SU753269A1 - Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА - Google Patents

Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА Download PDF

Info

Publication number
SU753269A1
SU753269A1 SU782637606A SU2637606A SU753269A1 SU 753269 A1 SU753269 A1 SU 753269A1 SU 782637606 A SU782637606 A SU 782637606A SU 2637606 A SU2637606 A SU 2637606A SU 753269 A1 SU753269 A1 SU 753269A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
resonator
pulses
amplitude
anisotropy
polarization
Prior art date
Application number
SU782637606A
Other languages
English (en)
Inventor
Д.Д. Пилипко
И.П. Пугач
Original Assignee
Киевский Ордена Ленина Государственный Университетим. T.Г.Шевченко
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Ордена Ленина Государственный Университетим. T.Г.Шевченко filed Critical Киевский Ордена Ленина Государственный Университетим. T.Г.Шевченко
Priority to SU782637606A priority Critical patent/SU753269A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU753269A1 publication Critical patent/SU753269A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относится к технике оптических измерений и может быть использовано при исследовании оптических и , других физических свойств веществ и элементов оптических устройств.
Известны эллипсометрические спосо- ® бы измерения амплитудной и фазовой анизотропии оптических объектбв, заключающиеся в облучении объекта поляризованным светом и исследовании из10 менения поляризации света после отражения или прохождения через объект [1].
Недостатками данного способа являются низкая точность измерений, особенно в инфракрасной области спектра, и длительность времени измерений.
Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения амплитудной и фазовой анизотропии, заключающийся в помещении оптического объекта в резонатор, возбуждении резонатора монохроматическим поляризованным све2 том и анализе отраженного или прошедиего излучения [2].
Однако в связи с тем, что характеристики объекта измеряются для каждой поляризации изучения порознь, точность такого способа невелика.
Цель изобретения - повысить точность измерений.
Поставленная цель достигается за счет того, что длину резонатора изменяют по периодическому линейному закону, измеряют временные интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фазовую анизотропию определяют по формулам :
Г- η»’”’’’· где - фазовая анизотропия;
Ύ - амплитудная анизотропия;
N - число зеркал резонатора, на которые излучение падает под у глом, о тличным от нуля ;
- време'нной интервал между импульсами разных поляризаций;
временной интервал между импульсами одной поляри- ю заций;
Три Τθ - длительности импульсов Р и
S поляризаций;
Rp и R$ - коэффициент отражения i-ro зеркала соответственно для Р и S поляризации i=l, 2...N.
На фиг. 1 изображено устройство, реализующее данный способ; на фиг.2 показаны эпюры интерференционных им- 20 пульсов.
Устройство содержит лазер 1, поляризатор 2, четвертьволновую пластину 3, зеркало 4, объект 5, пьезокерамику 6, поляризатор 7 и фотоприемник 8. 25
Устройство работает следующим образом.
Монохроматический пучок, излучаемый лазером 1, проходит через поляризатор 2, четвертьволновую пластинку 3 30 и возбуждает резонатор, образованный зеркалом 4, объектом 5 и зеркалом, установленным на пьезокерамике 6. Прошедшее через резонатор излучение анализируется поляризатором 7 и посту- 35 пает в фотоприемник 8. При линейном периодическом изменении длины резонатора его собственные частоты по очереди совпадают с частотой внешнего излучения и оно в эти моменты дости- 40 гает фотоприемника. Одновременное наблюдение импульсов, соответствующих . различным поляризациям излучения, обеспечивает высокую точность измерения оптических характеристик. 45

Claims (2)

  1. Изобретение относитс  к технике оп тических измерений и может быть испол зовано при исследовании оптических и других физических свойств веществ и элементов оптических устройств. Известны эллипсометрические способы измерени  амплитудной и фазовой анизотропии оптических объектив, зак .шочающиес  в облучении объекта пол ризованным светом и исследовании изменени  пол ризации света после отражени  или прохождени  через объект Недостатками данного способа  вл ютс  низка  точность измерений, особенно в инфракрасной области спектра , и длительность времени измерений . Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  способ измерени  амплитудной и фазовой анизотропии, зaключaюпy йc  в помещении оптического объекта в резонатор, возбуждении резонатора монохроматическим пол ризованным свеТОМ и анализе отраженного или прошед его излучени  2 J. Однако в св зи с тем, что характеристики объекта измер ютс  дл  кажд ой пол ризации изучени  порознь, точность такого способа невелика. Цель изобретени  - повысить точность измерений. Поставленна  цель достигаетс  за счет того, что длину резонатора изме н ют по периодическому линейному закону , измер ют временные интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фа-зовую анизотропию определ ют по формулам : АЧ-2 г;А|;. Н- -Ср|дЛ М т- ,2, фаэовай анизотропи ; амплитудна  анизотропи ; число зеркал резонатора, на которые излучение падает под углом,отличным от нул AV - временной интервал между импульсами разных пол ризаций; временной интервал между импульсами одной пол ризаций; длительности импульсов Р и S пол ризаций коэффициент отражени  i-r R« и RC зеркала соответственно дл  Р и S пол ризации 2...N. На фиг. 1 изображено устройство, реализующее да ний способ; на фиг,2 показаны эпюры интерференционных импульсов , Устройство содержит лазер 1, пол  ризатор 2, четвертьволновую пластину 3, зеркало 4, объект 5, пьезокерамику 6, пол ризатор 7 и фотоприемник 8 Устройство работает следующим образом . Монохроматический пучок, излучаемый лазером 1, проходит через пол ри затор 2, четвертьволновую пластинку и возбуждает резонатор, образованный зеркалом 4, объектом 5 и зеркалом, у тановленным на пьезокерамике 6, Прошедшее через резонатор излучение ана лизируетс  пол ризатором 7 и поступает в фотоприемник 8, При линейном периодическом изменении длины резонатора его собственные частоты по оч реди совпадают с частотой внешнего излучени  и оно в эти моменты достигает фотоприемника. Одновременное наблюдение импульсов, соответствующи ра личным пол ризаци м излучени , обеспечивает высокую точность измере ни  оптических характеристик. Формула изобретени  Способ измерени  амплитудной и фазовой анизотропии оптического объекта , включающий помещение объекта в открытый резонатор, возбуждение резонатора монохроматическим пол ризованным излучением и анализ отраженного или прошедшего излучени , о тличающийс  тем, что, с целью повьшени  точности измерений, длину резонатора измен ют по периодическому линейному закону, измер ют временные интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фазовую анизотропию определ ют по формулам Ж 1С(г:р/л%) N , ()Л/ з/Кр% где фазова  анизотропи ; - амплитудна  анизотропи ; число зеркал резонатора, на которые излучение падает под углом, отличным от нул ; временной интервал между импульсами разных пол ризаций; &V2- временной интервал между импульсами одной пол ризации; XpHtgдлительности импульсов Р и S пол ризаций; коэффициенты отражени  i-ro зеркала соответственно дл  Р и S пол ризаций, ,2. ,.,N. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1,Горшков М.М. Эллипсометри . М., Советское радио, 1974, с, 156.
  2. 2.Новиков М.А. Пол ризационный кольцевой интерферометр.- Радиотехника и электроника, 1976, т. 21, с. 904.
SU782637606A 1978-07-03 1978-07-03 Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА SU753269A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782637606A SU753269A1 (ru) 1978-07-03 1978-07-03 Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782637606A SU753269A1 (ru) 1978-07-03 1978-07-03 Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU753269A1 true SU753269A1 (ru) 1981-06-30

Family

ID=20773997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782637606A SU753269A1 (ru) 1978-07-03 1978-07-03 Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU753269A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20040065832A1 (en) Apparatus and method for investigating a sample
CN107764388B (zh) 一种基于声光效应的高精度海水声速测量方法
CN110274880A (zh) 一种高精度空间分辨的光谱探测方法和系统
FR2685962A1 (fr) Ellipsometre infrarouge.
Takagi et al. Measurement of ultrasonic velocity and absorption in liquids up 1.5 GHz by the high-resolution Bragg reflection technique
SU753269A1 (ru) Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА
Salido-Monzú et al. An instrumental basis for multispectral LiDAR with spectrally-resolved distance measurements
Kolachevsky et al. 2S-4S spectroscopy in hydrogen atom: The new value for the Rydberg constant and the proton charge radius
Oksanen et al. A femtosecond autocorrelator with internal calibration
Bourkoff et al. Low‐energy optical generation and detection of acoustic pulses in metals and nonmetals
RU160760U1 (ru) Устройство измерения коэффициента поглощения света в зеркалах кольцевого резонатора
Jeffers et al. Spectral response of the Ge: Ga photoconductive detector
Nazarov et al. Tooth study by terahertz time-domain spectroscopy
SU1476557A1 (ru) Способ определени длительности светового импульса
Zadler et al. Spectroscopy versus interferometry: Resolving small changes
RU2098776C1 (ru) Способ исследования периодических колебаний
RU2681658C1 (ru) Устройство для определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения
SU422948A1 (ru)
Kulakov et al. Acousto-optics as an efficient method for physical measurements
SU1012038A1 (ru) Способ измерени цветовой температуры
SU772392A1 (ru) Способ измерени длительности светового импульса
SU792084A1 (ru) Способ определени параметров движени среды
SU1158905A1 (ru) Способ регистрации пол градиента показател преломлени
Maznev et al. Impulsive stimulated thermal scattering for sub-micron-thickness film characterization
Mori et al. Interferometric Method for Measuring Ultrasonic Light Diffraction Spectra