SU731402A1 - Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике - Google Patents

Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике Download PDF

Info

Publication number
SU731402A1
SU731402A1 SU772559436A SU2559436A SU731402A1 SU 731402 A1 SU731402 A1 SU 731402A1 SU 772559436 A SU772559436 A SU 772559436A SU 2559436 A SU2559436 A SU 2559436A SU 731402 A1 SU731402 A1 SU 731402A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
waveguide
magnetic field
helicon
concentration
sample
Prior art date
Application number
SU772559436A
Other languages
English (en)
Inventor
Альгирдас Мечислово Виткус
Альбертас Казио Лауринавичус
Юрас Карлович Пожела
Original Assignee
Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Полупроводников Ан Литовской Сср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Полупроводников Ан Литовской Сср filed Critical Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Полупроводников Ан Литовской Сср
Priority to SU772559436A priority Critical patent/SU731402A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU731402A1 publication Critical patent/SU731402A1/ru

Links

Landscapes

  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к радиоизмерительной технике.
Известно устройство дл  измерени  концентрации носителей тока в полупроводнике, содержащее сверхвысокочастотный генератор, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор и основной канал направленного ответвител  к размещенному между полюсами электромагнита отрезку волновода, продольна  ось которого ориентирована перпендикул рно плоскост м полюсов электромагнита, а к его выходному концу прижат исследуемый образец полупроводника, установленный с возможностью перемещени  в направлении, перпендикул рном продольной оси отрезка волновода , при зтом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител  подключен детектор, соединенный с индикатором 1.
Однако известное устройство имеет низкую разрешающую способность.
Цель изобретени  - повыщение разрешающей способности.
Дл  этого в устройстве дл  измерени  концентрации носителей тока в полупроводнике.
содержащем сверхвысокочастотный генератор, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор и основной канал направленного ответвител  к размещенному между полюсами электромагнита отрезку волновода, продольна  .ось которого ориентирована перпендикул рно плоскост м полюсов электромагнита, а к его выходному концу прижат исследуемый образец полупроводника, установленный с возможностью перемещени  в направлении, перпен10 дикул рном продольной оси отрезка волновода, при этом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител  подключен детектор , соединенный с индикатором, отрезок вол- . новода выполнен гребневым с шириной гребн ,
15 соответствующей 0,3 ширины отрезка волновода .
На фиг. 1 приведена функциональна  схема устройства; на фиг. 2 - вид выходного конца отрезка волновода.
20
Устройство дл  измерени  концентрации носителей тока в полупроводнике содержит сверхвысокочастотный генератор 1, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор 2 и основной канал направленного ответвител  3 к размещенному между полюсами электро магниту 4 отрезку 5 волновода, продольна  ось которого ориентирована перпенднкул рно плоскост м полюсов электромагнита 4, а к его выходному концу прижат исследуемый образец 6 полупроводника, установленный с возмож ностью перемещени  в направлении, перпендикул рном продольной оси отрезка 5 волновода , при этом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител  3 подключен (детектор 7, соединенный. с индикатором 8, причем отрезок 5 волновода выполнен гребневым с шириной d гребн  9, составл ющей 0,3 щири ныа отрезка 5 волновода. Цепь обмотки электромагнита 4 подключена к блоку 10 питани . Индикатор 8 состоит из усилител  11 и двухкоординатного самописца 12, подключенного к резистору 13. Устройство работает следующим образом. Исследуемый образец 6 полупроводника прижимают к выходному концу отрезка 5 волновода . При зтом практически закорачиваетс  отрезок 5 волновода и по поверхности исследуемого образца 6 протекают СВЧ токи, кото . рые имеют максимум в зазоре, заключенном гребнем 9 и щирокой стенкой отрезка волновода. Это в свою очередь приводит к соз данию магнитного пол  СВЧ волны у поверхности исследуемого образца 6, которое тоже имеет резко выраженный максимум в этом же зазоре. Электрическое поле же в зазоре практически равно нулю. Такое распределение магнитного пол  в площади поперечного сечени  отрезка 5 волновода приводит к тому, что при включении внешнего магнитного пол , геликон на  волна в исследуемом образце 6 возбуждаетс  в основном только в объеме, наход щегос  напротив зазора гребень 9 - цшрока  стенк отрезка 5 волновод Последнее обсто тельство
ас.с - о-в-в Г(вЧв)- 2 |в-в н
Г
аЛ2
е-ии-а (в-в)
где в и В - напр женность магнитного пол  двух соседних геликонных резонансов .
Таким образом, вьшолнение отрезка 5 волновода гребневым позвол ет уветшчить разрешающую способность устрюйства по площади зондировани  по сравнению с прототипом.
Выбор отношени  ширины гребн  9 к ширине отрезка 5 волновода равным 0,3 дает наилучшую разрешающую способность. Дальнейшее уменьшение этого отношени  приводит к 5 ухудшению.
(B-bfJ
0)4 .
мЗ.
JC

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Устройство дл  измерени  концентрации носителей тока в.полупроводшгке, содержащее сверхвысокочастотный генератор, подключенный через последовательно соединенные аттенюатор к основной канал направленного ответвител  к размещенному между полюсами электромагнита отрезку волновода, продольна  ось которого ориентирована перпендикул рно плоскост м полюсов электромагнита, а к его выходному концу прижат исследуемый образец полупроводника , установленный с возможностью св зано с тем, что геликонна  волна может возбуждатьс  только мапштной компонентой электромагнитной волны. Измен   напр женность внецшего магнитного пол , добиваютс  возникновени  геликокного резонанса в объеме исследуемого образца 6, наход щегос  напротив зазора гребень 9 -- широка  стенка отрезка 5 волновода. Геликонный резонанс про вл етс  уменьщением отраженного от исследуемого образца 6 сигнала до минимального значени . Отраженный сигнал через р)аправленный ответвитель 3 поступает на детектор 7, где детектируетс  и подаетс  на вход усилител  11. С выхода усилител  II сигнал поступает на Y-вход двухкоординатного самописца 12. На Х-вход двухкоординатного самописца 12 подаетс  напр жение , снимаемое с резистора 13, которое пропорционально величине магнитного пол . При известной величине резонансного магнитного пол  концентрацию носителей тока определ ют по формуле ои-а где с 3 Ю м/сек; .6.1б Кл; ёо 8,85;. Ф/м; N - целое число, обозначающее пор док геликонного резонанса; Sj диэлектрическа  посто нна  решетки материала исследуемого образца 6; О) - частота СВЧ сигнала; d - толщина исследуемого образца 6; В - напр женность магнитного пол , при которой наступает геликонный резонанс N-ro пор дка. Если пор док геликонного резонанса неизвестен , то концентрацию носителей тока определ ют по формуле
    перемещени  в направлении, перпендикул рном продольной оси отрезка волновода, при этом к выходному плечу вторичного канала направленного ответвител  подключен детектор, соединенный с индикатором, отличающеес  тем, что, с целью повыщени  разрешающей способности, отрезок волновода, выполнен гребневым с шириной гребн , составл ющей 0,3 ширины отрезка волновода .
    Источники информащ1и, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР N 456203, кл. G 01 R 31/32, 1972 (прототип).
SU772559436A 1977-12-22 1977-12-22 Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике SU731402A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772559436A SU731402A1 (ru) 1977-12-22 1977-12-22 Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772559436A SU731402A1 (ru) 1977-12-22 1977-12-22 Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU731402A1 true SU731402A1 (ru) 1980-04-30

Family

ID=20739944

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772559436A SU731402A1 (ru) 1977-12-22 1977-12-22 Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU731402A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992001234A1 (en) * 1990-07-12 1992-01-23 Semilab Félvezeto^' Fizikai Laboratórium Rt Process and apparatus for determining concentration in semiconductors

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992001234A1 (en) * 1990-07-12 1992-01-23 Semilab Félvezeto^' Fizikai Laboratórium Rt Process and apparatus for determining concentration in semiconductors

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU731402A1 (ru) Устройство дл измерени концентрации носителей тока в полупроводнике
US3197692A (en) Gyromagnetic resonance spectroscopy
US3371271A (en) Measurement of unpaired electron density
US3321702A (en) Magnetometer and electrometer utilizing vibrating reeds whose amplitude of vibration is a measure of the field
US3691453A (en) Compact microwave spectrometer
Holmes Propagation in rectangular waveguide containing inhomogeneous, anisotropic dielectric
JP3462769B2 (ja) 広帯域導波路型光電界センサ
US3522531A (en) Electric field intensity indicator employing a vibratory conductor sensor
US3373357A (en) Controlled mode plasma diagnostic apparatus
SU926601A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени тока
SU930160A1 (ru) Устройство дл измерени распределени сверхвысокочастотного пол в полупроводниковом образце
SU471545A1 (ru) Измеритель проход щей импульсной мощности свч
SU978083A1 (ru) Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках
SU694818A1 (ru) Устройство дл измерени мощности высоких частот
SU1083122A1 (ru) Устройство дл измерени СВЧ мощности
SU1689874A1 (ru) Устройство дл измерени времени жизни носителей зар да в полупроводниковых образцах
SU842555A1 (ru) Устройство дл магнитошумового конт-РОл фЕРРОМАгНиТНыХ МАТЕРиАлОВ
SU911270A1 (ru) Способ контрол физических параметров тонких пленок
SU519651A1 (ru) Устройство дл измерени диэлектрической посто нной материалов
SU800917A1 (ru) Измеритель магнитного пол на дат-чиКЕ ХОллА
SU676919A1 (ru) Устройство дл намагничивани ферромагнитных изделий
SU995029A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени параметров полупроводников
SU546024A1 (ru) Устройство дл измерени тока электронного пучка
SU1478105A1 (ru) Способ измерени посто нной Холла листовых материалов
Koledintseva et al. Spectrum visualization and measurement of power parameters of microwave wide-band noise