SU798632A1 - Способ измерени диэлектрическихпАРАМЕТРОВ МАТЕРиАлОВ - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к радйоиэмерительной технике.

Известен способ измерени  диэлектрических параметров материалов в пол ризационных интерферометрах, включающий возбуждение интерферометра электромагнитной волной и регистрацию интенсивности всшн, прошедших через интерферометр с образце и без образца 1.

Однако известный способ не обеспечивает высокую точность)измерений при свипировании частоты возбуждающей электромагнитной волны,

Цель изобретени  - повышение точности измерений при свипировании частоты возбуждающей злектромагнитной волны.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в способе измерени  диэлектрических параметров материалов в пол ризационных интерферометрах, включающем возбуждение интерферометра элоктромагнитиой волной и регистрацию интенсивности волн, прошедших через интерферометр с образцом и без образца, интерферограмму смещают на 180° без искаже«и  амплитудных составл ющих во всем диапазоне свипировани  частоты и вторично регистрируют интенсивность электромагнитной волны, прошедшей интерферометр с образцом и без образца.

На чертеже приведена структурна  схема интерферометра, реализующего способ.

Интерферометр содержит генератор 1, линзу 2, пол роиды 3, делители

4 и 5, зеркала 6 и 7, анализатор 8, линзу 9 и приёмник 10, Образец 11 размещаетс  между делителем 4 и зеркалом 6,

Способ измерени  диэлектрических

параметров материалов в пол ризационных интерферометрах осуществл ет„с  следующим образом.

Излучение генератора 1 преобразуетс  линзой 2 в плоекопараллель-.

Claims (1)

1. ную волну, котора , пройд  пол роид 3/ становитс  линейно пол ризованной . В качестве пол роида 3, делителей 4 и 5 и анализатора 8 используютс  одномерные сетчатые элементы , представл ющие собой проволочные решетки с периодом между проводниками Ь «Л , где Л - длина волны рабочего излучени . Электромагнитна  волна с вектором Е, паоаллельным проводникам пол роида 3, практически полностью отражаетс  от него, а волна ортогональной пол ризации проходит практически без потерь. Дл  определенности предположи, например,. что проводники в делителе 5 горизонтальны, а в делителе 4 - вертикальны. . Зсли после прохождени  золны через пол роид 3 вектор Е ориентирован, например, под углом 45° .к вертикал то така  волна на делителе 4 раэла гаетсй иа две волны одинаковой интенсивности, но с взаимно ортогокальньвди пол ризаци ми, которые затем, пройд  через соответствующи плачи интерферометра, образованные зеркалами 6 и 7, снова собираютс  в один пучок делителем 5. Но эти эол ы не интерферируют между собой так как их пол ризации различны. Анализатор 8 вьщел ет из них две волны одинаковой пол ризации, интенсивность которых определ етс  УГПО1Л между проводниками анализатора е и вертикалью. Интенсивность волны, образовавшейс  в результате интерференции этих волн, регистрир етс  приемником 10, Если при фиксирован ном положени зеркал 6 и 7 производитс  запись сигнала на приемнике 10 при свипировании частоты генератора 1 и, в отсутствие образца 11, интерферометр сбалансирован по амплитуд т,е, интенсивность волн, прошедших разные плечи одинакова, то сиг У на приемнике 10  вл етс  следующ функцией частоты « 3,W--f(D)cos. где f (О) - аппаратна  функци  генератора 1, тракта и приемника 10; 0(1)) - фазова  расстройка пле интерферометра. При помещении образца 11 в интерферометр интерферограмма модифицируетс  следующим образом (f .l,M,v) iffii iib J, где n и k - показатели преломлени и поглощени  образца 11, св заиные с. мнимой и действительной част ми диэлектрической проницаемости соотношени ми 6 « k 6 2 nk; AeL (n,k,0) - дополнительный фазовый разбаланс интерферометра , вызванный образцом 11. Дл  определени  параметров W и Ic образца 11 из интерферограмм 7-1 и Jj (V) необходимо учесть аппарат ную функичю f(V), Это .осуществл ет с  дополн-iтельным измерением при внесении в волну,,проход щую через одно из плеч интерферометра, добавочного фазового сдвига в 180°, Тогда дл  интерферометра без образ- , ца 11 имеем (-))co5-()-.-f Сл))51п , а дл  расчета аппаратной функции получаем следующее соотношение f (-Д)) 1 (л)} + ЛзСл))При последовательном проваде- НИИ измерений нескольких .образцов нет необходимости каждый раз записы-, вать интерферограмму .пустого интерферометра , так как она сохран етс  , Так как помещение образца 11 в интерферометр несколько искажает аппаратную функцию тракта, то целесообразно произвести измерение .со сдвинутой на 180 интерферограммой и при наличии образца 11 в интерферометре , Сдвиг интерферограммы на 180° осуществл етс  путем поаорота вокруг оптической оси анализатора 8 и пол роида 3 на некоторый угол. Исключив таким образом искажагачее вли ние на интерферогра1 илы пустого и нагруженного интерферометра аппаратных функций генератора 1, тракта и приемника 10, рассчитывают n и К .образца 11, При этом повышаетс  точность измерений диэлектрических параметров материала. Формула изобретени  Способ измерени  диэлектрических параметров материалов в пол ризационных интерферометрах, включающий возбуждение интерферометра электромагнитной волной и регистрацию интенсивности волн, прошедших через интерферометр с образцом .и без образца,, отличающи йс   тем, что, с целью повышени  точности измерений при свипировании частоты возбуждающей электромагнитной волны, интерферограмму смещают на 180° без искажени  амплитудных- составл ющих во всем диапазоне свипировани  частоты и вторично регистрируют интенсивность электромагнитной волны, прошедшей интерферометр с образцом и без образца. Источники инфор 1ации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Козлов Г,В. Измерение показателей преломлени  диэлектриков в миллиметровс 1 диапазоне волн. Приборы и техника эксперимента , 1971, 4, с, 1952-154 (прототип).

   SЮ

   .

   ни

   г 5