SU699456A1 - Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов - Google Patents

Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов

Info

Publication number
SU699456A1
SU699456A1 SU772518245A SU2518245A SU699456A1 SU 699456 A1 SU699456 A1 SU 699456A1 SU 772518245 A SU772518245 A SU 772518245A SU 2518245 A SU2518245 A SU 2518245A SU 699456 A1 SU699456 A1 SU 699456A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
pulses
test
pulse
counter
frequency
Prior art date
Application number
SU772518245A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Иванович Панов
Владимир Васильевич Коляда
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6707
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6707 filed Critical Предприятие П/Я Р-6707
Priority to SU772518245A priority Critical patent/SU699456A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU699456A1 publication Critical patent/SU699456A1/ru

Links

Description

Изобретение относитс  к области измерительной техники, а именно к контро но-измерительному оборудованию дл  полупроводникового производс.тва и предназ начено, в частности, дл  измерени  динамических параметров интегральных схем. Известно устройство дл  измерени  параметров цифровых полупроводниковых элементов, содержащее генератор сигналов , систему автосдвига строб-импульсов и двухканальный стробоскопический преобразователь l . Однако это устройство имеет недостаточно высокую точность измерени , обусловленную неточностью и нестабильностью системы автосдвига строб-импул сов, выполненной на генераторах быстро го пилообразного напр жени  (БПН), дающих значительную погрещность . Кроме того, неидентичность каналов дву канального стробоскопического преобразовател  вызывает разность задержек между ними, дополнительно увеличнвак щую погрешность измерительного устройства . Известен также цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов, содержащий контактное устройство дл  подключени  испытуемого прибора, генератор тестовых импульсов, соединенный с контактным устройством и через коммутатор - со стробоскопическим дискриминатором, схему автосдвига строб-импульсов, включающую два кварцевых генератора, два счетчика, три схемы совпадени  и триггер, блок управлени , соединенный со схемой автосдвига, стробоскопическим дискриминатором, генератором тестовых импульсов и коммутатором 2. Однако это устройство имеет ограниченный диапазон измерени , обусловленный применением схемы автосдвига стробимпульсов на кварцевых генераторах, котора  обеспечивает диапазон лишь в 1ООО днскретностей по 5 не и лает возможность проводить измерени  только
на одной фиксированной частоте. Недостаточна  разрешающа  способность схем вычитани  и амплитудных дискриминаторов обуславливает также относительно невысокую точность контрол . Особенно это про вл етс  в наносекундном диапазоне {1 - 1О) НС, где погрешность измерени  составл ет 15 - 25%. Кроме, того, на точности измерени  отрицательно сказываетс  нестабильность шага считывани , обусловленна  нестабильностью частотыкварцевых .генераторов, котора  при отсутствии термостатироваШ1Я даеу погрешность 1 - 2 %.
Цель изобретени  - повьпдение точности измерени .
Это достигаетс  тем, что в цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов введены схема фазовой абтоподстройки разности частот кварцевых генераторов, включающа  два счетчика и фазовый детектор, и формирователь частоты тестовых им пульсов, включающий счетчики, триггер, схемы совпадени ,. Каждый счетчик схемы фазовой автоподстройки разности частот соединен с одним из кварцевых генераторов и с фазовым детектором, выход которого соединен с одним из кварцевых генераторов. Формирователь частоты тестового импульса соединен с одним из счетчиков схемы автосдвига, с одним из.кварцевых генераторов, блоком управлени  и генератором тестовых импульсов.
Функциональна  схема цифрового ана лизатора временных характеристик полупроводниковых приборов приведена на чертеже.
Устройство содержит систему автосдвига строб-импульсов 1, включающую в себ  кварцевые генераторы 2 и 3, схему фазовой автоподстройки разности частот кварцевых генераторов 2 и 3, образованную фазовым детектором 4 и двум  дес тичными счетчиками 5 и 6, схемы совпадени  7-9, триггер 10 и дес тичные счетчики 11 и 12, блок управлени  13, формирователь частоты тестовых импульсов 14, состо$пций из схем еовпадени  1 5 te 16, дес тичных счетчиков 17 и 18 и триггера 19; генератор тестовых Шvmyльcoв 2О, контактное устройство ДЛЯвключени  испытуемого прибора 21, коммутатор 22 та. стробоскопический дискриминатор 23. Режимные источники и нагрузки на чертеже не показаны
Блок управлени  измерением 13 координирует работу узлов анализатора. Через счетчики 11 и 12 он управл ет работой системы автосдвига строб-импулсов 1; через счетчики 17 и 18 - формирователем частоты тестовых импульсов 14. Блок управлени  13 св зан своими выходами с генератором тестовых импульсов 20 и через коммутатор - 22 - со стробоскопическим -дискриминатором 23. Формирователь частоты тестовых импульсов 14 со вместно со схемой автоподстройки разности частот кварцевых генераторов 2 и 3 предназначен дл  задани  частоты генератора тестоЕЛ.1х импульсов 20, который в свою очередь служит дл  ровашш амплитуды, смещеш1 , длительности и задержки тестовых импульсов, подаваемых на вход испытуемого прибора , например, интегральной схемы (ИС) помещенной в контшстное устройство 21. Коммутатор 22 осуществл ет подключение выводов испытуемой ИС к стробоскопическому дискри динатору 23, источникам шпани  и нагрузкам (на чертеже не показаны). Стробоскопический дискриминатор 23 выполн ет функции амплитуг ных дискриминаторов.
Анализатор работает следующим образом .
Кварцевые генераторы 2 и 3 системы автосдвига строб-импульсов 1 вырабатывают импульсы с чатотами 1О,00 и 10,01 мГц соответственно. Импульсы через счетчики 5 и 6, имеющие соответственно коэффициенты делени  1000 и 1001, поступают на входы фазового детектора 4, Сигнал с выхода детектора 4 управл ет кварцевым генератором 3 таким образом, что разность периодов генераторов 2 и 3 эталонного и управл емого соответственно - обеспечиваетс  посто нной и равной 0,1 не, т.е.
At Л.Т 0,1 НС, где At - шаг считывани ,
i.T- разность периодов кварцевых
генераторов.
Эта величина  вл етс  шагом считывани  дл  стробоскопического дискриминатора 23, Благодар  введению схемы фазовой автоподстройки, точность формировани  шага считывани , равного разности периодов кварцевых генераторов практически соответствует точности формировани  частоты кварцевого генератора (10 не). Импульсы с кварцевых генераторов 2 и 3 поступают на входы схемы совпадени  7, срабатывание которой служит началом отсчета, т.е. моментом, от кото-. рого счетчиком 11 отсчитываетс  число Периодов, через которое сдвиг между импульсами генераторов 2 и 3 изменитс на величину, равную шагу считывани  Ai 0,1 НС, умноженную на значение числа Н в счетчике 11. Поскольку число в счетчике 11, работающем на вычитание , программируетс  посредством блока управлени  13 ,от О до 999, то имеетс  возможность программировать задержку между импульсами кварцевых генераторов 2 и 3 от момента срабатывани  схемы совпадени  7, когда задержка между им.пульсами генераторов принимаетс  за нуль, до момента полног запрл1нени  счетчика 11, т.е. в диапазоне 0-99,9 НС. Счетчик 12 систеьп 1 автосдвига строб-импульсов 1 также программируетс  посредством блока управлени  13. В нем записываетс  число от О до 999, Момент полного заполнени  счетчика .будет соответствовать значению задержек импульсов между выходами сче чиков 11 и 12 в диапазоне О - 99,9 м Полна  задержка импульса, формируема  системой автосдвига 1, складываетс  из задержки, обусловленной счетчиком 11 импульсов кварцевых генераторов 2 и 3, задержка между которыми в диапазоне О - 99,9 НС определ етс  разнос тью периодов кварцевых генераторов, и задержки, определ емой счетчиком 12 и равной длительности определенного числа периодов от найденной счетчиком 11 пары импульсов. Эта задержка находитс  в диапазоне О - 99999,9 не. Импульс с выхода счетчика 12 системь автосдвига строб-импульсов 1 осуществл ет запуск стробоскопического преобразовател  23 с полученным сдвигом относительно импульсов генератора тестовых импульсов 20, запускаемого выходными импульсами эталонного генератора 2 через формирователь частоты тестовых импу сов 14. Поскольку, благодар  фазовой автоподстройке , частоты кварцевых генераторов различаютс  ровно на одну тыс чную , и разность периодов кварцевых генераторов  вл етс  шагом считывани  дл  стробоскопического преобразовател  23, каждый последующий строб-импульс будет отсто ть от предыдуш;его на врем , равное времени прохождени  10О1 импульса частоты кварцевого ге- ератора 2. Чтобы приурочить тестовый мпульс генератора тестовых импульсов 2О к приходу строб-импульса, необходимо период импульсов генератора 20 задавать в соответствии с условием 100-1 Т N N.-T. где Т период импульсов кварцевого генератора 1; число, aanncajiHoe в счетчике 12, определ ющее частоту тестовых импульсов; период импульсов генератора тёбтовых импульсов 20; число импульсов генератора тестовых импульсов, укладывающихс  в интервале времеш, равном 1001 периоду импульсов кварцевого генератора; число нмпульсов кварцевого генератора, которые необходимо исключить после очередного строб-импульса, чтобы оставшеес  число импульсов кварцевого генератора было кратно числу Ng . Таким образом осуществл етс  синхронизаци  стробоскопического дискриминатора 23 и широкодиапазонного генераора тестовых импульсов, образованного ормирователем частоты тестовых импульов 14 и генератором тестовых импульсов 20. Получаема  таким образом частота генератора тестовых импульсов имеет погрешность меньше 1О%. Изменение частоты генератора тестовых импульсов 20 осуществл етс  в соответствии с вьпиеприведенными условием посредством формировател  частоты тестовых импульсов 14. По выходному сигналу со. счетчика 12 системы автосд- вига строб-импульсов 1 посредством блока управлени  13 в счетчик 17 записываетс  число Nj , а в счетчик 18 - число . По этому же сигналу триггер 19 переключаетс  и тем самым разрешает поступление импульсов с эталонного кварцевого генератора 2 на вход счетчика 17, по заполнении которого триггер 19 возвращаетс  в исходное состо ние, что запрещает прохождение импульсов в счетчик 17, а в счетчик 18 - разрешает. Счетчик 18 формирует сигнал требуемой длительности, по истечении которого осуществл етс  запуск генератора тестовых импульсов 20. С приходом следующего импульса со счетчика 12 процесс формироваш1  частоты повтор ет
SU772518245A 1977-08-26 1977-08-26 Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов SU699456A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772518245A SU699456A1 (ru) 1977-08-26 1977-08-26 Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772518245A SU699456A1 (ru) 1977-08-26 1977-08-26 Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU699456A1 true SU699456A1 (ru) 1979-11-25

Family

ID=20722435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772518245A SU699456A1 (ru) 1977-08-26 1977-08-26 Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU699456A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2851596A (en) Electronic counter
KR0162640B1 (ko) 시간축 발생기 회로와 동일 주파수의 2개의 기준 신호 발생방법
US2665411A (en) Double interpolation method and apparatus for measuring time intervals
US4975634A (en) Jitter measurement device
US4881040A (en) Signal generator for producing accurately timed pulse groupings
US3541448A (en) Digital time intervalometer with analogue vernier timing
US2414107A (en) Electronic timing apparatus
SU699456A1 (ru) Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов
US3629715A (en) Digital phase synthesizer
US4722094A (en) Digital rate detection circuit
US3467859A (en) System for testing a unit at discrete frequencies utilizing a harmonic spectrum generator and measuring means enabled only at the discrete frequencies
US4001726A (en) High accuracy sweep oscillator system
CN110836832B (zh) Tdc控制系统、方法和膜厚检测装置
SU1613878A1 (ru) Устройство дл измерени температуры
SU1053029A1 (ru) Устройство дл контрол времени задержки многовыходовых приборов
SU658523A1 (ru) Устройство дл измерени временных интервалов
RU2138829C1 (ru) Устройство для контроля частоты
SU676953A1 (ru) Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков
SU1188559A1 (ru) Устройство дл виброакустической диагностики роторных машин
SU1483285A1 (ru) Цифровой измеритель скорости распространени ультразвуковых колебаний
SU1187144A1 (ru) Устройство дл измерени группового времени запаздывани четырехполюсников
SU826286A1 (ru) Устройство для автоматических контроля параметров систем управления 1
SU862081A1 (ru) Способ цифрового измерени частоты
SU660228A1 (ru) Умножитель частоты
SU748290A1 (ru) Устройство дл измерени статистических характеристик переключающих элементов