SU731402A1 - Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике - Google Patents
Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике Download PDFInfo
- Publication number
- SU731402A1 SU731402A1 SU772559436A SU2559436A SU731402A1 SU 731402 A1 SU731402 A1 SU 731402A1 SU 772559436 A SU772559436 A SU 772559436A SU 2559436 A SU2559436 A SU 2559436A SU 731402 A1 SU731402 A1 SU 731402A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- waveguide
- magnetic field
- helicon
- concentration
- sample
- Prior art date
Links
Landscapes
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к радиоизмерительной технике.
Известно устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике, содержащее сверхвысокочастотный генератор, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор и основной канал направленного ответвител к размещенному между полюсами электромагнита отрезку волновода, продольна ось которого ориентирована перпендикул рно плоскост м полюсов электромагнита, а к его выходному концу прижат исследуемый образец полупроводника, установленный с возможностью перемещени в направлении, перпендикул рном продольной оси отрезка волновода , при зтом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител подключен детектор, соединенный с индикатором 1.
Однако известное устройство имеет низкую разрешающую способность.
Цель изобретени - повыщение разрешающей способности.
Дл этого в устройстве дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике.
содержащем сверхвысокочастотный генератор, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор и основной канал направленного ответвител к размещенному между полюсами электромагнита отрезку волновода, продольна .ось которого ориентирована перпендикул рно плоскост м полюсов электромагнита, а к его выходному концу прижат исследуемый образец полупроводника, установленный с возможностью перемещени в направлении, перпен10 дикул рном продольной оси отрезка волновода, при этом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител подключен детектор , соединенный с индикатором, отрезок вол- . новода выполнен гребневым с шириной гребн ,
15 соответствующей 0,3 ширины отрезка волновода .
На фиг. 1 приведена функциональна схема устройства; на фиг. 2 - вид выходного конца отрезка волновода.
20
Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике содержит сверхвысокочастотный генератор 1, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор 2 и основной канал направленного ответвител 3 к размещенному между полюсами электро магниту 4 отрезку 5 волновода, продольна ось которого ориентирована перпенднкул рно плоскост м полюсов электромагнита 4, а к его выходному концу прижат исследуемый образец 6 полупроводника, установленный с возмож ностью перемещени в направлении, перпендикул рном продольной оси отрезка 5 волновода , при этом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител 3 подключен (детектор 7, соединенный. с индикатором 8, причем отрезок 5 волновода выполнен гребневым с шириной d гребн 9, составл ющей 0,3 щири ныа отрезка 5 волновода. Цепь обмотки электромагнита 4 подключена к блоку 10 питани . Индикатор 8 состоит из усилител 11 и двухкоординатного самописца 12, подключенного к резистору 13. Устройство работает следующим образом. Исследуемый образец 6 полупроводника прижимают к выходному концу отрезка 5 волновода . При зтом практически закорачиваетс отрезок 5 волновода и по поверхности исследуемого образца 6 протекают СВЧ токи, кото . рые имеют максимум в зазоре, заключенном гребнем 9 и щирокой стенкой отрезка волновода. Это в свою очередь приводит к соз данию магнитного пол СВЧ волны у поверхности исследуемого образца 6, которое тоже имеет резко выраженный максимум в этом же зазоре. Электрическое поле же в зазоре практически равно нулю. Такое распределение магнитного пол в площади поперечного сечени отрезка 5 волновода приводит к тому, что при включении внешнего магнитного пол , геликон на волна в исследуемом образце 6 возбуждаетс в основном только в объеме, наход щегос напротив зазора гребень 9 - цшрока стенк отрезка 5 волновод Последнее обсто тельство
ас.с - о-в-в Г(вЧв)- 2 |в-в н
Г
аЛ2
е-ии-а (в-в)
где в и В - напр женность магнитного пол двух соседних геликонных резонансов .
Таким образом, вьшолнение отрезка 5 волновода гребневым позвол ет уветшчить разрешающую способность устрюйства по площади зондировани по сравнению с прототипом.
Выбор отношени ширины гребн 9 к ширине отрезка 5 волновода равным 0,3 дает наилучшую разрешающую способность. Дальнейшее уменьшение этого отношени приводит к 5 ухудшению.
(B-bfJ
0)4 .
мЗ.
JC
Claims (1)
- Формула изобретени Устройство дл измерени концентрации носителей тока в.полупроводшгке, содержащее сверхвысокочастотный генератор, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор к основной канал направленного ответвител к размещенному между полюсами электромагнита отрезку волновода, продольна ось которого ориентирована перпендикул рно плоскост м полюсов электромагнита, а к его выходному концу прижат исследуемый образец полупроводника , установленный с возможностью св зано с тем, что геликонна волна может возбуждатьс только мапштной компонентой электромагнитной волны. Измен напр женность внецшего магнитного пол , добиваютс возникновени геликокного резонанса в объеме исследуемого образца 6, наход щегос напротив зазора гребень 9 -- широка стенка отрезка 5 волновода. Геликонный резонанс про вл етс уменьщением отраженного от исследуемого образца 6 сигнала до минимального значени . Отраженный сигнал через р)аправленный ответвитель 3 поступает на детектор 7, где детектируетс и подаетс на вход усилител 11. С выхода усилител II сигнал поступает на Y-вход двухкоординатного самописца 12. На Х-вход двухкоординатного самописца 12 подаетс напр жение , снимаемое с резистора 13, которое пропорционально величине магнитного пол . При известной величине резонансного магнитного пол концентрацию носителей тока определ ют по формуле ои-а где с 3 Ю м/сек; .6.1б Кл; ёо 8,85;. Ф/м; N - целое число, обозначающее пор док геликонного резонанса; Sj диэлектрическа посто нна решетки материала исследуемого образца 6; О) - частота СВЧ сигнала; d - толщина исследуемого образца 6; В - напр женность магнитного пол , при которой наступает геликонный резонанс N-ro пор дка. Если пор док геликонного резонанса неизвестен , то концентрацию носителей тока определ ют по формулеперемещени в направлении, перпендикул рном продольной оси отрезка волновода, при этом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител подключен детектор, соединенный с индикатором, отличающеес тем, что, с целью повыщени разрешающей способности, отрезок волновода, выполнен гребневым с шириной гребн , составл ющей 0,3 ширины отрезка волновода .Источники информащ1и, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР N 456203, кл. G 01 R 31/32, 1972 (прототип).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772559436A SU731402A1 (ru) | 1977-12-22 | 1977-12-22 | Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772559436A SU731402A1 (ru) | 1977-12-22 | 1977-12-22 | Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU731402A1 true SU731402A1 (ru) | 1980-04-30 |
Family
ID=20739944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772559436A SU731402A1 (ru) | 1977-12-22 | 1977-12-22 | Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU731402A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992001234A1 (en) * | 1990-07-12 | 1992-01-23 | Semilab Félvezeto^' Fizikai Laboratórium Rt | Process and apparatus for determining concentration in semiconductors |
-
1977
- 1977-12-22 SU SU772559436A patent/SU731402A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992001234A1 (en) * | 1990-07-12 | 1992-01-23 | Semilab Félvezeto^' Fizikai Laboratórium Rt | Process and apparatus for determining concentration in semiconductors |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU731402A1 (ru) | Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике | |
US3197692A (en) | Gyromagnetic resonance spectroscopy | |
US3371271A (en) | Measurement of unpaired electron density | |
US3321702A (en) | Magnetometer and electrometer utilizing vibrating reeds whose amplitude of vibration is a measure of the field | |
US3691453A (en) | Compact microwave spectrometer | |
Holmes | Propagation in rectangular waveguide containing inhomogeneous, anisotropic dielectric | |
JP3462769B2 (ja) | 広帯域導波路型光電界センサ | |
US3522531A (en) | Electric field intensity indicator employing a vibratory conductor sensor | |
US3373357A (en) | Controlled mode plasma diagnostic apparatus | |
SU926601A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени тока | |
SU930160A1 (ru) | Устройство дл измерени распределени сверхвысокочастотного пол в полупроводниковом образце | |
SU471545A1 (ru) | Измеритель проход щей импульсной мощности свч | |
SU978083A1 (ru) | Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках | |
SU694818A1 (ru) | Устройство дл измерени мощности высоких частот | |
SU1083122A1 (ru) | Устройство дл измерени СВЧ мощности | |
SU1689874A1 (ru) | Устройство дл измерени времени жизни носителей зар да в полупроводниковых образцах | |
SU842555A1 (ru) | Устройство дл магнитошумового конт-РОл фЕРРОМАгНиТНыХ МАТЕРиАлОВ | |
SU911270A1 (ru) | Способ контрол физических параметров тонких пленок | |
SU519651A1 (ru) | Устройство дл измерени диэлектрической посто нной материалов | |
SU800917A1 (ru) | Измеритель магнитного пол на дат-чиКЕ ХОллА | |
SU676919A1 (ru) | Устройство дл намагничивани ферромагнитных изделий | |
SU995029A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени параметров полупроводников | |
SU546024A1 (ru) | Устройство дл измерени тока электронного пучка | |
SU1478105A1 (ru) | Способ измерени посто нной Холла листовых материалов | |
Koledintseva et al. | Spectrum visualization and measurement of power parameters of microwave wide-band noise |