SU772392A1

SU772392A1 - Способ измерени длительности светового импульса

Info

Publication number: SU772392A1
Application number: SU782668354A
Authority: SU
Inventors: Р.Н. Гюзалян; З Хорват; Г. Корради; Й. Янски
Original assignee: Институт Физических Исследований Ан Армсср; Центральный Институт Физических Исследований Ан Внр; Исследовательская Лаборатория По Кристаллофизике Ан Внр
Priority date: 1977-06-27
Filing date: 1978-06-19
Publication date: 1986-05-30
Also published as: HU175784B

Abstract

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ СВЕТОВОГО ИМПУЛЬСА при осуществлении которого световой импульс дел т пополам по интенсивности полученные световые сигналы направл ют встречно на линейный одноосный кристалл, отличающийс тем, что, с целью упрощени способа измерений полученные световые сигналы на нелинейный одноосный кристалл направл ют под острым углом Ч друг к другу, биссектриса которого перпендикул рна оптической оси кристалла, лежащей в плоскости осей световых пучков, а измерени длительности светового импульса t осуществл ют путем измерени осей поперечного сечени излучени второй гармоники по формуле: --АН, Н; , д 4ТП.В 1-1ПЛЮ sin4 i где А 4 arccos 4lff СЛ MAT пЛА|2) и n (A) показатели преломлени одноосного кристалла дл необыкновенной и обыкновенной волн на длинах волн All и А ,соответственно; иЛХ) группова скорость обыкновенной волны; Н, и Н мала и больша оси эллипса.

Description

нейный однососный кристалл. Измер длину ркого участка тра ектории, образующегос в местах встречи двух противоположно направ ленных импульсов, вычисл ют их длительность . Недостаток известного способа его низка точность, так как интенсивность измер емого оптического сигнала весьма низка . Целью изобретени вл етс упрощение способа измерени . Это достигаетс тем, что получен ные световые сигналы направл ют на нелинейный одноосный кристалл под острым углом друг к другу, биссектриса которого перпендикул рна оптической оси кристалла, лежащей в пло кости осей световых пучков, а измерение длительности t светового импу

са осуществл ют путем измерени осей эллипсовидного поперечного сечени излучени второй гармоники по формуле

л ет световой пучок на два других 5 и 6. Разделенные пучки после отражений от зеркал направл ютс на однозначное зеркало 4, служащее дл разделени пучка на два 5 и 6 отражающие зеркала 7, одноосный нелинейный кристалл 8, оптическа ось которого лежит в плоскости распространени лучей, биссектриса 9, экран 10, служащий дл визуального или фотографического анализа. Вместо экрана может быть устройство содержащее последовательно соединенные фотоприемник 11, ЭВМ 12, дисплей 13, служащий дл вывода искомой информации в цифровом виде. Измер емьй импульс света от лазера 1 проходит через расширитель 2 пучка, пол ризатор 3, с пол ризацией перпендикул рной плоскости распространени лучей. Свет, пройд через пол ризатор 3, направл етс на полупрозрачное зеркало 4, которое раздеосньй нелинейный кристалл 8. В результате взаимодействи разделенных пучков 5 и 6 с кристаллом 8 в области их взаимного перекрыти возникает излучение гармоники в направлении ч биссектрисы 9 угла Ч . Форма поперечного сечени возникак цей гармоники эллиптическа . Излучение гармоники направл ютс на экран 10 дл визуального или фотографического анализа. Информаци может быть получена и в цифровой форме, если излучение гармоники направить на двумерную фотоэлектронную матрицу, котора измерит размеры осей эллипса, а ЭВМ 12 проведет вычислени и искома длительность измер емого импульса по витс на дисплее 13.Величина угла определ етс с помощью формулы:

4- 2 arccos Ilfi

VJ)

где Пр и-Пр - показатели преломлени кристалла дл необыкновенной и обыкновенной волн на длинах волн соответственно /1 и А.

При использовании экрана измерени длительности осуществл ют по эллипсу с использованием формулы, указанной выше.

Измер ютс оси (см. фиг. 2) эллипса на уровне 1/е: от максимальной интенсивности Гармоники и вычисл етс длительность измер емого импульса с помощью формулы

-. Л Н,- Н Z

1 -- Л - Гнг ВН sin А и,()

где

В 17 п (А) 2. sinM-li;

п(А) - показатель преломлени одноосного кристалла дл обыкновенной волны с длиной А , Uo(ji) - группова скорость обыкновенной волны с длиной А в одноосном кристалле.

Эффективность способа проверена вьтолнением конкретного измерени длительности ультракороткого светового импульса лазера на неодимовом стекле с помощью устройства, содержащего одноосный нелинейный кристалл йодата лити , генерирующий вторую гармонику.

Измерени показали высокую эффективность насто щего изобретени .

//V

Ф/уг.2

Claims

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ СВЕТОВОГО ИМПУЛЬСА при осуществлении которого световой импульс делят пополам по интенсивности^ полученные световые сигналы направляют встречно на линейный одноосный кристалл, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа измерений полученные световые сигналы на нелинейный одноосный кристалл направляют под острым углом Ч* ДРУГ к другу, биссектриса которого перпендикулярна оптической оси кристалла, лежащей в плоскости осей световых пучков, а измерения длительности светового импульса l осуществляют путем измерения осей поперечного сечения излучения второй гармоники по формуле:

п_е(А/2) и η_Λ(Α) - показатели преломления одноосного кристалла для необыкновенной и обыкновенной волн на длинах волн Λ|<ι и А ,соот

Μλ )

Н₂и Н_х ветственно;

- групповая скорость обыкновенной волны;

- малая и большая оси эллипса.