Изофвгекие огноснтс к интерференционным toBKocn(HbiM оптическим системам в может найти применение в различных оагическвх устройствах, фильтрующих спехгр излучени . Йэ&естна конструкци длинноволнового Обрезающего фильтра наоснове ннтерфе (екцвсш1ого оптического покрыти Щ. Недостатком его вл етс недостаточно высокое пропускание в рабочей област С1юкфра с центром на длине волны Хр и бооьшое количество неравнотолщинных слоев Идвесгаа также к струкци оптическо го |а{П рф енциош1аго дпинновош ове ло . , содержащего интерференционную) ,с гемУ| состо щую из элементарных фкйьтров , каждый вэ котсрых содержит Ч1КПО чередующихс слоев из веaxectB с высоким t и низким П аскааа тей мв преломлени , в расположенную на ПОСЛоЖке с показателем преломлени Пп оокчвв ющимс зависимости П, Ц0.9 - 1.2) П t2l. Небольшие ошибки в оптической толщине таких слоев, а также в величине показателей преломлени неизбежны в процессе изготовлени покрыти , а сии привод т к по влению значительных провалов в Чзпектральной характеристике коэ4фщиента пропускани фильтра Т в рабочей области спектра. Целью изобретени вл етс увеличе- . ние пропускани фильтра в рабочей области спектра с центром на длине волны 1р , Указанна цель достигаетс тем, что в (М1тическом интерференционном длинноволновом отрезающем фильтре: , содержащем интерференционную систему, состо щую из элементарных фильтров, каждагй из которых содержит нечетное число чередующихс слоев из веществ с высоким Па и tljj низким показател ми преломлени , и расположенную на подложке с показателем преломлени Пд , подннн юЩ1 лс зависимости Пц (0,9 1 ,2)Пй , между подложкой н системой введены два сло с показател ми преломлени Пц и fig и оптической толщиной (О,О75 - 0,085)Хр , а оптические толщины слоев элементарных фильтров убы вают по мере удалени от подложки и отношение оптических толщин любых соседних фильтров равно 1:(0,6-0,7). Кроме того, со стороны воздуха нанесен дополнительный слой из вещества с показателем преломлени п., , подчин ющимс соотношенто п ( rig ) , и оптической толщиной 0,25 Яр . На фиг, 1 схематически изображена кснструкцв фильтра. Он состоит из подложки 1, элементарных фильтров 2,3„. и введенных слоев К+1, К+2, К+3 Така кснструкци обладает высоким коэффициентом пропускани (0,45В рабочей области спектра -0,7) (гаеЯоо - центральна длина волны отражени элементарного фильтра, ближайше1о к подложке) и выравненной спект ральной характеристикой. Центральна длина волны рабочей обла ти спектра Я р выб1фаетс из соотнощени Яр (-1,45 - 1,53)Л.оа. На фиг. 2 приведен график зависимост коэффициента пропускани длинноволнового отрезающего фильтра от относительной длины волны Д,о(1 /Я У которого общее число слоев ni - 23, 6 Пи 4,0 И ц 1,8. Система состоит из двух элементарных фильтров, первый фильтр содер жит il слоев, второй - 9, отношение оптических толщин слтев элементарных фильтров равно 1:0,7; Дополнительные слои. Прилагающие к подложке, имеют тол щину 0,0 81 р, при lp/XQj l,55 и состо . из веществ с показател ми преломлени И ц 1,8 И И -4,0;Со стороны воздуха нанесен слой с оптической толщиной 0,25 Д-р н показателем преломлени n2i 1,6. Формула изобретени 1.Оптический интерференционный длинноволновый отрезающий фильтр, содержащий интерференционную систему, состо щую из элементарных фильтров, каждый на которых содержит нечетное число чередующихс слоев из ..веществ с высокимп и низкимг цпоказател ми прелом .Ленин, и расположенную на подложке с показателем преломлени , подчин ющимс зависимости Пц (0,9 - 1,2)Пз , (Отличающийс тем, что, с целью увеличени пропускани фильтра в рабочей области спектра с центром на длине волны Хр , между подложкой и системой введены два сло с показател ми преломлени Пц и По н опт.ической толщиной (0,О750 ,О85)Х.р , а оптические толщины слоев элементарных фильтров убьюают по мере удалени от подложки, и отнощение оптических толщин любых соседних элементарных ф ильтров равно 1:(0,6-0,7). 2.Фильтр по п, 1, отличающийс тем, что со стороны воздуха нанесен дополнительный слой из вещества с показателем преломлени п , подчин ющимс соотнощению .( и - н и оптической толщиной 0,25Хр. Источники информации, во внимание при экспертизе 1,Авторское свидетельство СССР № 6О6152, О2 В 5/28, . 00.11.76.