SU859807A1 - Способ контрол диаметра микропроволоки - Google Patents

Способ контрол диаметра микропроволоки Download PDF

Info

Publication number
SU859807A1
SU859807A1 SU792853505A SU2853505A SU859807A1 SU 859807 A1 SU859807 A1 SU 859807A1 SU 792853505 A SU792853505 A SU 792853505A SU 2853505 A SU2853505 A SU 2853505A SU 859807 A1 SU859807 A1 SU 859807A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microwire
monitoring
diameter
microwire diameter
image
Prior art date
Application number
SU792853505A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Кузьмич Александров
Виктор Николаевич Ильин
Сергей Владимирович Прядченко
Original Assignee
Институт электроники АН БССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт электроники АН БССР filed Critical Институт электроники АН БССР
Priority to SU792853505A priority Critical patent/SU859807A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU859807A1 publication Critical patent/SU859807A1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДИАМЕТРА МИКРОПРОВОЛОКИ
t
Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности дл  контрол  диаметра микропроволо- ки.
Известен фотоэлектрический способ контрол  диаметра микропроволоки, заключающийс  в том, что получают оптическое изображение микропроволоки , анализируют это изображение подвижной щелью, регистрируют изменение светового потока фотоэлементом, длительность выходного электрического сигнала которого  вл етс  мерой отклонени  размера контролируемой микропроволоки D1.
Точность контрол  по данному способу недостаточна и зависит от нестабильности скорости или частоты сканировани  диафрагмы, нелинейности зависимости измер емого размера от длительности считываемого импульса величи1&1 скорости движени  контролируемой микропроволоки.
Наиболее близким техническим решением к предлагаемому  вл етс  способ контрол  диаметра микропроволо- ки, заключаюшсийс  в том, что освещают микропроволоку световым потоком, формируют ее увеличенное изображение , сканируют это изображение в направлении линии измерени , раздваивгиот его на два полуконтрастных изображени , поворачивают одно полу10 конхрастное изображение относительно другого на 180, преобрг зуют световой поток в моменты касани  и разъединени  движущихс  навстречу друг другу полуконтрастных изображений
5 в импульс фототока и по их длительности суд т о размере контролируемой микропроволоки 2.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР № 241019, кл. G 01 В 11/08, 1969.
2.Авторское свидетельство СССР по за вке № 2699558/25-28 (приоритет
от 19.12.1978), кл. G-01 В 11/08 (прототип).
SU792853505A 1979-12-17 1979-12-17 Способ контрол диаметра микропроволоки SU859807A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792853505A SU859807A1 (ru) 1979-12-17 1979-12-17 Способ контрол диаметра микропроволоки

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792853505A SU859807A1 (ru) 1979-12-17 1979-12-17 Способ контрол диаметра микропроволоки

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU859807A1 true SU859807A1 (ru) 1981-08-30

Family

ID=20865174

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792853505A SU859807A1 (ru) 1979-12-17 1979-12-17 Способ контрол диаметра микропроволоки

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU859807A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS53110553A (en) Measurement apparatus of gradients of curved faces
ATE44096T1 (de) Temperaturmessung.
GB1391963A (en) Method of and apparatus for determining the diameter of a wire rod or tube having a circular cross-section by means of photo electric scanning
EP0250354A3 (en) Apparatus and method for determining position with light
FR2427083B1 (fr) Sonde de mesure comportant des capteurs optiques
SU859807A1 (ru) Способ контрол диаметра микропроволоки
DE69535479D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur positions- und bewegungsmessung
SU765651A1 (ru) Способ контрол линейных размеров периодических микроструктур
ATE64198T1 (de) Positionsmessvorrichtung mit optischen gittern.
JPS5852508A (ja) 形状測定装置
SU832326A1 (ru) Устройство дл измерени деформацийОб'ЕКТА
ATE60948T1 (de) Positionsmesseinrichtung.
SU917142A1 (ru) Устройство дл измерени электрических характеристик приемно-излучающих узлов фотоэлектрических импульсных датчиков
SU1320663A1 (ru) Устройство дл измерени рассто ни до отражающей поверхности
JPS6466503A (en) Surface displacement measuring apparatus
SU1191873A1 (ru) Устройство дл измерени среднего шага перфорации кинопленки
SU659895A1 (ru) Устройство дл контрол изделий
SU976292A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл измерени поперечных перемещений предмета
JPS5323657A (en) High precision length measurilng system o f filament materials
SU844986A1 (ru) Емкостный преобразователь
SU1111025A1 (ru) Способ измерени линейных размеров микрообъектов
SU1571508A1 (ru) Устройство дл измерени скорости движени объекта
SU729439A1 (ru) Способ измерени радиуса кривизны цилиндрической поверхности
SU849000A1 (ru) Способ определени положени границыОб'ЕКТА
SU1285319A1 (ru) Фотоэлектрический растровый датчик