SU798566A1 - Method of detecting surface defects on the articles such as bodies of revolution - Google Patents
Method of detecting surface defects on the articles such as bodies of revolution Download PDFInfo
- Publication number
- SU798566A1 SU798566A1 SU782675012A SU2675012A SU798566A1 SU 798566 A1 SU798566 A1 SU 798566A1 SU 782675012 A SU782675012 A SU 782675012A SU 2675012 A SU2675012 A SU 2675012A SU 798566 A1 SU798566 A1 SU 798566A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- angle
- light
- defects
- signal
- indicatrix
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Description
Изобретение относится к области неразрушающего контроля изделий и может быть использовано для обнаружения дефектов на поверхности изде- . лий в форме тел вращения, например роликов, втулки, гильзы и т.п.The invention relates to the field of non-destructive testing of products and can be used to detect defects on the surface of the product. lines in the form of bodies of revolution, for example rollers, bushings, sleeves, etc.
Известны способы обнаружения дефектов на поверхности движущихся изделий, заключающиеся в том, что на поверхность контролируемого изделия направляют наклбнный пучок света, а Отраженный свет регистрируют фотоприемником в пределах угла от 5 до 15° по отношению к направлению зеркального отражения и по величине отношения сигнал-шум судят о качестве его поверхности [1}.Known methods for detecting defects on the surface of moving products, namely, that a nakbnny beam of light is directed to the surface of the controlled product, and the reflected light is recorded by a photodetector within an angle of 5 to 15 ° with respect to the direction of specular reflection and judged by the signal-to-noise ratio about the quality of its surface [1}.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ обнаружения поверхностных дефектов на изделиях в форме тел вращения, заключающийся в том, что на их поверхность направляют наклонный пучок света с шириной, соизмеряемой с размерами минимального дефекта, а отраженный свет регистрируют фотоприемниками (в пределах угла от 20 до 30° по отношению к направлению зеркального отражения) и по величи5 не отношения сигнал-шум судят о качестве контролируемой поверхности[2].Closest to the proposed technical essence is a method for detecting surface defects on products in the form of bodies of revolution, which consists in sending an oblique beam of light with a width commensurate with the size of the minimum defect, and the reflected light is recorded by photodetectors (within the angle from 20 to 30 ° with respect to the direction of specular reflection) and in magnitude 5 not the signal-to-noise ratio judge the quality of the surface being monitored [2].
Недостатком известного способа является ненадежность обнаружения дефектов, обусловленная низким отношением сигнал-шум из-за малой величины полезного сигнала. При выборе угла положения фотоприемника не учитываются угловые размеры индикатрисы рассеяния контролируемой поверхности, которые оказывают влияние на величину оптимального угла положения фотоприемника. На величину отношения сигнал-шум для различных видов поверхностных дефектов оказывает влияние угол падения освещающего луча. Цель изобретения - повышение надежности обнаружения поверхностных дефектов.The disadvantage of this method is the unreliability of detection of defects due to the low signal-to-noise ratio due to the small value of the useful signal. When choosing the angle of the photodetector position, the angular dimensions of the scattering indicatrix of the controlled surface, which affect the value of the optimal angle of the photodetector position, are not taken into account. The magnitude of the signal-to-noise ratio for various types of surface defects is affected by the angle of incidence of the illuminating beam. The purpose of the invention is to increase the reliability of detection of surface defects.
Указанная цель достигается тем, что перед обнаружением поверхностных дефектов на контролируемой поверхности наклонный пучок света направляют на поверхность неподвижного годного изделия под углом 30-40°, измеряют интенсивность света, отраженного под разными углами в плоскости падения, определяют угловые размеры индикатрисы рассеяния на уровне точек переги ба ее ветвей, а фотоприемники устанавливают так, чтобы они регистрировали свет, отраженный от изделия под углом, равным ширине индикатрисы рассеяния на уровне точек перегиба ее ветвей.This goal is achieved by the fact that before detecting surface defects on the controlled surface, an inclined light beam is directed to the surface of a stationary suitable product at an angle of 30-40 °, the intensity of light reflected at different angles in the plane of incidence is measured, the angular dimensions of the scattering indicatrix are determined at the level of the cross points ba of its branches, and photodetectors are installed so that they detect light reflected from the product at an angle equal to the width of the scattering indicatrix at the level of the inflection points of its branches.
На фиг. 1 представлена принципиальная схема контроля, реализующая предлагаемый способ; на фиг.2 типичная индикатриса рассеяния поверхности неподвижного годного изделия,’ на фиг. 3 - типичное распределение амплитуды сигнала от биений .((кривая А) и шума поверхности (кривая В) по углу регистрации Ч (пунктирной линией показана экспериментальная индикатриса для данного вида изделий),' на фиг. 4 - распределение отношения сигнал-шум для контролируемых дефектных изделий,' на фиг. 5 типичная зависимость отношения сигнал-шум от угла падения наклонного пучка света для различных видов поверхностных дефектов.In FIG. 1 presents a control circuit that implements the proposed method; in Fig.2 is a typical indicatrix of the scattering of the surface of a stationary fit product, ’in Fig. 3 - a typical distribution of the amplitude of the signal from the beats. ((Curve A) and surface noise (curve B) according to the recording angle H (the dashed line shows the experimental indicatrix for this type of product), 'in Fig. 4 - the distribution of the signal-to-noise ratio for controlled defective products, 'in Fig. 5 a typical dependence of the signal-to-noise ratio on the angle of incidence of an inclined light beam for various types of surface defects.
Способ осуществляется следующим образом.The method is as follows.
На поверхность неподвижного годного изделия 1 направляют под углом Θ луч 2 света и, перемещая фотоприемник 3 по углу 4, отсчитываемого от направления зеркального отражения, измеряют интенсивность отраженного света, строят индикатрису рассеяния и определяют ее угловые размеры на уровне точек перегиба ее ветвей. Затем закрепляют фотоприемник 3 таким образом, что он регистрирует свет, отраженный под углом 4, равным угловой ширине индикатрисы рассеяния, измеренной на уровне точек перегиба ее ветвей, а источник света устанавливают таким образом, а угол падения наклонного пучка-света составляет 30-409. На позицию контроля последовательно устанавливают контролируемые изделия, придают им вращательное движение и по отношению сигнал-шум судят о качестве поверхности.A light beam 2 is directed at the angle Θ of the stationary good product 1 and, moving the photodetector 3 along the angle 4 counted from the direction of specular reflection, the intensity of the reflected light is measured, the scattering indicatrix is built and its angular dimensions are determined at the level of the inflection points of its branches. Then, the photodetector 3 is fixed so that it detects the light reflected at an angle 4 equal to the angular width of the scattering indicatrix measured at the level of the inflection points of its branches, and the light source is set in this way, and the incidence angle of the oblique beam of light is 30-40 9 . The controlled products are sequentially installed at the control position, they are given a rotational movement, and the surface quality is judged by the signal-to-noise ratio.
Способ применения для контроля полых металлических гильз. Максимум сигнала от биений изделия приходится на точки перегиба ветвей индикатрисы рассеяния, а максимум шума контролируемой поверхности совпадает с направлением зеркального отражения ( Ч =0 ).Method of application for monitoring hollow metal sleeves. The maximum signal from the beating of the product occurs at the inflection points of the branches of the scattering indicatrix, and the maximum noise of the controlled surface coincides with the direction of specular reflection (H = 0).
Кривая С ' относится к дефектам типа мелких царапин и пятен, а кривая Д относится к дефектам типа забоин, вмятин и т.п..Curve C 'refers to defects such as small scratches and stains, and curve D refers to defects such as nicks, dents, etc.
Для надежной регистрации всех.видов поверхностных дефектов угол наклонного пучка света 30-40°.For reliable registration of all types of surface defects, the angle of the inclined light beam is 30–40 °.
Использование предлагаемого спо-> соба позволяет обнаружить контролируемые дефектные изделия с большей вероятностью ¢0,95) по сравнению с известным способом (0,85), что улучшает качество выпускаемой продукции. Ориентировочный экономический эффект от внедрения предлагаемого способа на предприятиях может составить 29 тыс. руб. в год.Using the proposed method allows detecting controlled defective products with a greater probability of ¢ 0.95) compared to the known method (0.85), which improves the quality of the products. Estimated economic effect of the implementation of the proposed method at enterprises may amount to 29 thousand rubles. in year.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782675012A SU798566A1 (en) | 1978-10-10 | 1978-10-10 | Method of detecting surface defects on the articles such as bodies of revolution |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782675012A SU798566A1 (en) | 1978-10-10 | 1978-10-10 | Method of detecting surface defects on the articles such as bodies of revolution |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU798566A1 true SU798566A1 (en) | 1981-01-26 |
Family
ID=20789684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782675012A SU798566A1 (en) | 1978-10-10 | 1978-10-10 | Method of detecting surface defects on the articles such as bodies of revolution |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU798566A1 (en) |
-
1978
- 1978-10-10 SU SU782675012A patent/SU798566A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4469442A (en) | Detecting irregularities in a coating on a substrate | |
JPH0786470B2 (en) | Disk surface inspection method and device | |
JPS6453139A (en) | Surface nature measuring apparatus and method | |
FR2522149A1 (en) | METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING SURFACE DEFECTS IN A SCREW | |
DE3584768D1 (en) | ERROR DETECTION ON TRANSPARENT OBJECTS. | |
EP0008353B1 (en) | Method of detection and classification of flaws on metallic surfaces | |
US6122047A (en) | Methods and apparatus for identifying the material of a particle occurring on the surface of a substrate | |
US5898181A (en) | Thin film optical measurement system | |
US3834822A (en) | Method and apparatus for surface defect detection using detection of non-symmetrical patterns of non-specularly reflected light | |
KR900000585A (en) | Wiring pattern detection method and apparatus | |
US7230229B2 (en) | Method and device for the detection of surface defects on the outer wall of a transparent or translucent object | |
SU798566A1 (en) | Method of detecting surface defects on the articles such as bodies of revolution | |
JP2002506526A (en) | Method and apparatus for inspecting an item for defects | |
JPH09113245A (en) | Device for detecting abnormality of belt-shaped surface on web material | |
JPH11230912A (en) | Apparatus and method for detection of surface defect | |
JP3025946B2 (en) | Method and apparatus for measuring surface roughness of object | |
JPH09178666A (en) | Surface inspection device | |
JPS63218847A (en) | Inspection of surface flaw | |
JP3275737B2 (en) | Surface inspection device and surface inspection method | |
JPH06148088A (en) | Method for detecting defect of hard disk | |
JP3591161B2 (en) | Surface inspection equipment | |
JPH1194750A (en) | Method and apparatus for inspecting photoreceptor drum | |
JPH0228815B2 (en) | ||
JP2002181723A (en) | Surface inspection apparatus | |
JPS59180345A (en) | Surface inspecting device |