TH115487A - เครื่องมือวัดสเปกตรัมแสงแบบหลายช่องวัด - Google Patents

เครื่องมือวัดสเปกตรัมแสงแบบหลายช่องวัด

Info

Publication number
TH115487A
TH115487A TH1001001004A TH1001001004A TH115487A TH 115487 A TH115487 A TH 115487A TH 1001001004 A TH1001001004 A TH 1001001004A TH 1001001004 A TH1001001004 A TH 1001001004A TH 115487 A TH115487 A TH 115487A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
sample
measurement
spectrum
measure
size
Prior art date
Application number
TH1001001004A
Other languages
English (en)
Other versions
TH75573B (th
Inventor
สุตะพันธ์ นายบุญส่ง
อัมฤทธิ์ นายรัฐศาสตร์
สมบูรณ์แก้ว นายอาโมทย์
Original Assignee
นางสาวอรกนก พรรณรักษา
นางสาวอรุณศรี ศรีธนะอิทธิพล
นายชาญชัย นีรพัฒนกุล
สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
Filing date
Publication date
Application filed by นางสาวอรกนก พรรณรักษา, นางสาวอรุณศรี ศรีธนะอิทธิพล, นายชาญชัย นีรพัฒนกุล, สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ filed Critical นางสาวอรกนก พรรณรักษา
Publication of TH115487A publication Critical patent/TH115487A/th
Publication of TH75573B publication Critical patent/TH75573B/th

Links

Abstract

DC60 สเปกโตรมิเตอร์แบบหลายช่องวัดตามการประดิษฐ์นี้ สามารถใช้วัดสเปกตรัมเชิงแสงจาก หลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างต่อเนื่อง มีความแม่นยำในการวัดสูง และสามารถปรับขนาด ตำแหน่ง หรือจำนวนจุดวัดได้อย่างยืดหยุ่น สิ่งประดิษฐ์นี้ใช้อุปกรณ์เอสแอลเอ็ม (Special light modulator, SLM) ทำหน้าที่เป็นช่องเปิดรับแสง ซึ่งจะยินยอมให้แสงสะท้อนหรือทะลุผ่านจาก ตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานที่ต้องการวัดสเปกตรัม สามารถเคลื่อนที่ผ่านไปยังสเปกโตรมิเตอร์เพื่อ ทำหน้าที่วัดสเปกตรัมแสงได้ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมจากหลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงาน ก็จะ โปรแกรมการทำงานของอุปกรณ์เอสแอลเอ็ม ให้เปิดช่องรับแสงให้ตรงกับขนาดและตำแหน่งของ จุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานในแต่ละจุดไปเรื่อยๆ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมอย่างต่อเนื่องตามเวลา ก็ สามารถโปรแกรมให้เครื่องมือดังกล่าวทำงานซ้ำไปเรื่อยๆ ได้ ทำให้สิ่งประดิษฐ์นี้สามารถวัด สเปกตรัมแสงจากตำแหน่งต่างๆ ได้ โดยไม่มีการเคลื่อนไหวเชิงกลของอุปกรณ์การวัดหรือการ เลื่อนตำแหน่งตัวอย่างชิ้นงาน จึงทำให้สามารถวัดสเปกตรัมจากจุดต่างๆ ได้อย่างต่อเนื่องและมี ความแม่นยำสูง ลักษณะพิเศษของสิ่งประดิษฐ์นี้ยังประกอบด้วยอุปกรณ์ตรวจสอบตำแหน่งและ ขนาดช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มว่าตรงกับตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานหรือไม่ โดยใช้ กล้องรับภาพวางไว้ในตำแหน่ง ที่สามารถมองเห็นช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มและ ตัวอย่างชิ้นงานพร้อมกัน ความสามารถดังกล่าวจะทำให้ผู้สามารถกำหนดตำหน่ง ขนาด และ จำนวนจุดวัดสเปกตรัมบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างยืดหยุ่น สเปกโตรมิเตอร์แบบหลายช่องวัดตามการประดิษฐ์นี้ สามารถใช้วัดสเปกตรัมเชิงแสงจาก หลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างต่อเนื่อง มีความแม่นยำในการวัดสูง และสามารถปรับขนาด ตำแหน่ง หรือจำนวนจุดวัดได้อย่างยืดหยุ่น สิ่งประดิษฐ์นี้ใช้อุปกรณ์เอสแอลเอ็ม (Special light modulator, SLM) ทำหน้าที่เป็นช่องเปิดรับแสง ซึ่งจะยินยอมให้แสงสะท้อนหรือทุลุผ่านจาก ตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานที่ต้องการวัดสเปกตรัม สามารถเคลื่อนที่ผ่านไปยังสเปกโตรมิเตอร์เพื่อ ทำหน้าที่วัดสเปกตรัมแสงได้ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมจากหลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงาน ก็จะ โปรแกรมการทำงานของอุปกรณ์เสอแอลเอ็ม ให้เปิดช่องรับแสงให้ตรงกับขนาดและตำแหน่งของ จุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานในแต่ละจุดไปเรื่อยๆ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมอย่างต่อเนื่องตามเวลา ก็ สามารถโปรแกรมให้เครื่องมือดังกล่าวทำงานซ้ำไปเรื่อยๆ ได้ ทำให้สิ่งประดิษฐ์นี้สามารถวัด สเปกตรัมแสงจากตำแหน่งต่างๆ ได้ โดยไม่มีการเคลื่อนไหวเชิงกลของอุปกรณ์การวัดหรือการ เลื่อนตำแหน่งตัวอย่างชิ้นงาน จึงทำให้สามารถวัดสเปกตรัมจากจุดต่างๆ ได้อย่างต่อเนื่องและมี ความแม่นยำสูง ลักษณะพิเศษของสิ่งประดิษฐ์นี้ยังประกอบด้วยอุปกรณ์ตรวจสอบตำแหน่งและ ขนาดช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มว่าตรงกับตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานหรือไม่ โดยใช้ กล้องรับภาพวางไว้ในตำแหน่ง ที่สามารถมองเห็นช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มและ ตัวอย่างชิ้นงานพร้อมกัน ความสามารถดังกล่าวจะทำให้ผู้สามารถกำหนดตำหน่ง ขนาด และ จำนวนจุดวัดสเปกตรัมบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างยืดหยุ่น

Claims (1)

1. ข้อถือสิทธฺ์ (ทั้งหมด) ซึ่งจะไม่ปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา :
TH1001001004A 2010-07-05 เครื่องมือวัดสเปกตรัมแสงแบบหลายช่องวัด TH75573B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH115487A true TH115487A (th) 2012-07-31
TH75573B TH75573B (th) 2020-04-09

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2930334B1 (fr) Dispositif et procede d'analyse optique, appareil et procede de mesure chromatique associes
WO2012012258A3 (en) Temperature-adjusted spectrometer
EP3994431C0 (en) OPTICAL MEASURING DEVICE COMPRISING AN INTERNAL SPECTRAL REFERENCE
CN104748854B (zh) 基于分时偏振调制的全斯托克斯干涉成像光谱装置及方法
WO2007101279A3 (en) Method and apparatus for compact spectrometer with fiber array spectral translator
CN103630240B (zh) 物体表面颜色测量装置与方法
TW200612082A (en) Apparatus for measuring imaging spectrograph
JP2015052616A5 (ja) 光学特性測定装置
EP4317947A4 (en) Fluorescence measuring device
EP4189359A4 (en) DEVICE FOR TESTING AN ENVIRONMENTAL SAMPLE
JP2017516075A5 (th)
CN107462525A (zh) 一种线性渐变滤光片的光谱特征参数测试方法
FI20136036A7 (fi) Laite ja menetelmä kohteen optiseksi mittaamiseksi
EP3438647A4 (en) OPTICAL INSTRUMENT FOR MEASURING THE TOTAL REFLECTIONS ABSORPTION SPECTRUM AND MEASURING DEVICE
NO20080166L (no) Spektrometeranordning for maling av forskjovede spektrale distribusjoner
KR101409814B1 (ko) 균열 측정장치
EA200901279A1 (ru) Способ измерения температуры точки росы и устройство для его осуществления
JP5296723B2 (ja) 分光光度計、及びその性能測定方法
DE50306180D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der chromatischen Dispersion von optischen Komponenten
TH115487A (th) เครื่องมือวัดสเปกตรัมแสงแบบหลายช่องวัด
WO2008099788A1 (ja) 測距方法及びレーザ測距装置
EP4239997A4 (en) CAMERA DEVICE FOR DISTANCE MEASUREMENT
CN108413897A (zh) 一种红外目标模拟器的目标角度标定装置及方法
JP2005302825A5 (th)
JPWO2013186913A1 (ja) 測光装置