SU699456A1 - Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов - Google Patents
Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборовInfo
- Publication number
- SU699456A1 SU699456A1 SU772518245A SU2518245A SU699456A1 SU 699456 A1 SU699456 A1 SU 699456A1 SU 772518245 A SU772518245 A SU 772518245A SU 2518245 A SU2518245 A SU 2518245A SU 699456 A1 SU699456 A1 SU 699456A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- pulses
- test
- pulse
- counter
- frequency
- Prior art date
Links
Description
Изобретение относитс к области измерительной техники, а именно к контро но-измерительному оборудованию дл полупроводникового производс.тва и предназ начено, в частности, дл измерени динамических параметров интегральных схем. Известно устройство дл измерени параметров цифровых полупроводниковых элементов, содержащее генератор сигналов , систему автосдвига строб-импульсов и двухканальный стробоскопический преобразователь l . Однако это устройство имеет недостаточно высокую точность измерени , обусловленную неточностью и нестабильностью системы автосдвига строб-импул сов, выполненной на генераторах быстро го пилообразного напр жени (БПН), дающих значительную погрещность . Кроме того, неидентичность каналов дву канального стробоскопического преобразовател вызывает разность задержек между ними, дополнительно увеличнвак щую погрешность измерительного устройства . Известен также цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов, содержащий контактное устройство дл подключени испытуемого прибора, генератор тестовых импульсов, соединенный с контактным устройством и через коммутатор - со стробоскопическим дискриминатором, схему автосдвига строб-импульсов, включающую два кварцевых генератора, два счетчика, три схемы совпадени и триггер, блок управлени , соединенный со схемой автосдвига, стробоскопическим дискриминатором, генератором тестовых импульсов и коммутатором 2. Однако это устройство имеет ограниченный диапазон измерени , обусловленный применением схемы автосдвига стробимпульсов на кварцевых генераторах, котора обеспечивает диапазон лишь в 1ООО днскретностей по 5 не и лает возможность проводить измерени только
на одной фиксированной частоте. Недостаточна разрешающа способность схем вычитани и амплитудных дискриминаторов обуславливает также относительно невысокую точность контрол . Особенно это про вл етс в наносекундном диапазоне {1 - 1О) НС, где погрешность измерени составл ет 15 - 25%. Кроме, того, на точности измерени отрицательно сказываетс нестабильность шага считывани , обусловленна нестабильностью частотыкварцевых .генераторов, котора при отсутствии термостатироваШ1Я даеу погрешность 1 - 2 %.
Цель изобретени - повьпдение точности измерени .
Это достигаетс тем, что в цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов введены схема фазовой абтоподстройки разности частот кварцевых генераторов, включающа два счетчика и фазовый детектор, и формирователь частоты тестовых им пульсов, включающий счетчики, триггер, схемы совпадени ,. Каждый счетчик схемы фазовой автоподстройки разности частот соединен с одним из кварцевых генераторов и с фазовым детектором, выход которого соединен с одним из кварцевых генераторов. Формирователь частоты тестового импульса соединен с одним из счетчиков схемы автосдвига, с одним из.кварцевых генераторов, блоком управлени и генератором тестовых импульсов.
Функциональна схема цифрового ана лизатора временных характеристик полупроводниковых приборов приведена на чертеже.
Устройство содержит систему автосдвига строб-импульсов 1, включающую в себ кварцевые генераторы 2 и 3, схему фазовой автоподстройки разности частот кварцевых генераторов 2 и 3, образованную фазовым детектором 4 и двум дес тичными счетчиками 5 и 6, схемы совпадени 7-9, триггер 10 и дес тичные счетчики 11 и 12, блок управлени 13, формирователь частоты тестовых импульсов 14, состо$пций из схем еовпадени 1 5 te 16, дес тичных счетчиков 17 и 18 и триггера 19; генератор тестовых Шvmyльcoв 2О, контактное устройство ДЛЯвключени испытуемого прибора 21, коммутатор 22 та. стробоскопический дискриминатор 23. Режимные источники и нагрузки на чертеже не показаны
Блок управлени измерением 13 координирует работу узлов анализатора. Через счетчики 11 и 12 он управл ет работой системы автосдвига строб-импулсов 1; через счетчики 17 и 18 - формирователем частоты тестовых импульсов 14. Блок управлени 13 св зан своими выходами с генератором тестовых импульсов 20 и через коммутатор - 22 - со стробоскопическим -дискриминатором 23. Формирователь частоты тестовых импульсов 14 со вместно со схемой автоподстройки разности частот кварцевых генераторов 2 и 3 предназначен дл задани частоты генератора тестоЕЛ.1х импульсов 20, который в свою очередь служит дл ровашш амплитуды, смещеш1 , длительности и задержки тестовых импульсов, подаваемых на вход испытуемого прибора , например, интегральной схемы (ИС) помещенной в контшстное устройство 21. Коммутатор 22 осуществл ет подключение выводов испытуемой ИС к стробоскопическому дискри динатору 23, источникам шпани и нагрузкам (на чертеже не показаны). Стробоскопический дискриминатор 23 выполн ет функции амплитуг ных дискриминаторов.
Анализатор работает следующим образом .
Кварцевые генераторы 2 и 3 системы автосдвига строб-импульсов 1 вырабатывают импульсы с чатотами 1О,00 и 10,01 мГц соответственно. Импульсы через счетчики 5 и 6, имеющие соответственно коэффициенты делени 1000 и 1001, поступают на входы фазового детектора 4, Сигнал с выхода детектора 4 управл ет кварцевым генератором 3 таким образом, что разность периодов генераторов 2 и 3 эталонного и управл емого соответственно - обеспечиваетс посто нной и равной 0,1 не, т.е.
At Л.Т 0,1 НС, где At - шаг считывани ,
i.T- разность периодов кварцевых
генераторов.
Эта величина вл етс шагом считывани дл стробоскопического дискриминатора 23, Благодар введению схемы фазовой автоподстройки, точность формировани шага считывани , равного разности периодов кварцевых генераторов практически соответствует точности формировани частоты кварцевого генератора (10 не). Импульсы с кварцевых генераторов 2 и 3 поступают на входы схемы совпадени 7, срабатывание которой служит началом отсчета, т.е. моментом, от кото-. рого счетчиком 11 отсчитываетс число Периодов, через которое сдвиг между импульсами генераторов 2 и 3 изменитс на величину, равную шагу считывани Ai 0,1 НС, умноженную на значение числа Н в счетчике 11. Поскольку число в счетчике 11, работающем на вычитание , программируетс посредством блока управлени 13 ,от О до 999, то имеетс возможность программировать задержку между импульсами кварцевых генераторов 2 и 3 от момента срабатывани схемы совпадени 7, когда задержка между им.пульсами генераторов принимаетс за нуль, до момента полног запрл1нени счетчика 11, т.е. в диапазоне 0-99,9 НС. Счетчик 12 систеьп 1 автосдвига строб-импульсов 1 также программируетс посредством блока управлени 13. В нем записываетс число от О до 999, Момент полного заполнени счетчика .будет соответствовать значению задержек импульсов между выходами сче чиков 11 и 12 в диапазоне О - 99,9 м Полна задержка импульса, формируема системой автосдвига 1, складываетс из задержки, обусловленной счетчиком 11 импульсов кварцевых генераторов 2 и 3, задержка между которыми в диапазоне О - 99,9 НС определ етс разнос тью периодов кварцевых генераторов, и задержки, определ емой счетчиком 12 и равной длительности определенного числа периодов от найденной счетчиком 11 пары импульсов. Эта задержка находитс в диапазоне О - 99999,9 не. Импульс с выхода счетчика 12 системь автосдвига строб-импульсов 1 осуществл ет запуск стробоскопического преобразовател 23 с полученным сдвигом относительно импульсов генератора тестовых импульсов 20, запускаемого выходными импульсами эталонного генератора 2 через формирователь частоты тестовых импу сов 14. Поскольку, благодар фазовой автоподстройке , частоты кварцевых генераторов различаютс ровно на одну тыс чную , и разность периодов кварцевых генераторов вл етс шагом считывани дл стробоскопического преобразовател 23, каждый последующий строб-импульс будет отсто ть от предыдуш;его на врем , равное времени прохождени 10О1 импульса частоты кварцевого ге- ератора 2. Чтобы приурочить тестовый мпульс генератора тестовых импульсов 2О к приходу строб-импульса, необходимо период импульсов генератора 20 задавать в соответствии с условием 100-1 Т N N.-T. где Т период импульсов кварцевого генератора 1; число, aanncajiHoe в счетчике 12, определ ющее частоту тестовых импульсов; период импульсов генератора тёбтовых импульсов 20; число импульсов генератора тестовых импульсов, укладывающихс в интервале времеш, равном 1001 периоду импульсов кварцевого генератора; число нмпульсов кварцевого генератора, которые необходимо исключить после очередного строб-импульса, чтобы оставшеес число импульсов кварцевого генератора было кратно числу Ng . Таким образом осуществл етс синхронизаци стробоскопического дискриминатора 23 и широкодиапазонного генераора тестовых импульсов, образованного ормирователем частоты тестовых импульов 14 и генератором тестовых импульсов 20. Получаема таким образом частота генератора тестовых импульсов имеет погрешность меньше 1О%. Изменение частоты генератора тестовых импульсов 20 осуществл етс в соответствии с вьпиеприведенными условием посредством формировател частоты тестовых импульсов 14. По выходному сигналу со. счетчика 12 системы автосд- вига строб-импульсов 1 посредством блока управлени 13 в счетчик 17 записываетс число Nj , а в счетчик 18 - число . По этому же сигналу триггер 19 переключаетс и тем самым разрешает поступление импульсов с эталонного кварцевого генератора 2 на вход счетчика 17, по заполнении которого триггер 19 возвращаетс в исходное состо ние, что запрещает прохождение импульсов в счетчик 17, а в счетчик 18 - разрешает. Счетчик 18 формирует сигнал требуемой длительности, по истечении которого осуществл етс запуск генератора тестовых импульсов 20. С приходом следующего импульса со счетчика 12 процесс формироваш1 частоты повтор ет
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772518245A SU699456A1 (ru) | 1977-08-26 | 1977-08-26 | Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772518245A SU699456A1 (ru) | 1977-08-26 | 1977-08-26 | Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU699456A1 true SU699456A1 (ru) | 1979-11-25 |
Family
ID=20722435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772518245A SU699456A1 (ru) | 1977-08-26 | 1977-08-26 | Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU699456A1 (ru) |
-
1977
- 1977-08-26 SU SU772518245A patent/SU699456A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2851596A (en) | Electronic counter | |
KR0162640B1 (ko) | 시간축 발생기 회로와 동일 주파수의 2개의 기준 신호 발생방법 | |
US2665411A (en) | Double interpolation method and apparatus for measuring time intervals | |
US4975634A (en) | Jitter measurement device | |
US4881040A (en) | Signal generator for producing accurately timed pulse groupings | |
US3541448A (en) | Digital time intervalometer with analogue vernier timing | |
US2414107A (en) | Electronic timing apparatus | |
SU699456A1 (ru) | Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов | |
US3629715A (en) | Digital phase synthesizer | |
US4722094A (en) | Digital rate detection circuit | |
US3467859A (en) | System for testing a unit at discrete frequencies utilizing a harmonic spectrum generator and measuring means enabled only at the discrete frequencies | |
US4001726A (en) | High accuracy sweep oscillator system | |
CN110836832B (zh) | Tdc控制系统、方法和膜厚检测装置 | |
SU1613878A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры | |
SU1053029A1 (ru) | Устройство дл контрол времени задержки многовыходовых приборов | |
SU658523A1 (ru) | Устройство дл измерени временных интервалов | |
RU2138829C1 (ru) | Устройство для контроля частоты | |
SU676953A1 (ru) | Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков | |
SU1188559A1 (ru) | Устройство дл виброакустической диагностики роторных машин | |
SU1483285A1 (ru) | Цифровой измеритель скорости распространени ультразвуковых колебаний | |
SU1187144A1 (ru) | Устройство дл измерени группового времени запаздывани четырехполюсников | |
SU826286A1 (ru) | Устройство для автоматических контроля параметров систем управления 1 | |
SU862081A1 (ru) | Способ цифрового измерени частоты | |
SU660228A1 (ru) | Умножитель частоты | |
SU748290A1 (ru) | Устройство дл измерени статистических характеристик переключающих элементов |