SU85111A1 - A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method - Google Patents

A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method

Info

Publication number
SU85111A1
SU85111A1 SU369638A SU369638A SU85111A1 SU 85111 A1 SU85111 A1 SU 85111A1 SU 369638 A SU369638 A SU 369638A SU 369638 A SU369638 A SU 369638A SU 85111 A1 SU85111 A1 SU 85111A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microscope
electron microscope
examining
diaphragm
metals
Prior art date
Application number
SU369638A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Д.С. Шрайбер
Original Assignee
Д.С. Шрайбер
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Д.С. Шрайбер filed Critical Д.С. Шрайбер
Priority to SU369638A priority Critical patent/SU85111A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU85111A1 publication Critical patent/SU85111A1/en

Links

Description

Сущность описываемого способа заключаетс  в следующем. The essence of the described method is as follows.

Подлежащий исследованию известным образом подготовленный шлиф просматриваетс  в -,еталломикроскопе, на котором установлен прибор дл  измерени  микротвердости.A prepared thin section to be studied in a known manner is examined in a microscopic microscope on which the microhardness measuring device is installed.

Нужное место на шлифе (структурна  составл юща , участок границы зерна и т. п.) подводитс  под пересечение креста нитей в окул ре . Затем, путем передвижени  столика, шлиф последовательно перемещаетс  на 0,15-0,2 мм в каждую сторону по двум взаимно-перпендикул рным направлени м (по кресту нитей). В этих положени .к индентетором прибора делают четыре нажати , подобрав подход илую нагрузку дл  получени  отпечатка нужных (весьма малых) размеров. Таким образом, интересующа  структурна  составл 1СГща  находитс  на пересечении пр мых линий, соедин ющих центры отпечатков. Дл  облегчени  отыскани  нужного участка шлифа он отмечаетс  небольшим колечком с помощью алмазного отметчика.The required place on the thin section (structural component, section of the grain boundary, etc.) is brought under the intersection of the cross of filaments in the ocular. Then, by moving the table, the thin section is sequentially moved by 0.15-0.2 mm in each direction along two mutually perpendicular directions (along the cross threads). In these positions, four taps are made with the indenter of the device, picking up the sludge load to obtain a print of the desired (very small) dimensions. Thus, the structural component of interest is located at the intersection of the straight lines connecting the centers of the prints. To make it easier to find the right section of a thin section, it is marked with a small ring with a diamond marker.

Возможны и другие способы разметки шлифа. Например, не об зательно отпечатки а-б-в-г располагать по кресту, можно их поставить по одной линии (фиг. I) с тем, чтобы крайними-крупными-отпечатками пользоватьс  как координатными метками, а средними- малыми-отмечать положение нужной составл ющей; в сочетании с колечком этот способ разметки  вл етс  вполне надежным.There are other ways of marking thin section. For example, it is not necessary to place the prints of abb-b-d along the cross, they can be put along one line (Fig. I) so that the extreme-large-prints can be used as coordinate marks, and the middle-small marks can mark the position of the desired component; in combination with the ringlet, this method of marking is quite reliable.

С размеченного тем или иным способом щлифа получают известными методами лаковые, оксидные или кварцевые пленки. Последние получают двухступенчатых; процессом с приготовлением полистиролового отпечатка и напылением на него кварца в вакууме.Lacquered, oxide, or quartz films are obtained from known clips in one way or another. The latter receive a two-stage; process with the preparation of polystyrene imprint and deposition on it of quartz in a vacuum.

№85111.- 2 -No. 85111.- 2 -

В отличие от стандартных методов, окисдна  и лакова  пленки после отделени  от поверхности шлифа также монтируютс  на полистиролОвую пластинку. Дл  этого из полистирола специально отпрессовываютс  тонкие (толщиной 0,5-0,6 мм) прозрачные диски, из которых изрезаютс  пр моугольные пластинки. На эти пластинки выливаютс  из промывной ванны окисдные и лаковые пленки. Таким образом , все три типа пленок свод тс  в универсальный препарат с полистироловой подложкой.In contrast to the standard methods, the oxide and lacquer films, after separation from the surface, are also mounted on a polystyrene plate. For this purpose, thin polystyrene (thickness 0.5-0.6 mm) transparent discs are specially pressed out from which rectangular plates are cut. Oxide and lacquer films are poured onto these plates from the wash bath. Thus, all three types of films are reduced to a universal preparation with a polystyrene backing.

Затем любой из препаратов 1 помещают (фиг. 2) на столик 2 биологического мокроскопа 3 пленкой вниз, укладыва  пластинку 4 в виде моста между двум  предметными стеклами 5 и 6 так, чтобы пленка не касалась стекла. Структура пленки рассматриваетс  через полистироловую пластинку при увеличении около 400. Перемеща  столик и ориентиру сь по хорошо видимому колечку, добиваютс  совмещени  координатных отпечатков с крестом нитей и тем самым совмещают исследуемую структуриую составл ющую с оптической осью микроскопа.Then, any of the preparations 1 are placed (FIG. 2) on the table 2 of the biological mokroskop 3 with the film downward, placing the plate 4 in the form of a bridge between two glass slides 5 and 6 so that the film does not touch the glass. The film structure is examined through a polystyrene plate with an increase of about 400. Moving the table and focusing on the well-visible ringlet, coordinate the imprints are aligned with the cross of the filaments and thus combine the structure of the studied component with the optical axis of the microscope.

На корпусе объектива микроскопа имеетс  .ртулка 7 из оргстекла с отверстием под фронтальной линзой объектива и с плоской торповой поверхностью. Торец втулки смазываетс  клеем, и тубус микроскопа осторожно опускаетс  до касани  с полистироловой пластинкой, котора  приклеиваетс  к втулке и может быть подн та при обратном движении тубуса.On the body of the lens of the microscope there is a sleeve 7 of Plexiglas with a hole under the front lens of the lens and with a flat torpal surface. The end of the sleeve is smeared with glue, and the microscope tube is gently lowered until it touches the polystyrene plate, which is glued to the sleeve and can be lifted during the reverse movement of the tube.

Затем на предметное стекло (фиг. 3) кладут объектдиафрагму 8 с отверстием в виде правильного круга диаметром 0,2-0,25 мм и центрируют это отверстие по кресту нитей, рассматрива  диафрагму через полистироловую пластинку. Кра  диафрагмы предварительно также смазываютс  клеем (например, дектриновым). Тубус вторично опускаетс , пластинка с пленкой прижимаетс  к диафрагме и выдерживаетс  несколько минут, после чего тубус -поднимаетс  (фиг. 4) и пластинка с пленкой, склеенна  с объектдиафрагмой, пинцетом осторожно отдел етс  от торца втулки.Then, an object diaphragm 8 with a hole in the form of a regular circle with a diameter of 0.2-0.25 mm is placed on a glass slide (Fig. 3) and the hole is centered along the cross of the filaments, considering the diaphragm through a polystyrene plate. The edges of the diaphragm are also pre-lubricated with glue (for example, dextrin). The tube is lowered again, the plate with the film is pressed against the diaphragm and held for several minutes, after which the tube is lifted (Fig. 4) and the plate with the film glued to the object diaphragm is carefully separated with a pair of tweezers from the end of the sleeve.

После этого следуют растворение полистироловой пластинки в бромистом этиле (пленки и клей в ием не раствор ютс ), промывка и монтаж препаратов в объект-держатель.This is followed by the dissolution of the polystyrene plate in ethyl bromide (films and glue do not dissolve), washing and mounting of the preparations in the object holder.

Препарат после проведенных манипул ций лежит на диафрагме так, что исследуема  структурна  составл юща  находитс  в центре отверсти  диафрагмы.After the manipulations, the preparation lies on the diaphragm so that the structural component under investigation is located in the center of the aperture of the diaphragm.

Предмет изобретени Subject invention

Claims (3)

1. Способ изготовлени  препаратов дл  исследовани  структуры непрозрачных Материалов, например металлов, в электронном микроскопе , отличающийс  тем, что поверхность щлифа предварительно размельчают, например, алмазным отметчиком или другим прибором так, чтобы выделенный иа щлифе исследуемый участок (структурна  составл юща , граница зерна и т. д.) находилс  на пересечении нанесенных на щлиф меток (рисок или пр мых линий, соедии ющих центры отпечатков отметчика), получают с размечеиного шлифа известными методами пленки-слепки, укладывают их иа полистироловые пластинки , затем посредством оптического микроскопа юстируют по кресту нитей дл  совмещени  исследуемого участка с центром отверсти  стандартной объект-диафрагмы электронного микроскопа, после юстировки склеивают лежащий на полистироловой пластинке препарат с объект-диафрагмой и затем раствор ют полистирол в бромистом этиле или другом растворителе.1. A method of making preparations for examining the structure of opaque Materials, for example metals, in an electron microscope, characterized in that the surface of the schlifa is preliminarily crushed, for example, with a diamond marker or other device so that the area under study (structural component, grain boundary and etc.) was located at the intersection of the marks put on the clip (scratches or straight lines connecting the centers of the marks of the marker), are obtained from the marking section using the known film-casting methods they are polystyrene plates, then using an optical microscope, align the cross section of threads to align the test area with the center of the hole of the standard object-diaphragm of the electron microscope; solvent. 2.-Прием выполнени  способа по п. 1, отличающийс  тем, что выделенный на шлифе исследуемый участок очерчивают риской, например, помощью алмазного отметчика.2. A method for carrying out the method according to claim 1, characterized in that the test area selected on a thin section is outlined with a risk, for example, using a diamond marker. 3. Приспособление к оптическому микроскопу дл  осуществлени  способа по п. 1, отличающеес  тем, что оно выполнено в виде надетой на корпус объектива микроскопа втулки из органического стекла , служащей дл  приклеивани  к ней полистироловой пластинки после совмещени  исследуемого участка пленки с оптической осью микроскопа путем опускани  и последующего подъема тубуса микроскопа , а затем дл  склеивани  приклеенной к втулке полистироловой пластинки с объект-диафрагмой после юстировки последней по кресту нитей, осуществл емой аналогичным перемещением тубуса микроскопа.3. A device for an optical microscope for carrying out the method according to claim 1, characterized in that it is made in the form of an organic glass sleeve mounted on the microscope objective body, which is used to glue the polystyrene plate to it after aligning the film with the optical axis of the microscope by lowering it and then raising the microscope tube, and then for gluing the polystyrene plate glued to the sleeve with the object-diaphragm after alignment of the latter by the cross of the filaments carried out similar th movement of the microscope tube. «:. и“:. and ооoo Фиг- fFig- f 7 87 8 ФигЗFigz Фиг.FIG.
SU369638A 1948-12-30 1948-12-30 A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method SU85111A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU369638A SU85111A1 (en) 1948-12-30 1948-12-30 A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU369638A SU85111A1 (en) 1948-12-30 1948-12-30 A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU85111A1 true SU85111A1 (en) 1949-11-30

Family

ID=48257601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU369638A SU85111A1 (en) 1948-12-30 1948-12-30 A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU85111A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2447836A (en) Precision images and methods of producing them
US2801568A (en) Microscope slide
US3600057A (en) Single slide microscopy apparatus
SU85111A1 (en) A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method
US2144653A (en) Illuminator
US1129742A (en) Circle-drawing attachment for microscopes.
US3029694A (en) Optical inspection accessory
Hyam et al. A method for the electron and optical microscopic examination of identical areas
Temple Examination of laser damage sites of transparent surfaces and films using total internal reflection microscopy
CN103777364A (en) Manufacturing method of reticle
Anderson et al. Accurate placement of ultrathin sections on grids; control by sol-gel phases of a gelatin flotation fluid
Van Ewijk et al. A new method for comparative light and electron microscopic studies of individual cells, selected in the living state
Chamot Elementary chemical microscopy
Allen et al. Application of replica techniques to the study of ceramic surfaces with the optical microscope
GB507737A (en) Improvements in hardness testing instruments
Gorycki Methods for precisely trimming block faces for ultramicrotomy
GB660865A (en) Holders for objectives for microscopes
Conger A simple method for micrometric ruling, and some applications
SAUDER et al. Rapid Measurement of Red Cells
GB591163A (en) Improvements in or relating to microscopes
Gage Notes on microscopical methods 1886-87
Albani Photography of microfossils
Hartshorne et al. AN IMPROVED SINGLE‐AXIS ROTATION APPARATUS FOR THE STUDY OF CRYSTALS UNDER THE POLARIZING MICROSCOPE
Vincent An accessory to the polarizing microscope for the optical examination of crystals
Humble et al. A simplified Price-Jones technique