SU78572A1 - Interferometer for measuring accurate Schmidt aspherical plates - Google Patents

Interferometer for measuring accurate Schmidt aspherical plates

Info

Publication number
SU78572A1
SU78572A1 SU381826A SU381826A SU78572A1 SU 78572 A1 SU78572 A1 SU 78572A1 SU 381826 A SU381826 A SU 381826A SU 381826 A SU381826 A SU 381826A SU 78572 A1 SU78572 A1 SU 78572A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
schmidt
plates
aspherical
measuring accurate
Prior art date
Application number
SU381826A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
А.Л. Курицкий
Original Assignee
А.Л. Курицкий
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by А.Л. Курицкий filed Critical А.Л. Курицкий
Priority to SU381826A priority Critical patent/SU78572A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU78572A1 publication Critical patent/SU78572A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

Предметом изобретени   вл етс  интерферометр дл  определени  параметров оптических пластин -Шмидта.The subject of the invention is an interferometer for determining the parameters of Schmidt optical plates.

Особенностью интерферометра  вл етс  применение в нем выпуклого зеркала дл  автоколлимации с той целью, чтобы получить интерференцию между лучами, проход щими дважды через испытуемую пластинку , и лучами, отраженными от плоского- эталонного зеркала.A feature of the interferometer is the use of a convex mirror in it for autocollimation in order to obtain interference between the rays passing twice through the test plate and the rays reflected from the plane-reference mirror.

На чертеже показана схема интерферометра и ход лучей в нем.The drawing shows the scheme of the interferometer and the course of the rays in it.

Испытуема  пластинка 1 устанавливаетс  в пучке лучей коллиматора 2 с искусственным источником света 3. Лучи света, прошедшие через пластинку 1, падают на вогнутое зеркало 4 и затем на выпуклое зеркало 5, расположенное своим центром в фокусе зеркала 4. Отразившись от зеркала 5, лучи идут обратно и, пройд  вторично через пластинку /, отражаютс .от наклонной плоскопараллельной пластинки 6 и направл ютс  в зрительную трубу 7.Test plate 1 is installed in a beam of collimator 2 with an artificial light source 3. Light rays that pass through plate 1 fall on a concave mirror 4 and then on a convex mirror 5 located at its center in the focus of the mirror 4. Reflecting from the mirror 5, the rays go back and, once again passing through the plate /, are reflected from the inclined plane-parallel plate 6 and are directed into the telescope 7.

Часть лучей из коллиматора 2 плоскопараллельна  пластинка 6 направл ет непосредственно на эталонное плоское зеркало 8, от которого, отразившись, лучи также попадают в зрительную трубу 7, где интерферируют с лучами, дважды прошедшими через испытуемую пластинку 1. По интерференционной картине в зрительной трубе суд т о качестве и параметрах испытуемой пластинки ).A part of the rays from the collimator 2 plane-parallel plate 6 directs directly to the reference flat mirror 8, from which, having reflected, the rays also enter the telescope 7, where they interfere with the beams that have passed through the test plate 1 twice. According to the interference pattern in the telescope, about the quality and parameters of the test plate).

Дл  уменьшени  габаритов устройства испытание пластинки / можно вести по участкам, использу  передвижные лромежуточные оптические элементы между коллиматором 2 и плоскопараллельной пластинкой 6 в виде, например, пеитапризм.To reduce the overall dimensions of the device, the test plate / can be conducted in sections, using mobile intermediate optical elements between the collimator 2 and the plane-parallel plate 6 in the form of, for example, a paitrism.

В качестве зеркала 4 можно применить вогнутое зеркало той трубы, дл  которой предназначена испытуема  пластинка.As mirror 4 you can use a concave mirror of the pipe for which the plate is being tested.

Предмет изобретени Subject invention

Интерферометр дл  измерени  точных асферических пластин Шмидта , в котором пластина ставитс  в оптическую систему, отличающийс  применением в схеме выпуклого зеркала дл  автоколлимации, с целью получени  интерференции между лучами, проход щими дважды через пластинку, и лучами, отраженными от эталонного зеркала.An interferometer for measuring Schmidt’s precise aspherical plates, in which the plate is placed in an optical system, characterized by using a convex mirror for autocollimation in the scheme, in order to obtain interference between the rays passing twice through the plate and the rays reflected from the reference mirror.

51675167

SU381826A 1948-07-20 1948-07-20 Interferometer for measuring accurate Schmidt aspherical plates SU78572A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU381826A SU78572A1 (en) 1948-07-20 1948-07-20 Interferometer for measuring accurate Schmidt aspherical plates

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU381826A SU78572A1 (en) 1948-07-20 1948-07-20 Interferometer for measuring accurate Schmidt aspherical plates

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU78572A1 true SU78572A1 (en) 1948-11-30

Family

ID=48252844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU381826A SU78572A1 (en) 1948-07-20 1948-07-20 Interferometer for measuring accurate Schmidt aspherical plates

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU78572A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU78572A1 (en) Interferometer for measuring accurate Schmidt aspherical plates
SU1712778A1 (en) Interferometer for control over aspherical surfaces of second order
GB305350A (en) Improvements in and relating to interferometers for the testing of optical elements
GB680167A (en) Interferometer for testing optical systems
SU61436A1 (en) Instrument for measuring longitudinal chromatic aberration
RU2710976C1 (en) Device with spaced arms for measuring the radius of curvature of concave optical parts
SU143557A1 (en) The method of controlling the accuracy of processing non-spherical surfaces
SU67865A1 (en) Method of adjusting the aerial camera
SU61078A1 (en) Device for determining the coordinates of the optical center of a half-lens
SU393652A1 (en) DIFFERENTIAL REFRACTOMETER
SU136932A1 (en) Interferometer
SU391387A1 (en) POLARIZATION INTERFEROMETER
SU450077A1 (en) Device for controlling the shape of a parabolic surface
GB617416A (en) Optical instrument for testing plane surfaces and rectilinear lines
GB570022A (en) A projection system for the inspection of internal surfaces
SU66277A1 (en) Auxiliary tube for measuring the angle of rotation of the image in the field of view of an optical instrument
GB1106246A (en) Improved "interferometer"
SU138797A1 (en) Method for contactless measurement of the profile of polished aspherical surfaces of rotation
SU469943A1 (en) Device for quality control and alignment of telescopes
SU1067449A1 (en) Two-dimensional signal spatial spectrum coherent optical analyzer
RU125691U1 (en) INTERFEROMETER FOR CONTROL OF TELESCOPIC SYSTEMS AND OBJECTS
GB714340A (en) Interference- or combined interference-schlieren apparatus with unusually large measuring field
SU97145A1 (en) Autocollimation Angle Measuring Instrument
SU100552A1 (en) Gas interferometer
SU558573A1 (en) Holographic interferometer