TH128779B - Contact probe leg - Google Patents
Contact probe legInfo
- Publication number
- TH128779B TH128779B TH1301002604A TH1301002604A TH128779B TH 128779 B TH128779 B TH 128779B TH 1301002604 A TH1301002604 A TH 1301002604A TH 1301002604 A TH1301002604 A TH 1301002604A TH 128779 B TH128779 B TH 128779B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- protrusions
- tip
- carbon film
- contact probe
- maintained
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract 1
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract 1
Abstract
การประดิษฐ์นี้มีการจัดจัดเตรียมขาของหัวตรวจเเบบสัมผัสที่มีการจัดทำฟิล์มที่เป็นคาร์บอนซึ่ง มีทั้งสภาพการนำไฟฟ้าเเละความทนทานไว้บนวัสดุที่ใช้เป็นฐานที่มีการเเบ่งส่วนปลายสุดโดยสามารถ ลดการเกาะติดของ Sn ให้มากที่สุดเท่าที่จะเป็นไปได้เพื่อให้สามารถรักษาสภาพที่มีการสัมผัส ทางไฟฟ้่าที่เสถียรไว้ได้เป็นระยะเวลานานเเม้ว่าจะอยู่ภายใต้สภาวะที่อุณหภูมิของสภาพเเวดล้อม ของการใช้งานกลายเป็นอุณหภูมิสูง การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับขาของหัวตรวจเเบบสัมผัสซึ่ง ประกอดบด้วยส่วนปลายสุดที่ถูกเเบ่งออกเป็นชิ้นส่วนยื่นตั้งเเต่ 2 อันขึ้นไปเเละมาสัมผัสกับพื้นผิว ทดสอบซ้ำหลายครั้งชิ้นส่วนยื่นดังกล่าวโดยมีการจัดทำฟิล์มที่เป็นคาร์บอนซึ่งมีการส่วนประกอบ ของธาตุที่เป็นโลหะไว้บนพื้นผิวของชิ้นส่วนยื่นดังกล่าวเป็นอย่างน้อยเเละรัศมีของส่วนโค้งตรงส่วน ที่เป็นจุดยอดของชิ้นส่วนยื่นดังกล่าวมรขนาดเท่ากับ 30 ไมโครเมตรหรือใหญ่กว่านี้ The invention provides a contact probe's leg with a carbon film-forming, which Conductivity and durability are both placed on the base material with the indication of the tip. Reduce Sn adhesion as much as possible so that exposure conditions can be maintained. Stable electrical power can be maintained for a long time even under ambient temperature conditions. Of use becomes high temperature The invention involves the legs of the probe, which Clad with the tip that has been marked out into two or more protrusions and come into contact with the surface. Repeatedly tested such protrusions with the formation of a composite carbon film. The metal element is placed on the surface of the protrusion at least and the radius of the arc at the part. Which is the vertex of the protruding part, its size is 30 micrometers or larger.
Claims (1)
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TH128779B true TH128779B (en) | 2013-10-24 |
TH128779A TH128779A (en) | 2013-10-24 |
TH60580B TH60580B (en) | 2018-02-07 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
MY166379A (en) | Contact probe pin | |
MY167999A (en) | Probe unit | |
ATE498843T1 (en) | DEVICE WITH A CONTACT DETECTOR | |
MY155109A (en) | Contact probe | |
GB0521076D0 (en) | Measurement of micromovements | |
CN203658405U (en) | Magnetic type voltage measuring device | |
WO2010045214A3 (en) | Circuit board testing using a probe | |
SG11201903881XA (en) | Contact probe and electrical connection jig | |
TW200624815A (en) | Electrical contact testing probe | |
AR086927A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF THE ESCORIA | |
TW200730832A (en) | Probe pin | |
TH128779B (en) | Contact probe leg | |
MY174516A (en) | Electrical contact member | |
BR112015017004A2 (en) | continuous and noninvasive tissue temperature measurement based on impedance measurements | |
JP2016516992A5 (en) | ||
Green | CERTIFICATE | |
TH128779A (en) | Contact probe legs | |
TH60580B (en) | Contact probe legs | |
ATE548661T1 (en) | CONTACT PROBE PIN FOR SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT | |
SE0401269D0 (en) | measuring device | |
RU2011119273A (en) | METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE OF CORE OF GRAVITY FURNACE AND MEASURING ELEMENT FOR ITS IMPLEMENTATION | |
UA81047U (en) | method for performance express evaluation of corrosion inhibitors in a conditions of mechanical destruction of a metal surface passive film | |
WO2008113147A3 (en) | Device and method for photogrammetry measurement | |
JP2010008132A (en) | Two-probe kelvin probe | |
JP2011165844A5 (en) | Resistor, mounting method of resistor, measuring method of resistor |