SU942189A1 - Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе - Google Patents
Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе Download PDFInfo
- Publication number
- SU942189A1 SU942189A1 SU803004432A SU3004432A SU942189A1 SU 942189 A1 SU942189 A1 SU 942189A1 SU 803004432 A SU803004432 A SU 803004432A SU 3004432 A SU3004432 A SU 3004432A SU 942189 A1 SU942189 A1 SU 942189A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- image
- amplifier
- electron microscope
- automatic focusing
- published
- Prior art date
Links
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
1
Изобретение огиосигс к устройствем авгокГатики растровых элек1ронных микроскопов (РЭМ).
Иэвесгвд{Различные схемы и устройства автоматической фокусировки изображени в РЭМ, использующие те или иные критерии фокусировки 1.
Их недостатком вл етс узкий диапазон работы разверток, в котором функционируют эти устройства.,д Наиболее близким по технической сущности к 1федлага«4ому вл етс устройство автоматической фокусировки, содержащее систему формировани злектровного зонпа с дополнительной фокусиру- 5 юшей линзой и схему обратной св зи, включающую последова тельнрсоедиве& иые детектор электронов, усгшитель, ок иас ерени и регул тор тока дополнительной линзы. БЛОК измерени включает по- 20 лосовой фильтр высоких частот (ВЧ) и измеритель мощности. Критерием наилучшей фокусировки служит максимальна величина указанной мощности.
Спектр видессигнала в РЭМ определ етс длительностью кадра и числом строк в кадре. Число строк выб1фаетс из количества элементов разлохдашш. Современный микроскоп имеет широкий выбор времени длительности кадра и числа строк в кадре, что определ ет изменение верхней граничной частоты спектра видеосигнала в широких пределах. Выделение полезного сигнала, управл ющего работой системы автофокусировки, производитс с помошыо избирательного полосового усилител , а выбор резонансной частоты усилител осуществл ют возможно ближе к верхней граничной частоте спектра видеосигнала С 2.
Дл работы системы автофокуснровки, построенной на этом пргащше, в широком диапазоне длительностей кадра при возможных наборах числа строк в кадре резонансный усйЕлитель необходимо вьшолн ть перестраиваемым в широком диапазоне частот (ор дес тков горц до дес тков килогерц), что конструктивно вьшолнигь трудно, поэтому ограничиваютс узким диапазоном работы развертки, дл которого настроен усилитель.
Цель изобретени - расширение диапазона рабочих режимов по длительности развертки при исследовании объектов со значительным измененном рельефа поверхности .
Указанна цель достигаетс тем, что в устройстве фокусировки изображени в РЭМ, содержащем систему формировани электронного зонда с дополнительной фокусирующей линзой и последовательно соединенные детектор электронов, усилитель , блок измерени и регул тор ток дополнительной линзы, блок измерени выполнен в виде последовательно соединенных множительного блока и интегратора , а между усилителем и множительным €локом паралельно подключена лини задержки.
На чертеже показана схема предлагаемого устройства.
Электронна пушка I, конденсорна система 2, формирующа линза 3, дополни тельна фокусирующа линза 4, растрова отклон юща система 5 и исследуемый объект 6 расположены последовательно по ходу электронного зонда.
Детектор 7 электронов электрически соединен с усилителем 8, выход которого электрически соединен с линией 9 задержки и множительным блоком Ю, Лини 9 задержки се динена со вторым входом множительного блока IО, которы элек1рически соединен с входом интегратора 11, выход которого соединен с экстремальным регул тором 12 тока, а выход последнего соединен с дополнительной фокусирующей линз.ой 4, Индикатор 13 изображени соединен с усилителем 8.
Устройство работает следующим образом .. .
Электронна пушка I, ковденсорна , система 2, формирующа линза 3, растрова отклон юща система 5 с по-, мощью электронного зонда обеспечивают поэлементное разложевд1е во времени изображени поверхности объекта 6 в виде потока вторичных электронов, в ко торых заключена информаци о рельефе поверхности исследуемого объекта. Поток вторичных электронов преобразуетс детектором 7 в аналоговый электрический сигнал.
Электрический сигнал с выхода детектора 7 поступает на вход предварительного усилител 8, где он усиливаетс до уровн , необходимого дл нормальной работы индикатора 13, с выхода предусили тел сигнал поступает также на один из входов множительного блока 10 и вход линии 9 задержки.
Лини 9 задержки, множительный блок 10 и интегратор II образуют аналоговое решающее устройство, которое вычисл ет автокоррел ционную функцию сигнала, поступающего с выхода предварительного усилител 8.
ЕСЛИ электронное изображение сфокусировано , значение автокоррел ционной функции, т.е. сигнал на выходе интегратора II, достигает максимального значени .
При расфокусировке изображени значение автокоррел ционной функции уменьшаетс и выходное напр жение интегратора также уменьшаетс .
При движении первичного электонного зонда по строке различным точкам объекта соответствуют различные положени фокусировки, при этом на высоких выступах или глубоких впадинах поверхности объекта происходит дефокусировка изображени .
При дефокусировке, т.е. при отклонении выходного напр жени от максимального значени , на выходе экстремального регул тора 12 тока реализуетс сигнал ошибки, который, вл сь рабочим ТОК.01Л- дополнительной фокусирующей лиазы , устран ет дефокусировку электронного изображени .
Таким образом, предлагаемое выполнение системы автофокусировки изображени обеспечивает получение автокоррел ционной функции видиосигнала, котора вл етс его энергической характеристикой , описывающей скорость изменени сигнала без разложени на гармонические составл ющие. Это обсто тельство при соотве1х;твующем выборе времени коррел ции обеспечивает работу устройства автоматической фокусировки во всем диапазоне развертки растрового изображени ., получаемого в РЭМ .
Использование предлагаемого устройства позвол ет расширить ассортимент исследуемых объектов с более развитым и сложным рельефом, что обеспечивает получение информации, наиболее близкой к реальной.
Claims (2)
- Формула изобретениУстройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе, содержащее, системуформировани электронного зонда с дополнительной фокусирующей линзой, последовательно соединенные детектор электронов , усилитель, блок измерени и регул тор тока дополнительной фокусирующей линзы, отличающеес тем, что, с целью расширени диапазона рабочих режимов по длительности развертки при исследовании объектов со значительным изменением рельефа поверхности , блок измерешга вьшолнен ввиде последовательно соединенных множительного блока и интегратора, а между усилителем и множительным блоком включена лини задержки.Источники информации, прин тые во внкмавие при экспергазеЛ. Патент Японии № 48-43953, кл.. 99 С ЗО9, опублик. 1976.
- 2. Патент Японии № 49-22575, кл. 99 С 309, опублик. 1974 (прототип),
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU803004432A SU942189A1 (ru) | 1980-11-17 | 1980-11-17 | Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU803004432A SU942189A1 (ru) | 1980-11-17 | 1980-11-17 | Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU942189A1 true SU942189A1 (ru) | 1982-07-07 |
Family
ID=20926120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU803004432A SU942189A1 (ru) | 1980-11-17 | 1980-11-17 | Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU942189A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011021957A1 (ru) * | 2009-08-20 | 2011-02-24 | Kucherenko, Alexy Valentinovich | Получение трехмерного изображения с использованием растрового электронного микроскопа |
-
1980
- 1980-11-17 SU SU803004432A patent/SU942189A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011021957A1 (ru) * | 2009-08-20 | 2011-02-24 | Kucherenko, Alexy Valentinovich | Получение трехмерного изображения с использованием растрового электронного микроскопа |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3937959A (en) | Method and apparatus for automatically focusing | |
US3896304A (en) | Automatic focus adjustment means | |
SU942189A1 (ru) | Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе | |
JPS5730253A (en) | Secondary electron detector for scan type electron microscope | |
US4329032A (en) | Automatic focus indicating device for camera | |
US4978856A (en) | Automatic focusing apparatus | |
JPS5492050A (en) | Method and apparatus for astigmatic correction of scanning electronic microscope and others | |
US4272782A (en) | Method of and apparatus for adjusting an image intensifier chain | |
EP0028509B1 (en) | Indicator for measuring thickness | |
JPH0766770B2 (ja) | 電子線照射装置 | |
US4698503A (en) | Focusing apparatus used in a transmission electron microscope | |
JPH06243812A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
DE3807659C2 (ru) | ||
JPS56150303A (en) | Surface form measuring device using scan-type electronic microscope | |
US4587416A (en) | Focus detecting apparatus for microscope or camera | |
JPS58137948A (ja) | 走査電子顕微鏡等の焦点合わせ方法 | |
SU983822A1 (ru) | Импульсный корпускул рный микроскоп | |
CN220509208U (zh) | 一种切伦科夫二次谐波显微镜成像系统 | |
JPS63119147A (ja) | 荷電粒子線の集束状態を検出する装置 | |
SU57689A1 (ru) | Устройство дл анализа формы кривой, графически нанесенной на неподвижной поверхности | |
JPS5816136Y2 (ja) | 電子線走査型装置の焦点合せ装置 | |
SU555378A1 (ru) | Система экстремального управлени фокусировкой электронного луча | |
JPH0630320A (ja) | フォーカス状態表示装置 | |
SU703872A1 (ru) | Устройство дл анализа поверхности микрообъектов | |
SU1518725A1 (ru) | Устройство дл определени комплексных компонент переменного поверхностного нат жени |