SU749188A1 - Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа - Google Patents
Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа Download PDFInfo
- Publication number
- SU749188A1 SU749188A1 SU782562422A SU2562422A SU749188A1 SU 749188 A1 SU749188 A1 SU 749188A1 SU 782562422 A SU782562422 A SU 782562422A SU 2562422 A SU2562422 A SU 2562422A SU 749188 A1 SU749188 A1 SU 749188A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- phase
- monochromatic
- anisotropy
- linear
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
, ,Наибрлее близким техническим решением вл етс способ измерени оптической фазовой анизотропии, заключающийс в облучении объекта монохроматическим пол ризованным светом и измерении параметров прошедшего через объект излучени , а также устройство дл осуш:ествлени этого способа, содержаш;ее источник излучени , пол ризаторы, фотоприемник и регистрирующее устройство.
Однако данному способу и устройству присущи такие недостатки; как сложность процесса измерени фазовой анизотропии при недостаточно высокой чувствительности .
Цель изобретени - упроихенйе процесса измерени фазовой, анизотропии при
повышенной чувствительности.
Это достигаетс благодар тому, что монохроматическое оптическое излучение двух длин воЛн с частотами vi, V2 и, соэтветственно , ортогональными пол ризаци мй , раздел ют на два пучка без изменени
пол ризации и направл ют, по двум маналам , в одном из которых з становлеи исследуемый объект, оптическое излучение :на выходе каждого канала преоб}5азуют в электрические сигналы и определ ют разность фаз между двум электрическими -сигналами разностной частоты Av vj--vg,
выдел емыми на выходе каждого канала. При этом дл измерени линейной фазовой ан:изотропии монохроматическое оптиЧёское из лучение двух длин волн пол ризуют линейио взаимно ортогонально, а дл измерени круговойфазовой анизотропии - пол ризуют циркул рно взаимно ортогонально . Устройство дл осуществлени способа измерени линейной фазовой оптической анизотропии содержит двухчастотный лазер с линейными ортогональными пол ризаци ми волн, пластинкуШ, расположенную на оптической, оси так, что ее ось совпадает с плоскостью одной из линейных ортогональных пол риз1аций, полупрозрачное делительное, зеркало, фотоприемник в дополнительном канале и, установленный перед ним один из пол ризаторов , а также электронный фазометр в качестве регистрирующего устройства. Дл измерени круговой фазовой пол риаации устройство содержит пластинку Я-/4, повернутую на 45° относительно плоскостей линейных ортотональных пол ризаций вокруг оптической оси.
На чертеже представлена схема устройства дл . осуществлени способа.
Устройство состоит из лазера 1, пластинки А,/4 2, делител 3 луча на два канала , объекта 4, помещаемого на пути луча в одном из каналов, пол ризаторов 5, фотоприемников 6, регистрирующего устройства (электронный фазометр) 7, offlTPlfCKH св занных между собой.
При измерении линейной фазовой анизотропии излучение лазера 1, содержащее две монохроматические волны с разными частотами vi, vj и соответственно линейными ортогональными пол ризаци ми, прошедшее через пластинку Я./4 2, ориентированную так, что ее оси совпадают с направлени ми ортогональных линейных пол ризаций, раздел ют с помощью делител 3 без изменени пол ризации на два пучка, один из которых направл ют на исследуемый объект 4, затем с помощью пол ризаторов 5, ориентированных так, чтобы они пропускали одинаковые по величине компоненты ортогональных волн и фотоприемпиков б, выдел ют электрический сигнал разностной частоты Av vi -Va в опорном к измерительном каналах и измер ют разкость ф|аз между ними с помощью электрон0 пого фазометра 7. Измеренна разность фаз несет информацию о фазовой анизотропии объекта 4. При и змерении круговой фазовой анизотропии пластинку Л/4 2 -разворачивают на 45° по отношению к направ5 лени м линейных ортогональных пол ризаций вокруг .ческ.ой . оси дл получени ортогональных круговых пол ризаций. Паличие каналов опорного и измерительного позвол ет легко осуществл ть калибровку устройства путем измерени разности, фаз без исследуемого объекта .
Фаза сигнала разностной частоты содержит два члена
21Г/ ,, .
Ф , (lio-i e) + -f. Av пе,
первый из которых равен искомой фазовой анизотропии, а второй возникает из-з.а разности частот Av и вносит систематическую ошибку. Эта ошибка может быть весьма
VН.
где Are MO-«е.
м-алои, если -.- - . Av Д
так как v это оптичес к(а частота - , а AV можно выбрать- Ю Гц.
п
С другой стороны, когда Д
AV
станов тс сравнимы, ее. можно легко исключить путем коммутации знака разностной частоты. V
Осуществл ют экспериментальную проверку способа. В качестве источника излучени используетс изотропный лазер в продольном магнитном поле с длиной волны А, 1,15(.1. Зеемановское расщепление частот круговых ортогонально пол ризованных компонент составл ет -600 кГц.
На пути луча помещае;тс пд1астинка А,/4 дл получени линейных ортогональных пол ризаггий..В качестве объекта измерени используетс пластинка из кристаллического кварца, вырезанна параллельно
оптической оси. Сигналы с фотоприемников после усилени подаютс на двухлучевой осциллограф. При наклонах пластинки наблюдаетс фазовый сдвиг одного сигнала разностной частоты относительно другого . Сигналы также подаютс соответственно на X и Y входы осциллографа и наблюдаютс фазовые сдвиги по фигурам Лиссажу.
Таким образом, предварительна качественна проверка метода показывает его принципиальную работоспособность.
Оценки чувствительности данного способа дают значени минимально обнаружимого изменени фазы в некоторой конкретной ситуации 2 ilO- рад - 4 10 угл. с.
Таким образом, данный способ потенциально сочетает в себе достоинства внутрирезонаторното метода - высокую чувствительность --- 2-10 рад 4 10 угл. с с достоинствами эллипсометрического: возможностью работы с объектами различной физической природы в разных агрегатных состо ни х. Кроме того, он достаточно прост и свободен от недостатков, присущих обоим методам. На его основе возможно создание достаточно простых, высокочувствительных приборов дл измеренп фазовой .анизотропии, которые найдут широкое применение в тех област х науки и техники, где в насто щее врем примен ютс эллипсометры.
Claims (5)
1. Способ измерени оптической фазовой анизотропии, заключающийс в облучении объекта монохроматическим пол ризованным светом и измерении параметров прощедшего через объект излучени , отличающийс тем, что, с целью упрощени процесса измерени при повыщенной чувствительности, монохроматическое оптическое излучение двух длин волн с частотами Vi и V2 и.соответственно, ортогональными пол ризаци ми, раздел ют на два пучка без изменени пол ризации и направл ют по двум каналам, в одном из которых установлен исследуемый объект, оптическое излучение на выходе каждого канала .преобразуют в электрические сигналы и определ ют разность фаз между двум электрическими сигналами разностной частоты AV vi - V2, выдел емыми на выходе каждого канала.
2. Способ по п. 1, отлич1ающийс тем, что, с целью измерени линейной фазовой анизотропии, монохроматическое излучение двух длин волн пол ризуют линейно взаимно ортогонально.
3.Способ по п. 1, отличающийс тем, что, с целью измерени круговой фазовой анизотропии, монохроматическое излучение двух длин волн пол ризуют циркул рно взаимно ортогонально.
4.Устройство дл реализации способа по п. 1 и 2, содержащее источник излучени , пол ризаторы, фотоприемник и регистрирующее устройство, отличающеес тем, что оно содержит двух)частотный лазер с линейными ортогональными пол ризаци ми
волн, пластинку К/4, расположенную ра оптической оси так, что ее ось совпадает с плоскостью одной из линейных ортогональных пол ризаций, полупрозрачное делительное зеркало, фотоприемник в дополнительном канале и установленный перед ним один, из пол ризаторов, а также электронный фазометр в качестве регистрирующего устройства.
5.Устройство по пп. 1 и 3, отличающ ё е с тем, что оно содержит пластинку
KI4, повернутую на 45° относительно плоскостей линейных ортогональных пол ризаций вокруг оптической оси.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782562422A SU749188A1 (ru) | 1978-01-03 | 1978-01-03 | Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782562422A SU749188A1 (ru) | 1978-01-03 | 1978-01-03 | Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU749188A1 true SU749188A1 (ru) | 1982-03-30 |
Family
ID=20741303
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782562422A SU749188A1 (ru) | 1978-01-03 | 1978-01-03 | Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU749188A1 (ru) |
-
1978
- 1978-01-03 SU SU782562422A patent/SU749188A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3891321A (en) | Optical method and apparatus for measuring the relative displacement of a diffraction grid | |
JP3273501B2 (ja) | 測定経路内のガスの屈折率の変動を測定する装置及び方法 | |
Norden et al. | Critical aspects of measurement of circular and linear dichroism: a device for absolute calibration | |
US4589776A (en) | Method and apparatus for measuring optical properties of materials | |
JPH09126900A (ja) | ホモダイン干渉受信計及びその受信法 | |
CA1240174A (en) | Method of and device for real time measurement of the state of polarization of a quasi-monochromatic light beam | |
JPH0342622B2 (ru) | ||
CA2122782C (en) | Apparatus for measuring an ambient physical parameter applied to a highly birefringent sensing fiber and method | |
US3390605A (en) | Device for measuring simultaneously both rotatory polarization and light absorption | |
SU749188A1 (ru) | Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа | |
US4298284A (en) | Method and apparatus for measuring magnetooptic anisotropy | |
EP0080540A1 (en) | Method and apparatus for measuring quantities which characterize the optical properties of substances | |
US3481671A (en) | Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements | |
JPS63236945A (ja) | ラマン散乱光の偏光特性を利用する結晶方位解析装置 | |
JP2004163384A (ja) | 時間分解・非線形複素感受率測定装置 | |
US3602597A (en) | Differential circular dichroism measuring apparatus | |
US4003663A (en) | Device for calibrating instrument that measures circular dichroism or circularly polarized luminescence | |
JP3479685B2 (ja) | 異方性解析方法及び異方性解析装置 | |
JP2713190B2 (ja) | 光学特性測定装置 | |
SU1140009A1 (ru) | Способ эллипсометрической спектроскопии | |
SU1157416A1 (ru) | Многолучевой интерференционный эллипсометр | |
JPH08278202A (ja) | 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置 | |
SU416598A1 (ru) | ||
JP3036951B2 (ja) | 光波干渉計測装置 | |
GB1210273A (en) | Optical dichroism measuring apparatus & method |