SU857667A1 - Измерительный криостат - Google Patents

Измерительный криостат Download PDF

Info

Publication number
SU857667A1
SU857667A1 SU772530666A SU2530666A SU857667A1 SU 857667 A1 SU857667 A1 SU 857667A1 SU 772530666 A SU772530666 A SU 772530666A SU 2530666 A SU2530666 A SU 2530666A SU 857667 A1 SU857667 A1 SU 857667A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
cryostat
microwave
vacuum
microwave device
metering
Prior art date
Application number
SU772530666A
Other languages
English (en)
Inventor
Василий Алексеевич Бережной
Василий Иванович Кочкин
Анатолий Васильевич Юрченко
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6028
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6028 filed Critical Предприятие П/Я Р-6028
Priority to SU772530666A priority Critical patent/SU857667A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU857667A1 publication Critical patent/SU857667A1/ru

Links

Description

(54) ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ КРИОСТАТ
Изобретение относитс  к криогенной технике и может быть использова но при конструировании металлических криостатов, предназначенных дл  охлаждени , например СВЧ трактов, работающих в широком диапазоне частот и температур и служащих дл  измерени  параметров СВЧ устройств.
Известны криостаты, используемые дл  измерени  параметров СВЧ устройств при криогенных температурах, содержащие корпус с крышкой, ванны дл  хладагентов (азот, гелий), изол цию и элементы ввода и вывода хладагентов. СВЧ тракт вводитс  и выводитс  из криостата через крышку, а измер емое СВЧ устройство помещаетс  внутри ванны с хладагентом.
Криостат позвол ет измер ть параметры СВЧ устройства в ишроком диапазоне температур от 4,2 К до
ЗООК. .
Однако при смене измер емого объекта требуетс  периодически разгерметизировать криостат, что значительно снижает производительность измерений . .
Известен измерительный криостат/ содержащий герметичный корпус с размещенными в нем измерительной камерой , ваннами дл  хладагентов, вакуумной изол цией, радиационными экранами и регул тором температуры, и съемный вакуумный отсек с индиви5 дуальными средствами откачки. В этом криостате смена образца происходит без нарушени  герметизации вакуумного объема криостата 21 .
Однако за врем  смены объекта по10 вышаетс  температура нижней части экрана и регул тора температуры,что приводит к дополнительному расходу хлс1дагента.
Цель изобретени  - повышение про15 изводительности измерений и снижение расхода хладагентов.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в измерительном криостате, содержащем герметичный корпус с раз20 мещенными в нем измерительной камерой , ваннги ш дл  хлещагентов, вакуумной изол цией, радиационными экранами и регул тором температуры, и съемный вакуумный отсек с индиви25 дуальными средствами откачки, между измерительной камерой и съемным вакуумным отсеком установлен вакуумплотный подвижный фланец, а съемный отсек снабжен подвижным зажимом дл 
30 образца,,
На чертеже схематично изображено устройство.
Криостат состоит из криогенной части 1 и измерительной камеры 2 и содержит верхнюю 3 и нижнюю 4 крыш . ки, вакуумплотно соединенные с герг метичным корпусом 5. Азотна  6 и гелиева  7 ванны расположены в криогенной части криостата и жестко соедине ны с верхней крышкой криостата. На верхней к{нлшсе расположены, элементы ввода 8 и 9 и вывода 10 и II хладагентов . Охлаждаемый СВЧ тракт введен и выведен через боковые стенки криостата и содержит входной 12 и выходной 13 гермовводы на герметичных сильфонах 14 и 15, предназначенных дл  разв зки СВЧ тракта от механических деформаций при изменении температуры . Гермовводы с помощью тонкостенных нержавеющих волноводов 16 и 17 соединены с измер емым СВЧ устройством 1.8, а 11оследнее конструктивно св зано с регулируемым теплообменником 19, Охлаждение нержавеющих (разв зывающих) волноводов npoijiSBOдитс  тепловыми мостами 20 и 21. Регулирование температуры измер емого СВЧ устройства производитс  теплообменником 19 с вентилем - распределителем 22, работающим в режимах паржидкость , и электрическим нагревателем 23. Охлажденное СВЧ устройство окружено защитными (радиационными) экранами 24 с отверсти ми 25 дл  прохода цангового держател  26 с объектом измерени  27. Замена объекта измерени  производитс  через герметичный шлюз 28, содержащий съемный вакуумный отсек 29 с вакуумплотным подвижным фланцем 30, открывающим шлюз при замене объекта измерени . Шлюз вакуумплотно соединен с нижней крышкой криостата. Вал 31 фланца и шток 32 цанги помещены в вакуумноплотные зажимы 33 и 34.
Криостат работает следующим образом .
После сборки СВЧ тракта и элементов криостата прследний откачивают до давлени  10 - Ю мм рт.ст, и заполн ют вначале азотную 6 (при этом давление в криостате снижаетс  до 10 юл рт.ст.), затем гелиевую 7 ванны. При установлении рабочей температуры на измер емом СВЧ устройстве 18 помещают объект измерени  27 в цанговый держатель 26 и направл ют последний в отсек 29 шгаоза 28,; который откачивают (с помощью штуцера 35) до давлени  10 - Ю мм рт.ст Затем ручкой 36 открывают иШюз (убиргиот фланец 30 в канал 37) и помещают объект 27 измерени  с помощью штока 32 цанги в измер емое СВЧ устройство 18, После этого цанга выводитс  в съемный отсек,, который закрываетс  фланцем. После установлени  требуемой рабочей температуры на СВЧ устройстве Криостат готов к измерени м. СВЧ сигнал подаетс  к измер емому СВЧ устройству через гермоввод 12, а выводитс  через гермоввод 13. Рабочую Q температуру измер емого СВЧ устройства регулируют ручкой 38 вентил распределител  22, устанавлива  режим работы теплообменника 19 пар или жидкость (т.е. через теплообменник пропускйуют жидкий или газообразный хладагент), и мощностью электрического нагревател  23.. Пор док замены объекта измерени  такой же, как и при первоначальной уста-, новке.
0 Изобретение позвол ет измер ть параметры СВЧ устройства в диапазоне температур 5-300 К, уменьшить потери охлажденного СВЧ тракта до 0,5 дБ и коэффициента сто чей волны 5 до 1,1-1,15 и проводить замену объекта измерени  без нарушени  режима работы криостата, что значительно повышает точность и производительлость измерений в широком диапазоне Q температур и одновременно уменьшает расход хладагентов.

Claims (2)

1.E.Shuegraf. Impedanzmessung
an KapazitSts dioden bei Mikrowellen . im Temperaturbereich von 4,2 К bis 300 K. Frequenz, 21 (1967), 1, p. 1319 .
2.Патент Франции 2139624, кл. F 25 D 1/00, 1973 (прототип).
SU772530666A 1977-10-06 1977-10-06 Измерительный криостат SU857667A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772530666A SU857667A1 (ru) 1977-10-06 1977-10-06 Измерительный криостат

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772530666A SU857667A1 (ru) 1977-10-06 1977-10-06 Измерительный криостат

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU857667A1 true SU857667A1 (ru) 1981-08-23

Family

ID=20727593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772530666A SU857667A1 (ru) 1977-10-06 1977-10-06 Измерительный криостат

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU857667A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2482404C1 (ru) * 2011-10-05 2013-05-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный космический научно-производственный центр имени М.В. Хруничева" (ФГУП "ГКНПЦ им. М.В. Хруничева") Низкотемпературный термостат

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2482404C1 (ru) * 2011-10-05 2013-05-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный космический научно-производственный центр имени М.В. Хруничева" (ФГУП "ГКНПЦ им. М.В. Хруничева") Низкотемпературный термостат

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4984628A (en) Apparatus for maintaining liquid temperature at a constant level
US5136605A (en) Apparatus for purifying laser gas
JP2000515064A (ja) 大量の製品について化学反応を実行するためにマイクロ波を用いる装置
SU857667A1 (ru) Измерительный криостат
JPS57133636A (en) Film forming device utilizing plasma at low temperature
US2963898A (en) Gas chromatography unit
US3272258A (en) Means for keeping a high degree of temperature stability within a chamber of substantial dimensions
US3672774A (en) Apparatus for spectral analysis of molten substances
US3216210A (en) Cryostat apparatus
Bigeleisen et al. Cryostat for Thermal Measurements between 2–300° K
US3443632A (en) Unitary dual function heat exchanger for gaseous heat carriers
RU180097U1 (ru) Ячейка для лабораторной ик- и рентгеноспектральной диагностики
JPS57203934A (en) Sampler
US3330125A (en) Cryogenic method
SU441507A1 (ru) Радиоспектрометр электронного парамагнитного резонанса
SU1631384A1 (ru) Устройство дл термостатировани исследуемого образца в радиоспектрометрах
Weil et al. Variable temperature EPR cryostat cavity
US3246505A (en) Leak detection method and apparatus
SU1735682A1 (ru) Криостат дл исследовани сверхпровод щих материалов
SU1056036A1 (ru) Электрохимический датчик парциального давлени кислорода в газах
SU1695179A1 (ru) Оптическа вакуумна кювета
SU728039A1 (ru) Устройство дл испытани материалов в услови х низких температур
SU1589148A1 (ru) Способ испытани материалов при повышенных температурах
SU1508063A1 (ru) Криостат
SU945735A2 (ru) Криостат дл механических испытаний образцов