SU847403A1 - Устройство дл измерени удельногоСОпРОТиВлЕНи пО СОпРОТиВлЕНию PACTE-КАНи - Google Patents

Устройство дл измерени удельногоСОпРОТиВлЕНи пО СОпРОТиВлЕНию PACTE-КАНи Download PDF

Info

Publication number
SU847403A1
SU847403A1 SU792705617A SU2705617A SU847403A1 SU 847403 A1 SU847403 A1 SU 847403A1 SU 792705617 A SU792705617 A SU 792705617A SU 2705617 A SU2705617 A SU 2705617A SU 847403 A1 SU847403 A1 SU 847403A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measuring
cylindrical
spherical
resistance
microscope
Prior art date
Application number
SU792705617A
Other languages
English (en)
Inventor
Петр Иванович Кутовый
Евгений Александрович Волков
Николай Иванович Сменов
Юрий Николаевич Баринов
Original Assignee
Предприятие П/Я Х-5476
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Х-5476 filed Critical Предприятие П/Я Х-5476
Priority to SU792705617A priority Critical patent/SU847403A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU847403A1 publication Critical patent/SU847403A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

Изобретение относитс  к измеритель ной технике и может быть использовано дл  контрол  распределени  легирующей примеси по поверхности и глубине полупроводниковых структур.
Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  устройство дл  измерени , содержащее держатель зондовых голо вок , механизм перемещени  зондов, микроскоп и предметный столик с механизмом юстировки 1.
Однако известное устройство не обеспечивает высокой точности измерени .
Цель изобретени  - повышение точности ,измерени .
Указанна  цель достигаетс  тем, что в устройстве дл  измерени  удельного сопротивлени  по сопротивлению растекани , преимущественно дл  измерени  профил  распределени  удель--. ного сопротивлени  по сферическому . или цилиндрическому шлифу полупроводниковых структур, содержащем держатель головки, механизм перемещени  зондов, микроскоп и предметный столик с механизмом юстировки, последний снабжен вогнутой цилиндрической опорой с подвижно установленным на нем выпуклым цилиндрическим i
сегментом, с возможностью угловых перемещений перпендикул рно плоскости, проход щей через точки контактироЬани  зондов со сферической или цилиндри- ческой поверхностью шлифа измер емой, структуры и совмещенной с оптической осью микроско/та.
На чертеже схематически изображено устройство дл  измерени  удельно10 го сопротивлени , общий вид.
Измерительный зонд 1 закреплен в держателе зондовой головки 2, шарнирно установленной на механизме 3 перемещени  зонда. Образец 4 со сферичео15 ким или цилиндрическим пшифом 5 установлен на площадке клинообразного компенсатора 6,. имеющего возможность перемещатьс  по наклонной направл ющей выпуклого цилиндрического сегмен20 та 7,опирающегос  на вогнутую цилиндрическую поверхность. 8, установленной на основании 9 предметного столика. Перемещени  компенсатора 6, сегмента 7, опоры 8 осуществл ютс 
25 соответственно посредством приводов 10, 11, 12. Над зондом установлен микроскоп 13, имеющий в поле зрени  перекрестие.
Сн тие профил  распределени  удель30 ного сопротивлени  по глубине полупро

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Устройство для измерения удельного сопротивления по сопротивлению растекания, преимущественно для измерения профиля распределения удельного сопротивления по сферическому или цилиндрическому шлифу полупроводниковых структур, содержащее держатель зондовых головок,'механизм перемещения зон1П дов' микроскоп и предметный столик с механизмом юстировки, отличающееся тем) что, с целью повышения точности измерения, механизм юстировки снабжен вогнутой цилиндрической опорой с подвижно установленным 15 на нем выпуклым цилиндрическим сегментом с возможностью угловых перемещений перпендикулярно плоскости, проходящей через точки контактирования зондов со сферической или цилин20 дрической поверхностью шлифа измеряемой структуры и совмещенной с оптической осью микроскопа.
SU792705617A 1979-01-04 1979-01-04 Устройство дл измерени удельногоСОпРОТиВлЕНи пО СОпРОТиВлЕНию PACTE-КАНи SU847403A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792705617A SU847403A1 (ru) 1979-01-04 1979-01-04 Устройство дл измерени удельногоСОпРОТиВлЕНи пО СОпРОТиВлЕНию PACTE-КАНи

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792705617A SU847403A1 (ru) 1979-01-04 1979-01-04 Устройство дл измерени удельногоСОпРОТиВлЕНи пО СОпРОТиВлЕНию PACTE-КАНи

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU847403A1 true SU847403A1 (ru) 1981-07-15

Family

ID=20802285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792705617A SU847403A1 (ru) 1979-01-04 1979-01-04 Устройство дл измерени удельногоСОпРОТиВлЕНи пО СОпРОТиВлЕНию PACTE-КАНи

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU847403A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4155173A (en) Mounting for coordinate measuring machine arms and probes
DE3064126D1 (en) Additional arrangement on a support for an optical observation apparatus
JPH0478927B2 (ru)
US5551906A (en) Caliper assembly for grinder
GB1062053A (en) Apparatus for the precise measurement of profiles of straight lines
CN209961611U (zh) 一种基于尺读望远镜及光杠杆的测定装置
GB989707A (en) Improved testing machine
SU847403A1 (ru) Устройство дл измерени удельногоСОпРОТиВлЕНи пО СОпРОТиВлЕНию PACTE-КАНи
US4613232A (en) Measuring device for testing optical systems of an endoscope
US3321840A (en) Apparatus for measuring surface finish of pinion tooth and like curved surfaces
US3501841A (en) Surface-testing apparatus
GB1561733A (en) Hardness testing machine
US4432141A (en) High precision height comparator apparatus
JPS60161503A (ja) 表面粗さ測定機用検出装置
US5643049A (en) Floating contact gage for measuring cylindrical workpieces exiting a grinder
US2984014A (en) Instruments for measuring the curvature of curved surfaces
US2376303A (en) Measuring and indicating apparatus for machine tools
US3368395A (en) Method and machine for assessing the finish of cylindrical surface
SU1188543A1 (ru) Щелева диафрагма
CN107588746B (zh) 一种测针精密快速校核装置及其工作方法
JPS6315139A (ja) ひつかき硬さ試験装置
SU35420A1 (ru) Прибор типа индикатора дл определени степени шероховатости образца
SU1469335A1 (ru) Способ измерени отклонений шариков от сферичности и устройство дл его осуществлени
US2986030A (en) Hardness testing apparatus
SU1051624A1 (ru) Устройство дл измерени электрофизических параметров слитков полупроводниковых материалов