SU953674A1 - Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал - Google Patents

Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал Download PDF

Info

Publication number
SU953674A1
SU953674A1 SU802983072A SU2983072A SU953674A1 SU 953674 A1 SU953674 A1 SU 953674A1 SU 802983072 A SU802983072 A SU 802983072A SU 2983072 A SU2983072 A SU 2983072A SU 953674 A1 SU953674 A1 SU 953674A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sweep
laser
resistor
control unit
wavelength
Prior art date
Application number
SU802983072A
Other languages
English (en)
Inventor
Вилен Иосифович Кравченко
Вадим Васильевич Заика
Олег Николаевич Погорелый
Виталий Иванович Попов
Original Assignee
Институт Физики Ан Усср
Предприятие П/Я Г-4645
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Ан Усср, Предприятие П/Я Г-4645 filed Critical Институт Физики Ан Усср
Priority to SU802983072A priority Critical patent/SU953674A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU953674A1 publication Critical patent/SU953674A1/ru

Links

Landscapes

  • Lasers (AREA)

Description

(5) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДГО ЖИ плоских ПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ в НОМИНАЛ
1
Изобретение относитс  к производству изделий микроэлектроники и может быть использовано в электронной промышленности дл  прецизионной лазерной подгонки параметров пленочных резисторов в номинал.
Известно устройство дл  лазерной подгонки плоских пленочных резисто ров в номинал, содержащий источник импульсного монохроматического лазерного излучени , блок линейной развертки лазерного луча на основании гальванометрической зеркальной системы с фокусирующей системой измерени  величины сопротивлени  и блок управлени  П.
Недостатки этого устройства состо т в том, что оно имеет сложную систему управлени  разверткой лазерного луча и ограниченную скорость реза - 80 мм/с, что снижает- производительность подгонки.
Цель изобретени  - упрощение устройства и увеличение его производительности при сохранении высокой точности подгонки.
Поставленна  цель достигаетс  тем,что в устройстве дл  подгонки плоских пленочных резисторов .в номинал, содержащем источник лазерного излучени , блок линейной развертки лазерного луча с фокусирующей системой, блок измерени  величины сопротивлени  резистора, и блок управлени ,источник лазерного излучени  выполнен на лазере с модулированной добротностью и дискретно перестраивае 1ой в процессе генерации длиной волны, а блок линейной развертки лазерноголуча выполнен в виде оптического элемента, обладающего спектральной угловой дисперсией в плоскости линейной развертки.

Claims (2)

  1. На фиг.1 представлена блок-схема устройства дл  лазерной подгонки пленочных резисторов; на фиг.2 - кинетика и спектр генерации лазера с перестраиваемой в процессе гене3 рации длиной волны (в дальнейшем свип-лаэер ). Устройство содержит свип-лазер включающий узел 2 свипировани  длин волны излучени  и оптический затвор 3, неподвижный дисперсионный элемен 4 и фокусирующую систему 5, Направл ющую (Сформированный лазерный пучо на фокальную плоскость 6, в которой расположена плата с резисторами (не показана). Последн   расположена на двухкоординатном юстировочном столе 7, программное управление которым осуществл етс  электроприводом 8. Дл  наблюдени  за процессом подгонк служит оптический блок 9 визуализации , в который частично может входить фокусирующа  система 5- Блоки 10 и 11 служат, соответственно, дл  управлени  контактами и контрол  ве личины сопротивлени  подгон емого резистора. Автоматизаци  процесса подгонки производитс  с помощью электронного блока 12 управлени , св занного с программным управлением Электропривода 8, блоком 11 контрол  сопротивлени  и оптическим затвором 3 свип-лазера, В качестве свип-лазера 1 могут быть использованы любые известные свип-лазеры на конденсирован1ЧЫх сре дах, например на неодимовом стекле или растворах органических красителей . Типичные кинетика интенсивности и спектр излучени  свип-лазера на неодимовом стекле приведены на фиг.
  2. 2. За один импульс накачки генерируетс  регул рна  се.ри  пичков , частота следовани  которых сос тавл ет 50-200 кГц и может плавно регулироватьс  изменением уровн  накачки. Длительность отдельного пичка обычно составл ет 0,2-0,5 мкс и может быть уменьшена до 30-50 не введением в резонатор оптического затвора 3- Каждому пичку излучени  соответствует сво , строго определенна , лини  в спектре, т.е длина волны. Ширину отдельной линии интервал между ними можно плавно измен ть при общем диапазоне свириповани  300-500 . Перестройка длины волны излучен свип-лазеров основана на использов нии дисперсных резонаторов, максимум добротности которых непрерывно смещаетс  в процессе генерации по шкале длин волн. В качестве оптического затвора 3, служащего дл  сокращени  отдельного генерационного пичка и прекращени  генерации в момент достижени  заданного номинала подгон емым резистором , могут быть использованы любые модул торы на основе использовани  электрооптического эффекта. Оптический элемент k, предназначенный дл  осуществлени  пространственной развертки лазерного луча, должен обладать дисперсией (спектральной ) в плоскости , в которой производитс  пространственна  . вертка компонента луча. В качестве такого элемента могут быть использованы дисперсионные призмы или дифракционные решетки. Основное требование к оптическому элементу обеспечить необходимую угловую дисперсию (оценка ее будет дана ниже) при минимальных потер х интенсивности компонент лазерного луча. Остальные элементы блок-схемы (фиг.1) известны и не требуют дополнительных по снений. Отметим только , что блок 12 управлени  может быть построен на базе мини-ЭВМ,что существенно расширит возможности всего устройства и обеспечит полную автоматизацию процесса подгонки. Устройство работает следующим образом. Плата с резисторами (не показана ) устанавливаетс  на юстировочном столе 7 в фокальной плоскости 6. Блок 12 управлени  включает привод 8, который передвигает стол 7 до установки платы с резисторами в рабочую позицию (дл  этого на микросхемах имеютс  реперные точки)| В этот момент срабатывает блок 10 контактов, опускаютс  измерительные наконечники и блок 11 контрол  величины сопротивлени  измер ет начальное сопротивление подгон емого резистора. Блок 12 управлени  включает свип-лазер 1. Узел 2 свипиро-вани  непрерывно перестраивает дисперсионный резонатор лазера, что приводит к изменению длины волны излучени  от пичка к пичку, которые проход т в момент срабатывани  оптического затвора 3- Излучение с измен ющейс  длиной волны попадает на неподвижный дисперсионный элемент 4, который осуществл ет пространственноугловое разложение пичков различных длин волн, в результате чего В фокальной плоскости фокусирующей системы 5, где расположена плата с резисторами, выжигаетс  сери  п тен , выт нута  в плоскости диспер . сии элемента . Диаметр отдельного п тна определ етс  начальной расходимостью излучени  свип-лазера 1 и фокусным рассто нием системы 5. а рассто ние между п тнами - различием длин волн соседних пичков излучени  и величиной угловой дисперсии элемента. Наблюдение за процессом испарени  материала резистора ведет С помощью блока 9 визуализации. При этом измерительный мост непрерывно измep et сопротивление резистора и в тот момент, когда достигаетс  требуемое значение сопротивлени , подает сигнал в блок 12 управлени . Последний закрывает затвор 3 отключает свип-лазер 1 и включает привод 8, который в-соответствии с зало женной программой, выводит в положение дл  подгонки следующий резистор После подгонки последнего резистора микросхемы блок 12 управлени  отключает свип-лазер и дает команду на подъем контактов. Срабатывает кои-, тактный блок 10, включаетс  привод 8 и в рабочую позицию выводитс  резистор следующей микросхемы. Упрощение конструкции устройства св зано с применением в качестве системы дл  пространственной pagвертки лазерного луча неподвижного оптического элемента, который, как показывают оценки, может быть выполнен в виде равнобедренной стекл нной призмы (одной или стекла СТФ-2, установленной под углом минимального отклонени . Отсутствие каких-либо движущихс  узлов положительно сказываетс  на 6 стабильности и воспроизводимости развертки. Оценка линейной скорости развертки показывает, что она может достигать и быть выше 800 мм/с, что на пор док выше скорости лучших зарубежных установок. Технико-экономический эффект от применени  изобретени  состоит как в упрощении устройства подгонки , соответствующего снижени  их стоимости, так и в существенном увеличении производительности труда на этих установках. Формула изобретени  Устройство дл  подгонки ПЛОС-: ких пленочных резисторов в номинал, содержащее источник лазерного излучени , блок линейной развертки лазерного луча с фокусирующей системой, блок измерени  величины сопротивлени  резистора и блок управлени , отличающеес  тем, Мто, с целью упрощени  устройства и увеличени  его производительности при сохранении высокой точности подгонки , источник лазерного излучени  выполнен на лазере с модулированной добротностью и дискретно перестраиваемой в процессе.генерации длиной волны, а блок линейной развертки лазерного луча выполнен в виде оптического элемента, обладающего спектральнбй угловой дисперсией в плоскости линейной развертки. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Анохов С.П., Кравченко В.И. Твердотельные оптические квантовые свип-генераторы. Квантова  электроника , 1975, 6,9, с.12б-1«8.
    Ф((г,1
SU802983072A 1980-09-22 1980-09-22 Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал SU953674A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802983072A SU953674A1 (ru) 1980-09-22 1980-09-22 Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802983072A SU953674A1 (ru) 1980-09-22 1980-09-22 Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU953674A1 true SU953674A1 (ru) 1982-08-23

Family

ID=20918133

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802983072A SU953674A1 (ru) 1980-09-22 1980-09-22 Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU953674A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118522517A (zh) * 2024-07-22 2024-08-20 深圳市睿达科技有限公司 一种自适应激光调阻控制方法和系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118522517A (zh) * 2024-07-22 2024-08-20 深圳市睿达科技有限公司 一种自适应激光调阻控制方法和系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2741227B2 (ja) レーザー・ビームの周波数を安定させる方法と装置
US3806829A (en) Pulsed laser system having improved energy control with improved power supply laser emission energy sensor and adjustable repetition rate control features
US7563695B2 (en) Method and system for high-speed precise laser trimming and scan lens for use therein
US4866243A (en) Laser applying apparatus
JP2760740B2 (ja) ディープ紫外線リソグラフィー
JP3633904B2 (ja) X線発生方法およびx線発生装置
US20060160332A1 (en) Method and system for high-speed precise laser trimming, scan lens system for use therein and electrical device produced thereby
RU2007106720A (ru) Способ и устройство для воздействия на ткань
US5670068A (en) Apparatus for laser processing and monitoring
US6516013B1 (en) Laser beam monitoring apparatus and method
US3750049A (en) Laser trimming tool
SU953674A1 (ru) Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал
US6768762B2 (en) High repetition rate UV excimer laser
US6839374B2 (en) Barium fluoride high repetition rate UV excimer laser
EP0302124A1 (de) Einrichtung zum Projektionskopieren von Masken auf ein Werkstück
DE69107445T2 (de) Vorrichtung zum erzeugen von laserstrahlen.
EP0262088A1 (de) Anordnung zur Positionierung und Synchronisation eines Schreiblaserstrahls
KR20080010380A (ko) 고속의 정확한 레이저 트리밍을 위한 장치와 방법, 그에사용하는 렌즈 및 그에 의해 산출된 전기 장치
JP2526983B2 (ja) 露光装置
SU1246146A1 (ru) Устройство дл подгонки плоских пленочных резисторов в номинал
JPH0673754B2 (ja) レ−ザ加工装置
TWI452605B (zh) 高速精準雷射修整之方法與系統,以及用於其內之掃描透鏡
JPH10296468A (ja) レーザ加工装置
RU2240225C2 (ru) Установка для скоростного лазерного клеймения
JPH08321651A (ja) 固体レーザ装置