SU759994A1 - Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 - Google Patents
Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 Download PDFInfo
- Publication number
- SU759994A1 SU759994A1 SU782574835A SU2574835A SU759994A1 SU 759994 A1 SU759994 A1 SU 759994A1 SU 782574835 A SU782574835 A SU 782574835A SU 2574835 A SU2574835 A SU 2574835A SU 759994 A1 SU759994 A1 SU 759994A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- magnetic field
- semiconductor devices
- measuring
- voltage
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
Изобретение относится к области исследования электрофизических свойств полупроводников.
Известен способ определения электрических характеристик полупроводниковых материалов, заключающийся в пропускании тока через образец, воздействии на поверхность образца электрического поля и регистрации изменения тока через полупроводниковый образец (1).
Недостатком известного способа · является большая относительная · погрешность определения поверхносФного потенциала, достигающая от нескольких десятков до сотен процентов.
Известен_ способ измерения электрофизических характеристик полупроводника, заключающийся в воздействии на полупроводниковый образец скрещенными электрическими и магнитными полями линейного изменения магнитного поля с наложением на него малого синусоидального поля (2],
Однако известный способ не обеспечивает возможности раздельного текущего контроля отношений поверхностных электростатических, потенциалов
•на противоположных гранях образца к
2
величине сил Лоренца. Это приводит к неопределенной погрешности измерения отношения в случаях,
когда противоположные грани образца
обработаны не одинаково и начальные условия на них различны,'а также когда имеет место нелинейная зависимость скоростей поверхностной рекомбинации на гранях образца от величин 4*501 и ^602
Цель изобретения — обеспечение возможности раздельного контроля отношений поверхностных электростатических потенциалов на' противоположных гранях образца к величине сил Лоренца.и повышение точности измерений . - '
Поставленная цель достигается тем, что магнитное поле изменяют' по ступенчатому закону к противоположным граням образца параллельно векторуТйндикции прикладывают компенсирующие напряжения, величину которых регистрируют на каждой ступени магнитного поля в момент перехода синусоидального напряжения на образце через ноль.
На фиг. 1 представлена структурная· схема, поясняющая предла- ; гаемый способ измерения электрофизических характеристик полупроводника;
Г?у.я *759994
док^мй*>м«м«?съе-'£!
на фиг. 2-> временные диагр'агаяы, поясняющие осуществление способа.
Схема'содержит измеряемый плоскопараллельный полупроводниковый образец Г, помещённый в поле электромагнита 2, соединенного с первым выходом генератора тока 3. Образец 1 соединен с источником 4 постоянного то— т'ока. Выход приемника 5 соединен со входом вертикальной развертки двухкоординатного регистрирующего прибора 6, вход горизонтальной развертки которого соединен со вторым выходом генератора тока 3. К боковым граням образца 1 приложены два изолированных «олевых электрода 7 и 8, соединенные с выходами управляемых источников ком-15 пенсирующего напряжения 9и 10 и входами вертикальной развертки регистрирующих приборов 11 и 12. Выход образца 1 и входы источников 9 и 10 соединены со схемой управления 13, вход 20 пуска соединен с третьим выходом генератора тока 3, а вход .опорного сиг-''1' ''йайа ‘'с'0ёдинен с : четвертым :,ёШгод@м 'генератора тока 3. Второй выход генератора тока 3 дополнительно соединен со £ входамигоризонтальнойразвёртки "' регистрирующих приборов 11 и 12.
Способ реализуется следующим образом.
Генератор тока 3 формирует пилообразный ток с наложенной синусоидальной и быстрой пилообразной компонентами, который с помощью электромагнита 2 преобразуется в магнитθ θ с ρ ступенчатой' в ремённой
зависимостью индукции ‘В (£) , показанной на фиг.2. Медленная пилообразная компонента сигнала генератора 3 поступает на его второй выход и использована для горизонтальной развертки регистрирующих приборов б, 11, 12. Период Τη и амплитуда Βη медленной пилообразной компонента магнитной индукции установленымногобольше периода Т$ и амплитуды Вг синусоидальной компонен-; та. При этом период "Г, выбран из ус10
25
30
35
40
45
ловия
% «ТЛ Т.
М!
(1)
где *- временная' постоянная процесса заполнения быстрых поверхностных уровней захвата;
77л -аналогичная достоянная-~ медленных поверхностных уровней.
Период Тг. установлен исходя из условия 7(.7-) - - Период быстрой пилообразной компонента Т$ установлен в пределах
Т, 7 7*2 · - __... - .........
При этом на образец действуют
сиды Лоренца, величина которых
где - величина постоянного тока, источника 4,
приводящие к квазиравновесному из-с менёнию отношения‘ ^βοι’·'Рзвг на поверхностях образца 1, перпендикулярных направлению вектора сил Лоренца'. Это приводит к изменению скоростей 5а и 5г поверхностной реКоМби-. нации на соответствующих поверхности тях образца 1. В результате магнитоконцентрационного эффекта огибающая выходного напряжения и приемника 5 (фиг.2) настроенного на частоту £г=1/Т2 , находится из выражения
ί^-ιΐ1601 у л1 -М , ,х
ΐΤ’δο-* ΟΤϋ+7)]
рде К ~ коэффициент, в/тл. Откуда
Цп
(4)
Выражение (4) действительно с точностью не менее 1% в диапазоне слабых и средних индукций Βη магнитного поля,- например, для германия до величин Βη ί 10-0 мТ. Величина В£ практически выбирается исходя из необходимого отношения сигнал/шум на выходе линейного тракта приемника 5, причем с увеличением В^. уменьшается отношение амплитуд сигналов магнитоконцентрационного эффекта и эффекта Гаусса. Например, для германиевого образца, с близкой к собственному типу проводимостью, с размерами 5,0x1,0x0,1 мм'2’, при Вг =0,1 мТ. Минимальное отношение сигнал/шум по напряжению Доставляло не менее 40 дб/а отношение сигналов магнитокОнцентрационного эффекта и эффекта Гаусса - не менее 30 дб,
Величина каждой ’’ступеньки 1’
/(фиг, 2) выбирается из условия Βη (£)+В^(ί)-Сопй£ в течение каждого падающего /участка функции В^(£), т.е, в течение интервала времени Τά.
Βη (ΐΙ+Β,^ΓΟ приводит к переходному процессу установления квазиравновес50 ных условий на поверхностях образца 1, над которыми расположены полевые электроды 7 и 8. После окончания переходного процесса например, в мо'меит времени ί( в первом периоде
55 быстрой пилообразной компоненты
(см. фиг.2) сигналом с третьего выхода генератора тока 3 запускается схема управления 13 и начинается процесс управления величинами вы, ходных напряжений ;иК5 и иК1О управ®θ ляемых источников 9 и 10, УправляюШё^'сигНалы в схеме управления ГЗ вырабатываются путем измерения разНостей амплитуды выходного сигнала, частоты ϊ?, приемника 5 и фазы это65 : г о^игНёлаУ *и!< тех же" параметров опор
5
7599.94
ного сигнала частоты , поступающего с четвертого выхода источника тока 3. В процессе управления вырабатываются такие величины компенсирующих напряжений и иК10 , которые обеспечивают электрическую ком- 5 пенсацию изменений поверхностных потенциалов ^и ^501 г вызванных воздействием сил Лоренца. Таким образом, после· окончания процесса управления в каждом периоде быстрой пилообразной компоненты магнитной индукции (б) восстанавливаются начальные значения скоростей поверхностной рекомбинаций 5-, и 3<χ на противоположных гранях образца 1. Следовательно, после окончания процесса управ- '5 ления имеем:
' )--о, (5)
при Ип(1)-0 10 20
Таким образом, описанный способ, согласно выражению (4), обеспечивает возможность непосредственной регистрации зависимости отношения 5Ί :32 от 2£ величины сил Лооенца и, согласно выражению (5), одновременный и раздельный контроль зависимостей "РеотЛ^А,) и φ5ο2(ρΛ)'
Точность -измерений увеличена в ре- «θ зультате использования прямой компенсации измеряемых величин.
6
Claims (1)
- Формула изобретенияСпособ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов, заключающийся в воздействии на полупроводниковый прибор скрещенными электрическими и магнитными полями линейного изменения магнитного поля с наложением на него малого синусоидального поля и регистрации напряжения, имеющего частоту изменения магнитного поля, отличаю щийся тем, что, с целью раздельного Контроля отношения поверхностных потенциалов на каждой грани образца к величине сил Лоренца и повышения точности измерений, магнитное поле изменяют по ступенчатому закону к противоположным граням образца параллельно вектору индукции магнитного поля прикладывают комлей*· сирующие напряжения, величину которых регистрируют на каждой ступени магнитного поля в момент перехода синусоидального напряжения в образце через ноль.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782574835A SU759994A1 (ru) | 1978-01-30 | 1978-01-30 | Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782574835A SU759994A1 (ru) | 1978-01-30 | 1978-01-30 | Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU759994A1 true SU759994A1 (ru) | 1980-08-30 |
Family
ID=20746738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782574835A SU759994A1 (ru) | 1978-01-30 | 1978-01-30 | Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU759994A1 (ru) |
-
1978
- 1978-01-30 SU SU782574835A patent/SU759994A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2019223052A1 (zh) | 一种基于固态自旋的磁场测量装置以及磁场测量方法 | |
US5132608A (en) | Current measuring method and apparatus therefor | |
US4215310A (en) | Magnetic testing method and apparatus having provision for eliminating inaccuracies caused by gaps between probe and test piece | |
JPS6166123A (ja) | 電磁流量計変換器 | |
SU759994A1 (ru) | Способ измерения электрофизических характеристик полупроводниковых приборов1 | |
US5808208A (en) | Inductive flow meter | |
JP2000162294A (ja) | 磁界センサ | |
US3851248A (en) | Vibrating fiber electrometer | |
KR20040020345A (ko) | 광파이버를 이용한 전류 및 전압 동시측정장치 및 방법 | |
US3397607A (en) | Single faraday cell polarimeter | |
SU661437A1 (ru) | Способ измерени электрофизических характеристик полупроводника | |
SU976410A1 (ru) | Магнитооптический гистериограф | |
US3924184A (en) | Vibrating fiber electrometer | |
SU1081579A1 (ru) | Магнитооптический гистериограф | |
SU974240A1 (ru) | Устройство дл контрол ферромагнитных изделий | |
US2465082A (en) | Damped | |
SU1415205A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности электростатического пол | |
SU1182449A1 (ru) | Способ измерени коэрцитивной силы | |
SU150928A1 (ru) | Способ точного измерени фазовых сдвигов четырехполюсников | |
SU1401406A1 (ru) | Способ измерени напр женности электрического пол | |
SU1308959A1 (ru) | Устройство дл поверки тесламетров переменного пол | |
JPS5941271B2 (ja) | 質量分析装置 | |
SU702325A1 (ru) | Измерительный преобразователь электрических и магнитных величин | |
SU1327025A1 (ru) | Магнитометр | |
RU2158428C2 (ru) | Волоконно-оптическое устройство для регистрации формы импульсов сверхбольших токов |