SU794369A1 - Method of determining article surface routhness after working - Google Patents
Method of determining article surface routhness after working Download PDFInfo
- Publication number
- SU794369A1 SU794369A1 SU792713421A SU2713421A SU794369A1 SU 794369 A1 SU794369 A1 SU 794369A1 SU 792713421 A SU792713421 A SU 792713421A SU 2713421 A SU2713421 A SU 2713421A SU 794369 A1 SU794369 A1 SU 794369A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- light
- fluxes
- controlled
- reflected
- light flux
- Prior art date
Links
Description
лируемои поверхности, перемещают световые потоки в одиом иаправлении в указанной плоскости отнООИтельио ко тролируемой поверхности, регистрируют моменты изм-енени интенсивностей отраженных световых -потоков и по разиости рассто ний, на которые перемещаетс каждый световой поток Между моментами изменени интенсивностей отраженных потоков, и углам накло .на световых потоков к контролируемой поверхности определ ют чистоту обработки поверхности.surface to be displaced, move the light fluxes in one direction in the specified plane of the relative to the controlled surface, record the moments of measurement of the intensities of the reflected light fluxes and by the distance that each light flux moves between and the angles of the reflected fluxes and angles of inclination. On the light fluxes to the controlled surface, the surface finish is determined.
На фиг. 1 изображена структуриа схема устройства (вариант выполнени ), реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 - схема, по сн юща способ.FIG. 1 shows a structure diagram of a device (embodiment) implementing the proposed method; in fig. 2 is a diagram explaining the method.
Устройство содержит узел 1 источников световых потоков, электромеханический узел 2 привода, лок 3 фотоприемников, блок 4 считывани , обработки сигналов фотоприем иков и индикации результатов определени чистоты обработки пов-ерхности и контролируемую поверхность 5.The device contains a node 1 of the sources of light fluxes, an electromechanical node 2 of the drive, a lock 3 photodetectors, a block 4 of reading, processing signals of photo detectors and an indication of the results of determining the purity of surface treatment and the surface being monitored 5.
На фиг. 2 имеютс следующие обозначени : U{, t/2 - положени источников световых потоков при первом изменении интенсивности отраженных потоков; IJ, U - новое положение источников при втором изменении интенсивности каждого из отраженных потоков; LI, LZ - рассто ни , пройденны-е каждым источником от первого изменени 0 интенсивности отраженного потока данного источника до второго изменени Л, 4 интенсивности каждого источника -соответственно; а, Y - углы -световых потоков D, Е к контролируемой поверхности S; отрезок BK.h - высота элем-ента ABC (неровности контролируемой поверхности);FIG. 2 there are the following designations: U {, t / 2 - the positions of the sources of light fluxes at the first change of the intensity of the reflected fluxes; IJ, U - new position of sources at the second change in the intensity of each of the reflected flows; LI, LZ are the distances traveled by each source from the first change 0 of the intensity of the reflected flux of the given source to the second change L, 4 of the intensity of each source is, respectively; a, Y - the angles of the - light fluxes D, E to the controlled surface S; segment BK.h - height of the element ABC (irregularities of the test surface);
- вектор У указывает направление перемещени источников в ПЛОСКОСТ1И Р их размещени (на фиг. 2 плоскость Р -параллельна контролируемой поверхности).- the vector Y indicates the direction of movement of the sources in the PLATE P1 of their location (in Fig. 2, the plane P is parallel to the test surface).
Значение h (фиг. 2) вычисл етс из выражени The value of h (Fig. 2) is calculated from the expression
. .
/1 ga -tgf/ 1 ga -tgf
Способ осуществл етс следующим образом .The method is carried out as follows.
Световые потоки от узла / источников световых потоков фокусируют в одну точку контролируемой поверхности 5 (фиг. 1).The light fluxes from the node / sources of light fluxes are focused at a single point of the surface 5 under control (Fig. 1).
Узел / привод т в движение с помощью узла 2 привода. Отраженный от контролируемой поверхности 5 -световой поток регистрируют в блоке 3 фотоприемников, сигналThe assembly / drive is driven by the drive assembly 2. Reflected from the test surface 5-light flux register in block 3 photodetectors, the signal
с которого поступает в блок 4, куда также поступают данные о скорости перемещени из узла 2 привода и из узла 1 о величине углов наклона световых потоков к контролируемой поверхности 5. В блоке 4 проводитс усиление сигналов с фотоприемнижов, фиксаци моментов изменени уровн этих сигналов и вы-числение рассто ни , на которое перемещаютс источники между изменени ми интенсивности отраженных потоков , затем по разности этих рассто ний LI и LZ при известных углах наклона а и у потоков вычисл ютс пара-метры чистоты обра-ботки поверхности.from which it enters unit 4, where data about the speed of movement from unit 2 of the drive and from unit 1 about the magnitude of the inclination of the light fluxes to the monitored surface 5 also arrive. In unit 4, the signals from the photodetectors are amplified, the moments of these signals change and you -Calculation of the distance that sources travel between changes in the intensity of the reflected fluxes; then, using the difference of these distances LI and LZ at known angles of inclination a and the fluxes, the parameters of the surface finish are calculated.
Предлагаемый способ повышает точность опр-еделени чистоты поверхностей за счет исключени измерени абсолютных значений интенсивн-остей и расшир ет номенклатуру изделий, -чистота обработки которых может быть определена путем исключени операции поворота изделий, -поверх-ность которых контролируетс .The proposed method improves the accuracy of determining the cleanliness of surfaces by eliminating the measurement of the absolute values of the intensive spines and expands the range of products, the purity of processing of which can be determined by excluding the operation of rotating the products whose surface is monitored.
Формула и 3 о б Р е т е -н И Formula 3 O B R et e II
Способ о-пределени чистоты обработки пов-ерхности изделий, заключающийс в том, что световой поток направл ют на .контролируемую поверхность и регистрируют отраженный от этой поверхности световой поток, отличающийс тем, что, с целью повышени точности определени и расширени номен1клатуры контролируемых изделий, в фиксированной плоскости и на фиксированном рассто нии от основного светового потока .направл ют дополнительный световой поток на контролируемую поверхность , фокусируют эти световые потоки в одну то-Ч|Ку контролируемой поверхности, перемещают световые потоки в одном направлении в указанной пло-е-кости относительно контролируемой поверхности, регистрируют моменты изменени интенсивностей отра-женных световых потоков и по разности рассто ний, на которые перемещаетс каждый световой поток между м-оментами изменени интенсивностей отраженных потоков, и углам наклона световых потоков к контролируемой пов-ерхн-ости определ ют чистоту обработки поверхности.The method of determining the purity of the surface treatment of products, which means that the luminous flux is directed onto the controlled surface and the luminous flux reflected from this surface, characterized in that, in order to improve the accuracy of determining and expanding the nomenclature of the monitored products, a fixed plane and at a fixed distance from the main luminous flux. direct the additional luminous flux to the controlled surface, focus these luminous fluxes into one to the surfaces, move the light fluxes in one direction in the specified surface to the controlled surface, record the moments of change in the intensities of the reflected light beams and by the difference of distances that each light beam moves between m-oments of the change in intensity of the reflected fluxes, and The tilt angles of the light fluxes to the controlled surface area are used to determine the surface finish.
Источники информадии, прин тые во внимание п,ри экоперт-изе:Sources of information taken into account n, ekopert-ize:
1.Авторское свидетельство СССР № 250465, кл. G 01 В 1-1/30, 1968.1. USSR author's certificate No. 250465, cl. G 01 B 1-1 / 30, 1968.
2.Авторское свидетельство СССР № 508670, кл. ОШВ 11/30, 1972 (прототип ) .2. USSR author's certificate number 508670, cl. OSHV 11/30, 1972 (prototype).
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792713421A SU794369A1 (en) | 1979-01-17 | 1979-01-17 | Method of determining article surface routhness after working |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792713421A SU794369A1 (en) | 1979-01-17 | 1979-01-17 | Method of determining article surface routhness after working |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU794369A1 true SU794369A1 (en) | 1981-01-07 |
Family
ID=20805480
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792713421A SU794369A1 (en) | 1979-01-17 | 1979-01-17 | Method of determining article surface routhness after working |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU794369A1 (en) |
-
1979
- 1979-01-17 SU SU792713421A patent/SU794369A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4813782A (en) | Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head | |
GB1400253A (en) | Gauging dimensions | |
SU794369A1 (en) | Method of determining article surface routhness after working | |
EP0401909A1 (en) | Method of and device for determining the position of a surface | |
CA1074102A (en) | Device for measuring the width of timber | |
US3651392A (en) | Bang-bang mirror position servomechanism controlling a laser scanning device for use in a track-following machine | |
US3437816A (en) | Energy correlator employing crossed endless belts with slits therein | |
US3890598A (en) | Optical signal processor | |
JPS60200108A (en) | Optical type thickness measuring method and apparatus thereof | |
GB1190564A (en) | Method of and Means for Surface Measurement. | |
GB1472454A (en) | Method for determining the position of a focussing plane | |
JPH05164556A (en) | Focusing type non-contact displacement gage | |
SU1469344A1 (en) | Device for determining dimensions of small objects | |
SU1096491A1 (en) | Device for checking surface nonflatness | |
SU1298535A1 (en) | Device for checking surface roughness | |
US4601581A (en) | Method and apparatus of determining the true edge length of a body | |
JPS635208A (en) | Apparatus for measuring surface shape | |
SU1295214A1 (en) | Device for measuring distance | |
SU785649A2 (en) | Method of monitoring angular position of irradiator | |
JPS61286781A (en) | Apparatus for detecting position of moving body such as crane using laser beam | |
GB1471372A (en) | Method of and/apparatus for oscillation amplitude measurement | |
JPS6071903A (en) | Device for inspecting optical disc | |
SU847017A1 (en) | Method and device for measuring small displacements of an object | |
SU1260678A1 (en) | Device for checking flatness of surface,particularly of semiconductor plates | |
JPH1123229A (en) | Measuring method for film thickness |