SU842522A1 - X-ray spectrometer - Google Patents

X-ray spectrometer Download PDF

Info

Publication number
SU842522A1
SU842522A1 SU792804336A SU2804336A SU842522A1 SU 842522 A1 SU842522 A1 SU 842522A1 SU 792804336 A SU792804336 A SU 792804336A SU 2804336 A SU2804336 A SU 2804336A SU 842522 A1 SU842522 A1 SU 842522A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
crystal
monochromator
goniometer
ray
ray spectrometer
Prior art date
Application number
SU792804336A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Феликс Николаевич Чуховский
Александр Борисович Гильварг
Вячеслав Николаевич Глазунов
Original Assignee
Специальное Конструкторское Бюро Ин-Ститута Кристаллографии Ah Сссримени A.B.Шубникова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Специальное Конструкторское Бюро Ин-Ститута Кристаллографии Ah Сссримени A.B.Шубникова filed Critical Специальное Конструкторское Бюро Ин-Ститута Кристаллографии Ah Сссримени A.B.Шубникова
Priority to SU792804336A priority Critical patent/SU842522A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU842522A1 publication Critical patent/SU842522A1/en

Links

Description

Изобретение- относитс  к устройствам дл  прецизионных рентгено-дифракционных исследований структурно совершенства монокристаллов. Известен рентгеновский спектрометр , содержащий источник рентгенов ских лучей, кристалл-монохроматор, коллиматор, кристалл-анализатор и д тектор fl . , Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристалледержател х кристалла-монохроматора расположенным между ними коллиматор один из которых установлен на гонио метре, кристалл-анализатор и детектор 2. Недостатками известных устройств  вл ютс  высокие требовани , к взаим ной юстировке и тонкой подъюстировке в процессе работы используемых плоских кристаллов-монохроматоров и потер  интенсивности излучени  в результате коллимации. Цель изобретени  - увеличение светосилы за счет изгиба крисгалламонохроматора . Поставленна  цель достигаетс  тем, что в рентгеновском спёктромет ре, содержслцем источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристаллодёржател х кристалла-монохроматора с расположенным между ними коллиматором, один из которых установлей на гониометре, кристалл-анализатор и детектор, кристаллодержатель установленного на гониометре кристалла-монохроматора выполнен в виде рамы, торцы которой закреплены в стойках, а центральна  часть соединена через винт и пружину с жестко укрепленным на гониометре кронштейном. На фиг. 1 представлена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - схема кристаллодержател ; на фиг. 3 - сечение А-А на фиг.2; на фиг. 4 - кристаллодержатель, вид сбоку. В устройстве кристаллы-монохроматоры 1 и 2 и кристалл-анализатор 3 расположены так, что отраженный от кристалла-монохроматора 1 рентгеновский пучок направл ют на изогнутый кристалл-монохроматор 2 и затем на поверхность кристалла-анализатора 3. Кристалл-монохроматор 2 укреплен в кристаллодержателе,выполненном в виде рамы 4, торцы которой закреплены в стойках 5, а центральна  часть соединена через винт 6 и пружину 7 с жестко укрепленным кронштейном 8.The invention relates to devices for precision X-ray diffraction studies of the structural perfection of single crystals. A X-ray spectrometer is known, which contains an X-ray source, a crystal monochromator, a collimator, an analyzer crystal, and a detector fl. The closest to the proposed is an X-ray spectrometer containing an X-ray source, two fortified in the crystal holder of a monochromator crystal located between them a collimator one of which is mounted on the goniometer, analyzer crystal and detector 2. The disadvantages of the known devices are high requirements mutual adjustment and fine adjustment in the course of operation of the used flat monochromator crystals and loss of radiation intensity as a result of collimation. The purpose of the invention is to increase the luminosity due to the bending of the chryshallamonochromator. The goal is achieved by the fact that, in an X-ray spectrometer, containing an X-ray source, two monochromator crystal-mounted crystal-carriers with a collimator located between them, one of which is mounted on a goniometer, an analyzer crystal and a detector, a crystal holder mounted on a goniometer-monochromator made in the form of a frame, the ends of which are fixed in racks, and the central part is connected through a screw and a spring with a bracket rigidly fixed on the goniometer. FIG. 1 shows the scheme of the proposed device; in fig. 2 is a crystal holder circuit; in fig. 3 is a section A-A in FIG. in fig. 4 - crystal holder, side view. In the device, monochromator crystals 1 and 2 and crystal analyzer 3 are arranged so that the X-ray beam reflected from crystal monochromator 1 is directed to a curved monochromator crystal 2 and then to the surface of analyzer crystal 3. Crystal monochromator 2 is fixed in the crystal holder, made in the form of a frame 4, the ends of which are fixed in racks 5, and the central part is connected through a screw 6 and spring 7 with a rigidly fixed bracket 8.

Кристалл-монохроматор 2 укреплен в центральной части рамы, деформаци  пластин которой, лежащих в одно плоскости с ним, определ етс  соотношением жесткости этих пластин и деформирующей их регулирующей пружины 7. Это дает с заданной степенью точности (0,1-0,01) параллельность дифрагированного вдоль поверхности кристалла-монохроматора 3 излучени  Кроме того, выбранный способ силового регулировани  изгиба кристалламонохроматора 2 обеспечивает необходимую точность и стабильность рабты прибора (абсолютную погрешность радиуса изгиба лК 10-20 см при R 100-150 м).The crystal monochromator 2 is fixed in the central part of the frame, the deformation of the plates which lie in the same plane with it is determined by the ratio of the rigidity of these plates and the regulating spring deforming them 7. This gives with a given degree of accuracy (0.1-0.01) parallelism diffracted along the surface of the crystal monochromator 3 radiation In addition, the selected method of force control of the bend of the crystal monochromator 2 provides the necessary accuracy and stability of the instrument's working (absolute error of the bending radius lK 10-20 s m at R 100-150 m).

Радиус изгиба определ ют по формуле 1 .|,оГо Го-УпЬ|The bending radius is determined by the formula 1. |, OGo Go-Up |

где LO - рассто ние мнимого источника излучени  (дифрагированного на первом iinocKOM кристалле-монохроматоре , от изогнутого кристалла-монохроматора по направлению падающего него луча;where LO is the distance of the imaginary radiation source (diffracted at the first iinocKOM monochromator crystal, from a curved monochromator crystal in the direction of the incident beam;

TO и Тп направл ющие косинусы падающего и отраженного лучей от изогнутого кристалла.The TO and Tn are the direction cosines of the incident and reflected rays from the curved crystal.

При этом происходит резкое сужение угловой расходимости дифрагирующего пучка без потери его интенсивности , нормированной по отношению к интенсивности излучени , отраженного от первого плоского кристалла-монохроматора .In this case, a sharp narrowing of the angular divergence of the diffracting beam occurs without losing its intensity, normalized with respect to the intensity of the radiation reflected from the first flat monochromator crystal.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Рентгеновский пучок падает на плоский кристалл-монохроматор 1,который устанавливаетс  в отражающее положение с помощью механизмов поворота . Дифрагированный кристаллом-монохроматором 1 пучок проходит черезThe X-ray beam is incident on a flat monochromator crystal 1, which is placed in a reflecting position using rotation mechanisms. A diffracted monochromator crystal 1 beam passes through

щелевой коллиматор и отражаетс  от изогнутого кристалла-монохроматора 2, установленного в отражающее положение с учетом указанного услови  изгиба. Переход на другие значени  углов дифракции и длины волн излучени  осуществл етс  известным способом .slit collimator and is reflected from a curved monochromator crystal 2, installed in the reflecting position, taking into account the specified bending condition. The transition to other values of diffraction angles and radiation wavelengths is carried out in a known manner.

Предлагаемое устройство позвол ет повысить интенсивность дифрагированного излучени  в 5-10 раз, что повышает экспрессность прецизионного анализа дефектной структуры монокристаллов .The proposed device allows to increase the intensity of the diffracted radiation by 5-10 times, which increases the speed of precision analysis of the defective structure of single crystals.

Claims (2)

Формула изобретени Invention Formula Рентгеновский .спектрометр,содержащий источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристаллодержател х кристалла-монохроматора с расположенным между ними коллиматором, один из которых установлен на гониометре , кристалл-анализатор и детектор , отличающийс  тем, что, с целью увеличени  светосилы за 5 счет изгиба кристалла-монохроматора, 11Ристаллодержатель установленного на гониометре кристалла-монохроматора выполнен в виде рамы, торцы которой .закреплены в стойках, а центральна  часть соединена через винт и пружину с жестко укрегтленным на гониометре кронштейном. An X-ray spectrometer containing an X-ray source, two monochromator-mounted crystal monochromators with a collimator located between them, one of which is mounted on a goniometer, an analyzer crystal and a detector, characterized in that, in order to increase luminosity due to crystal bending monochromator, 11 A crystal holder of a monochromator crystal mounted on a goniometer is made in the form of a frame, the ends of which are fixed in racks, and the central part is connected through a screw and a spring with a rigid ukreg lennym on a goniometer arm. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизеSources of information taken into account in the examination 1.Lida А., Kohra К. Separate mesurement of dynamical and kynematical X-ray diffractions from perfect and surface - demand single cristals with a triple cristal1.Lida A., Kohra K. Separate mechurement of the cristals with a triple cristal 0 diffractometer . - зарап Appl. Phys 1978, 17, 968.0 diffractometer. - Zarap Appl. Phys 1978, 17, 968. 2.Авторское свидетельство СССР I 48733, кл. G 01 N 23/20, 1973 (прототип).2. USSR author's certificate I 48733, cl. G 01 N 23/20, 1973 (prototype). 8. S8. S (риг. 3(rig 3
SU792804336A 1979-08-03 1979-08-03 X-ray spectrometer SU842522A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792804336A SU842522A1 (en) 1979-08-03 1979-08-03 X-ray spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792804336A SU842522A1 (en) 1979-08-03 1979-08-03 X-ray spectrometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU842522A1 true SU842522A1 (en) 1981-06-30

Family

ID=20844060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792804336A SU842522A1 (en) 1979-08-03 1979-08-03 X-ray spectrometer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU842522A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Matsushita et al. Sagittally focusing double-crystal monochromator with constant exit beam height at the Photon Factory
Harada et al. Mechanically ruled stigmatic concave gratings
JP2007010483A (en) X-ray beam treating device and x-ray analyzer
US2688094A (en) Point-focusing X-ray monochromator for low angle x-ray diffraction
SU842522A1 (en) X-ray spectrometer
US2999931A (en) X-ray interferometer
JP4476883B2 (en) X-ray beam processing apparatus, X-ray light receiving system, and X-ray analyzer
Gadzhiev et al. Combination of optical and small-angle x-ray scattering diffractometers in the high-time-resolution method for stuctural studies
SU898302A1 (en) X-ray spectrometer for investigating monocrystal structural perfection
US3116415A (en) Mechanical motion and spectrographic device including it
US3490848A (en) Spectral grating apparatus
SU920480A1 (en) X-ray tv spectrometer
Underwood et al. Experimental comparison of mechanically ruled and holographically recorded plane varied-line-spacing gratings
SU857816A1 (en) X-ray spectrometer
JPH01133000A (en) Non-planar spectrocrystal
Christensen et al. A beam expander facility for studying x‐ray optics
SU873067A1 (en) X-ray spectrometer
JPH0762720B2 (en) Double crystal X-ray spectrometer
US3079834A (en) Spectrometers
JP2664632B2 (en) Total reflection X-ray fluorescence analyzer
den Boggende et al. Efficiency of x-ray reflection gratings
Palmer et al. Diffraction gratings
SU1476360A1 (en) X-ray diffractometer
SU487338A2 (en) X-ray spectrometer
SU1390550A1 (en) X-ray monochromatic resonator