SU842508A2

SU842508A2 - Способ измерени величины двойноголучЕпРЕлОМлЕНи ВЕщЕСТВ

Info

Publication number: SU842508A2
Application number: SU792759840A
Authority: SU
Inventors: Борис Владимирович Старостенко
Original assignee: Starostenko Boris V
Priority date: 1979-04-27
Filing date: 1979-04-27
Publication date: 1981-06-30

Description

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано при проведении химических, кристаллографических и других исследований .

По основному авт.св. № 380170 известен способ измерени величины двойного лучепреломлени веществ, заключающийс в том, что пучок монохроматического , линейно-пол ризованного света с вращающейс плоскостью пол ризации дел т на два пучка,один из которых линейно пол ризуют и используют в качестве опорного сигнала , а другой последовательно пропускают через четвертьволновую пластинку и исследуемое вещество, затем линейно, пол ризуют и используют в качестве рабочего сигнала, после чего измер ют разность фаз между переменными составл ющими интенсивностей рабочего и опорного сигналов, по которой суд т о величине двойного лучепреломлени Tl

Недостатком известного способа вл етс необходимость предварительного измерени толщины исследуемого вещества каким-либо другим известньол способом.

Цель изобретени - измерение также и толщины исследуемого вещест-. ва.

Поставленна цель достигаетс тем, что разность фаз измер ют при двух фиксировайных углах наклона исследуемого.вещества к направлению распространени рабочего пучка, поворачивают исследуемое вещество

o на угол 90 в плоскости, проход щей через оптическую ось исследуемого вещества перпендикул рно к его главной плоскости, измер ют ,разность фаз при тех же углах наклона, осу5 ществл его в плоскости, совпадающей с главной плоскостью .исследуемого вещества, и определ ют толщину по формуле

4Jsii

)

-4

(( sl

) 3

d

(f % - Sin ct

где oi и фиксированные углы

наклона между направлением , лежащим в главt ной плоскости иссле . . дуемого вещества перпендикул рно к его ,оптической оси, и направлением распространени рабочего пучка; 41, и Ч разности фаз при углах наклона cL и сСо соотЯ ветствень о; Ч ., и Ч, разности фаз при повернутом на угол 90 исследуемом веществе и углах наклона 2 соответственно; длина волны используемого света. На чертеже представлено устройст во/ реализующее предлагаемыйспособ Устройство содержит источник 1 света, расположенные последовательн по ходу его лучей монохроматор 2, пол ризатор 3, светоделитель 4, плоское зеркало 5, четвертьволновую пластинку б, вращающийс анализатор 7, фотоприемники 8 и 9, фазометр 10. Элементы 6,7 и 8 устройства образуют рабочий канал, а элемен ты. 5, 7 и 9 - опорный-. Исследуемое вещество помещаетс в рабочем канале между светоделителем 4 и четверт волновой пластинкой 6. Плоскость пропускани пол ризатора 3 параллельна оптической оси пластинки б и сосчетвертьволновой тавл ет угол 45° с главной плоскостью исследуемого вещества 11. Способ осуществл етс следующим образом. Пучок от источника 1 света проходит монохроматор 2, линейно пол ризуетс .пол ризатором 3 и делитс светоделителем 4 на две части,одна из которых поступает в рабочий канал , а друга - в опорный. Рабочий пучок проходит исследуемое вещество 11, четвертьволновую пластинку б, вращающийс анализатор 7 и падает на фотоприемник 8. Пучок света (опорный) отражаетс от плос кого зеркала 5, проходит вращающийс анализатор 7 и падает на фотоприемник 9,, Разность фаз электрических сигна лов с фотоприемников 8 и 9, равна половине оптической разности фаз взаимно перпендикул рных компонентов света рабочего канала, измер ет с фазометром 10. Вначале измер ют разности фаз f .и при двух фиксированных углах наклона исследуемого вещества 11 с{, УрХ „ 25inri -,.ri--Ml im () -s,-,V

Предлагаемый способ позвол ет проводить одновременное измерение толщины и двойного лучепреломлени исследуемых веществ.

Claims

Формула изобретени .Способ измерени величины двойного лучепреломлени веществ по

авт.св. № 380170, отличающийс тем, что, с целью измерени также и толщины исследуемого вещества, разность фаз измер ют при двух фиксированных углах наклона исследуемого вещества к направлению распространени рабочего пучка. о соответственно. Наклон исследумого вещества осуществл ют в плосости , совпадающей с его главной лоскостью. Тозгда 4.(VnJ-Sin4-V r) () Ч (Vп, - sin%.-VnV) , () де HQ и ng - показатели преломлени дл обыкновенного « необыкновенного лучей соответственно; d - толщина исследуемого вещества 11;, X - длина волны используемого света. Затем исследуемое вещество повоачивают на угол 90° в плоскости, роход щей через оптическую ось иследуемого вещества перпендикул рно его главной плоскости, и измер ют азности фаз Ч и Чд при тех иксированных углах наклона -i оответственно. де Ч о - разность фаз при угле наклона оптической оси следуемого вещества 11 направлению распространени рабочего пучка,равном 90° . Выражение дл определени толщиы d исследуемого вещества опреде етс из решени системы уравнений (1), (2), (3) и (4) следующим обра ,K:::4|Wox, ом: 4Т(()о. л так как с(,-1 ц, л .-4asin ) l(.- (f Sin ) I (51|ЛЦл /|51П J 2 )y 4(4.Sir,d -V s-t7f r ( :%4.5-42%)4JrfffnoC Величина двойного лучепреломлеи д п определ етс из формулы a- .) ) юворачивают исследуемое вещество на угол 90° в плоскости, проход щей через оптическую Ось исследуемого вещества перпендикул рно к ег главной плоскости, измер ют разнос фаз при тех же углах наклона, осуществл его в плоскости, совпадаю щей с главной плоскостью исследуемого вещества, и определ ют толщин по формуле l(4 sVnX-4lsin4) Я(ч1-)1 4(f.e-;rt,-Ч,.%) -/(0((о л ТГс л и ,i. . ( Ч .1Гълп d где фиксированные углы наклона между направлением , лежащим в гла ной плоскости исслёду емого вещества перпендикул рно к его оптической оси, и направлением распространени рабочего пучка; , и V. разности фаз при углах наклона d и оС,, соответственно; ИЧД - разности фаз при повернутом на угол 90° исследуемом вещестье и углах наклона и Мсоответственно; X - длина волны используемого света. Источники информации, тые во внимание при экспертизе Авторское свидетельство СССР 170, кл. G 01 N 21/40, 1969 отип) .

f г. 3 6 7 в