SU974113A1 - Polarimeter - Google Patents
Polarimeter Download PDFInfo
- Publication number
- SU974113A1 SU974113A1 SU813278497A SU3278497A SU974113A1 SU 974113 A1 SU974113 A1 SU 974113A1 SU 813278497 A SU813278497 A SU 813278497A SU 3278497 A SU3278497 A SU 3278497A SU 974113 A1 SU974113 A1 SU 974113A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- light
- polarizer
- analyzer
- light beam
- phase
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
(54; ПОЛЯРИМЕТР(54; POLARIMETER
Изобретение относитс к измерительной технике, а более конкретно к измерению напр жений оптическими методами.The invention relates to a measurement technique, and more specifically to the measurement of stresses by optical methods.
Известно устройство дл измерени напр жений содержащее источник излучени и расположенные по ходу светового пучка пол ризатор, компенсатор и анализатор flj.A device for measuring stresses contains a polarizer, a compensator, and an analyzer flj located along the light beam.
Недостатком этого ус гройства вл етс низка скорость измерений,так : как необходимо измер ть значение вектора пол ризации в нескольких точках.The disadvantage of this arrangement is a low measurement rate, since it is necessary to measure the value of the polarization vector at several points.
Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс пол риметр/содержащий источник светового излучени и расположенные п6 ходу светового пучка коллиматор, пол ризатор , фазовую пластинку, отражающий элемент, вторую фазовую пластинку, анализатор и телевизионную систему 2,The closest to the technical essence of the invention is a polarimeter / containing a source of light radiation and a collimator, a polarizer, a phase plate, a reflecting element, a second phase plate, an analyzer and a television system 2, which are located on the course of the light beam,
Основными недостатками этого устройства вл ютс низка точность, обусловленна изменением вектора пол ризиции при прохождении световым пучком оптических элементов устройства , и отсутсвие элементов, позвол ющих автоматизировать процесс измерений .The main disadvantages of this device are low accuracy due to a change in the polarization vector when the light beam passes through the optical elements of the device, and the lack of elements allowing automation of the measurement process.
Цель изобретени - повышение точ:ности измерений путем коррекции вектора пол ризации дополнительными фазовыми пластинками.The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy by correcting the polarization vector with additional phase plates.
Поставленна цель достигаетс тем, что пол риметр, содержащий источник светового излучени и расположенные по ходу светового пучка коллиматор,по10 л ризатор фазовую пластинку,отражающий элемент,вторую фазовую пластинку ,ананизатор и телевизионную систему, снабжен модул тором светового пучка, двум дополнительными фозовыми пластин15 ками, двум светоделител ми и фотоприемником , модул тор светового пучка расположен между коллиматором и пол ризатором, одна дополнительна фазова пластинка расположена между The goal is achieved by the fact that a polarimeter containing a light source and a collimator located along the light beam, polarizer phase plate, reflecting element, second phase plate, analyzer and television system, are equipped with a light beam modulator, two additional photo plates15 kami , two beam splitters and a photoreceiver, a light beam modulator is located between the collimator and a polarizer, one additional phase plate is located between
20 пол ризатором и первой фазовой пластинкой , друга между второй фазовой пластинкой и анализатором, один светоделитель расположен между первой и второй фазовыми пластинками, второй 25 между анализатором и телевизионной системой, а фотоприемник установлен по ходу .светового пучка, отраженного от светоделител .A polarizer and the first phase plate, the other between the second phase plate and the analyzer, one beam splitter are located between the first and second phase plates, the second 25 between the analyzer and the television system, and the photodetector is mounted along the light beam reflected from the beam splitter.
На чертеже приведена оптическа The drawing shows the optical
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813278497A SU974113A1 (en) | 1981-04-20 | 1981-04-20 | Polarimeter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813278497A SU974113A1 (en) | 1981-04-20 | 1981-04-20 | Polarimeter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU974113A1 true SU974113A1 (en) | 1982-11-15 |
Family
ID=20954384
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813278497A SU974113A1 (en) | 1981-04-20 | 1981-04-20 | Polarimeter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU974113A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4789236A (en) * | 1986-08-07 | 1988-12-06 | Lockheed Missiles & Space Company, Inc. | Stress sensor |
-
1981
- 1981-04-20 SU SU813278497A patent/SU974113A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4789236A (en) * | 1986-08-07 | 1988-12-06 | Lockheed Missiles & Space Company, Inc. | Stress sensor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3791975B2 (en) | Homodyne interferometer and its reception method | |
US6219139B1 (en) | Full field photoelastic stress analysis | |
US6469788B2 (en) | Coherent gradient sensing ellipsometer | |
US3871771A (en) | Optical apparatus for determining deviations from a predetermined form of a surface | |
JPH054606B2 (en) | ||
US20030081196A1 (en) | Method and arrangement for optical stress analysis of solids | |
Babcock et al. | Mapping the magnetic fields of the sun | |
US5073025A (en) | Independent polarization state measurements sensor | |
EP0075689A1 (en) | Optical instruments for viewing a sample surface | |
Azzam et al. | Conventional and generalized Mueller-matrix ellipsometry using the four-detector photopolarimeter | |
SU974113A1 (en) | Polarimeter | |
US4310247A (en) | Method and apparatus for analyzing the state of polarization of radiation | |
AU2014289101B2 (en) | Device for compensating for the drift of a phase shift of a device for modulating the polarization state of a light beam | |
JPS59164924A (en) | Automatic correction system of calibrated wavelength | |
US3016789A (en) | Polarimetric apparatus | |
US3270612A (en) | Servo nulled autocollimator having a pair of rotatable wedges | |
JPS6227603A (en) | Optical measuring apparatus of displacement | |
JPH07111327B2 (en) | Ellipsometer | |
Shribak | Autocollimating detectors of birefringence | |
SU693176A1 (en) | Method of ellipsometric checking of phase plate | |
CN106842473B (en) | Multi-polarizer assembling and calibrating device and method | |
SU1610274A1 (en) | Apparatus for range measuring | |
RU2242715C1 (en) | Method of measuring precision of protractor | |
SU789686A1 (en) | Density meter | |
SU1758425A1 (en) | Method of adjusting device for measuring plane angles |