SU573107A1 - Интерференционный фильтр - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к области интерференционных покрытий физики тонких пленок и может найти широкое применение в оптике, астрономии/ спектральных и космических исследовани х . Известны интерференционные фильтр которые содержат стекл нную, кварцевую или какую-либо другую прозрачную ПО.ЦЛОЖКУ, два четвертьволновых зеркала , образованных чередующимис  сло  ми диэлектриков с различными показател ми преломлени , между зеркала ми расположен промежуточный диэлектрический слой с оптической толщиной кратной половине длины световой волны 1. Известен также интерференционный фильтр следующей конструкции: подложка , два четвертьволновых зеркала разделенных промежуточным слоем, оптическа  толщина которого обычно не превышает А 2. Однако такой фильтр не может одновременно обла.дать малой полушириной и большим пропусканием. Это обу словлено вли нием поглощени  в четвертьволновых сло х, образующих зер кала интерференционного фильтра. Цель изобретени  - сужение полосы пропускани  промежуточного сло ,т.е. усовершенствование интерференционного фильтра, привод щее к уменьшению его полуширины без уменьшени  пропускани . Это достигаетс  тем, что в известном интерференционном фильтре, содержащем подложку, два четвертьволновых зеркала, разделенных промежуточным слоем, оптическа  толщина которого кратна половине длины волны излучени , пропускаемого фильтром, промежуточный слой выполнен многослойным . На чертеже представлена конструкци  предлагаемого интерференционного фильтра. Он содержит подложку 1, два четвертьволновых зеркала 2 и 3, между которыми находитс  многослойный промежуточный слой 4. В качестве промежуточного сло  используетс  система черед тощихс  слоев диэлектриков. Промежуточный слой выполнен многослойным потому, что простое увеличение толщины его невозможно, так как вещества, примен емые дл  создани  интерференционных фильтров в видимой области спектра (сернистый цинк ZnS криолий NajAtF, фтористый магний MgF2 толщинах более 1,5 мкм растрескиваютс . Путем же использовани  промежуточной систег и из чередующихс  слоев диэлектриков, оптическа  толщина которых кратна половине длины световой волны, можно получить промежуточный слой с большой эффективной толщиной и в соответствии с этим уменьшить ширину полосы пропускани  интерференционного фильт ра, Полуширина спектральной кривой 7,4 фильтра уменьшаетс  потому, что она, как известно, обратно пропорциональна толщине промежуточного сло . Пример . Были рассчитаны и изготовлены интерференционные фильтры предлагаемой конструкции и их свойства сравнены с известными по литературным данным свойствами таких же фильтров ранее примен ющейс  кон-. струкции. Данные сравнени  приведены в таблице

№1 15.Н.ВН. . .2Н . , .НВ520

№2 17.Н.ВИ. ..4Н4В4Н. . ЛШ700

№3 17.Н.ВП...4Н4В4Н...НВ700 Здесь Л - длина волны, дл  которой пропускание Т фильтра максимально: Т - , у - полуширина полосы пропускани  фильтра. Характеристики фильтра № 1 вз ты из работы 2, Фильтры №№ 2 и 3 имеют предлагаемую конструкцию. Из таблицы видно, что при одинако вом числе четвертьволновых слоев, об разующих зеркало интерференционного фильтра,фильтры предлагаемой конструкции имеют существенно лучшие характеристики, Технико-экономический эффект применени  предлагаемого интерференционного фильтра состоит в увеличении чувствительнос-ти регистрирующей аппаратуры. Предлагаемое устройство может быть использовано сразу, так как оно не предусматривает изменени  технологии изготовлени  диэлектрических светофильтров, во многих област х науки и техники: оптике,

0,0068

Сернистый цинк, криолит 0,0033

Сернистый цинк, криолит 0,0038

Claims (2)

1. Сернистый цинк, криолит астрономии, спектральных и космических исследовани х. Формула изобретени  Интерференционный фильтр, содержащий подложку с нанесенными на нее двум  четвертьволновыми эаркалами, разделенными промежуточным слоем, оптическа  толщина которого кратна половине рабочей длины волны излучени , отличающийс  тем, что, с целью сужени  полосы пропускани , промежуточный слой выполнен из набора слоев, оптическа  толщина которых кратна половине рабочей длины волны„ источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Крылова Т.Н. Интерференционные фильтры. Л., 1973, с. 12-17.
2. 2.Фурман Ш.А. и др. Изготовление узкополосных интерференционных фильтров с относительной полушириной, меньшей 0,005с Ло, 1969, с. 7-12.