SU759994A1 - Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 - Google Patents

Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 Download PDF

Info

Publication number
SU759994A1
SU759994A1 SU782574835A SU2574835A SU759994A1 SU 759994 A1 SU759994 A1 SU 759994A1 SU 782574835 A SU782574835 A SU 782574835A SU 2574835 A SU2574835 A SU 2574835A SU 759994 A1 SU759994 A1 SU 759994A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
magnetic field
semiconductor devices
measuring
voltage
Prior art date
Application number
SU782574835A
Other languages
English (en)
Inventor
Arminas V Ragauskas
Original Assignee
Kaunassk Polt Inst Antanasa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kaunassk Polt Inst Antanasa filed Critical Kaunassk Polt Inst Antanasa
Priority to SU782574835A priority Critical patent/SU759994A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU759994A1 publication Critical patent/SU759994A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

Изобретение относится к области исследования электрофизических свойств полупроводников.
Известен способ определения электрических характеристик полупроводниковых материалов, заключающийся в пропускании тока через образец, воздействии на поверхность образца электрического поля и регистрации изменения тока через полупроводниковый образец (1).
Недостатком известного способа · является большая относительная · погрешность определения поверхносФного потенциала, достигающая от нескольких десятков до сотен процентов.
Известен_ способ измерения электрофизических характеристик полупроводника, заключающийся в воздействии на полупроводниковый образец скрещенными электрическими и магнитными полями линейного изменения магнитного поля с наложением на него малого синусоидального поля (2],
Однако известный способ не обеспечивает возможности раздельного текущего контроля отношений поверхностных электростатических, потенциалов
•на противоположных гранях образца к
2
величине сил Лоренца. Это приводит к неопределенной погрешности измерения отношения в случаях,
когда противоположные грани образца
обработаны не одинаково и начальные условия на них различны,'а также когда имеет место нелинейная зависимость скоростей поверхностной рекомбинации на гранях образца от величин 4*501 и ^602
Цель изобретения — обеспечение возможности раздельного контроля отношений поверхностных электростатических потенциалов на' противоположных гранях образца к величине сил Лоренца.и повышение точности измерений . - '
Поставленная цель достигается тем, что магнитное поле изменяют' по ступенчатому закону к противоположным граням образца параллельно векторуТйндикции прикладывают компенсирующие напряжения, величину которых регистрируют на каждой ступени магнитного поля в момент перехода синусоидального напряжения на образце через ноль.
На фиг. 1 представлена структурная· схема, поясняющая предла- ; гаемый способ измерения электрофизических характеристик полупроводника;
Г?у.я *759994
док^мй*>м«м«?съе-'£!
на фиг. 2-> временные диагр'агаяы, поясняющие осуществление способа.
Схема'содержит измеряемый плоскопараллельный полупроводниковый образец Г, помещённый в поле электромагнита 2, соединенного с первым выходом генератора тока 3. Образец 1 соединен с источником 4 постоянного то— т'ока. Выход приемника 5 соединен со входом вертикальной развертки двухкоординатного регистрирующего прибора 6, вход горизонтальной развертки которого соединен со вторым выходом генератора тока 3. К боковым граням образца 1 приложены два изолированных «олевых электрода 7 и 8, соединенные с выходами управляемых источников ком-15 пенсирующего напряжения 9и 10 и входами вертикальной развертки регистрирующих приборов 11 и 12. Выход образца 1 и входы источников 9 и 10 соединены со схемой управления 13, вход 20 пуска соединен с третьим выходом генератора тока 3, а вход .опорного сиг-''1' ''йайа ‘'с'0ёдинен с : четвертым :,ёШгод@м 'генератора тока 3. Второй выход генератора тока 3 дополнительно соединен со £ входамигоризонтальнойразвёртки "' регистрирующих приборов 11 и 12.
Способ реализуется следующим образом.
Генератор тока 3 формирует пилообразный ток с наложенной синусоидальной и быстрой пилообразной компонентами, который с помощью электромагнита 2 преобразуется в магнитθ θ с ρ ступенчатой' в ремённой
зависимостью индукции ‘В (£) , показанной на фиг.2. Медленная пилообразная компонента сигнала генератора 3 поступает на его второй выход и использована для горизонтальной развертки регистрирующих приборов б, 11, 12. Период Τη и амплитуда Βη медленной пилообразной компонента магнитной индукции установленымногобольше периода Т$ и амплитуды Вг синусоидальной компонен-; та. При этом период "Г, выбран из ус10
25
30
35
40
45
ловия
% «ТЛ Т.
М!
(1)
где *- временная' постоянная процесса заполнения быстрых поверхностных уровней захвата;
77л -аналогичная достоянная-~ медленных поверхностных уровней.
Период Тг. установлен исходя из условия 7(.7-) - - Период быстрой пилообразной компонента Т$ установлен в пределах
Т, 7 7*2 · - __... - .........
При этом на образец действуют
сиды Лоренца, величина которых
где - величина постоянного тока, источника 4,
приводящие к квазиравновесному из-с менёнию отношения‘ ^βοι’·'Рзвг на поверхностях образца 1, перпендикулярных направлению вектора сил Лоренца'. Это приводит к изменению скоростей 5а и 5г поверхностной реКоМби-. нации на соответствующих поверхности тях образца 1. В результате магнитоконцентрационного эффекта огибающая выходного напряжения и приемника 5 (фиг.2) настроенного на частоту £г=1/Т2 , находится из выражения
ί^-ιΐ1601 у л1 -М , ,х
ΐΤ’δο-* ΟΤϋ+7)]
рде К ~ коэффициент, в/тл. Откуда
Цп
(4)
Выражение (4) действительно с точностью не менее 1% в диапазоне слабых и средних индукций Βη магнитного поля,- например, для германия до величин Βη ί 10-0 мТ. Величина В£ практически выбирается исходя из необходимого отношения сигнал/шум на выходе линейного тракта приемника 5, причем с увеличением В^. уменьшается отношение амплитуд сигналов магнитоконцентрационного эффекта и эффекта Гаусса. Например, для германиевого образца, с близкой к собственному типу проводимостью, с размерами 5,0x1,0x0,1 мм'2’, при Вг =0,1 мТ. Минимальное отношение сигнал/шум по напряжению Доставляло не менее 40 дб/а отношение сигналов магнитокОнцентрационного эффекта и эффекта Гаусса - не менее 30 дб,
Величина каждой ’’ступеньки 1
/(фиг, 2) выбирается из условия Βη (£)+В^(ί)-Сопй£ в течение каждого падающего /участка функции В^(£), т.е, в течение интервала времени Τά.
Βη (ΐΙ+Β,^ΓΟ приводит к переходному процессу установления квазиравновес50 ных условий на поверхностях образца 1, над которыми расположены полевые электроды 7 и 8. После окончания переходного процесса например, в мо'меит времени ί( в первом периоде
55 быстрой пилообразной компоненты
(см. фиг.2) сигналом с третьего выхода генератора тока 3 запускается схема управления 13 и начинается процесс управления величинами вы, ходных напряжений ;иК5 и иК1О управ®θ ляемых источников 9 и 10, УправляюШё^'сигНалы в схеме управления ГЗ вырабатываются путем измерения разНостей амплитуды выходного сигнала, частоты ϊ?, приемника 5 и фазы это65 : г о^игНёлаУ *и!< тех же" параметров опор
5
7599.94
ного сигнала частоты , поступающего с четвертого выхода источника тока 3. В процессе управления вырабатываются такие величины компенсирующих напряжений и иК10 , которые обеспечивают электрическую ком- 5 пенсацию изменений поверхностных потенциалов ^и ^501 г вызванных воздействием сил Лоренца. Таким образом, после· окончания процесса управления в каждом периоде быстрой пилообразной компоненты магнитной индукции (б) восстанавливаются начальные значения скоростей поверхностной рекомбинаций 5-, и 3<χ на противоположных гранях образца 1. Следовательно, после окончания процесса управ- '5 ления имеем:
' )--о, (5)
при Ип(1)-0 10 20
Таким образом, описанный способ, согласно выражению (4), обеспечивает возможность непосредственной регистрации зависимости отношения 5Ί :32 от 2£ величины сил Лооенца и, согласно выражению (5), одновременный и раздельный контроль зависимостей "РеотЛ^А,) и φ5ο2(ρΛ)'
Точность -измерений увеличена в ре- «θ зультате использования прямой компенсации измеряемых величин.
6

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов, заключающийся в воздействии на полупроводниковый прибор скрещенными электрическими и магнитными полями линейного изменения магнитного поля с наложением на него малого синусоидального поля и регистрации напряжения, имеющего частоту изменения магнитного поля, отличаю щийся тем, что, с целью раздельного Контроля отношения поверхностных потенциалов на каждой грани образца к величине сил Лоренца и повышения точности измерений, магнитное поле изменяют по ступенчатому закону к противоположным граням образца параллельно вектору индукции магнитного поля прикладывают комлей*· сирующие напряжения, величину которых регистрируют на каждой ступени магнитного поля в момент перехода синусоидального напряжения в образце через ноль.
SU782574835A 1978-01-30 1978-01-30 Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 SU759994A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782574835A SU759994A1 (ru) 1978-01-30 1978-01-30 Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782574835A SU759994A1 (ru) 1978-01-30 1978-01-30 Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU759994A1 true SU759994A1 (ru) 1980-08-30

Family

ID=20746738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782574835A SU759994A1 (ru) 1978-01-30 1978-01-30 Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU759994A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2019223052A1 (zh) 一种基于固态自旋的磁场测量装置以及磁场测量方法
US5132608A (en) Current measuring method and apparatus therefor
US4215310A (en) Magnetic testing method and apparatus having provision for eliminating inaccuracies caused by gaps between probe and test piece
JPS6166123A (ja) 電磁流量計変換器
SU759994A1 (ru) Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1
US5808208A (en) Inductive flow meter
JP2000162294A (ja) 磁界センサ
US3851248A (en) Vibrating fiber electrometer
KR20040020345A (ko) 광파이버를 이용한 전류 및 전압 동시측정장치 및 방법
US3397607A (en) Single faraday cell polarimeter
SU661437A1 (ru) Способ измерени электрофизических характеристик полупроводника
SU976410A1 (ru) Магнитооптический гистериограф
US3924184A (en) Vibrating fiber electrometer
SU1081579A1 (ru) Магнитооптический гистериограф
SU974240A1 (ru) Устройство дл контрол ферромагнитных изделий
US2465082A (en) Damped
SU1415205A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности электростатического пол
SU1182449A1 (ru) Способ измерени коэрцитивной силы
SU150928A1 (ru) Способ точного измерени фазовых сдвигов четырехполюсников
SU1401406A1 (ru) Способ измерени напр женности электрического пол
SU1308959A1 (ru) Устройство дл поверки тесламетров переменного пол
JPS5941271B2 (ja) 質量分析装置
SU702325A1 (ru) Измерительный преобразователь электрических и магнитных величин
SU1327025A1 (ru) Магнитометр
RU2158428C2 (ru) Волоконно-оптическое устройство для регистрации формы импульсов сверхбольших токов