SU760104A1 - Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 - Google Patents

Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 Download PDF

Info

Publication number
SU760104A1
SU760104A1 SU792705421A SU2705421A SU760104A1 SU 760104 A1 SU760104 A1 SU 760104A1 SU 792705421 A SU792705421 A SU 792705421A SU 2705421 A SU2705421 A SU 2705421A SU 760104 A1 SU760104 A1 SU 760104A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
unit
microcircuits
outputs
Prior art date
Application number
SU792705421A
Other languages
English (en)
Inventor
Boris G Sergeev
Evgenij P Berezov
Vladimir G Chuchman
Original Assignee
Inst Elektronnykh Upravlyayush
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Elektronnykh Upravlyayush filed Critical Inst Elektronnykh Upravlyayush
Priority to SU792705421A priority Critical patent/SU760104A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU760104A1 publication Critical patent/SU760104A1/ru

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Изобретение относится к вычисли- | тельной технике, в частности к средствам автоматической проверки цифровых объектов и может быть использовано для динамического функционального контроля, т.е. контроля на рабочих частотах больших интегральных схем - микропроцессоров.
Известно устройство для динамической проверки БИС микропроцессоров на рабочих частотах, содержащее тактовый генератор, буферное устройство, включающее блок сравнения и сменный функциональный модуль данных с эталонной БИС, связанный с 15 тактовым генерацором и через буферное устройство - с проверяемой БИС [1] .
Это устройство обеспечивает автоматический контроль БИС методом 20 сравнения выходных реакций контролируемой и эталонной БИС, при. этом в качестве задатчика тестов на входах эталонной и контролируемой БИС _
используется функциональный модуль 25
данных.
Недостаток устройства заключается в том, что при большой номенклатуре контролируемых БИС требуется
большое число функциональных моду- 30
лей данных, т.е. излишнее оборудование.
Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройство для автоматического контроля БЙС, содержащее микро-ЭВМ с эталонными БИС, блок сравнения, блок согласования, буферные усилители, причем эталонные БИС подключены через блок согласования к блоку сравнения, связанному соответствующими входами с контролируемыми БИС,’ входы буферных усилителей подключены ко входам контролируемых БИС, а их выходы через блок согласования - Ко входам эталонных БИС ЭД.
Недостатком устройства является . невозможность проверки типов БИС, допускающих объединение по выходам иди имеющих двунаправленные выводы, выполняющие функции как входов, так и выходов БИС, если такие выводы двух или более БИС соединены в микро-ЭВМ с общей магистралью данных. Это ограничение возникает из-за того, что состояние объединенных, двунаправленных выводов нескольких БИС в разные моменты времени определяется разными БИС из числа
3
760104
4
входящих в объединение, так как, например при одинаковых управляющих сигналах на входах эталонной и контролируемой БИС, двунаправленные выводил последней могут находиться в высокоимпедансном устойчивом состоянии, в то время как состояние аналогичных выводов эталонной БИС будет определяться состоянием других БИС, подключенных своими выходами к выводам эталонной БИС и может быть низкоимпедансным - пассивным, поэтому если одна из БИС микро-ЭВМ используется как эталонная, то сравнение её выходных сигналов и выходных сигналов контролируемой БИС,к которой прикладываются сигналы, снимаемые со входов этой эталонной БИС, может зафиксировать неравенство при полной исправности Проверяемой БИС. В результате контролируемая БИС может быть ложно забракована. :
Поскольку Все выпускаемые БИС полупроводниковых ЗУ имеют объединяемые выходы, а большинство БИС Микропроцессоров-двунаправПенные выводы,'данный недостаток сйльно ограничивает область применения1 устройства - прототипа.
Цель изобретения - расширение области применения устройства за счет расширения класса контролируемых микросхем и повышение достоверности результатов контроля.
Поставленная цель достигается тем, что в устройство для динамического контроля микросхем, содержащее вычислитель с эталонными микросхемами, подключенный входами к выходу блока ввода и через блок согласования - к входам контролируемых микросхем, а выходами через, блок согласования - к первому входу блока сравнения, второй вход которого связан с выходами контролируемых микросхем, а выход - с первым входом блока вывода, введены последовательно включенные дешифратор, блок маскирования и компаратор, выход которого соединен со вторым входом блока вывода, первый вход - с первым входом дешифратора и выходом блока ввода, а третий вход - с третьим выходом блока согласования, с контролируемыми микросхемами и с третьим входом блока сравнения, четвертый вход которого соединен со вторым выходом блока маскирования, а второй вход дешифратора подключен к первому выходу блока согласования.
Устройство динамического контроля микросхем содержит вычислитель 1, выполняющий функции задатчика тестов и эталонных последовательностей выходных сигналов для контролируемых микросхем, каждая микросхема 2-4 вычислителя 1 используется в качестве эталонной, при контроле однотиптной ей микросхемы, блок 5 ввода служит для загрузки в вычислитель 1 программы его самоконтроля, а также управляющих данных, блок 6 согласования предназначен для обеспечения 5 для электрической развязки контролируеьых микросхем 7 от соответствующих эталонных микросхем 3, и связи их с блоком 8 сравнения, дешифратор 9 служит для фиксации сигналов на пе(0 реключение выходов или двунаправленных выводов остальных микросхем в пассивное состояние, блок 10 маскирования производит селекцию выводов контролируемых и эталонных микро._ схем, состояния которых должны быть э исключены из сравнения блоком 8, компаратор 11, предназначен для проверки перехода выводов,' контролируемых микросхем 7 в пассивное состояние путем сравнения токов, по20 требляемых одноименными выводами контролйруе№1х 7 и эталонных 2-4 Микросхем, ' блок 12 вывода предназначен для фиксации и индикации результатов контроля.
25 Оборудование, необходимое для контроля микросхем 7, однотипных микросхемам 3 и 4, подключается к вычислителю через выводы 13. Устройство работает следующим
ЗО образом.
Перед контролем микросхемы 7 блок 5 загружает программу самоконтроля вычислителя 1, обеспечива. ющую проверку всех входящих в него 35 микросхем) в микросхему оперативней памяти, например 3, и вводит в дешифратор 9 и компаратор 11 данные, идентифицирующие двунаправленные выводы и управляющие входа и выхода эталонной микросхемы 2 и 40 обеспечивающие переключение двунаправленных выводов в пассивное состояние, данные, определяющие конкретные значения управляющих сигналов, при которых происходит пере45 ключение.
После подключения контролируемых микросхем и запуска программы самоконтроля вычислителя 1, сигналы,
£« возникающие на входах микросхем вычислителя 1, например, микросхемы 2, в процессе выполнения этой программы поступают через блок 6 на вхоДы контролируемой Микросхемы 7 _ и, таким образом задают тест провер55 ки микросхемы 7. Выходные сигналы микросхемы 2, через блок б и выходные сигналы микросхемы 7 поступают в блок 8, который производит их сравнение, рассматривая выходные 40 сигналы микросхемы 2 в качестве эталонных. В каждом такте работы вычислителя дешифратор 9 анализирует входные и выходные сигналы микросхемы 2 для определения моментов переключения ее двунаправленных
760104
выводов в пассивное состояние. · Эти моменты определяются появлением специальных команд управления на входах эталонной микросхемы,· которые и выделяет дешифратор 9. При обнаружении момента переключения двунаправленных выводов микросхемы блок 9 с помощью блока 10 исключает эти выводы из процесса сравнения, выполняемого блоком 8, и разрешает компаратору 11 произвести проверку одноименных им выводов микросхем 7 на наличие пассивного состояния. За счет контроля токов утечки по указанным выводам сигналы о зафиксированном блоком 8 неравенстве и сигналы блока 11, свидетельствующие о превышении токов утечки через выводы микросхемы 7 допустимого предела, поступают в блок 12, который запоминает и индицирует результат проверки.
Таким образом, устройство динамического контроля микросхем обеспечивает возможность проверки микросхем, допускающих объединение по выходам или имеющих возможность пропуска отказов проверяемых микросхем, 25 что существенно увеличивает достоверность проверки и расширяет область применения устройства.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Устройство для динамического контроля микросхем, содержащее вычислитель с эталонными микросхемами, подключенный входами к выходу блока ввода и через блок согласования - к входам контролируемых микросхем, а выходами через блок согласования к первому входу блока сравнения, второй вход которого связан с выходами контролируемых микросхем, а выход - с первым входом блока вывода, отличающееся тем, что, с целью расширения области Приι- менения устройства и повьанения достоверности результатов контроля, в устройство введены последовательно включенные дешифратор, блок маскирования и компаратор, выход которого соединен со вторым входом блока вывода, первый вход - с первым входом дешифратора и выходом блока ввода, а третий вход - с третьим выходом блока согласования, с контролируемыми микросхемами и с третьим входом 20 блока сравнения, четвертый вход которого соединен с выходом блока маскирования, а второй вход дешифратора подключен к первому выходу блока согласования.
SU792705421A 1979-01-02 1979-01-02 Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 SU760104A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792705421A SU760104A1 (ru) 1979-01-02 1979-01-02 Устройство для динамического контроля микросхем 1 2

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792705421A SU760104A1 (ru) 1979-01-02 1979-01-02 Устройство для динамического контроля микросхем 1 2

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU760104A1 true SU760104A1 (ru) 1980-08-30

Family

ID=20802196

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792705421A SU760104A1 (ru) 1979-01-02 1979-01-02 Устройство для динамического контроля микросхем 1 2

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU760104A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100896538B1 (ko) 전자 장치
EP0640920B1 (en) Boundary-scan-based system and method for test and diagnosis
US6000051A (en) Method and apparatus for high-speed interconnect testing
US7574637B2 (en) Method and apparatus for optimized parallel testing and access of electronic circuits
KR100217535B1 (ko) 이벤트 한정 검사 아키텍춰
GB2324628A (en) Microprogram based functional testing of computer devices during manufacture
US5487074A (en) Boundary scan testing using clocked signal
US5610925A (en) Failure analyzer for semiconductor tester
BR7808233A (pt) Circuitos e processo de teste e diagnostico in situ,para pastilhas cml
Whetsel An IEEE 1149.1 Based Logic/Signature Analyzer in a Chip.
US6834366B2 (en) Method of outputting internal information through test pin of semiconductor memory and output circuit thereof
JPS6326585A (ja) Vlsi集積回路の検査回路と検査方法
SU760104A1 (ru) Устройство для динамического контроля микросхем 1 2
US11493553B2 (en) Extended JTAG controller and method for functional reset using the extended JTAG controller
KR20100076445A (ko) 제이택을 지원하는 칩의 멀티사이트 테스트용 프로브 카드
KR100694315B1 (ko) 다중 시스템 클럭 및 이종 코어를 포함하는 시스템 온 칩용연결선 지연 고장 테스트 제어기
US5353308A (en) Event qualified test methods and circuitry
Zhiwei et al. Realization of Integrity Test of Boundary-Scan Structure
KR100225184B1 (ko) 데이타 처리 시스템 및 셀프테스트 제어 방법
US20010025227A1 (en) Monitored burn-in test system and monitored burn-in test method of microcomputers
KR100217536B1 (ko) 이벤트 한정 검사 방법 및 회로
EP3367114A1 (en) Extended jtag controller and method for functional reset using the extended jtag controller
Fasang Boundary scan and its application to analog-digital ASIC testing in a board/system environment
KR19990035741U (ko) 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치
Su et al. An I/sub DDQ/based built-in concurrent test technique for interconnects in a boundary scan environment