TH128779B - Contact probe leg - Google Patents

Contact probe leg

Info

Publication number
TH128779B
TH128779B TH1301002604A TH1301002604A TH128779B TH 128779 B TH128779 B TH 128779B TH 1301002604 A TH1301002604 A TH 1301002604A TH 1301002604 A TH1301002604 A TH 1301002604A TH 128779 B TH128779 B TH 128779B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
protrusions
tip
carbon film
contact probe
maintained
Prior art date
Application number
TH1301002604A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH128779A (en
TH60580B (en
Inventor
นาย ทาคาชิ โกโบริ นาย ทาคายูกิ ฮิราโน่
Original Assignee
คาบูชิกิ ไคชา โคเบ ไซโก โช (โคเบ สตีล แอลทีดี) โคเบลโก้ รีเสิร์ช อินสทิทิวอิงค์
Filing date
Publication date
Application filed by คาบูชิกิ ไคชา โคเบ ไซโก โช (โคเบ สตีล แอลทีดี) โคเบลโก้ รีเสิร์ช อินสทิทิวอิงค์ filed Critical คาบูชิกิ ไคชา โคเบ ไซโก โช (โคเบ สตีล แอลทีดี) โคเบลโก้ รีเสิร์ช อินสทิทิวอิงค์
Publication of TH128779B publication Critical patent/TH128779B/en
Publication of TH128779A publication Critical patent/TH128779A/en
Publication of TH60580B publication Critical patent/TH60580B/en

Links

Abstract

การประดิษฐ์นี้มีการจัดจัดเตรียมขาของหัวตรวจเเบบสัมผัสที่มีการจัดทำฟิล์มที่เป็นคาร์บอนซึ่ง มีทั้งสภาพการนำไฟฟ้าเเละความทนทานไว้บนวัสดุที่ใช้เป็นฐานที่มีการเเบ่งส่วนปลายสุดโดยสามารถ ลดการเกาะติดของ Sn ให้มากที่สุดเท่าที่จะเป็นไปได้เพื่อให้สามารถรักษาสภาพที่มีการสัมผัส ทางไฟฟ้่าที่เสถียรไว้ได้เป็นระยะเวลานานเเม้ว่าจะอยู่ภายใต้สภาวะที่อุณหภูมิของสภาพเเวดล้อม ของการใช้งานกลายเป็นอุณหภูมิสูง การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับขาของหัวตรวจเเบบสัมผัสซึ่ง ประกอดบด้วยส่วนปลายสุดที่ถูกเเบ่งออกเป็นชิ้นส่วนยื่นตั้งเเต่ 2 อันขึ้นไปเเละมาสัมผัสกับพื้นผิว ทดสอบซ้ำหลายครั้งชิ้นส่วนยื่นดังกล่าวโดยมีการจัดทำฟิล์มที่เป็นคาร์บอนซึ่งมีการส่วนประกอบ ของธาตุที่เป็นโลหะไว้บนพื้นผิวของชิ้นส่วนยื่นดังกล่าวเป็นอย่างน้อยเเละรัศมีของส่วนโค้งตรงส่วน ที่เป็นจุดยอดของชิ้นส่วนยื่นดังกล่าวมรขนาดเท่ากับ 30 ไมโครเมตรหรือใหญ่กว่านี้ The invention provides a contact probe's leg with a carbon film-forming, which Conductivity and durability are both placed on the base material with the indication of the tip. Reduce Sn adhesion as much as possible so that exposure conditions can be maintained. Stable electrical power can be maintained for a long time even under ambient temperature conditions. Of use becomes high temperature The invention involves the legs of the probe, which Clad with the tip that has been marked out into two or more protrusions and come into contact with the surface. Repeatedly tested such protrusions with the formation of a composite carbon film. The metal element is placed on the surface of the protrusion at least and the radius of the arc at the part. Which is the vertex of the protruding part, its size is 30 micrometers or larger.

Claims (1)

1.ขาของหัวตรวจเเบบสัมผัสซึ่งประกอบรวมด้วยส่วนปลายสุดที่ถูกเเบ่งออกเป็นออกเป็นชิ้นส่วนยื่น ตั้งเเต่ 2 อันขึ้นไปเเละมาสัมผัสกับพื้นผิวทดสอบซ้ำหลายครั้งตรงชิ้นส่วนยื่นดังกล่าวโดยมีการจัดทำ ฟิล์มที่เป็นคาร์บอนซึ่งมีส่วนโค้งตรงส่วนโค้งตรงส่วนที่เป็นจุดยอดของชิ้นส่วนยื่นดังวกล่าวมีขนาดเท่ากับ 30 ไมโครเมตรหรือใหญ่กว่านี้1. The pin of the contact probe, which consists of a marked tip, is formed into two or more protrusions and is repeatedly in contact with the test surface at the protrusion. As mentioned by being prepared A carbon film with an arc at the apex of the protrusion is 30 micrometers or larger.
TH1301002604A 2011-11-16 Contact probe legs TH60580B (en)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH128779B true TH128779B (en) 2013-10-24
TH128779A TH128779A (en) 2013-10-24
TH60580B TH60580B (en) 2018-02-07

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY166379A (en) Contact probe pin
MY167999A (en) Probe unit
ATE498843T1 (en) DEVICE WITH A CONTACT DETECTOR
MY155109A (en) Contact probe
GB0521076D0 (en) Measurement of micromovements
CN203658405U (en) Magnetic type voltage measuring device
WO2010045214A3 (en) Circuit board testing using a probe
SG11201903881XA (en) Contact probe and electrical connection jig
TW200624815A (en) Electrical contact testing probe
AR086927A1 (en) DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF THE ESCORIA
TW200730832A (en) Probe pin
TH128779B (en) Contact probe leg
MY174516A (en) Electrical contact member
BR112015017004A2 (en) continuous and noninvasive tissue temperature measurement based on impedance measurements
JP2016516992A5 (en)
Green CERTIFICATE
TH128779A (en) Contact probe legs
TH60580B (en) Contact probe legs
ATE548661T1 (en) CONTACT PROBE PIN FOR SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT
SE0401269D0 (en) measuring device
RU2011119273A (en) METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE OF CORE OF GRAVITY FURNACE AND MEASURING ELEMENT FOR ITS IMPLEMENTATION
UA81047U (en) method for performance express evaluation of corrosion inhibitors in a conditions of mechanical destruction of a metal surface passive film
WO2008113147A3 (en) Device and method for photogrammetry measurement
JP2010008132A (en) Two-probe kelvin probe
JP2011165844A5 (en) Resistor, mounting method of resistor, measuring method of resistor