SU798567A1 - Устройство дл контрол дефектовпОВЕРХНОСТи ТЕл ВРАщЕНи - Google Patents

Description

i

Изобретение относитс  к области контрольно-измерительной техники и Может быть применено в машиностроении и приборостроении, преимущественно дл  контрол  дефектов поверхности деталей после обработки на тоkapHHX автоматах.

Известно устройство дл  обнаружени  дефектов поверхности тел вращени , состо щее из лазера, линзы, фокусирующей лазерное излучение на исследуемую поверхность, фотоприемт ного устройства, вьтолненного в виде группы из п ти фотоэлементов, и блока обработки фотоэлектрической информации, выполненного в виде дифференциального усилител . Наличие дефекта поверхности определ етс  по перераспределению ;интенсивн6сти дифрагированного светового потока между фотоэлементами, которые расположены относительно отраженного светового потока таким образом, что в Ьтсутствие дефекта нулевой. пор док дифракции воспринимаетс  центргшьным, а первые пор дки - краними фотоэлементагли 1

Недостатками его  вл етс  мала  производительность контрол , обусловленна  тем, что поверхность сканируетс  точечным источником, мала  надежность вы влени  дефектов, св занна  с тем, что перераспределение энергии дифракционной картины может быть вызвано изменением диаметра исследуемой детали в пределах допуска . Кроме того, данное устройство имеет узкую область применени , ограниченную контролем деталей с по0 верхностью высоких классов шероховатости , и не может быть использовано дл  контрол  деталей после обработки на токарных автоматах тел вращени  сложнрго профил .

5

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  устройство дл  контрол  дефектов поверхности тел вращени , содержащее

0 лазер, коллиматор, цилиндрическую линзу, оптические оси которых расположены нормально к поверхности тера вращени , фотоприемники, ,установленные под фиксированным углом к

Claims (1)

1. 5 оптической оси лазера, блок обработки фотоэлектрической информации. Блок обработки фотоэлектрической информации осуществл ет частотную обработку электрических сигналов, 0 поступающих от фотоэлементов, регистрирующих световой поток, рас .се нный на дефектах поверхности 2 Недостатками известного устройст ва  вл етс  мала  надежность контрол  дефектов (вы вление лишь 85% дефектных изделий) из-за установки фотоприемников под фиксирован ным углом к оптической оси лазера. Кроме того, с помощью известного ус ройства невозможно точно определить к какому участку поверхности относи с  -вы вленный .дефект. Указанные не достатки обусловлены тем, что фотоприемники расположены под одним и тем же углом к оси луча падающего на участки поверхности с различными радиусами, причем в конструкции не исключено взаимное вли ние отраженных различными участками поверхности световых потоков. Цель изобретени  - увеличение чувствительности контрол . Указанна  цель достигаетс  тем,, что в известном устройстве дл  конт рол  дефектов поверхности тел враще ни , содержащем лазер, коллиматор, цилиндрическую линзу,оптические оси которых расположены нормально к поверхности тела вращени , фотоприемники , установленные под .фиксированным углом к оптической оси лазера, блок обработки фотоэлектрической ин формации, фотоприемники разделены между собой светонепроницаемыми шторками и расположены под различными углами к оптической оси лазера На фиг. 1 изображена принципиаль на  оптическа  схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 показана опти ческа  схема устройства с трем  раз личными углами фотоприемников,вид сверху.. Устройство содержит лазер 1, коллиматор 2, цилиндрическую линзу 3, расположенные соосно причем их оптические оси расположены нормально к поверхности тела вращени , а цилиндрическа  линза 3 установлена так, что ее радиус кривизнь; перпендикул рен образующей исследуемого тела вращени , фотоприемники 4, расположенные под соответствующими углами oL, d 2. , ctь к оптической оси лазера (величина углов зависит от радиуса соответствующего участка поверхности Фотоприемники 4 разделены между собой светонепр.оницае1у1ыми шторками 5, расположенными напротив границ различных участков поверхности тела вра щени . Выходы фотбприемников 4 элект рически соединены с блоком б обработ ки фотоэлектрической информации. Устройство работает следующим образом. Луч лазера 1, сформированный коллиматором 2, фокусируетс  на исследуемую поверхность в линию, параллельную ее образующей с помощью цилиндрической линзы 3. Рассе нный дефектами различных участков поверхности световой поток воспринимаетс  фотоприемниками 4, разделенными светонепроницаемыми шторками 5, которые позвол ют исключить взаимное вли ние отраженных различными участк-ами поверхности световых потоков. Информаци  о наличии дефекта с фотоприемников 4 поступает в блок б обработки фотозлектрической информации, который может осуществл ть частотную или амплитудную,обработку информации по каналам всех фотоприемников в зависимости от цели контрольной операции, а также может быть соединен с ЭВМ дл  управлени  сортировочным механизмом. Использование предлагаемого изобретени  позвол ет повысить чувствительность контрол  и разделить дефекты по участкам поверхности тела вращени  , а также повысить надежность контрол  (довести уровень вы вл емых дефектных деталей до 98%), При соответствующем выборе системы обработки фотоэлектрической информации изобретение может быть использовано при обработке деталей на токарных автоматах. Формула изобретени  Устройство дл  контрол  дефектов поверхности тел вращени ,, содержащее лазер, коллиматор, цилиндрическую линзу, оптические оси которых расположены нормально к поверхности тела вращени , фотоприемники, установленные под фиксированным углом к оптической оси лазера, блок обработки Фотоэлектрической информации, отличающеес  тем, что, с целью увеличени  чувствительности контрол  фотоприемники разделены между собой светонепроницаемыми шторками и расположены под различными углами к оптической оси лазера. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Патент Японии 52-34511, кл. G 01 N 21/32, опублик.1977, 2. b.R.,BiddCe5 B.a.Suriace Зпepectiovi of OpticaE and Seniiconductor components. J.Opt.EngineeHngr,l976,V-l, № If 48-51 . (прототип).