SU942189A1 - Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе - Google Patents

Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе Download PDF

Info

Publication number
SU942189A1
SU942189A1 SU803004432A SU3004432A SU942189A1 SU 942189 A1 SU942189 A1 SU 942189A1 SU 803004432 A SU803004432 A SU 803004432A SU 3004432 A SU3004432 A SU 3004432A SU 942189 A1 SU942189 A1 SU 942189A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
image
amplifier
electron microscope
automatic focusing
published
Prior art date
Application number
SU803004432A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Гаврилович Веприк
Михаил Дмитриевич Давиденко
Вилен Николаевич Капличный
Георгий Дмитриевич Кисель
Владимир Константинович Остапов
Павел Алексеевич Павленко
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2613
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2613 filed Critical Предприятие П/Я В-2613
Priority to SU803004432A priority Critical patent/SU942189A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU942189A1 publication Critical patent/SU942189A1/ru

Links

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

1
Изобретение огиосигс  к устройствем авгокГатики растровых элек1ронных микроскопов (РЭМ).
Иэвесгвд{Различные схемы и устройства автоматической фокусировки изображени  в РЭМ, использующие те или иные критерии фокусировки 1.
Их недостатком  вл етс  узкий диапазон работы разверток, в котором функционируют эти устройства.,д Наиболее близким по технической сущности к 1федлага«4ому  вл етс  устройство автоматической фокусировки, содержащее систему формировани  злектровного зонпа с дополнительной фокусиру- 5 юшей линзой и схему обратной св зи, включающую последова тельнрсоедиве& иые детектор электронов, усгшитель, ок иас ерени  и регул тор тока дополнительной линзы. БЛОК измерени  включает по- 20 лосовой фильтр высоких частот (ВЧ) и измеритель мощности. Критерием наилучшей фокусировки служит максимальна  величина указанной мощности.
Спектр видессигнала в РЭМ определ етс  длительностью кадра и числом строк в кадре. Число строк выб1фаетс  из количества элементов разлохдашш. Современный микроскоп имеет широкий выбор времени длительности кадра и числа строк в кадре, что определ ет изменение верхней граничной частоты спектра видеосигнала в широких пределах. Выделение полезного сигнала, управл ющего работой системы автофокусировки, производитс  с помошыо избирательного полосового усилител , а выбор резонансной частоты усилител  осуществл ют возможно ближе к верхней граничной частоте спектра видеосигнала С 2.
Дл  работы системы автофокуснровки, построенной на этом пргащше, в широком диапазоне длительностей кадра при возможных наборах числа строк в кадре резонансный усйЕлитель необходимо вьшолн ть перестраиваемым в широком диапазоне частот (ор дес тков горц до дес тков килогерц), что конструктивно вьшолнигь трудно, поэтому ограничиваютс  узким диапазоном работы развертки, дл  которого настроен усилитель.
Цель изобретени  - расширение диапазона рабочих режимов по длительности развертки при исследовании объектов со значительным измененном рельефа поверхности .
Указанна  цель достигаетс  тем, что в устройстве фокусировки изображени  в РЭМ, содержащем систему формировани  электронного зонда с дополнительной фокусирующей линзой и последовательно соединенные детектор электронов, усилитель , блок измерени  и регул тор ток дополнительной линзы, блок измерени  выполнен в виде последовательно соединенных множительного блока и интегратора , а между усилителем и множительным €локом паралельно подключена лини  задержки.
На чертеже показана схема предлагаемого устройства.
Электронна  пушка I, конденсорна  система 2, формирующа  линза 3, дополни тельна  фокусирующа  линза 4, растрова  отклон юща  система 5 и исследуемый объект 6 расположены последовательно по ходу электронного зонда.
Детектор 7 электронов электрически соединен с усилителем 8, выход которого электрически соединен с линией 9 задержки и множительным блоком Ю, Лини  9 задержки се динена со вторым входом множительного блока IО, которы элек1рически соединен с входом интегратора 11, выход которого соединен с экстремальным регул тором 12 тока, а выход последнего соединен с дополнительной фокусирующей линз.ой 4, Индикатор 13 изображени  соединен с усилителем 8.
Устройство работает следующим образом .. .
Электронна  пушка I, ковденсорна  , система 2, формирующа  линза 3, растрова  отклон юща  система 5 с по-, мощью электронного зонда обеспечивают поэлементное разложевд1е во времени изображени  поверхности объекта 6 в виде потока вторичных электронов, в ко торых заключена информаци  о рельефе поверхности исследуемого объекта. Поток вторичных электронов преобразуетс  детектором 7 в аналоговый электрический сигнал.
Электрический сигнал с выхода детектора 7 поступает на вход предварительного усилител  8, где он усиливаетс  до уровн , необходимого дл  нормальной работы индикатора 13, с выхода предусили тел  сигнал поступает также на один из входов множительного блока 10 и вход линии 9 задержки.
Лини  9 задержки, множительный блок 10 и интегратор II образуют аналоговое решающее устройство, которое вычисл ет автокоррел ционную функцию сигнала, поступающего с выхода предварительного усилител  8.
ЕСЛИ электронное изображение сфокусировано , значение автокоррел ционной функции, т.е. сигнал на выходе интегратора II, достигает максимального значени .
При расфокусировке изображени  значение автокоррел ционной функции уменьшаетс  и выходное напр жение интегратора также уменьшаетс .
При движении первичного электонного зонда по строке различным точкам объекта соответствуют различные положени  фокусировки, при этом на высоких выступах или глубоких впадинах поверхности объекта происходит дефокусировка изображени .
При дефокусировке, т.е. при отклонении выходного напр жени  от максимального значени , на выходе экстремального регул тора 12 тока реализуетс  сигнал ошибки, который,  вл  сь рабочим ТОК.01Л- дополнительной фокусирующей лиазы , устран ет дефокусировку электронного изображени .
Таким образом, предлагаемое выполнение системы автофокусировки изображени  обеспечивает получение автокоррел ционной функции видиосигнала, котора   вл етс  его энергической характеристикой , описывающей скорость изменени  сигнала без разложени  на гармонические составл ющие. Это обсто тельство при соотве1х;твующем выборе времени коррел ции обеспечивает работу устройства автоматической фокусировки во всем диапазоне развертки растрового изображени ., получаемого в РЭМ .
Использование предлагаемого устройства позвол ет расширить ассортимент исследуемых объектов с более развитым и сложным рельефом, что обеспечивает получение информации, наиболее близкой к реальной.

Claims (2)

  1. Формула изобретени 
    Устройство автоматической фокусировки изображени  в растровом электронном микроскопе, содержащее, систему
    формировани  электронного зонда с дополнительной фокусирующей линзой, последовательно соединенные детектор электронов , усилитель, блок измерени  и регул тор тока дополнительной фокусирующей линзы, отличающеес  тем, что, с целью расширени  диапазона рабочих режимов по длительности развертки при исследовании объектов со значительным изменением рельефа поверхности , блок измерешга вьшолнен в
    виде последовательно соединенных множительного блока и интегратора, а между усилителем и множительным блоком включена лини  задержки.
    Источники информации, прин тые во внкмавие при экспергазе
    Л. Патент Японии № 48-43953, кл.. 99 С ЗО9, опублик. 1976.
  2. 2. Патент Японии № 49-22575, кл. 99 С 309, опублик. 1974 (прототип),
SU803004432A 1980-11-17 1980-11-17 Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе SU942189A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803004432A SU942189A1 (ru) 1980-11-17 1980-11-17 Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803004432A SU942189A1 (ru) 1980-11-17 1980-11-17 Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU942189A1 true SU942189A1 (ru) 1982-07-07

Family

ID=20926120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU803004432A SU942189A1 (ru) 1980-11-17 1980-11-17 Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU942189A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011021957A1 (ru) * 2009-08-20 2011-02-24 Kucherenko, Alexy Valentinovich Получение трехмерного изображения с использованием растрового электронного микроскопа

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011021957A1 (ru) * 2009-08-20 2011-02-24 Kucherenko, Alexy Valentinovich Получение трехмерного изображения с использованием растрового электронного микроскопа

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3937959A (en) Method and apparatus for automatically focusing
US3896304A (en) Automatic focus adjustment means
SU942189A1 (ru) Устройство автоматической фокусировки изображени в растровом электронном микроскопе
JPS5730253A (en) Secondary electron detector for scan type electron microscope
US4329032A (en) Automatic focus indicating device for camera
US4978856A (en) Automatic focusing apparatus
JPS5492050A (en) Method and apparatus for astigmatic correction of scanning electronic microscope and others
US4272782A (en) Method of and apparatus for adjusting an image intensifier chain
EP0028509B1 (en) Indicator for measuring thickness
JPH0766770B2 (ja) 電子線照射装置
US4698503A (en) Focusing apparatus used in a transmission electron microscope
JPH06243812A (ja) 走査電子顕微鏡
DE3807659C2 (ru)
JPS56150303A (en) Surface form measuring device using scan-type electronic microscope
US4587416A (en) Focus detecting apparatus for microscope or camera
JPS58137948A (ja) 走査電子顕微鏡等の焦点合わせ方法
SU983822A1 (ru) Импульсный корпускул рный микроскоп
CN220509208U (zh) 一种切伦科夫二次谐波显微镜成像系统
JPS63119147A (ja) 荷電粒子線の集束状態を検出する装置
SU57689A1 (ru) Устройство дл анализа формы кривой, графически нанесенной на неподвижной поверхности
JPS5816136Y2 (ja) 電子線走査型装置の焦点合せ装置
SU555378A1 (ru) Система экстремального управлени фокусировкой электронного луча
JPH0630320A (ja) フォーカス状態表示装置
SU703872A1 (ru) Устройство дл анализа поверхности микрообъектов
SU1518725A1 (ru) Устройство дл определени комплексных компонент переменного поверхностного нат жени