SU749188A1 - Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа - Google Patents

Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа Download PDF

Info

Publication number
SU749188A1
SU749188A1 SU782562422A SU2562422A SU749188A1 SU 749188 A1 SU749188 A1 SU 749188A1 SU 782562422 A SU782562422 A SU 782562422A SU 2562422 A SU2562422 A SU 2562422A SU 749188 A1 SU749188 A1 SU 749188A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
phase
monochromatic
anisotropy
linear
Prior art date
Application number
SU782562422A
Other languages
English (en)
Inventor
В.М. Ясинский
Original Assignee
Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Ан Белсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Ан Белсср filed Critical Ордена Трудового Красного Знамени Институт Физики Ан Белсср
Priority to SU782562422A priority Critical patent/SU749188A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU749188A1 publication Critical patent/SU749188A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

, ,Наибрлее близким техническим решением  вл етс  способ измерени  оптической фазовой анизотропии, заключающийс  в облучении объекта монохроматическим пол ризованным светом и измерении параметров прошедшего через объект излучени , а также устройство дл  осуш:ествлени  этого способа, содержаш;ее источник излучени , пол ризаторы, фотоприемник и регистрирующее устройство.
Однако данному способу и устройству присущи такие недостатки; как сложность процесса измерени  фазовой анизотропии при недостаточно высокой чувствительности .
Цель изобретени  - упроихенйе процесса измерени  фазовой, анизотропии при
повышенной чувствительности.
Это достигаетс  благодар  тому, что монохроматическое оптическое излучение двух длин воЛн с частотами vi, V2 и, соэтветственно , ортогональными пол ризаци мй , раздел ют на два пучка без изменени 
пол ризации и направл ют, по двум маналам , в одном из которых з становлеи исследуемый объект, оптическое излучение :на выходе каждого канала преоб}5азуют в электрические сигналы и определ ют разность фаз между двум  электрическими -сигналами разностной частоты Av vj--vg,
выдел емыми на выходе каждого канала. При этом дл  измерени  линейной фазовой ан:изотропии монохроматическое оптиЧёское из лучение двух длин волн пол ризуют линейио взаимно ортогонально, а дл  измерени  круговойфазовой анизотропии - пол ризуют циркул рно взаимно ортогонально . Устройство дл  осуществлени  способа измерени  линейной фазовой оптической анизотропии содержит двухчастотный лазер с линейными ортогональными пол ризаци ми волн, пластинкуШ, расположенную на оптической, оси так, что ее ось совпадает с плоскостью одной из линейных ортогональных пол риз1аций, полупрозрачное делительное, зеркало, фотоприемник в дополнительном канале и, установленный перед ним один из пол ризаторов , а также электронный фазометр в качестве регистрирующего устройства. Дл  измерени  круговой фазовой пол риаации устройство содержит пластинку Я-/4, повернутую на 45° относительно плоскостей линейных ортотональных пол ризаций вокруг оптической оси.
На чертеже представлена схема устройства дл . осуществлени  способа.
Устройство состоит из лазера 1, пластинки А,/4 2, делител  3 луча на два канала , объекта 4, помещаемого на пути луча в одном из каналов, пол ризаторов 5, фотоприемников 6, регистрирующего устройства (электронный фазометр) 7, offlTPlfCKH св занных между собой.
При измерении линейной фазовой анизотропии излучение лазера 1, содержащее две монохроматические волны с разными частотами vi, vj и соответственно линейными ортогональными пол ризаци ми, прошедшее через пластинку Я./4 2, ориентированную так, что ее оси совпадают с направлени ми ортогональных линейных пол ризаций, раздел ют с помощью делител  3 без изменени  пол ризации на два пучка, один из которых направл ют на исследуемый объект 4, затем с помощью пол ризаторов 5, ориентированных так, чтобы они пропускали одинаковые по величине компоненты ортогональных волн и фотоприемпиков б, выдел ют электрический сигнал разностной частоты Av vi -Va в опорном к измерительном каналах и измер ют разкость ф|аз между ними с помощью электрон0 пого фазометра 7. Измеренна  разность фаз несет информацию о фазовой анизотропии объекта 4. При и змерении круговой фазовой анизотропии пластинку Л/4 2 -разворачивают на 45° по отношению к направ5 лени м линейных ортогональных пол ризаций вокруг .ческ.ой . оси дл  получени  ортогональных круговых пол ризаций. Паличие каналов опорного и измерительного позвол ет легко осуществл ть калибровку устройства путем измерени  разности, фаз без исследуемого объекта .
Фаза сигнала разностной частоты содержит два члена
21Г/ ,, .
Ф , (lio-i e) + -f. Av пе,
первый из которых равен искомой фазовой анизотропии, а второй возникает из-з.а разности частот Av и вносит систематическую ошибку. Эта ошибка может быть весьма
VН.
где Are MO-«е.
м-алои, если -.- - . Av Д 
так как v это оптичес к(а  частота - , а AV можно выбрать- Ю Гц.
п
С другой стороны, когда Д
AV
станов тс  сравнимы, ее. можно легко исключить путем коммутации знака разностной частоты. V
Осуществл ют экспериментальную проверку способа. В качестве источника излучени  используетс  изотропный лазер в продольном магнитном поле с длиной волны А, 1,15(.1. Зеемановское расщепление частот круговых ортогонально пол ризованных компонент составл ет -600 кГц.
На пути луча помещае;тс  пд1астинка А,/4 дл  получени  линейных ортогональных пол ризаггий..В качестве объекта измерени  используетс  пластинка из кристаллического кварца, вырезанна  параллельно
оптической оси. Сигналы с фотоприемников после усилени  подаютс  на двухлучевой осциллограф. При наклонах пластинки наблюдаетс  фазовый сдвиг одного сигнала разностной частоты относительно другого . Сигналы также подаютс  соответственно на X и Y входы осциллографа и наблюдаютс  фазовые сдвиги по фигурам Лиссажу.
Таким образом, предварительна  качественна  проверка метода показывает его принципиальную работоспособность.
Оценки чувствительности данного способа дают значени  минимально обнаружимого изменени  фазы в некоторой конкретной ситуации 2 ilO- рад - 4 10 угл. с.
Таким образом, данный способ потенциально сочетает в себе достоинства внутрирезонаторното метода - высокую чувствительность --- 2-10 рад 4 10 угл. с с достоинствами эллипсометрического: возможностью работы с объектами различной физической природы в разных агрегатных состо ни х. Кроме того, он достаточно прост и свободен от недостатков, присущих обоим методам. На его основе возможно создание достаточно простых, высокочувствительных приборов дл  измеренп  фазовой .анизотропии, которые найдут широкое применение в тех област х науки и техники, где в насто щее врем  примен ютс  эллипсометры.

Claims (5)

1. Способ измерени  оптической фазовой анизотропии, заключающийс  в облучении объекта монохроматическим пол ризованным светом и измерении параметров прощедшего через объект излучени , отличающийс  тем, что, с целью упрощени  процесса измерени  при повыщенной чувствительности, монохроматическое оптическое излучение двух длин волн с частотами Vi и V2 и.соответственно, ортогональными пол ризаци ми, раздел ют на два пучка без изменени  пол ризации и направл ют по двум каналам, в одном из которых установлен исследуемый объект, оптическое излучение на выходе каждого канала .преобразуют в электрические сигналы и определ ют разность фаз между двум  электрическими сигналами разностной частоты AV vi - V2, выдел емыми на выходе каждого канала.
2. Способ по п. 1, отлич1ающийс  тем, что, с целью измерени  линейной фазовой анизотропии, монохроматическое излучение двух длин волн пол ризуют линейно взаимно ортогонально.
3.Способ по п. 1, отличающийс  тем, что, с целью измерени  круговой фазовой анизотропии, монохроматическое излучение двух длин волн пол ризуют циркул рно взаимно ортогонально.
4.Устройство дл  реализации способа по п. 1 и 2, содержащее источник излучени , пол ризаторы, фотоприемник и регистрирующее устройство, отличающеес  тем, что оно содержит двух)частотный лазер с линейными ортогональными пол ризаци ми
волн, пластинку К/4, расположенную ра оптической оси так, что ее ось совпадает с плоскостью одной из линейных ортогональных пол ризаций, полупрозрачное делительное зеркало, фотоприемник в дополнительном канале и установленный перед ним один, из пол ризаторов, а также электронный фазометр в качестве регистрирующего устройства.
5.Устройство по пп. 1 и 3, отличающ ё е с   тем, что оно содержит пластинку
KI4, повернутую на 45° относительно плоскостей линейных ортогональных пол ризаций вокруг оптической оси.
SU782562422A 1978-01-03 1978-01-03 Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа SU749188A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782562422A SU749188A1 (ru) 1978-01-03 1978-01-03 Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782562422A SU749188A1 (ru) 1978-01-03 1978-01-03 Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU749188A1 true SU749188A1 (ru) 1982-03-30

Family

ID=20741303

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782562422A SU749188A1 (ru) 1978-01-03 1978-01-03 Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU749188A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3891321A (en) Optical method and apparatus for measuring the relative displacement of a diffraction grid
JP3273501B2 (ja) 測定経路内のガスの屈折率の変動を測定する装置及び方法
Norden et al. Critical aspects of measurement of circular and linear dichroism: a device for absolute calibration
US4589776A (en) Method and apparatus for measuring optical properties of materials
JPH09126900A (ja) ホモダイン干渉受信計及びその受信法
CA1240174A (en) Method of and device for real time measurement of the state of polarization of a quasi-monochromatic light beam
JPH0342622B2 (ru)
CA2122782C (en) Apparatus for measuring an ambient physical parameter applied to a highly birefringent sensing fiber and method
US3390605A (en) Device for measuring simultaneously both rotatory polarization and light absorption
SU749188A1 (ru) Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа
US4298284A (en) Method and apparatus for measuring magnetooptic anisotropy
EP0080540A1 (en) Method and apparatus for measuring quantities which characterize the optical properties of substances
US3481671A (en) Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements
JPS63236945A (ja) ラマン散乱光の偏光特性を利用する結晶方位解析装置
JP2004163384A (ja) 時間分解・非線形複素感受率測定装置
US3602597A (en) Differential circular dichroism measuring apparatus
US4003663A (en) Device for calibrating instrument that measures circular dichroism or circularly polarized luminescence
JP3479685B2 (ja) 異方性解析方法及び異方性解析装置
JP2713190B2 (ja) 光学特性測定装置
SU1140009A1 (ru) Способ эллипсометрической спектроскопии
SU1157416A1 (ru) Многолучевой интерференционный эллипсометр
JPH08278202A (ja) 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置
SU416598A1 (ru)
JP3036951B2 (ja) 光波干渉計測装置
GB1210273A (en) Optical dichroism measuring apparatus & method