SU842522A1 - X-ray spectrometer - Google Patents
X-ray spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU842522A1 SU842522A1 SU792804336A SU2804336A SU842522A1 SU 842522 A1 SU842522 A1 SU 842522A1 SU 792804336 A SU792804336 A SU 792804336A SU 2804336 A SU2804336 A SU 2804336A SU 842522 A1 SU842522 A1 SU 842522A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- crystal
- monochromator
- goniometer
- ray
- ray spectrometer
- Prior art date
Links
Description
Изобретение- относитс к устройствам дл прецизионных рентгено-дифракционных исследований структурно совершенства монокристаллов. Известен рентгеновский спектрометр , содержащий источник рентгенов ских лучей, кристалл-монохроматор, коллиматор, кристалл-анализатор и д тектор fl . , Наиболее близким к предлагаемому вл етс рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристалледержател х кристалла-монохроматора расположенным между ними коллиматор один из которых установлен на гонио метре, кристалл-анализатор и детектор 2. Недостатками известных устройств вл ютс высокие требовани , к взаим ной юстировке и тонкой подъюстировке в процессе работы используемых плоских кристаллов-монохроматоров и потер интенсивности излучени в результате коллимации. Цель изобретени - увеличение светосилы за счет изгиба крисгалламонохроматора . Поставленна цель достигаетс тем, что в рентгеновском спёктромет ре, содержслцем источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристаллодёржател х кристалла-монохроматора с расположенным между ними коллиматором, один из которых установлей на гониометре, кристалл-анализатор и детектор, кристаллодержатель установленного на гониометре кристалла-монохроматора выполнен в виде рамы, торцы которой закреплены в стойках, а центральна часть соединена через винт и пружину с жестко укрепленным на гониометре кронштейном. На фиг. 1 представлена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - схема кристаллодержател ; на фиг. 3 - сечение А-А на фиг.2; на фиг. 4 - кристаллодержатель, вид сбоку. В устройстве кристаллы-монохроматоры 1 и 2 и кристалл-анализатор 3 расположены так, что отраженный от кристалла-монохроматора 1 рентгеновский пучок направл ют на изогнутый кристалл-монохроматор 2 и затем на поверхность кристалла-анализатора 3. Кристалл-монохроматор 2 укреплен в кристаллодержателе,выполненном в виде рамы 4, торцы которой закреплены в стойках 5, а центральна часть соединена через винт 6 и пружину 7 с жестко укрепленным кронштейном 8.The invention relates to devices for precision X-ray diffraction studies of the structural perfection of single crystals. A X-ray spectrometer is known, which contains an X-ray source, a crystal monochromator, a collimator, an analyzer crystal, and a detector fl. The closest to the proposed is an X-ray spectrometer containing an X-ray source, two fortified in the crystal holder of a monochromator crystal located between them a collimator one of which is mounted on the goniometer, analyzer crystal and detector 2. The disadvantages of the known devices are high requirements mutual adjustment and fine adjustment in the course of operation of the used flat monochromator crystals and loss of radiation intensity as a result of collimation. The purpose of the invention is to increase the luminosity due to the bending of the chryshallamonochromator. The goal is achieved by the fact that, in an X-ray spectrometer, containing an X-ray source, two monochromator crystal-mounted crystal-carriers with a collimator located between them, one of which is mounted on a goniometer, an analyzer crystal and a detector, a crystal holder mounted on a goniometer-monochromator made in the form of a frame, the ends of which are fixed in racks, and the central part is connected through a screw and a spring with a bracket rigidly fixed on the goniometer. FIG. 1 shows the scheme of the proposed device; in fig. 2 is a crystal holder circuit; in fig. 3 is a section A-A in FIG. in fig. 4 - crystal holder, side view. In the device, monochromator crystals 1 and 2 and crystal analyzer 3 are arranged so that the X-ray beam reflected from crystal monochromator 1 is directed to a curved monochromator crystal 2 and then to the surface of analyzer crystal 3. Crystal monochromator 2 is fixed in the crystal holder, made in the form of a frame 4, the ends of which are fixed in racks 5, and the central part is connected through a screw 6 and spring 7 with a rigidly fixed bracket 8.
Кристалл-монохроматор 2 укреплен в центральной части рамы, деформаци пластин которой, лежащих в одно плоскости с ним, определ етс соотношением жесткости этих пластин и деформирующей их регулирующей пружины 7. Это дает с заданной степенью точности (0,1-0,01) параллельность дифрагированного вдоль поверхности кристалла-монохроматора 3 излучени Кроме того, выбранный способ силового регулировани изгиба кристалламонохроматора 2 обеспечивает необходимую точность и стабильность рабты прибора (абсолютную погрешность радиуса изгиба лК 10-20 см при R 100-150 м).The crystal monochromator 2 is fixed in the central part of the frame, the deformation of the plates which lie in the same plane with it is determined by the ratio of the rigidity of these plates and the regulating spring deforming them 7. This gives with a given degree of accuracy (0.1-0.01) parallelism diffracted along the surface of the crystal monochromator 3 radiation In addition, the selected method of force control of the bend of the crystal monochromator 2 provides the necessary accuracy and stability of the instrument's working (absolute error of the bending radius lK 10-20 s m at R 100-150 m).
Радиус изгиба определ ют по формуле 1 .|,оГо Го-УпЬ|The bending radius is determined by the formula 1. |, OGo Go-Up |
где LO - рассто ние мнимого источника излучени (дифрагированного на первом iinocKOM кристалле-монохроматоре , от изогнутого кристалла-монохроматора по направлению падающего него луча;where LO is the distance of the imaginary radiation source (diffracted at the first iinocKOM monochromator crystal, from a curved monochromator crystal in the direction of the incident beam;
TO и Тп направл ющие косинусы падающего и отраженного лучей от изогнутого кристалла.The TO and Tn are the direction cosines of the incident and reflected rays from the curved crystal.
При этом происходит резкое сужение угловой расходимости дифрагирующего пучка без потери его интенсивности , нормированной по отношению к интенсивности излучени , отраженного от первого плоского кристалла-монохроматора .In this case, a sharp narrowing of the angular divergence of the diffracting beam occurs without losing its intensity, normalized with respect to the intensity of the radiation reflected from the first flat monochromator crystal.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Рентгеновский пучок падает на плоский кристалл-монохроматор 1,который устанавливаетс в отражающее положение с помощью механизмов поворота . Дифрагированный кристаллом-монохроматором 1 пучок проходит черезThe X-ray beam is incident on a flat monochromator crystal 1, which is placed in a reflecting position using rotation mechanisms. A diffracted monochromator crystal 1 beam passes through
щелевой коллиматор и отражаетс от изогнутого кристалла-монохроматора 2, установленного в отражающее положение с учетом указанного услови изгиба. Переход на другие значени углов дифракции и длины волн излучени осуществл етс известным способом .slit collimator and is reflected from a curved monochromator crystal 2, installed in the reflecting position, taking into account the specified bending condition. The transition to other values of diffraction angles and radiation wavelengths is carried out in a known manner.
Предлагаемое устройство позвол ет повысить интенсивность дифрагированного излучени в 5-10 раз, что повышает экспрессность прецизионного анализа дефектной структуры монокристаллов .The proposed device allows to increase the intensity of the diffracted radiation by 5-10 times, which increases the speed of precision analysis of the defective structure of single crystals.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792804336A SU842522A1 (en) | 1979-08-03 | 1979-08-03 | X-ray spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792804336A SU842522A1 (en) | 1979-08-03 | 1979-08-03 | X-ray spectrometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU842522A1 true SU842522A1 (en) | 1981-06-30 |
Family
ID=20844060
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792804336A SU842522A1 (en) | 1979-08-03 | 1979-08-03 | X-ray spectrometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU842522A1 (en) |
-
1979
- 1979-08-03 SU SU792804336A patent/SU842522A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Matsushita et al. | Sagittally focusing double-crystal monochromator with constant exit beam height at the Photon Factory | |
Harada et al. | Mechanically ruled stigmatic concave gratings | |
JP2007010483A (en) | X-ray beam treating device and x-ray analyzer | |
US2688094A (en) | Point-focusing X-ray monochromator for low angle x-ray diffraction | |
SU842522A1 (en) | X-ray spectrometer | |
US2999931A (en) | X-ray interferometer | |
JP4476883B2 (en) | X-ray beam processing apparatus, X-ray light receiving system, and X-ray analyzer | |
Gadzhiev et al. | Combination of optical and small-angle x-ray scattering diffractometers in the high-time-resolution method for stuctural studies | |
SU898302A1 (en) | X-ray spectrometer for investigating monocrystal structural perfection | |
US3116415A (en) | Mechanical motion and spectrographic device including it | |
US3490848A (en) | Spectral grating apparatus | |
SU920480A1 (en) | X-ray tv spectrometer | |
Underwood et al. | Experimental comparison of mechanically ruled and holographically recorded plane varied-line-spacing gratings | |
SU857816A1 (en) | X-ray spectrometer | |
JPH01133000A (en) | Non-planar spectrocrystal | |
Christensen et al. | A beam expander facility for studying x‐ray optics | |
SU873067A1 (en) | X-ray spectrometer | |
JPH0762720B2 (en) | Double crystal X-ray spectrometer | |
US3079834A (en) | Spectrometers | |
JP2664632B2 (en) | Total reflection X-ray fluorescence analyzer | |
den Boggende et al. | Efficiency of x-ray reflection gratings | |
Palmer et al. | Diffraction gratings | |
SU1476360A1 (en) | X-ray diffractometer | |
SU487338A2 (en) | X-ray spectrometer | |
SU1390550A1 (en) | X-ray monochromatic resonator |