SU920581A1 - Способ измерени коэффициента идеальности вольт-амперной характеристики диода - Google Patents

Description

k - посто нна  Больцмана I Т - температура. При приложении к диоду посто нного смещени  V и переменного напр жени  Vm-iin « t t посто нна  составл к да  детектируемого сигнала равна Utt R (I - 1оЬ (2 где R - сопротивление, включенное последовательно с диодс л) -7 -т («4 -Лпосто нный тоКу текущий Зо-ЗДеп tj. диод при приложеНИИ смещени ; - нулева  гаг лоника тока при приложении к диодУ посто нного смещени  и переменного напр жени . При малых переменных напр жени х, и, следовательно, посто нных составл ющих де тектируемого сигнала, когда -Jliq ci f получаем

ЙЧ)

eV о

3s (ЙН

.

пШ eW

. гИ

- .

fl-fTi е глкт d(at)

При наличии смещени  и без него отношение амплитуды детектируемого сигнала ;

ид,-о1|г .J±M34

с l- efer

При малых амплитудах переменного напр жени  V, и малых R, когда выполн ютс  неравенства

R-fl-3sFfe P(T)-l

Из выражени  (4) получаетс  формула

(1). .

Коэффициент идеальности ВАК диода измер ют следук цим образом.

К исследуемому диоду прикладывают импульсы высокочастотного напрйФормула изобретени 

Способ измерени  коэффициента идеальности вольтамперной характеристики диода, включающий операции подачи на диод посто нного смещени , переменного напр жени  и измерени  токов и напр жений на диоде при двух различных напр жени х смещени , отличающийс  . тем, ЧТО, с целью повышени  точности в области малых , смещений и высоких частот, измер ют посто нные составл ющие дет.ектируемого диодом сигнала, причем одно измерение провод т при нулевом посто нном смещении на диоде.

Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР 468549, кл. G 01 К 31/26, 1972.

2.Ветров А.П., Стриха В.И. экспериментальный метод измерени  параметров полупроводникового диода.В кн. Автоматизаци  измерений параметров полупроводниковых приборов.Рига, .Зинатне, 1969, с. 105-109 (прототип ) . жеди  и при нулевом смещении измер ют амплитуду детектируемого сигнала Чл, . Затем прикладывают посто нное смещение V и снова измер ют амплитуду детектируемого сигнала . Коэффициент идеальности ВАХ диода рассчитывают по формуле (1). Предложенный способ может быть реализован устройством, содержащим источник посто нного напр жени  и генератор переменного напр жени , соединенные.с диодом, и логарифмический усилитель, вход которого соединен с диодом через разделительный конденсатор, а выход подключен к регистрирующему прибору. Предложенный способ обеспечивает измерени  коэффициента идеальности ВАХ диодов с высокой точностью при малых напр жени х смещени , а также в области СВЧ.

Claims (1)

1. Формула изобретения

   А --L ePmsrn . . 25

   Н 2JTJ ^е пкт d(at)

   При наличии смещения и без него отношение амплитуды детектируемого сигнала 30

   При малых амплитудах переменного напряжения V_m и малых R, когда вы- 35 полняются неравенства

   Способ измерения коэффициента идеальности вольтамперной характеристики , диода, включающий операции подачи на диод постоянного смещения, переменного напряжения и измерения токов и напряжений на диоде при двух различных напряжениях смещения, отличающийся тем, что, с целью .повышения точности в области малых , смещений и высоких частот, измеряют постоянные составляющие дет.ектируе'мого диодом сигнала, причем одно измерение проводят при нулевом постоянном смещении на диоде.

   Из выражения (4) получается формула (Г).

   Коэффициент идеальности ВАХ диода измеряют следующим образом.

   К исследуемому диоду прикладывают импульсы высокочастотного напрй-