SU760104A1 - Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 - Google Patents
Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 Download PDFInfo
- Publication number
- SU760104A1 SU760104A1 SU792705421A SU2705421A SU760104A1 SU 760104 A1 SU760104 A1 SU 760104A1 SU 792705421 A SU792705421 A SU 792705421A SU 2705421 A SU2705421 A SU 2705421A SU 760104 A1 SU760104 A1 SU 760104A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- output
- unit
- microcircuits
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Изобретение относится к вычисли- | тельной технике, в частности к средствам автоматической проверки цифровых объектов и может быть использовано для динамического функционального контроля, т.е. контроля на рабочих частотах больших интегральных схем - микропроцессоров.
Известно устройство для динамической проверки БИС микропроцессоров на рабочих частотах, содержащее тактовый генератор, буферное устройство, включающее блок сравнения и сменный функциональный модуль данных с эталонной БИС, связанный с 15 тактовым генерацором и через буферное устройство - с проверяемой БИС [1] .
Это устройство обеспечивает автоматический контроль БИС методом 20 сравнения выходных реакций контролируемой и эталонной БИС, при. этом в качестве задатчика тестов на входах эталонной и контролируемой БИС _
используется функциональный модуль 25
данных.
Недостаток устройства заключается в том, что при большой номенклатуре контролируемых БИС требуется
большое число функциональных моду- 30
лей данных, т.е. излишнее оборудование.
Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройство для автоматического контроля БЙС, содержащее микро-ЭВМ с эталонными БИС, блок сравнения, блок согласования, буферные усилители, причем эталонные БИС подключены через блок согласования к блоку сравнения, связанному соответствующими входами с контролируемыми БИС,’ входы буферных усилителей подключены ко входам контролируемых БИС, а их выходы через блок согласования - Ко входам эталонных БИС ЭД.
Недостатком устройства является . невозможность проверки типов БИС, допускающих объединение по выходам иди имеющих двунаправленные выводы, выполняющие функции как входов, так и выходов БИС, если такие выводы двух или более БИС соединены в микро-ЭВМ с общей магистралью данных. Это ограничение возникает из-за того, что состояние объединенных, двунаправленных выводов нескольких БИС в разные моменты времени определяется разными БИС из числа
3
760104
4
входящих в объединение, так как, например при одинаковых управляющих сигналах на входах эталонной и контролируемой БИС, двунаправленные выводил последней могут находиться в высокоимпедансном устойчивом состоянии, в то время как состояние аналогичных выводов эталонной БИС будет определяться состоянием других БИС, подключенных своими выходами к выводам эталонной БИС и может быть низкоимпедансным - пассивным, поэтому если одна из БИС микро-ЭВМ используется как эталонная, то сравнение её выходных сигналов и выходных сигналов контролируемой БИС,к которой прикладываются сигналы, снимаемые со входов этой эталонной БИС, может зафиксировать неравенство при полной исправности Проверяемой БИС. В результате контролируемая БИС может быть ложно забракована. :
Поскольку Все выпускаемые БИС полупроводниковых ЗУ имеют объединяемые выходы, а большинство БИС Микропроцессоров-двунаправПенные выводы,'данный недостаток сйльно ограничивает область применения1 устройства - прототипа.
Цель изобретения - расширение области применения устройства за счет расширения класса контролируемых микросхем и повышение достоверности результатов контроля.
Поставленная цель достигается тем, что в устройство для динамического контроля микросхем, содержащее вычислитель с эталонными микросхемами, подключенный входами к выходу блока ввода и через блок согласования - к входам контролируемых микросхем, а выходами через, блок согласования - к первому входу блока сравнения, второй вход которого связан с выходами контролируемых микросхем, а выход - с первым входом блока вывода, введены последовательно включенные дешифратор, блок маскирования и компаратор, выход которого соединен со вторым входом блока вывода, первый вход - с первым входом дешифратора и выходом блока ввода, а третий вход - с третьим выходом блока согласования, с контролируемыми микросхемами и с третьим входом блока сравнения, четвертый вход которого соединен со вторым выходом блока маскирования, а второй вход дешифратора подключен к первому выходу блока согласования.
Устройство динамического контроля микросхем содержит вычислитель 1, выполняющий функции задатчика тестов и эталонных последовательностей выходных сигналов для контролируемых микросхем, каждая микросхема 2-4 вычислителя 1 используется в качестве эталонной, при контроле однотиптной ей микросхемы, блок 5 ввода служит для загрузки в вычислитель 1 программы его самоконтроля, а также управляющих данных, блок 6 согласования предназначен для обеспечения 5 для электрической развязки контролируеьых микросхем 7 от соответствующих эталонных микросхем 3, и связи их с блоком 8 сравнения, дешифратор 9 служит для фиксации сигналов на пе(0 реключение выходов или двунаправленных выводов остальных микросхем в пассивное состояние, блок 10 маскирования производит селекцию выводов контролируемых и эталонных микро._ схем, состояния которых должны быть э исключены из сравнения блоком 8, компаратор 11, предназначен для проверки перехода выводов,' контролируемых микросхем 7 в пассивное состояние путем сравнения токов, по20 требляемых одноименными выводами контролйруе№1х 7 и эталонных 2-4 Микросхем, ' блок 12 вывода предназначен для фиксации и индикации результатов контроля.
25 Оборудование, необходимое для контроля микросхем 7, однотипных микросхемам 3 и 4, подключается к вычислителю через выводы 13. Устройство работает следующим
ЗО образом.
Перед контролем микросхемы 7 блок 5 загружает программу самоконтроля вычислителя 1, обеспечива. ющую проверку всех входящих в него 35 микросхем) в микросхему оперативней памяти, например 3, и вводит в дешифратор 9 и компаратор 11 данные, идентифицирующие двунаправленные выводы и управляющие входа и выхода эталонной микросхемы 2 и 40 обеспечивающие переключение двунаправленных выводов в пассивное состояние, данные, определяющие конкретные значения управляющих сигналов, при которых происходит пере45 ключение.
После подключения контролируемых микросхем и запуска программы самоконтроля вычислителя 1, сигналы,
£« возникающие на входах микросхем вычислителя 1, например, микросхемы 2, в процессе выполнения этой программы поступают через блок 6 на вхоДы контролируемой Микросхемы 7 _ и, таким образом задают тест провер55 ки микросхемы 7. Выходные сигналы микросхемы 2, через блок б и выходные сигналы микросхемы 7 поступают в блок 8, который производит их сравнение, рассматривая выходные 40 сигналы микросхемы 2 в качестве эталонных. В каждом такте работы вычислителя дешифратор 9 анализирует входные и выходные сигналы микросхемы 2 для определения моментов переключения ее двунаправленных
760104
выводов в пассивное состояние. · Эти моменты определяются появлением специальных команд управления на входах эталонной микросхемы,· которые и выделяет дешифратор 9. При обнаружении момента переключения двунаправленных выводов микросхемы блок 9 с помощью блока 10 исключает эти выводы из процесса сравнения, выполняемого блоком 8, и разрешает компаратору 11 произвести проверку одноименных им выводов микросхем 7 на наличие пассивного состояния. За счет контроля токов утечки по указанным выводам сигналы о зафиксированном блоком 8 неравенстве и сигналы блока 11, свидетельствующие о превышении токов утечки через выводы микросхемы 7 допустимого предела, поступают в блок 12, который запоминает и индицирует результат проверки.
Таким образом, устройство динамического контроля микросхем обеспечивает возможность проверки микросхем, допускающих объединение по выходам или имеющих возможность пропуска отказов проверяемых микросхем, 25 что существенно увеличивает достоверность проверки и расширяет область применения устройства.
Claims (1)
- Формула изобретенияУстройство для динамического контроля микросхем, содержащее вычислитель с эталонными микросхемами, подключенный входами к выходу блока ввода и через блок согласования - к входам контролируемых микросхем, а выходами через блок согласования к первому входу блока сравнения, второй вход которого связан с выходами контролируемых микросхем, а выход - с первым входом блока вывода, отличающееся тем, что, с целью расширения области Приι- менения устройства и повьанения достоверности результатов контроля, в устройство введены последовательно включенные дешифратор, блок маскирования и компаратор, выход которого соединен со вторым входом блока вывода, первый вход - с первым входом дешифратора и выходом блока ввода, а третий вход - с третьим выходом блока согласования, с контролируемыми микросхемами и с третьим входом 20 блока сравнения, четвертый вход которого соединен с выходом блока маскирования, а второй вход дешифратора подключен к первому выходу блока согласования.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792705421A SU760104A1 (ru) | 1979-01-02 | 1979-01-02 | Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792705421A SU760104A1 (ru) | 1979-01-02 | 1979-01-02 | Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU760104A1 true SU760104A1 (ru) | 1980-08-30 |
Family
ID=20802196
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792705421A SU760104A1 (ru) | 1979-01-02 | 1979-01-02 | Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU760104A1 (ru) |
-
1979
- 1979-01-02 SU SU792705421A patent/SU760104A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100896538B1 (ko) | 전자 장치 | |
EP0640920B1 (en) | Boundary-scan-based system and method for test and diagnosis | |
US6000051A (en) | Method and apparatus for high-speed interconnect testing | |
US7574637B2 (en) | Method and apparatus for optimized parallel testing and access of electronic circuits | |
KR100217535B1 (ko) | 이벤트 한정 검사 아키텍춰 | |
GB2324628A (en) | Microprogram based functional testing of computer devices during manufacture | |
US5487074A (en) | Boundary scan testing using clocked signal | |
US5610925A (en) | Failure analyzer for semiconductor tester | |
BR7808233A (pt) | Circuitos e processo de teste e diagnostico in situ,para pastilhas cml | |
Whetsel | An IEEE 1149.1 Based Logic/Signature Analyzer in a Chip. | |
US6834366B2 (en) | Method of outputting internal information through test pin of semiconductor memory and output circuit thereof | |
JPS6326585A (ja) | Vlsi集積回路の検査回路と検査方法 | |
SU760104A1 (ru) | Устройство для динамического контроля микросхем 1 2 | |
US11493553B2 (en) | Extended JTAG controller and method for functional reset using the extended JTAG controller | |
KR20100076445A (ko) | 제이택을 지원하는 칩의 멀티사이트 테스트용 프로브 카드 | |
KR100694315B1 (ko) | 다중 시스템 클럭 및 이종 코어를 포함하는 시스템 온 칩용연결선 지연 고장 테스트 제어기 | |
US5353308A (en) | Event qualified test methods and circuitry | |
Zhiwei et al. | Realization of Integrity Test of Boundary-Scan Structure | |
KR100225184B1 (ko) | 데이타 처리 시스템 및 셀프테스트 제어 방법 | |
US20010025227A1 (en) | Monitored burn-in test system and monitored burn-in test method of microcomputers | |
KR100217536B1 (ko) | 이벤트 한정 검사 방법 및 회로 | |
EP3367114A1 (en) | Extended jtag controller and method for functional reset using the extended jtag controller | |
Fasang | Boundary scan and its application to analog-digital ASIC testing in a board/system environment | |
KR19990035741U (ko) | 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치 | |
Su et al. | An I/sub DDQ/based built-in concurrent test technique for interconnects in a boundary scan environment |