SU966490A1 - Method of evaluating roughness of contact surfaces - Google Patents
Method of evaluating roughness of contact surfaces Download PDFInfo
- Publication number
- SU966490A1 SU966490A1 SU813261601A SU3261601A SU966490A1 SU 966490 A1 SU966490 A1 SU 966490A1 SU 813261601 A SU813261601 A SU 813261601A SU 3261601 A SU3261601 A SU 3261601A SU 966490 A1 SU966490 A1 SU 966490A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- roughness
- contact surfaces
- evaluating roughness
- evaluating
- rays
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
(54) СПОСОБ ОЦЕНКИ ШЕРОХОВАТОСТИ КОНТАКТНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ(54) METHOD FOR ESTIMATING ROUGHNESS OF CONTACT SURFACES
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, дл Определени шероховатости контактных поверхностей металлических тел пар трени .The invention relates to measuring technique and can be used, in particular, to determine the roughness of the contact surfaces of the metal bodies of the friction pairs.
Среди известных спосЬбов определени шероховатости преобладают щупов1ые методы контрол , основанные на использовании индуктивных, пьезоэлектрических или фотоэлектрических датчиков.Probe control methods based on the use of inductive, piezoelectric or photoelectric sensors prevail among the known methods of roughness determination.
Известен способ оптического измерени шероховатости поверхностей. основанный на посылке на эту повепхаость по крайней мере двух дискрет ных световых лучей от двух источников света через собирающую оптическую систему. ОДИН из этих лучей фокусируетс перед поверхностью, а другой - позади нее. Отражение регистрируйт фотоэлектрическим устройством , которое вырабатывает два электрических сигнала, характеризующих интенсивность отражений. Интенсивсивность максимальна, если лучи сфокусированы на поверхность, и убывает с увеличением дефокусировки. Профиль шероховатостей определ ют по разности .электрических сигналов. Дл получени непрерывного профил шероховатостей световые лучи смещгиот вдоль поверхности l.A known method for optical measurement of surface roughness. based on sending at least two discrete light rays from two light sources through the collecting optical system. One of these rays is focused in front of the surface, and the other behind it. Reflection is recorded by a photovoltaic device that produces two electrical signals characterizing the intensity of reflections. The intensity is maximum if the rays are focused on the surface, and decreases with increasing defocus. The roughness profile is determined by the difference in electrical signals. To obtain a continuous roughness profile, the light rays are shifted from the surface l.
Однако у этого способа точность в сильной степени зависит от загр знени поверхности и окружающей среды .However, with this method, the accuracy strongly depends on the contamination of the surface and the environment.
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату The closest in technical essence and the achieved result
10 к предлагаемому вл етс способ оценки шероховатости контактных по , верхностей металлических тел пар трени , заключающийс в том, что преобразуют неровности шероховатости этих10 to the present invention is a method for assessing the roughness of the contact surfaces of the metal bodies of friction pairs, which consists in converting the roughness of the roughness of these
15 поверхностей в электрический потенциал , модулированный по амплитуде, далее его усиливают, детектируют, выдел ют сигнал, соответствующий огибающей г1мплитудно-модулированного 15 surfaces into an amplitude-modulated electric potential, further amplify it, detect it, extract the signal corresponding to the envelope g1 of the amplitude-modulated
20 сигнала и им ограничивгиот сигнал, амплитуды одной -из пол рностей которого приведены к нулевому уровню, т.е. подвергают сложной обработке измеренный электрический потенциал, 20 signals and they are limited by a signal whose amplitudes of one of its polarities are reduced to zero, i.e. subjected to complex processing the measured electric potential,
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813261601A SU966490A1 (en) | 1981-03-18 | 1981-03-18 | Method of evaluating roughness of contact surfaces |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813261601A SU966490A1 (en) | 1981-03-18 | 1981-03-18 | Method of evaluating roughness of contact surfaces |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU966490A1 true SU966490A1 (en) | 1982-10-15 |
Family
ID=20948104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813261601A SU966490A1 (en) | 1981-03-18 | 1981-03-18 | Method of evaluating roughness of contact surfaces |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU966490A1 (en) |
-
1981
- 1981-03-18 SU SU813261601A patent/SU966490A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
GB2166234A (en) | Detecting oil in water | |
JPH11326194A (en) | Surface plasmon sensor | |
FR2577322A1 (en) | DEVICE FOR NON-CONTACT MEASURING THE SPEED OF A MOVING MEDIUM | |
EP0866313A1 (en) | A sensor and a method for measuring distances to, and/or physical properties of, a medium | |
CN102589447B (en) | Micro linear displacement sensor based on two-channel grating | |
SU966490A1 (en) | Method of evaluating roughness of contact surfaces | |
UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
JP4215220B2 (en) | Surface inspection method and surface inspection apparatus | |
CA2434442A1 (en) | Reflection-photometric analytical system | |
SE0004702D0 (en) | Method and device for testing with ultrasonic laser | |
JPH02173553A (en) | Method and device for measuring turbidity of high concentration | |
US4464568A (en) | Apparatus for detection and analysis of uranium ores | |
US4077723A (en) | Method of measuring thickness | |
JPS644045A (en) | Inspection device | |
EP0837301A3 (en) | Position detecting element and range sensor | |
JP2005106719A (en) | Light reflection type measuring apparatus using optical waveguide | |
CN102607468B (en) | Small-angle displacement sensor based on double-channel grating | |
EP0375744B1 (en) | A method to measure the angle of incidence for radiation and a detector to carry out the method | |
SU1105001A1 (en) | Method of checking roughness of machined surface | |
JPS61225604A (en) | Dimension measurement apparatus | |
JPH0216964B2 (en) | ||
JPH0348530B2 (en) | ||
JP3091276B2 (en) | Displacement measuring device | |
KR100551708B1 (en) | Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor | |
SU1536525A1 (en) | Device for determining high voltage at x-ray tube |