SU951473A2 - Способ измерени длительности переходных процессов в системах отклонени электронно-лучевых трубок - Google Patents

Description

нестабильности измерительной аппаратуры или случайного сбо  микроскопа ) достоверность результатов измерений снижаетс . Цель изобретени  - сокращение времени, повышение точности, а также удобства и достоверности измерений . Поставленна  цель достигаетс  тем 5 что согласно способу в интервалах между периодическими импульсами отпирани  луча устанавливают режим частичного отпирани  луча ЭЛТ. След электронного луча, соответствующий импульсу отпирани , совмещают со следом электронного луча, соответствующим установившему с  значению процесса отклонени , а длительность переходного процесса определ ют по времени задержки .им-. пульса отпирани  электронного луча. На фиг.1 представлены эпюры: управл ющего сигнала в исследуемой цепи 1, импульса 2 подсвета, задер жанного на врем  Т по отношению к началу управл к цего сигнала, переходного процесса в цепи 3 отклонени , а также изображени  светового п тна, соответствующие неотклонеиному положению пучка k, установившемус  значению отклоненного пуч ка (точка 5)и положению пучка в момент времени, соответствующий импул су отпирани  пучка (точка 6. На фиг.2 представлена структурна схема установки, реализующей описан ный способ. Установка содержит электроннолуч вую трубку 7, содержащую отклон ющую систему 8, систему 9 динамической фокусировки, систему 10 статической фокусировки, генератор 11 пр моугольных имг1ульсов, переключат ли 12, 13и 1, электронные ключи 15 1б и 17 регулируемые источники 18-21 тока, регулируемый элемент 22 задержки, формирователь 23 импульсо подсвета, микроскоп 2, механизм 25 перемещени  микроскопа, шину 26 нулевого потенциала, шину 27 опорно напр жени  и регулируемый источник 28 напр жени . При реализации способа переключа тел ми 12, 13 и 1 подключают входы ключей 15, 16 и 17 к шине 2б нулевого потенциала. При этом выходы источников 18, 19 и 20 тока отключают от отклон ющей системы 8 и сис емы 9 динамической фокусировки. Регулировкой источника 21 фокусируют неотклоненный луч, после чего переключател ми 12, 13 и 1 подключают входы ключей 15, 16 и 17 к шине onopV ного напр жени . При этом ключи 15, 1б и 17 осуществл ют подключение источников 18, 19 и 20 к катушкам отклон ющей системы 8 и системы 9 динамической фокусировки. Регулировкой тока источни,ков1 18 и 19 обеспечиваетс  отклонение луча в «заданную точку экрана ЭЛТ, а регулировкой тока источника 20 фокусируют отклоненный луч. Регулировкой источника 28 устанавливаетс  такое напр жение на модул торе ЭЛТ, при. котором в промежутках между отпирающими импульсами не происходит полного запирани  луча. Отпирание ЭЛТ осуществл ют периодическими импульсами , формируемыми формирователем 23 импульсов подсвета, работа которого синхронизирована генератором 11 пр моугольных импульсов, при этом на экране наблюдаютс  три свет щие точки (фиг.1). Механизмом 25 перемещени  устанавливают микроскоп 2k таким образом, чтобы точка 5 соответствующа  установившемус  режиму переходного процесса, оказэлась в центре пол  зрени  микроскопа 2k. Увеличива  задержку при помощи эле мента 22 задержки, наблюдают за перемещением световой точки 6, котора  при увеличении задержки передвигаетс  к точке 5 По показани м шкалы элемента 22 задержки определ ют длительность переходного процесса отклонени , котора  соответствует тому значению задержки, при которой передвигающа с  точка 6 приблизитс  к точке 5, соответствующей положению пучка в установившемс  режиме с заданной . точностью, а отклонение от этого положени  при дальнейшем увеличении задержки не увеличиваетс . Применение способа обеспечивает сокращение времени измерени  длительности переходных процессов в цеп х отклонени  более чем в 3 раза и исключает погрешности обусловленные неточностью устано.вки микроскопа . формула изобретени  Способ измерени  длительности переходных процессов в-системах отклонени  электроннолучевых трубок по авт.св. ff бЭЭ+б, о т л и ч а rout и и с   тем, что, с целью сокращени  времени и повышени  точности измерени  в цеп х отклонени , в интервалах между периодическими импуль сами отпирани  луча устанавливают режим частичного отпирани  луча электроннолучевой трубки, след элект ронного луча, соответствующий импуль су отпирани , совмещают со следом 6 электронного луча, соответствующим установившемус  значению процесса отклонени , а длительность переходного процесса определ ют по времени задержки импульса отпирани  электронного луча. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № esgis, кл, G 04 F 13/00, 1978.

и

Claims (1)

1. Формула изобретения

   Способ измерения длительности переходных процессов в'системах отклонения электроннолучевых трубок по авт.св. Ν’ 699487, отличающийся тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности измерения в цепях отклонения, в интервалах между периодическими импульсами отпирания луча устанавливают режим частичного отпирания луча электроннолучевой трубки, след электронного луча, соответствующий импульсу отпирания, совмещают со следом

   951^73 электронного луча, соответствующим установившемуся значению процесса отклонения, а длительность переходного процесса определяют по 5 времени задержки импульса отпирания электронного луча.