SU877382A1 - Device for testing instrument functioning under dynamic loads - Google Patents

Device for testing instrument functioning under dynamic loads Download PDF

Info

Publication number
SU877382A1
SU877382A1 SU782635598A SU2635598A SU877382A1 SU 877382 A1 SU877382 A1 SU 877382A1 SU 782635598 A SU782635598 A SU 782635598A SU 2635598 A SU2635598 A SU 2635598A SU 877382 A1 SU877382 A1 SU 877382A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
unit
input
control unit
parameters
dynamic loads
Prior art date
Application number
SU782635598A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Олег Леонтьевич Барбаш
Александр Иосифович Брикман
Владимир Николаевич Евграфов
Анатолий Борисович Жуков
Владимир Евгеньевич Сенюшкин
Владимир Михайлович Сидоров
Original Assignee
Новосибирский электротехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Новосибирский электротехнический институт filed Critical Новосибирский электротехнический институт
Priority to SU782635598A priority Critical patent/SU877382A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU877382A1 publication Critical patent/SU877382A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ПРИБОРОВ НА ФУНКЦИОНИРОВАНИЕ В УСЛОВИЯХ ДИНАМИЧЕСКИХ(54) DEVICE FOR TESTING DEVICES FOR FUNCTIONING IN DYNAMIC CONDITIONS

II

Изобретение относитс  к испытательной технике, а именно к устройствам дл  испытани  приборов на функционирование в ус-, лови х динамических нагрузок.The invention relates to testing equipment, in particular, devices for testing instruments for operation under usable dynamic loads.

Известно устройство дл  разбраковки полупроводниковых приборов, содержащее механизм нагружени , привод, узел загрузки , блок измерений 1.A device for grading semiconductor devices is known, comprising a loading mechanism, an actuator, a loading unit, a measuring unit 1.

Недостаток устройства невозможность управлени  параметрами нагружени  в процессе испытани .The lack of the device is the inability to control the loading parameters during the test.

Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  устройство дл  испытани  приборов на функционирование в услови х динамических нагрузок, содержащее механизм нагружени , подключенный к его приводу блок управлени , задатчик программы испытаний , подключенный ко входу блока управлени , задатчик электрических режимов, блок отбраковки, ко входгш которого подключены задатчик электрических режимов, блок эталонных уставок, аппаратуруизмерени  параметров прибора, подключенную к блоку отбраковки, блок сравнени , под- Ключениый к аппаратуре измерени  параметров и блоку эт;1.1)1.1ных уставок, индикатор функииопирпнлни , подключенный кНАГРУЗОКClosest to the present invention is a device for testing instruments for operation under dynamic loads, comprising a loading mechanism, a control unit connected to its drive, a test program master, connected to the control unit input, an electrical mode setter, a reject unit, to which input unit of electric modes, reference setpoint unit, instrument for measuring instrument parameters, connected to the rejection unit, comparator unit, connected to the equipment measured and the parameters and the unit; 1.1) 1.1 settings, the function indicator, connected to the LOADS

входу и выходу блока отбраковки, ицифровые регистраторы измеренных параметров (2).input and output of the rejection unit, digital recorders of measured parameters (2).

Устройство позвол ет проводить испытание приборов, на функционирование в услови х вибраций, возбуждаемых в трехThe device allows for the testing of devices, for functioning under the conditions of vibrations excited in three

взаимно перпендикул рных иаправлени х. Однако результаты измерени  электрических параметров прибора, сравниваемые с эталонными, не вли ют на режим возбуж даемых вибраций, что снижает уровень ав mutually perpendicular and directions. However, the results of measuring the electrical parameters of the device, compared with the reference ones, do not affect the mode of excited vibrations, which reduces the level

... томатизации процесса испытаний.... tomatoization of the testing process.

Цель изобретени  - повышение уровн  автоматизации испытаний.The purpose of the invention is to increase the level of test automation.

Указанна  цель достигаетс  тем, что выход блока сравнени  подключен ко входу блока управлени  механизмом нагружени This goal is achieved by the fact that the output of the comparator unit is connected to the input of the control unit of the loading mechanism

ts и входу блока отбраковки.ts and the input block rejection.

На чертеже представлена блок-схема устройства.The drawing shows the block diagram of the device.

Устройство содержит механизм нагружени , например копер I, подключенный к его приводу блок 2 управлеии , задатчик 3The device contains a loading mechanism, for example, a pile driver I, a control unit 2 connected to its drive, a setting unit 3

20 программы испытаний, подключенный ко20 test programs connected to

входу блока 2 управлени , задатчик 4 элект-рических режимов, блок 5 отбраковки, коthe input of the control unit 2, the setting device of 4 electrical modes, the rejection unit 5, which

входам которого подключен задатчик 4the inputs of which is connected master 4

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Устройство для испытания приборов на функционирование в условиях динамических нагрузок, содержащее механизм нагружения, подключенный к его приводу блок управления, задатчик программы испытаний, подключенный ко входу блока управления, задатчик электрических режимов, блок отбраковки, ко входам которого подключены задатчик электрических режимов, блок эталонных уставок, аппаратуру измерения параметров прибора, подключенную к блоку отбраковки, блок сравнения, подключенный к аппаратуре измерения параметров и блоку эталонных уставок, индикатор функционирования, подключенный к входу и выходу блока отбраковки, и цифровые регистраторы измеренных параметров, отличающееся тем, что, с целью повышения уровня автоматизации испытаний, выход блока сравнения подключен ко входу блока управления механизмом нагружения и входу блока отбраковки.Device for testing devices for operation under conditions of dynamic loads, containing a loading mechanism, a control unit connected to its drive, a test program master, connected to the control unit input, an electric mode setter, a rejecting unit, an electric mode setter connected to the inputs, a reference set unit , instrument for measuring the parameters of the device connected to the rejection unit, comparator connected to the equipment for measuring the parameters and the unit of reference settings, indie a function catcher connected to the input and output of the rejection unit, and digital recorders of measured parameters, characterized in that, in order to increase the level of test automation, the output of the comparator is connected to the input of the control unit of the loading mechanism and the input of the rejection unit.
SU782635598A 1978-06-21 1978-06-21 Device for testing instrument functioning under dynamic loads SU877382A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782635598A SU877382A1 (en) 1978-06-21 1978-06-21 Device for testing instrument functioning under dynamic loads

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782635598A SU877382A1 (en) 1978-06-21 1978-06-21 Device for testing instrument functioning under dynamic loads

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU877382A1 true SU877382A1 (en) 1981-10-30

Family

ID=20773125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782635598A SU877382A1 (en) 1978-06-21 1978-06-21 Device for testing instrument functioning under dynamic loads

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU877382A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4003246A (en) Specimen crack stress intensity control loop for test device
JPH04102080A (en) Semiconductor evaluation circuit
SU877382A1 (en) Device for testing instrument functioning under dynamic loads
US4096741A (en) Materials testing device
SU1486871A1 (en) Method of fatigue testing specimens
SU968742A1 (en) Acousto-emission method of testing materials
JPS5590840A (en) Method and device for measuring flexural rigidity of filament-like material
JPS5627633A (en) Device for inspecting abnormality in machine
SU1194131A1 (en) Bench for determining the overheating of turbine blade from value of internal friction
SU1580244A1 (en) Method of tuning away from clearance in eddy current inspection
SU983501A1 (en) Method of material extension testing
SU933378A1 (en) Cutting mode optimizer
SU634141A1 (en) Apparatus for resonance testing of objects
SU1462361A1 (en) Device for collecting and processing the results of impact testing
SU403349A1 (en) Method of measuring the dynamic characteristics of materials
US4103541A (en) Method of and a device for measuring a relaxation phenomenon
SU771510A1 (en) Device for active monitoring of cutting tool state
SU1532865A1 (en) Method of determining ultimate strength of ceramic materials
SU1033968A1 (en) Fibrous material structure determination method
JPH0785100B2 (en) IC test equipment
SU941868A1 (en) Device for rolling bearing diagnostics
SU1058715A1 (en) Method of determining optimum cutting speed
SU1666916A1 (en) Method for determining current deformations of force transmission circuit elements
SU1502965A1 (en) Vibration meter
SU591747A1 (en) Device for automatic detecting of natural oscillation frequency fluctuation of specimen being tested