SU753269A1 - Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА - Google Patents
Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА Download PDFInfo
- Publication number
- SU753269A1 SU753269A1 SU782637606A SU2637606A SU753269A1 SU 753269 A1 SU753269 A1 SU 753269A1 SU 782637606 A SU782637606 A SU 782637606A SU 2637606 A SU2637606 A SU 2637606A SU 753269 A1 SU753269 A1 SU 753269A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- resonator
- pulses
- amplitude
- anisotropy
- polarization
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относится к технике оптических измерений и может быть использовано при исследовании оптических и , других физических свойств веществ и элементов оптических устройств.
Известны эллипсометрические спосо- ® бы измерения амплитудной и фазовой анизотропии оптических объектбв, заключающиеся в облучении объекта поляризованным светом и исследовании из10 менения поляризации света после отражения или прохождения через объект [1].
Недостатками данного способа являются низкая точность измерений, особенно в инфракрасной области спектра, и длительность времени измерений.
Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения амплитудной и фазовой анизотропии, заключающийся в помещении оптического объекта в резонатор, возбуждении резонатора монохроматическим поляризованным све2 том и анализе отраженного или прошедиего излучения [2].
Однако в связи с тем, что характеристики объекта измеряются для каждой поляризации изучения порознь, точность такого способа невелика.
Цель изобретения - повысить точность измерений.
Поставленная цель достигается за счет того, что длину резонатора изменяют по периодическому линейному закону, измеряют временные интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фазовую анизотропию определяют по формулам :
Г- η»’”’’’· где - фазовая анизотропия;
Ύ - амплитудная анизотропия;
N - число зеркал резонатора, на которые излучение падает под у глом, о тличным от нуля ;
- време'нной интервал между импульсами разных поляризаций;
временной интервал между импульсами одной поляри- ю заций;
Три Τθ - длительности импульсов Р и
S поляризаций;
Rp и R$ - коэффициент отражения i-ro зеркала соответственно для Р и S поляризации i=l, 2...N.
На фиг. 1 изображено устройство, реализующее данный способ; на фиг.2 показаны эпюры интерференционных им- 20 пульсов.
Устройство содержит лазер 1, поляризатор 2, четвертьволновую пластину 3, зеркало 4, объект 5, пьезокерамику 6, поляризатор 7 и фотоприемник 8. 25
Устройство работает следующим образом.
Монохроматический пучок, излучаемый лазером 1, проходит через поляризатор 2, четвертьволновую пластинку 3 30 и возбуждает резонатор, образованный зеркалом 4, объектом 5 и зеркалом, установленным на пьезокерамике 6. Прошедшее через резонатор излучение анализируется поляризатором 7 и посту- 35 пает в фотоприемник 8. При линейном периодическом изменении длины резонатора его собственные частоты по очереди совпадают с частотой внешнего излучения и оно в эти моменты дости- 40 гает фотоприемника. Одновременное наблюдение импульсов, соответствующих . различным поляризациям излучения, обеспечивает высокую точность измерения оптических характеристик. 45
Claims (2)
- Изобретение относитс к технике оп тических измерений и может быть испол зовано при исследовании оптических и других физических свойств веществ и элементов оптических устройств. Известны эллипсометрические способы измерени амплитудной и фазовой анизотропии оптических объектив, зак .шочающиес в облучении объекта пол ризованным светом и исследовании изменени пол ризации света после отражени или прохождени через объект Недостатками данного способа вл ютс низка точность измерений, особенно в инфракрасной области спектра , и длительность времени измерений . Наиболее близким к предлагаемому вл етс способ измерени амплитудной и фазовой анизотропии, зaключaюпy йc в помещении оптического объекта в резонатор, возбуждении резонатора монохроматическим пол ризованным свеТОМ и анализе отраженного или прошед его излучени 2 J. Однако в св зи с тем, что характеристики объекта измер ютс дл кажд ой пол ризации изучени порознь, точность такого способа невелика. Цель изобретени - повысить точность измерений. Поставленна цель достигаетс за счет того, что длину резонатора изме н ют по периодическому линейному закону , измер ют временные интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фа-зовую анизотропию определ ют по формулам : АЧ-2 г;А|;. Н- -Ср|дЛ М т- ,2, фаэовай анизотропи ; амплитудна анизотропи ; число зеркал резонатора, на которые излучение падает под углом,отличным от нул AV - временной интервал между импульсами разных пол ризаций; временной интервал между импульсами одной пол ризаций; длительности импульсов Р и S пол ризаций коэффициент отражени i-r R« и RC зеркала соответственно дл Р и S пол ризации 2...N. На фиг. 1 изображено устройство, реализующее да ний способ; на фиг,2 показаны эпюры интерференционных импульсов , Устройство содержит лазер 1, пол ризатор 2, четвертьволновую пластину 3, зеркало 4, объект 5, пьезокерамику 6, пол ризатор 7 и фотоприемник 8 Устройство работает следующим образом . Монохроматический пучок, излучаемый лазером 1, проходит через пол ри затор 2, четвертьволновую пластинку и возбуждает резонатор, образованный зеркалом 4, объектом 5 и зеркалом, у тановленным на пьезокерамике 6, Прошедшее через резонатор излучение ана лизируетс пол ризатором 7 и поступает в фотоприемник 8, При линейном периодическом изменении длины резонатора его собственные частоты по оч реди совпадают с частотой внешнего излучени и оно в эти моменты достигает фотоприемника. Одновременное наблюдение импульсов, соответствующи ра личным пол ризаци м излучени , обеспечивает высокую точность измере ни оптических характеристик. Формула изобретени Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропии оптического объекта , включающий помещение объекта в открытый резонатор, возбуждение резонатора монохроматическим пол ризованным излучением и анализ отраженного или прошедшего излучени , о тличающийс тем, что, с целью повьшени точности измерений, длину резонатора измен ют по периодическому линейному закону, измер ют временные интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фазовую анизотропию определ ют по формулам Ж 1С(г:р/л%) N , ()Л/ з/Кр% где фазова анизотропи ; - амплитудна анизотропи ; число зеркал резонатора, на которые излучение падает под углом, отличным от нул ; временной интервал между импульсами разных пол ризаций; &V2- временной интервал между импульсами одной пол ризации; XpHtgдлительности импульсов Р и S пол ризаций; коэффициенты отражени i-ro зеркала соответственно дл Р и S пол ризаций, ,2. ,.,N. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1,Горшков М.М. Эллипсометри . М., Советское радио, 1974, с, 156.
- 2.Новиков М.А. Пол ризационный кольцевой интерферометр.- Радиотехника и электроника, 1976, т. 21, с. 904.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782637606A SU753269A1 (ru) | 1978-07-03 | 1978-07-03 | Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782637606A SU753269A1 (ru) | 1978-07-03 | 1978-07-03 | Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU753269A1 true SU753269A1 (ru) | 1981-06-30 |
Family
ID=20773997
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782637606A SU753269A1 (ru) | 1978-07-03 | 1978-07-03 | Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU753269A1 (ru) |
-
1978
- 1978-07-03 SU SU782637606A patent/SU753269A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20040065832A1 (en) | Apparatus and method for investigating a sample | |
CN107764388B (zh) | 一种基于声光效应的高精度海水声速测量方法 | |
CN110274880A (zh) | 一种高精度空间分辨的光谱探测方法和系统 | |
FR2685962A1 (fr) | Ellipsometre infrarouge. | |
Takagi et al. | Measurement of ultrasonic velocity and absorption in liquids up 1.5 GHz by the high-resolution Bragg reflection technique | |
SU753269A1 (ru) | Способ измерени амплитудной и фазовой анизотропииОпТичЕСКОгО Об'ЕКТА | |
Salido-Monzú et al. | An instrumental basis for multispectral LiDAR with spectrally-resolved distance measurements | |
Kolachevsky et al. | 2S-4S spectroscopy in hydrogen atom: The new value for the Rydberg constant and the proton charge radius | |
Oksanen et al. | A femtosecond autocorrelator with internal calibration | |
Bourkoff et al. | Low‐energy optical generation and detection of acoustic pulses in metals and nonmetals | |
RU160760U1 (ru) | Устройство измерения коэффициента поглощения света в зеркалах кольцевого резонатора | |
Jeffers et al. | Spectral response of the Ge: Ga photoconductive detector | |
Nazarov et al. | Tooth study by terahertz time-domain spectroscopy | |
SU1476557A1 (ru) | Способ определени длительности светового импульса | |
Zadler et al. | Spectroscopy versus interferometry: Resolving small changes | |
RU2098776C1 (ru) | Способ исследования периодических колебаний | |
RU2681658C1 (ru) | Устройство для определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения | |
SU422948A1 (ru) | ||
Kulakov et al. | Acousto-optics as an efficient method for physical measurements | |
SU1012038A1 (ru) | Способ измерени цветовой температуры | |
SU772392A1 (ru) | Способ измерени длительности светового импульса | |
SU792084A1 (ru) | Способ определени параметров движени среды | |
SU1158905A1 (ru) | Способ регистрации пол градиента показател преломлени | |
Maznev et al. | Impulsive stimulated thermal scattering for sub-micron-thickness film characterization | |
Mori et al. | Interferometric Method for Measuring Ultrasonic Light Diffraction Spectra |