SU822291A1 - Фотоэлектрический преобразова-ТЕль - Google Patents
Фотоэлектрический преобразова-ТЕль Download PDFInfo
- Publication number
- SU822291A1 SU822291A1 SU782636665A SU2636665A SU822291A1 SU 822291 A1 SU822291 A1 SU 822291A1 SU 782636665 A SU782636665 A SU 782636665A SU 2636665 A SU2636665 A SU 2636665A SU 822291 A1 SU822291 A1 SU 822291A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- bus
- emitters
- photoelectric converter
- emitter transistors
- emitter
- Prior art date
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
Изобретение относитс к оптоэлектронике и может быть использовано в быстродействующих системах обработки оптической информации, в частности в голографических запоминающих устройствах . Известны фотоэлектрические полупроводниковые преобразователи на фотодиодах l и 2 . Их недостатками вл 1 тс низка порогова фоточувствительность (10 Дж/элемент) и низкое быстродействие .. Известен фбтоэлектрический полупроводниковый преобразователь, представл ющий собой интегральную матрицу , чейка которой имеет двухэмиттерный фототранзистор. Однотипные эмиттеры транзисторов чеек соединены взаимно перпендикул рными шинамиг 3. Недостатком этого фотопреобразовател вл етс длительный переходный процесс при переключении слабых световых сигналов (много более 1 мкс В результате, на высоких .частотги это устройство не позвол ет реализовать чувствительность выше 10 10 дж/элемент , к тому же чувствительность ограничиваетс помехами от сигналов управлени и темновым током утечки, который сильно зависит от температуры, удваива сь при увеличении ее на . Таким образом недостатками указанного фотопреобразовател вл етс низкое быстродействие и низка порогова чувствительность и узкий температурный диапазон. Современные системы обработки оптической информации требуют высокой чувствительности фотопреобразовател 1СГ-10 Дж/элемент при быстродействии 10 Гц, в широком температурном диапазоне (-60) -(+80С). Цель изобретени - повышение быстродействи и пороговой фоточувствительности в расширенном температурном диапазоне. Поставленна цель достигаетс тем, что в фотоэлектрическом преобразователе , содержащем два двухэмиттерных тринзистрра, первые из эмиттеров которых соединены с шиной управлени , вторые из эмиттеров - с соответствующими дифференциальными шинами считывани , а коллекторы - с шиной смещени , и шину питани , оба двухэмит терных транзистора выполнены инжекционными и их инжекторы соединены с
шиной питани , причем, один из транзисторов заключен в светонепроницаемое покрытие.
Инжектор создает оптимальный рабочий режим фотопреобразовател , благодар чему его быстродействие увеличиваетс на 3-4 пор дка. При этом, однако, порогова чувствительность фотопреобразовател ухудшаетс из-за возросших темновых токов. В общем чувствительность ограничиваетс помехами от сигналов управлени темновыми токами утечки через р-п переходы и темновыМи токами, вызванными инжектором . Применение в каждой чейке одинаковых полупроводниковых приборов с затемнением одного из них и подключением выходов к дифференциальному усилителю позвол ет скомпенсировать все указанные помехи, сохранив быстродействие. Помехи, св занные с изменением температуры также компенсируютс , так как приборы чейки одинаковы и наход тс в одинаковых услови х.
На фиг.1 представлена электрическа схема предлагаемого фотоэлектрического преобразовател ; на фиг.2 конструкци одного из вариантов устройства .
Фотоэлектрический преобразователь содержит шину 1 сме1цени , две одинаковых фоточувствительных полупроводниковых структуры, например фототранзисторы 2 и 3. Свет воздействует на фототранзистор 2 чейки, а фототранзистор 3 защищен светонепроницаемым покрытием. Фототранзисторы чейки двухэмиттерные ,п-р-п типа с общим коллектором 4. Сигналы управлени подаютс на их базы 5 через емкость 6 р-п-перехода, образованного базой и эмиттером 7. Эмиттеры 8 транзисторов 2 и 3, принадлежащих определенному столбцу, подсоединены к соответствующим дифференциальным шинам 9 считывани . В качестве инжектора, обеспечивающего рабочий режим больших токов р-п-переходов (следовательно режим малых посто нных времени) , в каждом приборе используетс транзистор р-п-р типа, образованный подложкой 10 (эмиттер), эпитаксиальным слоем коллектора 4 (база) и базой 5 п-р-п транзистора (коллектор). Устройство имеет шину 11 управлени и шину 12 питани .
Оба фототранзистора каждой чейки работают в динамическом режиме с накоплением зар да. Сигналы управлени по шине 11 управлени поступают на базы фототранзисторов 5 через барьерные емкости б эмиттерных переходов 7. Они обеспечивают зар дку барьерньйс емкостей 6 фототранэисторов , которые в паузе между импульсами управлени разр жаютс фототоком, темновым током утечек и генератором тока. Очевидно, сигналы помех и темновые токи, вл ющиес одинаковыми у р дом расположенных фототранзисторов интегральной схемы; компенсируютс на дифференциальном усилителе, и на выходе усилител реализуетс сигнал, пропорциональный освещенности.Инжекторы разр жают частично барьерные емкости б и, тем самым, обеспечивают выве цение фототранзисторов при импульсном опросе в режим больших токов, соответствующий малым посто нным времени . Инжекторы могут разр жать емкости б либо посто нным (как это показано на фиг,2), либо импульсным током в паузах между импульсами генератора опроса, обеспечива величину зар да дырок, в 4-10 раз превосход щую величину максимального зар да фототока .
Предлагаемый фотопреобразователь выгодно отличаетс от известного тем
что он обеспечивает ВЫСОКУЮ пороговую
-f4 -1Ь светочувствительность (10 -10Дж/элемент ), широкий температурный диапазон (-60) -(+80°с) и высокое быстродействие (10 с). Это расшир ет область применени предлагаемого фотопреобразовател по сравнению с известным .
Claims (3)
1.Фотоэлектрический преобразователь , содержащий два двухэмиттерных транзистора, первые из эмиттеров которых соединены с шиной управлени , вторые из эмиттеров - с соответствующими дифференциальными шинами считывани , а коллекторы - с шиной смещени , и шину питани , отличающийс тем, что, с целью повышени быстродействи и чувствительности преобразовател , двухэмиттерные транзисторы выполнены инжекционными и их инжекторы соединены с шиной питани .
2.Преобразователь по п.1, о т личающийс тем, что один из двухэмиттерных транзисторов заключен в светонепроницаемое покрытие
Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе
1.Патент США 3614775, кл. 340-173, 1971.
2.Патент США № 3689900, кл.340-137, 1972.
3. Tujctsu Sientific Technical Journal, 1972 , September, p.l37151 (прототип).
Фи.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782636665A SU822291A1 (ru) | 1978-07-04 | 1978-07-04 | Фотоэлектрический преобразова-ТЕль |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782636665A SU822291A1 (ru) | 1978-07-04 | 1978-07-04 | Фотоэлектрический преобразова-ТЕль |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU822291A1 true SU822291A1 (ru) | 1981-04-15 |
Family
ID=20773617
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782636665A SU822291A1 (ru) | 1978-07-04 | 1978-07-04 | Фотоэлектрический преобразова-ТЕль |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU822291A1 (ru) |
-
1978
- 1978-07-04 SU SU782636665A patent/SU822291A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6157035A (en) | Spatially modulated detector for radiation | |
JPS6149822B2 (ru) | ||
US4190851A (en) | Monolithic extrinsic silicon infrared detectors with charge coupled device readout | |
US3624428A (en) | Electric signal processing circuit employing capacitively scanned phototransistor array | |
US6781169B2 (en) | Photodetector with three transistors | |
GB1492708A (en) | Semiconductor optical image sensing device | |
US4737832A (en) | Optical signal processor | |
EP0260824B1 (en) | Circuit for a photosensitive pixel with exposed blocking element | |
CA2116793A1 (en) | Pin-type light receiving device, manufacture of the pin-type light receiving device and optoelectronic integrated circuit | |
US4023048A (en) | Self-scanning photo-sensitive circuits | |
US4585934A (en) | Self-calibration technique for charge-coupled device imagers | |
SU822291A1 (ru) | Фотоэлектрический преобразова-ТЕль | |
US4183034A (en) | Pin photodiode and integrated circuit including same | |
US4682203A (en) | Solid-state image pickup device with photographic sensitivity characteristics | |
US4746804A (en) | Photosensitive pixel with exposed blocking element | |
US3452206A (en) | Photo-diode and transistor semiconductor radiation detector with the photodiode biased slightly below its breakdown voltage | |
GB1592373A (en) | Photodetector | |
EP0877426B1 (en) | A method for shortening the time response of a radiation detector and a detector using that method | |
SU758252A1 (ru) | ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ, содержащий матрицу фоточувствительных ячеек, каждая из которых | |
US4019199A (en) | Highly sensitive charge-coupled photodetector including an electrically isolated reversed biased diffusion region for eliminating an inversion layer | |
US3705308A (en) | Pulse coded sound reproduction using optical read-out of the microphone membrane | |
KR930701836A (ko) | 광자로 여기된 가변 캐패시턴스 효과 디바이스 | |
KR970004849B1 (ko) | 포토센서 | |
US4567430A (en) | Semiconductor device for automation of integrated photoarray characterization | |
US3986195A (en) | Light responsive field effect transistor having a pair of gate regions |