SU996858A1 - Спектрометр - Google Patents

Description

Изобретение относится к оптикоинтерференционным устройствам и предназначено для спектроскопий источников света с высокой разрешающей способностью.

Известны спектрометры с использованием преобразования Адамара, содержащие кодирующие маски> осуществляющие кодирование выходного сигнала р виде матриц Адамара [13.

Недостатком таких спектрометров является то, что для получения необ. ходимого набора числовых данных в этих устройствах маска последователь, но смещается с помощью механического $ шагового устройства.

ft Наиболее близким к предложенному по достигаемому, результату и технической сущности является спектрометр, содержащий источник исслёду- . емого излучения, модулятор, щель, объектив, кодирующую маску, крышеобразное зеркало и фотоприемник [2 3. Недостатком известного устройства являются низкие разрешение, светосила и быстродействие, обусловленные дифракционной решеткой, шириной зон маски, а также ограниченной точностью и быстродействием устройства,смещающего маску.

Цель изобретения - увеличение разрешения, светосилы и быстродействия спектрометра.

Поставленная цель достигается тем, что в спектрометре, содержащем источник исследуемого излучения, модулятор, щель, объектив, дифракционную решетку, кодирующую маску, крышеобразное зеркало и фотоприемник, кодирующая маска выполнена в виде многолучевого клинового интерферометра иэ электрооптического материала с толщиной .

где L - длина дифракционной решетки;

Du - угловая дисперсия дифрак“ ционной решетки;

А - длина волны исследуемого излучения.

На чертеже представлена функциональная схема спектрометра.

Спектрометр содержит источник исследуемого излучения 1, модулятор’2, щель 3, зеркало коллиматорного Объектива 4, дифракционную решетку 5, клиновой интерферометр 6, крышеобразное зеркало 7, фотбприемник 8.

Спектрометр работает следующим образом.

Излучение от источника 1 проходит через модулятор 2, щель 3 и с помощью зеркала коллиматорного объек-г тива 4 направляется на дифракционную решетку 5. Дифракционная решетка разлагает излучение в спектр с разрешением R, затем излучение попадает на многолучевой клиновой интерферометр 6 , который при толщине

где L - длина дифракционной решетки ;

ϋψ - угловая дисперсия дифракционной решетки;

Л - длина волны исследуемого излучения, повышает разрешающую способность устройства й она становится равной

Rpys = R N , где N - коэффициент тонкости многолучевого клинового интерферометра.

Интерференционные полосы равной толщины, образованные на поверхности клина, играют роль маски спектрометра Адамара. Перемещение интерференционных полос при изменении оптической толщины клина (при приложении электрического поля) играет роль устройства, смещающего маску спектрометра Адамара, при этом быстродействие электрооптических материалов составляет единицы миллисекунд. Затем излучение проходит через'мель 3 на фотоприемник 8 и сигнал с него обрабатывается с помощью матриц Адамара.

Многолучевой клиновой интерферометр повышает светосилу спектрометра Адамара по сравнению со спектрометром Адамара того же разрешения в N раз.

Предложенный спектрометр позволяет увеличить светосилу, разрешение, быстродействие с преобразованием Адамара и исключить использование трудоемких в изготовлении специальных масок и инерционных устройств, их перемещающих.

Claims (2)

1. клиновой интерферометр б, крьлиеобраэ ное зеркало 7, фотоприемник 8. Спектрометр работает следующем образом. Излучение от источника 1 проходит через модул тор 2, щель 3 и с помощью зеркала коллиматорного объек-: тива 4 направл етс  на дифракционную решетку 5. Дифракционна  решетка раз лагает излучение в спектр с разрешением R, затем излучение попадает на многолучевой клиновой интерферометр 6 который при толщине - длина дифракционной решетки f углова  дисперси  дифракционной решетки; Л - длина волны исследуемого излучени , повышает разрешающую способность устройства и она становитс  равной Rpob R N. где N - коэффициент тонкости многолучевого клинового интерферометра . Интерференционные полосы равной толщины, образованные на поверхности клина, играют роль маски спектрометра Адамара. Перемещение интерференционных полос при изменении оптической толщины клина (при приложении электрического пол ) играет роль уст ройства, смещающего маску спектромет ра Адамара, при этом быстродействие электрооптических материалов составл ет единицы миллисекунд. Затем йзлу чение проходит черезмель 3 на фотоприемник 8 и сигнал с него обрабаты аетс  с помощью матриц Адамара. Многолучевой клиновой интерферометр повышает светосилу спектрометра Адамара по сравнению со спектрометром Адамара того же разрешени  в N раз. Предложенный спектрометр позвол ет увеличить светосилу, разрешение, быстродействие с преобразованием Адамара и исключить использование трудоемких в изготовлении специальных масок и инерционных устройств, их перемещающих. Формула изобретени  Спектрометр, содержащий оптически св занные источник исследуемого излучени , модул тор, щель, объектив, дифракционную решетку, кодирующую маску, крышеобразное зеркало и фотоприемник , отличающийс  тем, что, с целью увеличени  разрешени , светосилы и быстродействи , кодирующа  маска выполнена в виде многолучевого клинового интерферометра из электрооптического материала с толщиной to. где L - длина дифракционной решетки/ DIB - углова  дисперси  дифракционной решетки; Л - длина волны исследуемого излучени . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Зайдель А. И. и др. Техника и практика спектроскопии. М., Наука , 1976, с. 223.
2. 2.Толмачев Ю. А. Новые спектральные приборы. Ленинград, ЛГУ, 1976, с. 83 (прототип).