SU980025A1 - Device for rejecting semiconductor devices - Google Patents

Device for rejecting semiconductor devices Download PDF

Info

Publication number
SU980025A1
SU980025A1 SU813303634A SU3303634A SU980025A1 SU 980025 A1 SU980025 A1 SU 980025A1 SU 813303634 A SU813303634 A SU 813303634A SU 3303634 A SU3303634 A SU 3303634A SU 980025 A1 SU980025 A1 SU 980025A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
input
semiconductor devices
rejecting
time relay
Prior art date
Application number
SU813303634A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вадим Михайлович Бардин
Александр Борисович Бартанов
Владимир Александрович Барнашов
Original Assignee
Мордовский государственный университет им.Н.П.Огарева
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Мордовский государственный университет им.Н.П.Огарева filed Critical Мордовский государственный университет им.Н.П.Огарева
Priority to SU813303634A priority Critical patent/SU980025A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU980025A1 publication Critical patent/SU980025A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

( УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ(DEVICE FOR DISPOSAL OF SEMICONDUCTOR

ПРИБОРОВINSTRUMENTS

1one

Изобретение относитс  к электронной технике и может быть использовано при контроле качества полупроводниковых приборов.The invention relates to electronic engineering and can be used in quality control of semiconductor devices.

Известно устройство дл  разбраковки полупроводниковых приборов по нестабильности обратных токов, содержащее датчик-преобразователь, схемы .сравнени , реле времени, схему коммутации и индикации,1 .A device for grading semiconductor devices according to the instability of reverse currents is known, which comprises a sensor-converter, circuits, comparisons, a time relay, a switching and indication circuit, 1.

Недостатком устройства  вл етс  невозможность отбраковывани  потенциально ненадежных полупроводниковых приборов.The drawback of the device is the impossibility of rejecting potentially unreliable semiconductor devices.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  устройство дл  отбраковки полупр.оводниковых приборов, содержащее блок преобразовани  обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилител , выход которого черезClosest to the proposed technical entity is a device for rejecting semiconductor water devices, containing a reverse current conversion unit, a time relay connected to the first key input, the output of which is connected to a non-inverting input of an operational amplifier, the output of which

фильтр низких частот соединен с первой схемой сравнени , блок опорных напр жений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнени , выходы которых соединены с первым и вторым входами блока индикации , третий вход которого соединен с реле времени, схему управлени , выход которой соединен с входомthe low-pass filter is connected to the first comparison circuit, the reference voltage block, the outputs of which are connected to the inputs of the first and second comparison circuits, the outputs of which are connected to the first and second inputs of the display unit, the third input of which is connected to a time relay, a control circuit whose output is connected with entrance

,Q реле времени, и элемент пам ти . 2J., Q timers, and memory element. 2J.

Устройство не позвол ет за период наблюдений отбраковывать приборы, обладающие длительным монотонным дрейфом обратного тока, который мо ,5 жет привести к отказу прибора при эксплуатации его на интервале времени , превышающем период наблюдени . Кроме того, в схеме не предусмотрено устройство защиты при превышении тока до окончани  периода наблюдени  .заданного уровн , что может привести к повреждению испытуемого прибора из-за  влени  теплового саморазогрй ва.During the observation period, the device does not allow for rejecting devices that have a long monotonous reverse current drift, which may cause the device to fail during operation over a time interval longer than the observation period. In addition, the circuit does not provide a protection device when the current is exceeded until the end of the observation period of a given level, which may cause damage to the device under test due to the appearance of thermal self-heating.

Цель изобретени  - достоверность контрол .The purpose of the invention is the accuracy of the control.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство, содержащее блок преобразовани  обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилител , выход которого через фильтр низких частот соединен с первой схемой сравнени , блок опорных напр жений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнени , выходы которых соединены с первым и вторым входами блока индикации, третий вход которого соединен с реле времени, схему управлени , выход которой соединен с входом реле времени, и элемент пам ти, введен решающий блок, выход которого соединен с четвертым входом блока индикации, первый вход - с выходом фильтра низких частот, второ вход соединен с выходом элемента пам ти и инвертирующим входом операционного усилител , причем вход элемента пам ти соединен с входом второ схемы сравнени  и выходом ключа,второй вход которого соединен с выходом блока преобразовани  обратного тока, при этом первый вход схемы управлени  соединен с выходом реле времени, второй - с выходом второй схемы сравнени , а выход схемы управлени  соединен с входом блока преобразовани  обратного тока.The goal is achieved by the fact that in a device containing a reverse current conversion unit, a time relay connected to the first key input, the output of which is connected to a non-inverting input of an operational amplifier, whose output is connected to a first comparison circuit through a low-pass filter, the outputs of which are connected to the inputs of the first and second comparison circuits, the outputs of which are connected to the first and second inputs of the display unit, the third input of which is connected to a time relay, a control circuit whose output connected to the input of a time relay, and a memory element, a decision block is inserted, the output of which is connected to the fourth input of the display unit, the first input is connected to the output of the low-pass filter, the second input is connected to the output of the memory element and the inverting input of the operational amplifier, the memory is connected to the input of the second comparison circuit and the output of the key, the second input of which is connected to the output of the reverse current conversion unit, the first input of the control circuit is connected to the output of the time relay, the second to the output of the second circuit Yeni, and the output control circuit connected to the input of reverse current conversion unit.

На уертеже изображена блок-схема устройства.The drawing shows the block diagram of the device.

Устройство дл  отбраковки полупроводниковых приборов содержит блок преобразовани  обратного тока, в .который вход т источник 1 питани , подключенный к клеммам испытуемого прибора 2, преобразователь 3 обратного тока испытуемого прибора в напр жение, операционный усилитель , citeMy 5 управлени , реле 6 времени , ключ 7, элемент 8 пам ти, фильтр 9 низких частот, первую и вторую схемы 10 и 11 сравнени , блок 12 опорных напр жений, блок 13 индикации, решающий блок 1,A device for rejecting semiconductor devices contains a reverse current conversion unit, which includes a power source 1 connected to the terminals of the test device 2, a converter 3 reverse current of the test device to voltage, an operational amplifier, citeMy 5 control, time relay 6, switch 7 , memory element 8, low-pass filter 9, first and second comparison circuits 10 and 11, reference voltage block 12, indication block 13, decision block 1,

Устройство дл  отбраковки полупроводниковых приборов работает следующим образом.A device for rejecting semiconductor devices operates as follows.

По сигналу Пуск, поступающему на схему 5 управлени  происходит включение источника 1 питани , наход щегос  в блоке преобразовани The Start signal, which is fed to the control circuit 5, turns on the power supply 1, which is located in the conversion unit

обратного тока. На испытуемый прибор подаетс  испытательное напр жение. На выходе преобразовател  3 формируетс  напр жение, пропорциональное току через испытуемый прибор 2. С некоторой задержкой на врем  окончани  переходных процессов сигнал со схемы 5 управлени  через реле 6 времени открывает ключ 7. На неинвертирующий вход операционного усилител  А поступает сигнал, пропорциональный текущему значению тока через испытуемый прибор, а на инвертирующий посто нное напр жение, пропорциональное начальному значению тока через испытуемый прибор, запомненное элементом В пам ти. Втора  схема 11 сравнени  осуществл ет сравнение текущего значени  тока, а перва reverse current. A test voltage is applied to the device under test. At the output of converter 3, a voltage proportional to the current through the device under test 2 is generated. With some delay at the end of the transients, the signal from the control circuit 5 opens the switch 7 via the time relay 6. The non-inverting input of the operational amplifier A receives a signal proportional to the current value of the current through the device under test, and the inverting constant voltage proportional to the initial value of the current through the device under test, memorized by the memory element B. The second comparison circuit 11 compares the current value of the current, and the first

-(10)- его приращени  с величинами допустимых уровней, формируемых блоком 12 опорных напр жений. Низкочастотный фильтр 9 служит дл  исключени  флуктуационной составл ющей . Если за врем  наблюдени ,определ емое реле 6 времени, текущее значение тока превысит установленную норму, то сигнал с выхода схемы 11 сравнени  через схему 5 управлени  отключает напр жение с испытуемого прибора, а блок 13 индикации выдает сигнал Брак. Сигнал Брак выдаетс  также по сигналу окончани  интервала наблюдени  с реле 6- (10) - its increments with the values of permissible levels formed by the block of 12 reference stresses. The low-pass filter 9 serves to eliminate the fluctuation component. If during the observation time determined by the time relay 6 the current value of current exceeds the set norm, the signal from the output of the comparison circuit 11 through the control circuit 5 switches off the voltage from the device under test, and the display unit 13 generates a Scrap signal. The Marriage signal is also issued by the end of the observation interval signal from relay 6

5 времени, если на интервале наблюдени  срабатывает схема 10 сравнени . Одновременно информаци  о начальном значении и приращении обратного тока анализируетс  решающим блоком и в зависимости от выходного решени 5 times, if the comparison circuit 10 operates on the observation interval. At the same time, the information on the initial value and the increment of the reverse current is analyzed by the decision block and, depending on the output solution

испытуемый прибор бракуетс  или признаетс  годным, о чем сигнализирует блок 13 индикации. Правило,позвол ющее классифицировать приборы по ресурсным показател м на годные и потенциально надежные, находитс  на основании предварительных испытаний статистически представительной партии приборов с последующей обработкой результатов методами теории распознавани  образов. Ithe device under test is rejected or recognized as valid, which is indicated by the display unit 13. The rule that makes it possible to classify devices according to resource indicators as suitable and potentially reliable is based on preliminary tests of a statistically representative batch of devices with subsequent processing of the results using methods of pattern recognition theory. I

В результате того, что вход второй схемы сравнени  подключен не непосредственно к выходу датчика тока , а к выходу ключа, управл емого через реле времени, исключена составл юща  погрешности, обусловленна  переходными процессами в момент подачиAs a result of the fact that the input of the second comparison circuit is not connected directly to the output of the current sensor, but to the output of a key controlled via a time relay, the component of the error caused by transients at the time of filing

напр жени  на испытуемый прибор, а также ложные срабатывани  второй схемы сравнени ,и следовательно, необоснованное бракование испытуемого прибора. Подключение выхода второй схемы сравнени  к входу схемы управлени  позвол ет исключить разрушение испытуемого прибора во врем  контрол . Наличие решающего блока позвол ет осуществл ть отбраковку потенциально ненадежных образцов по результатам наблюдений временно1 1 нестабильности обратного тока за сравнительно небольшой интервал времени.the voltage on the device under test, as well as the false alarms of the second comparison circuit, and therefore unreasonable rejection of the device under test. Connecting the output of the second comparison circuit to the input of the control circuit eliminates the destruction of the test instrument during the test. The presence of a decision block permits the screening of potentially unreliable samples from the results of observations of the temporary instability of the reverse current for a relatively short time interval.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР1. USSR author's certificate № 397859, кл. G 01 R 31/26, 25.01.72.No. 397859, cl. G 01 R 31/26, 25.01.72. 2.Авторское свидетельство СССР2. USSR author's certificate № 4 16851, кл. G 01 R 31/26, 01.08.73 (прототип).№ 4 16851, cl. G 01 R 31/26, 01.08.73 (prototype).
SU813303634A 1981-06-19 1981-06-19 Device for rejecting semiconductor devices SU980025A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813303634A SU980025A1 (en) 1981-06-19 1981-06-19 Device for rejecting semiconductor devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813303634A SU980025A1 (en) 1981-06-19 1981-06-19 Device for rejecting semiconductor devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU980025A1 true SU980025A1 (en) 1982-12-07

Family

ID=20963943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813303634A SU980025A1 (en) 1981-06-19 1981-06-19 Device for rejecting semiconductor devices

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU980025A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU980025A1 (en) Device for rejecting semiconductor devices
KR850007356A (en) Video signal processor
CA1304131C (en) Voltage monitor for in-circuit testing
DE68913902D1 (en) Integrated circuit with a signal discrimination circuit and method for testing it.
SU1182418A2 (en) Voltage converter
JPH0854424A (en) Current application voltage measuring instrument
JPS54138427A (en) Focus detecting method
SU1370580A1 (en) Electrometric voltmeter
SU1231489A1 (en) Device for determining parameters of second-order dynamic element
SU714316A1 (en) Arrangement foe testing the strength of insulation with alternating current
SU746441A1 (en) Device for monitoring statistical parameters of microcircuits
SU1322339A1 (en) Multichannel device for checking quality parameters of object
SU920938A1 (en) Active power relay
RU1780053C (en) Device for nondestructive inspection of electric circuit insulation strength
SU446851A1 (en) Apparatus for classifying semiconductor devices in terms of magnitude and stability of reverse currents
SU789827A1 (en) Voltage monitoring apparatus
SU1385279A1 (en) Device for holding signal amplitude changes
SU1679397A1 (en) A c digital automatic bridge
SU750402A1 (en) Device for measuring dynamic parameters of electronic units
SU1707554A1 (en) Pulse amplitude-to-dc voltage converter
SU1053010A1 (en) Device for feeding primary converter
KR950000354Y1 (en) Selected circuit of input signal
SU994928A1 (en) Digital measuring device for strain-gauge balance
SU1524166A2 (en) Device for temporary registration of amplitude changes of signals
SU623166A1 (en) Device for measuring steepness of field-effect transistor current-voltage characteristic