SU877382A1 - Device for testing instrument functioning under dynamic loads - Google Patents
Device for testing instrument functioning under dynamic loads Download PDFInfo
- Publication number
- SU877382A1 SU877382A1 SU782635598A SU2635598A SU877382A1 SU 877382 A1 SU877382 A1 SU 877382A1 SU 782635598 A SU782635598 A SU 782635598A SU 2635598 A SU2635598 A SU 2635598A SU 877382 A1 SU877382 A1 SU 877382A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- unit
- input
- control unit
- parameters
- dynamic loads
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ПРИБОРОВ НА ФУНКЦИОНИРОВАНИЕ В УСЛОВИЯХ ДИНАМИЧЕСКИХ(54) DEVICE FOR TESTING DEVICES FOR FUNCTIONING IN DYNAMIC CONDITIONS
II
Изобретение относитс к испытательной технике, а именно к устройствам дл испытани приборов на функционирование в ус-, лови х динамических нагрузок.The invention relates to testing equipment, in particular, devices for testing instruments for operation under usable dynamic loads.
Известно устройство дл разбраковки полупроводниковых приборов, содержащее механизм нагружени , привод, узел загрузки , блок измерений 1.A device for grading semiconductor devices is known, comprising a loading mechanism, an actuator, a loading unit, a measuring unit 1.
Недостаток устройства невозможность управлени параметрами нагружени в процессе испытани .The lack of the device is the inability to control the loading parameters during the test.
Наиболее близким к предлагаемому вл етс устройство дл испытани приборов на функционирование в услови х динамических нагрузок, содержащее механизм нагружени , подключенный к его приводу блок управлени , задатчик программы испытаний , подключенный ко входу блока управлени , задатчик электрических режимов, блок отбраковки, ко входгш которого подключены задатчик электрических режимов, блок эталонных уставок, аппаратуруизмерени параметров прибора, подключенную к блоку отбраковки, блок сравнени , под- Ключениый к аппаратуре измерени параметров и блоку эт;1.1)1.1ных уставок, индикатор функииопирпнлни , подключенный кНАГРУЗОКClosest to the present invention is a device for testing instruments for operation under dynamic loads, comprising a loading mechanism, a control unit connected to its drive, a test program master, connected to the control unit input, an electrical mode setter, a reject unit, to which input unit of electric modes, reference setpoint unit, instrument for measuring instrument parameters, connected to the rejection unit, comparator unit, connected to the equipment measured and the parameters and the unit; 1.1) 1.1 settings, the function indicator, connected to the LOADS
входу и выходу блока отбраковки, ицифровые регистраторы измеренных параметров (2).input and output of the rejection unit, digital recorders of measured parameters (2).
Устройство позвол ет проводить испытание приборов, на функционирование в услови х вибраций, возбуждаемых в трехThe device allows for the testing of devices, for functioning under the conditions of vibrations excited in three
взаимно перпендикул рных иаправлени х. Однако результаты измерени электрических параметров прибора, сравниваемые с эталонными, не вли ют на режим возбуж даемых вибраций, что снижает уровень ав mutually perpendicular and directions. However, the results of measuring the electrical parameters of the device, compared with the reference ones, do not affect the mode of excited vibrations, which reduces the level
... томатизации процесса испытаний.... tomatoization of the testing process.
Цель изобретени - повышение уровн автоматизации испытаний.The purpose of the invention is to increase the level of test automation.
Указанна цель достигаетс тем, что выход блока сравнени подключен ко входу блока управлени механизмом нагружени This goal is achieved by the fact that the output of the comparator unit is connected to the input of the control unit of the loading mechanism
ts и входу блока отбраковки.ts and the input block rejection.
На чертеже представлена блок-схема устройства.The drawing shows the block diagram of the device.
Устройство содержит механизм нагружени , например копер I, подключенный к его приводу блок 2 управлеии , задатчик 3The device contains a loading mechanism, for example, a pile driver I, a control unit 2 connected to its drive, a setting unit 3
20 программы испытаний, подключенный ко20 test programs connected to
входу блока 2 управлени , задатчик 4 элект-рических режимов, блок 5 отбраковки, коthe input of the control unit 2, the setting device of 4 electrical modes, the rejection unit 5, which
входам которого подключен задатчик 4the inputs of which is connected master 4
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782635598A SU877382A1 (en) | 1978-06-21 | 1978-06-21 | Device for testing instrument functioning under dynamic loads |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782635598A SU877382A1 (en) | 1978-06-21 | 1978-06-21 | Device for testing instrument functioning under dynamic loads |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU877382A1 true SU877382A1 (en) | 1981-10-30 |
Family
ID=20773125
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782635598A SU877382A1 (en) | 1978-06-21 | 1978-06-21 | Device for testing instrument functioning under dynamic loads |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU877382A1 (en) |
-
1978
- 1978-06-21 SU SU782635598A patent/SU877382A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4003246A (en) | Specimen crack stress intensity control loop for test device | |
JPH04102080A (en) | Semiconductor evaluation circuit | |
SU877382A1 (en) | Device for testing instrument functioning under dynamic loads | |
US4096741A (en) | Materials testing device | |
SU1486871A1 (en) | Method of fatigue testing specimens | |
SU968742A1 (en) | Acousto-emission method of testing materials | |
JPS5590840A (en) | Method and device for measuring flexural rigidity of filament-like material | |
JPS5627633A (en) | Device for inspecting abnormality in machine | |
SU1194131A1 (en) | Bench for determining the overheating of turbine blade from value of internal friction | |
SU1580244A1 (en) | Method of tuning away from clearance in eddy current inspection | |
SU983501A1 (en) | Method of material extension testing | |
SU933378A1 (en) | Cutting mode optimizer | |
SU634141A1 (en) | Apparatus for resonance testing of objects | |
SU1462361A1 (en) | Device for collecting and processing the results of impact testing | |
SU403349A1 (en) | Method of measuring the dynamic characteristics of materials | |
US4103541A (en) | Method of and a device for measuring a relaxation phenomenon | |
SU771510A1 (en) | Device for active monitoring of cutting tool state | |
SU1532865A1 (en) | Method of determining ultimate strength of ceramic materials | |
SU1033968A1 (en) | Fibrous material structure determination method | |
JPH0785100B2 (en) | IC test equipment | |
SU941868A1 (en) | Device for rolling bearing diagnostics | |
SU1058715A1 (en) | Method of determining optimum cutting speed | |
SU1666916A1 (en) | Method for determining current deformations of force transmission circuit elements | |
SU1502965A1 (en) | Vibration meter | |
SU591747A1 (en) | Device for automatic detecting of natural oscillation frequency fluctuation of specimen being tested |