en) | High-planarity probe card for a testing apparatus of electronic devices | |
| ATE511661T1 (de) | Systeme und verfahren zum prüfen von rfid- anwendungen | |
| MY180229A (en) | On-center electrically conductive pins for integrated testing | |
| PH12020551950A1 (en) | High-performance probe card in high-frequency | |
| US9709599B2 (en) | Membrane probe card | |
| WO2013182317A8 (en) | Probe card for an apparatus for testing electronic devices | |
| TH1901005010A (th) | การ์ดโพรบ(Probecard)สำหรับการใช้ที่ความถี่สูง | |
| TWD198372S (zh) | 電氣特性測定用探針之部分 | |
| GB2574155A (en) | Contacting device, head unit for the same, and methods for manufacturing a contacting device and a head unit | |
| TH1901005011A (th) | การ์ดโพรบที่ได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นสำหรับการใช้ที่ความถี่สูง | |
| ATE382869T1 (de) | Testen integrierter schaltungen | |
| TH1901006383A (th) | โพรบการ์ด(Probecard)สำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ | |
| US2778992A (en) | Electrical circuit device | |
| PL430643A1 (pl) | Stanowisko do badania właściwości elektrostatycznych iskier mechanicznych | |
| TW200622277A (en) | Voltage measuring apparatus for the fuel cell | |
| TH180743A (th) | โพรบสัมผัสสำหรับหัวทดสอบ | |
| TH1901005914A (th) | อุปกรณ์การวัดส่วนประกอบก๊าซ | |
| WO2014009980A8 (en) | Interface board of a testing head for a test equipment of electronic devices and corresponding testing head | |
| TH180832A (th) | หัวทดสอบที่มีโพรบตามแนวตั้งอย่างโดยเฉพาะสำหรับการประยุกต์ใช้ความถี่สูง | |
| TH1901003659A (th) | หัวทดสอบที่มีสมบัติทางความถี่ที่ได้รับการปรับปรุง |