SU978083A1 - Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках - Google Patents
Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках Download PDFInfo
- Publication number
- SU978083A1 SU978083A1 SU802999893A SU2999893A SU978083A1 SU 978083 A1 SU978083 A1 SU 978083A1 SU 802999893 A SU802999893 A SU 802999893A SU 2999893 A SU2999893 A SU 2999893A SU 978083 A1 SU978083 A1 SU 978083A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- semiconductors
- carrier mobility
- measuring current
- current carrier
- mobility
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к койтролю параметров полупроводников и может быть использовано дл контрол электрофизических свойств МПД - структур различных полупроводников, полимеров и диэлектрических пленок.
Известны устройства дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках . .
Известно устройство, которое содержит генератор переменного напр жени , двигатели частоты, обмотку электромагнита , усилители, фильтры и регистратор . Его работа основана на измерении проводимости образца, эы&н ющейс под действием магнитного пол ID.
Недостатком такого устройства вл етс невысока точность измерени подвижности и отсутствие возможности измерени угловой составл ющей комплексной подвижности.
Известно также устройство, содержащее высокочастотные генераторы, смеситель, низкочастотный и высокочастотный фильтры, избирательный усилитель, амплитудный детектор и регистратор . Оно позвол ет измер ть подвижность носителей тока путем измерени проводимости образца, измеи ккцейс под действием эффекта пол , приложенного к образцу t23.
Недостатками этого технического . рщцени вл ютс низка чувствитель ность к изменению величины эффективной подвижности в диапазоне частот , болына погрешность, обусловлеи:на непосредством напр жени генераторов в полосе частот и невозмож10 ность иэ 4eнeни фазы подвижности носителей тока при перестройке частоты.
Наиболее близким к предлагаемому вл етс устройство дл измерени подвижности носителей тока в полу15 проводниках, содержащее два генератора опоршлх частот, исходами подключенных ко входг1М балансного смесител , выход которого соединен со входами фильтров верхних и нижних час- .
Claims (3)
1. Авторское свидетельство СССР № 588517, кл. G 01 R 31/26, 1978.
2. Бонч-Бруевич В.Л, и др. Физика полупроводников. М., Йаука, 1977, с. 330. .
3. Авторское свидетельство СССР № 766762, кл. G 01 R 31/26, 1978 (прототип).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU802999893A SU978083A1 (ru) | 1980-09-24 | 1980-09-24 | Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU802999893A SU978083A1 (ru) | 1980-09-24 | 1980-09-24 | Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU978083A1 true SU978083A1 (ru) | 1982-11-30 |
Family
ID=20924428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU802999893A SU978083A1 (ru) | 1980-09-24 | 1980-09-24 | Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU978083A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992001234A1 (en) * | 1990-07-12 | 1992-01-23 | Semilab Félvezeto^' Fizikai Laboratórium Rt | Process and apparatus for determining concentration in semiconductors |
-
1980
- 1980-09-24 SU SU802999893A patent/SU978083A1/ru active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992001234A1 (en) * | 1990-07-12 | 1992-01-23 | Semilab Félvezeto^' Fizikai Laboratórium Rt | Process and apparatus for determining concentration in semiconductors |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SU978083A1 (ru) | Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках | |
| SU746362A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности пол анизотропии тонких магнитных пленок | |
| SU444142A1 (ru) | Устройство дл измерени комплексной магнитной проницаемости | |
| SU731402A1 (ru) | Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике | |
| SU873162A1 (ru) | Способ измерени напр женности электрического пол | |
| SU800917A1 (ru) | Измеритель магнитного пол на дат-чиКЕ ХОллА | |
| SU411402A1 (ru) | ||
| SU828043A1 (ru) | Спектрометр дерного магнитногоРЕзОНАНСА | |
| SU1437816A1 (ru) | Способ определени коэффициента магнитострикции | |
| SU748238A1 (ru) | Устройство дл магнитошумовой структуроскопии | |
| SU518641A1 (ru) | Анализатор спектра вибрации | |
| Déjardin et al. | Time dependent behavior of electric birefringence caused by an ac field superimposed on a dc field | |
| SU883819A1 (ru) | Устройство дл измерени индукции магнитного пол | |
| SU1503033A1 (ru) | Способ измерени коэрцитивной силы | |
| SU901961A1 (ru) | Способ определени электропроводности и магнитной восприимчивости и устройство дл его осуществлени | |
| SU759945A1 (ru) | Устройство для контроля движущихся изделий | |
| SU966607A1 (ru) | Устройство дл измерени переменных и импульсных токов | |
| SU668004A2 (ru) | Устройство дл измерени перекоса движущегос магнитного носител | |
| SU619842A1 (ru) | Устройство дл измерени электропроводности | |
| SU748214A1 (ru) | Кондуктометрический преобразователь погружного типа | |
| SU828133A1 (ru) | Способ измерени магнитной индукции | |
| SU1486906A2 (ru) | Устройство для контроля физикомеханических параметров ферромагнитных материалов и изделий | |
| SU920581A1 (ru) | Способ измерени коэффициента идеальности вольт-амперной характеристики диода | |
| SU742837A1 (ru) | Феррозондовый магнитометр | |
| SU918909A1 (ru) | Устройство дл создани переменной магнитной индукции в образцах магнитных материалов |